一种低寄生电感的分立器件快速更换测试座
CN224518768UActive Publication Date: 2026-07-17ZHEJIANG GULAN ELECTRONICS TECH CO LTD
Patent Information
- Authority / Receiving Office
- CN · China
- Patent Type
- Utility models(China)
- Current Assignee / Owner
- ZHEJIANG GULAN ELECTRONICS TECH CO LTD
- Filing Date
- 2025-06-19
- Publication Date
- 2026-07-17
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Figure CN224518768U_ABST
Abstract
本实用新型为一种低寄生电感的分立器件快速更换测试座,包括测试座底板、测试座上盖和被测器件,所述测试座底板中部向内凹陷形成放置槽,在所述放置槽的底面上开设有多个测试针孔,并在放置槽内还设置有限位支撑机构,通过限位支撑机构对安装在放置槽内的被测器件进行支撑和限位后,被测器件的引脚分别插入至测试针孔内,所述测试座底板通过连接件与测试座上盖相连接,用于将被测器件置于测试座底板和测试座上盖之间。本实用新型整体结构简单合理,实用方便。
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