UE-initiated beam measurement reporting delay estimation

Abstract

The present disclosure generally relates to radio resource management (RRM) techniques for user equipment (UE) -initiated beam measurement reporting delay estimation. Some aspects of the present disclosure involve determining a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam; receiving reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period; and transmitting a beam measurement report in response to determining that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.

Description

UE-INITIATED BEAM MEASUREMENT REPORTING DELAY ESTIMATIONTECHNICAL FIELD

[0001] The present disclosure relates generally to wireless communication, and more specifically to user equipment (UE) -initiated beam measurement reporting delay estimation.BACKGROUND

[0002] Wireless communication networks provide integrated communication platforms and telecommunication services to wireless user devices. Example telecommunication services include telephony, data (e.g., voice, audio, and / or video data) , messaging, and / or other services. The wireless communication networks have wireless access nodes that exchange wireless signals with the wireless user devices using one or more wireless network protocols, such as protocols described in various telecommunication standards promulgated by the European Telecommunications Standards Institute (ETSI) Third Generation Partnership Project (3GPP) . The wireless communication networks facilitate mobile broadband service using technologies such as orthogonal frequency-division multiple access (OFDMA) , multiple-input multiple output (MIMO) , advanced channel coding, massive MIMO, beamforming, and / or other features.SUMMARY

[0003] The present disclosure generally relates to radio resource management (RRM) techniques for user equipment (UE) -initiated beam measurement reporting delay estimation. Some aspects of the present disclosure involve determining a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam; receiving reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period; and transmitting a beam measurement report in response to determining that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.

[0004] The details of one or more embodiments of the present disclosure are set forth in the accompanying drawings and the description below. Other features, objects, and advantages will be apparent from the description and drawings, and from the claims. BRIEF DESCRIPTION OF THE FIGURES

[0005] FIG. 1 illustrates an example wireless network, according to some implementations.

[0006] FIGs. 2-5 illustrate example resource diagrams of user equipment (UE) -initiated beam measurement schemes, according to some implementations.

[0007] FIGs. 6 and 7 illustrate flowcharts of example methods for UE-initiated beam measurement reporting delay estimation, according to some implementations.

[0008] FIG. 8 illustrates an example UE, according to some implementations.

[0009] FIG. 9 illustrates an example access node, according to some implementations.DETAILED DESCRIPTION

[0010] A user equipment (UE) may be configured to transmit a beam measurement report when a trigger condition or event is detected. For example, ifthe UE is communicating with an access node (e.g., a base station such as a gNB or an eNB) using a first beam, the UE may transmit a beam measurement report if the quality of a second beam exceeds the quality of the first beam by a threshold margin, or if the quality of the first beam drops below a threshold value. In some implementations, the UE can transmit the beam measurement report using dynamic uplink resources scheduled by the access node. In other implementations, the UE can transmit the beam measurement report using pre-configured uplink resources. In both scenarios, the UE may transmit a physical uplink control channel (PUCCH) before transmitting the beam measurement report. For delay estimation purposes, it may be desirable to know the maximum time period between when the trigger condition / event occurs and when the PUCCH is transmitted. However, this time period can vary based on different factors.

[0011] In accordance with aspects of the present disclosure, the UE may be configured to determine the maximum (e.g., worst case) reporting delay based on at least one of a periodicity of first reference signals associated with the first (e.g., current) beam, a periodicity of second reference signals associated with the second (e.g., new) beam, or a number of samples used to measure the first beam and / or the second beam. In some implementations, the UE may determine the reporting delay based on the measurement period between when the trigger condition is met and an event is triggered based on reference signal measurement (s) . This measurement period may depend on (i) whether the first reference signals and the second reference signals are in the same slot or different slots and (ii) whether the first reference signals and the second reference signals are overlapping or adjacent within the same slot (e.g., an uplink / downlink signal transmission slot) . Ifthe first reference signals or the second reference signals overlap with a measurement gap, a synchronization signal block (SSB) -based measurement timing configuration (SMTC) occasion, or an L1-RSRP measurement, the measurement period may also depend on a sharing factor.

