学習データ生成装置、学習装置、外観検査装置、学習データ生成方法及びプログラム
JP2026119661APending Publication Date: 2026-07-17HIRAKAWA HEWTECH
Patent Information
- Authority / Receiving Office
- JP · JP
- Patent Type
- Applications
- Current Assignee / Owner
- HIRAKAWA HEWTECH
- Filing Date
- 2025-01-07
- Publication Date
- 2026-07-17
Smart Images
Figure 2026119661000001_ABST
Abstract
検査対象物の変色を含む不良を検出可能な学習データを簡易に生成することができる学習データ生成装置、学習データ生成方法及びプログラム、並びにそれを用いた学習装置及び外観検査装置を提供する。【解決手段】学習データ生成装置2は、検査対象物の不良の有無を外観検査するための学習データを生成する学習データ生成装置であって、検査対象物の不良部分を含む外観を所定の照明条件の下で撮影して得られる実画像に類似するコンピュータグラフィックス画像を、検査対象物に発生し得る不良の種類ごとに設定された不良の大きさ、変色及び位置を含む不良情報に対応する第1パラメータに基づいて、学習データとして生成する制御部20、を備える。
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