一种芯片测试分选装置

CN224507733UActive Publication Date: 2026-07-17SHENZHEN JICUN TECHNOLOGY CO LTD
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Patent Information

Authority / Receiving Office
CN · China
Patent Type
Utility models(China)
Current Assignee / Owner
SHENZHEN JICUN TECHNOLOGY CO LTD
Filing Date
2025-06-11
Publication Date
2026-07-17

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Abstract

本实用新型提供一种芯片测试分选装置，属于半导体制造技术领域。包括机体，机体的上端面固定有固定架，固定架的顶部设置有位于机体上端面正上方的测试模块，且机体的上端面一侧转动安装有转动盘，转动盘的上表面用于放置待测芯片，并带动待测芯片经过测试模块的正下方进行视觉检测；机体的上端面中部开设有废料口，固定架的底部设置有可水平滑动的推料板，推料板用于将转动盘上端面的不合格芯片推入废料口内；机体的上端面一边固定有架在转动盘上端面的引导挡板。本实用新型，能够对芯片进行连续的测试与分选，并将合格的芯片安全收纳，提高了芯片生产加工效率，整体使用效果。
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