[0012] FIG. 1 illustrates an example wireless network 100, according to some implementations. The wireless network 100 includes a UE 102 and a base station 104, which are connected via one or more channels 106A, 106B across an air interface 108. The UE 102 and base station 104 communicate using a system that supports controls for managing the access of the UE 102 to a network via the base station 104.

[0013] In some implementations, the wireless network 100 is a Standalone (SA) network, e.g., that incorporates fifth generation (5G) New Radio (NR) . In some other implementations, the wireless network 100 is a non-standalone (NSA) network that incorporates Long Term Evolution (LTE) and 5G NR. In these implementations, the wireless network 100 may be an Evolved Universal Terrestrial Radio Access (E-UTRA) NR dual connectivity (EN-DC) network, or an NR-EUTRA dual connectivity (NE-DC) network. Furthermore, wireless networks implementing one or more other types of communication standards are possible, including future 3GPP systems (e.g., sixth generation “6G” ) , Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) 802.11 technology, or the like. While aspects may be described herein using terminology commonly associated with 5G NR, aspects of the present disclosure can be applied to other systems, such as systems subsequent to 5G (e.g., 6G) .

[0014] In the wireless network 100, the UE 102 and any other UE in the system may be, for example, any of a laptop computer, smartphone, tablet computer, machine-type device (such as smart meters or specialized devices for healthcare) , intelligent transportation system, or any other wireless device. In the wireless network 100, the base station 104 provides the UE 102 network connectivity to a broader network (not shown) . This UE 102 connectivity is provided via the air interface 108 in a base station service area provided by the base station 104. In some implementations, such a broader network may be a wide area network operated by a cellular network provider, or may be the Internet. Each base station service area associated with the base station 104 is supported by one or more antennas integrated with the base station 104. The service areas can be divided into a number of sectors associated with one or more particular antennas. Such sectors may be physically associated with one or more fixed antennas or may be assigned to a physical area with one or more tunable antennas or antenna settings adjustable in a beamforming process used to direct a signal to a particular sector.

[0015] The UE 102 includes control circuitry 110 coupled with transmit circuitry 112 and receive circuitry 114. The transmit circuitry 112 and receive circuitry 114 may each be coupled with one or more antennas. The control circuitry 110 may include application-specific circuitry, baseband circuitry, or any of various combinations thereof. The transmit circuitry 112 and receive circuitry 114 may be adapted to transmit and receive data, respectively, and may include radio frequency (RF) circuitry and / or front-end module (FEM) circuitry.

[0016] In various implementations, aspects of the transmit circuitry 112, receive circuitry 114, and / or control circuitry 110 may be integrated in various ways to implement the operations described herein. The control circuitry 110 may be adapted or configured to perform various operations, such as those described elsewhere in this disclosure related to a UE. For example, the control circuitry 110 can determine a measurement period for UE-initiated / event-driven beam measurement reporting based on a periodicity of reference signals associated with a first / second beam, a number of samples used for measurements of the first / second beam, and so on.

[0017] The transmit circuitry 112 can perform various operations described herein. For example, the transmit circuitry 112 can transmit a PUCCH to request uplink resources for a UE-initiated / event-driven beam measurement report. Additionally, the transmit circuitry 112 may transmit using a plurality of multiplexed uplink physical channels. The plurality ofuplink physical channels may be multiplexed, e.g., according to time division multiplexing (TDM) or frequency division multiplexing (FDM) , and in some implementations, along with carrier aggregation (CA) . The transmit circuitry 112 may be configured to receive block data from the control circuitry 110 for transmission on the air interface 108.

[0018] The receive circuitry 114 can perform various operations described herein. For example, the receive circuitry 114 can receive one or more reference signals (such as an SSB) via a first beam and a second beam during a measurement period that depends on a reference signal periodicity of the first beam and / or the second beam. Additionally, the receive circuitry 114 may receive a plurality of multiplexed downlink physical channels from the air interface 108 and relay the physical channels to the control circuitry 110. The plurality of downlink physical channels may be multiplexed, e.g., according to TDM or FDM, e.g., along with CA. The transmit circuitry 112 and the receive circuitry 114 may transmit and receive, respectively, both control data and content data (e.g., messages, images, video, and the like) structured within data blocks that are carried by the physical channels.

