試験装置
JP2026119556APending Publication Date: 2026-07-17IHI CORP
Patent Information
- Authority / Receiving Office
- JP · JP
- Patent Type
- Applications
- Current Assignee / Owner
- IHI CORP
- Filing Date
- 2025-01-07
- Publication Date
- 2026-07-17
AI Technical Summary
Benefits of technology
【0018】 本開示によれば、液体アンモニアの貯蔵、運搬等に用いられる場合の材料の表面の環境を再現して、試験片の腐食試験を行うことが可能となる。
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Figure 2026119556000001_ABST
Abstract
液体アンモニアの貯蔵、運搬等に用いられる場合の材料の表面の環境を再現して、試験片の腐食試験を行う。【解決手段】試験装置100は、試験片Sが収容される容器110と、容器110にアンモニアガスを供給する第1供給装置150と、容器110内のアンモニアガスを凝縮させる第1処理と、容器110内の液体アンモニアを気化させる第2処理とを実行する制御装置200と、を備える。
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