監視システム、監視方法、およびプログラム

JP7892164B1Active Publication Date: 2026-07-17MITSUBISHI ELECTRIC CORP
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Patent Information

Authority / Receiving Office
JP · JP
Patent Type
Patents
Current Assignee / Owner
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
Filing Date
2025-12-19
Publication Date
2026-07-17

AI Technical Summary

Benefits of technology

【0010】 本開示によれば、作業負担を抑えつつ、中性子検出器の劣化傾向をリアルタイムに監視することができる。

✦ Generated by Eureka AI based on patent content.

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Abstract

本開示に係る監視システム(100)の一つの態様は、中性子検出器(10)から出力されたパルス信号の波高値を計測する波高計測部(22)と、ディスクリレベルを変化させながら、計測した波高値がディスクリレベルよりも大きいパルス信号の数であるパルスカウント値を計測するカウント部(23)と、ディスクリレベルの変化に応じたパルスカウント値の変動に基づき、学習済モデルを用いて、中性子検出器(10)の劣化状態を分析する分析部(26)と、を備える。
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