[0019] FIG. 1 also illustrates the base station 104. In some implementations, the base station 104 may be a 5G radio access network (RAN) , a next generation RAN, a E-UTRAN, a non-terrestrial cell, or a legacy RAN, such as a UTRAN. As used herein, the term “5G RAN” or the like may refer to the base station 104 that operates in an NR wireless network 100, and the term “E-UTRAN” or the like may refer to a base station 104 that operates in an LTE wireless network 100. The UE 102 utilizes connections (or channels) 106A, 106B, each of which includes a physical communications interface or layer.

[0020] The base station 104 circuitry may include control circuitry 116 coupled (directly or indirectly) with transmit circuitry 118 and / or receive circuitry 120. The transmit circuitry 118 and receive circuitry 120 may each be coupled (directly or indirectly) with one or more antennas that may be used to enable communications via the air interface 108. The transmit circuitry 118 and receive circuitry 120 may be adapted to transmit and receive data, respectively, addressed to any UE connected to the base station 104. The receive circuitry 120 may receive a plurality of uplink physical channels from one or more UEs, including the UE 102.

[0021] In FIG. 1, the one or more channels 106A, 106B are illustrated as an air interface to enable communicative coupling, and can be consistent with cellular communications protocols, such as an LTE protocol, advanced LTE (LTE-A) protocol, LTE-based access to unlicensed spectrum (LTE-U) , NR protocol, NR-based access to unlicensed spectrum (NR-U) protocol, and / or any other communications protocol (s) . In some implementations, the UE 102 may directly exchange communication data via a ProSe interface. The ProSe interface may alternatively be referred to as a sidelink interface and may include one or more logical channels, including but not limited to a physical sidelink control channel (PSCCH) , a physical sidelink discovery channel (PSDCH) , and a physical sidelink broadcast channel (PSBCH) .

[0022] The techniques described herein generally relate to radio resource management (RRM) constraints for UE-initiated beam management reporting delay. Aspects of the present disclosure provide enhancements to facilitate UE-initiated / event-driven beam management with reduced overhead and / or latency using a unified transmission configuration indicator (TCI) and leveraging existing channel state information (CSI) measurement techniques and reporting configuration framework (s) . The enhancements described herein target frequency range 2 (FR2) and single transmission-reception point (sTRP) with intra-and inter-cell beam management. However, the described techniques can also be applied to frequency range 1 (FR1) and L1 / L2-triggered inter-cell mobility. The present disclosure involves uplink signaling content and / or procedures for UE-initiated / event-driven beam reporting to facilitate fast beam switching. The present disclosure also relates to an uplink signaling medium / container (considering the UE-initiated / event-driven nature of the uplink transmission) for beam reporting.

[0023] In some implementations, UE-initiated beam measurement is triggered when the quality (e.g., L1-RSRP) of at least one new beam becomes a threshold value better than the current beam. This threshold may be configured by RRC signaling. The current beam may correspond to the indicated TCI state. New beams for measurement may be configured by the network (e.g., the base station 104) . In other implementations, UE-initiated beam measurement is triggered when the quality (e.g., L1-RSRP) of the current beam is worse than a configured threshold, or when the quality of at least one new beam becomes a threshold value better than a reference signal derived from the activated TCI state with the Mth best quality.

[0024] The current beam reporting framework supports two different reporting modes. In mode A, the network dynamically schedules resources for transmission of uplink control information (UCI) . In mode A, the UE 102 transmits a first PUCCH (one-bit or multi-bit) to request a resource for a second uplink channel. The UE 102 detects a downlink control information (DCI) format indicating the requested resource for the second uplink channel. The UE 102 transmits a beam measurement report using the second uplink channel. In mode B, UCI is transmitted using resources that are pre-configured for the second uplink channel. In mode B, the UE 102 transmits a first PUCCH (one-bit or multi-bit) to inform the network of the second uplink channel carrying the beam measurement report. The UE 102 transmits the beam measurement report using the second uplink channel indicated by the first PUCCH.

