Fuse test data intelligent analysis method and system
CN122410397APending Publication Date: 2026-07-17XC ELECTRONICS SHENZHEN
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Patent Information
- Authority / Receiving Office
- CN · China
- Patent Type
- Applications(China)
- Current Assignee / Owner
- XC ELECTRONICS SHENZHEN
- Filing Date
- 2026-05-29
- Publication Date
- 2026-07-17
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Abstract
本申请涉及电力系统测试技术领域,尤其涉及一种熔断器测试数据智能分析方法及系统,其方法包括:获取待分析熔断器在模拟测试过程中产生的实时测试数据;提取实时测试数据中的关键时间节点;基于关键时间节点计算实际熔断时间间隔和实际燃弧时间间隔;判断上述时间间隔是否位于标准区间内,若是则判定通过性能测试;若否则获取异常波形段并进行特征分解,得到波形畸变特征参数;根据波形畸变特征参数匹配对应的故障根源类型并生成测试评价报告。本申请有助于实现对熔断器性能的自动化、高精度评估,并在性能不达标时快速定位故障根源。
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