[0025] For purposes of event-triggered measurement reporting delay estimation, the start point may be defined as the time at which the event occurs over-the-air (e.g., when the L1-RSRP of the current beam drops below a threshold) , similar to layer 3 (L3) event-triggered reporting. The end point is defined as the point when the UE 102 transmits a first PUCCH triggered by the event. The aforementioned RRM constraints may be applicable to all events and reporting modes (Mode A and Mode B) . Some aspects of the present disclosure leverage channel state information reference signal (CSI-RS) -based UE-initiated beam measurement L1-RSRP constraints for periodic CSI-RS.

[0026] If UE-initiated beam measurement is triggered when the quality (e.g., L1-RSRP) of at least one new beam becomes a threshold value better than the current beam, the UE 102 may be configured to measure both the current beam and new beam after the starting point (as defined above) . RRM delay constraints may not depend on the sum of the current beam measurement period and the new beam measurement period. In some implementations, RRM delay constraints are defined based on configured measurement resources for a beam measurement report. The UE 102 may be configured to perform continuous measurements of new beams and report when criteria are met (such as one of the events discussed above) . The UE 102 can use SSB or CSI-RS for measurements of the new beam. However, the UE should use the same reference signal type for the current beam and the new beam.

[0027] In some implementations, the new beam and the current beam have the same reference signal periodicity. In other implementations, the new beam and the current beam have different reference signal periodicities. In some implementations, reference signals associated with the current beam and reference signals associated with the new beam are located in different slots. In other implementations, reference signals associated with the current beam and reference signals associated with the new beam are located in the same slot. Ifthe reference signals are located in the same slot, the reference signals associated with the new beam may be adjacent to the reference signals associated with the current beam. Additionally or alternatively, the reference signals associated with the new beam may partially or fully overlap with the reference signals associated with the new beam. Additionally or alternatively, there may be a gap between the reference signals associated with the new beam and the reference signals associated with the current beam.

[0028] In some implementations, the beam measurements performed by the UE 102 are based on a single reference signal instance (referred to hereinafter as single shot) . In other implementations, the beam measurements performed by the UE 102 are based on multiple samples (referred to hereinafter as multi-shot) . Multiple samples can be used in FR2 if a beam sweeping factor (N) is applicable. Multiple samples can be used if the parameter timeRestrictionForChannelMeasurement is not configured (M=3) . The beam measurement reporting delay is determined by the start time (e.g., when a trigger condition is met over-the-air) , the time at which the UE 102 triggers an event based on reference measurement (s) , and the time at which the UE 102 transmits the first PUCCH to request resources or notify the network.

[0029] FIG. 2 illustrates an example resource diagram of a UE-initiated beam measurement scheme 200, according to some implementations. The UE-initiated beam measurement scheme 200 of FIG. 2 is an example of a one-shot beam measurement scheme, where (i) the current beam and the new beam have the same reference signal periodicity and (ii) reference signals associated with the current beam and the new beam are located in different slots.

[0030] FIG. 3 illustrates an example resource diagram of a UE-initiated beam measurement scheme 300, according to some implementations. The UE-initiated beam measurement scheme 300 of FIG. 3 is an example of a one-shot beam measurement scheme, where (i) the current beam and the new beam have the same reference signal periodicity and (ii) reference signals associated with the current beam and the new beam are located in the same slots.

[0031] FIG. 4 illustrates an example resource diagram of a UE-initiated beam measurement scheme 400, according to some implementations. The UE-initiated beam measurement scheme 400 of FIG. 4 is an example of a one-shot beam measurement scheme, where (i) the current beam and the new beam have different reference signal periodicities and (ii) reference signals associated with the new beam partially overlap with reference signals associated with the current beam.

[0032] FIG. 5 illustrates an example resource diagram of a UE-initiated beam measurement scheme 500, according to some implementations. The UE-initiated beam measurement scheme 500 of FIG. 5 is an example of a one-shot beam measurement scheme, where (i) the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) and (ii) reference signals associated with the current beam and the new beam are located in different slots.

[0033] In accordance with aspects of the present disclosure, a UE (such as the UE 102 of FIG. 1) can determine a measurement period for UE-initiated beam measurement reporting delay estimation based on the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) , the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , the number of samples used for beam measurements (one-shot or multi-shot) , and whether reference signals associated with the current beam are adjacent to (or overlap with) reference signals associated with the new beam.

[0034] Ifthe current beam and the new beam have the same reference signal periodicity (TRS) , and single-shot measurement is configured, and reference signals for the two beams are located in different slots (as shown in FIG. 2) , the measurement period (e.g., the time between when a trigger condition occurs and when an event is triggered by the UE) can be determined according to max {Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam} , where Tfirst_newBeam is the time until the next reference signal associated with the new beam and Tfirst_currBeam is the time until the next reference signal associated with the current beam. Alternatively, the measurement period can be defined as the periodicity of the new beam and the current beam (TRS) .

[0035] Ifthe current beam and the new beam have the same reference signal periodicity (TRS) , and single-shot measurement is configured, in FR1 or in FR2 the two beams have non-overlapping / adjacent reference signals in the same slot, the measurement period can be defined as Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam. Alternatively, the measurement period can be defined as the periodicity of the new beam and the current beam (TRS) .

[0036] Ifthe current beam and the new beam have the same reference signal periodicity (TRS) , and single-shot measurement is configured, and the two beams have adjacent / overlapping reference signals in the same slot (as shown in FIG. 3) in FR2, the measurement period can be determined according to Tfirst_newBeam + TRS or rfirst_currBeam + TRS. Alternatively, the measurement period can be defined as twice the periodicity of the new beam and the current beam: 2*TRS.

[0037] If the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , and single-shot measurement is configured, and reference signals associated with the current beam and the new beam are located in different slots (as shown in FIG. 5) , the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam} . Alternatively, the measurement period can be determined according to max {TnewBeam, TcurrBeam} .

[0038] If the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , and single-shot measurement is configured, in FR1 or in FR2 reference signals associated with the two beams are within the same slot (but not adjacent or overlapping) , the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam} . Alternatively, the measurement period can be determined according to max {TnewBeam, TcurrBeam} .

[0039] If the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , and single-shot measurement is configured, and reference signals associated with the two beams are adjacent or overlapping in at least one slot (as shown in FIG. 4) in FR2, the measurement period can be defined as Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + min {TnewBeam, TcurrBeam} if Tfirst_newBeam = Tfirst_currBeam or max {Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam} otherwise. Alternatively, the measurement period can be defined as max {TnewBeam, TcurrBeam} .

[0040] Ifthe current beam and the new beam have the same reference signal periodicity (TRS) , and multi-shot measurement is configured, and reference signals for the two beams are located in different slots, the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TRS, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TRS} , where MC is the number of measurement samples for the current beam, MN is the number of measurement samples for the new beam, NC is a beam sweep factor applicable for the current beam, and NN is a beam sweep factor applicable for the new beam. Alternatively, the measurement period for the current beam and the new beam can be determined according to max {MN*NN*TRS, MC*NC*TRS} .

[0041] If the current beam and the new beam have the same reference signal periodicity (TRS) , and multi-shot measurement is configured, in FR1 or in FR2 the two beams have non-overlapping / adjacent reference signals in the same slot, the measurement period can be determined according to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN-1) *TRS, (MC*NC-1) *TRS} . Alternatively, the measurement period for the current beam and the new beam can be determined according to max {MN*NN*TRS, MC*NC*TRS} .

[0042] Ifthe current beam and the new beam have the same reference signal periodicity (TRS) , and multi-shot measurement is configured, and the two beams have adjacent / overlapping reference signals in the same slot in FR2, the measurement period can be determined according to max{Tfirst_newBeam + (2*MN*NN-1) *TRS , Tfirst_currBeam + (2*MC*NC-1) *TRS} . Alternatively, the measurement period can be defined as twice the measurement period of the new beam or the current beam: max {2*MN*NN*TRS, 2*MC*NC*TRS} .

[0043] Ifthe reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , and multi-shot measurement is configured, and reference signals associated with the two beams are located in different slots, the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *Tfirst_currBeam} . Alternatively, the measurement period can be determined according to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} .

[0044] If the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , and multi-shot measurement is configured, in FR1 or in FR2 the reference signals associated with the current beam and the new beam are within the same slot (but not adjacent or overlapping) , the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TcurrBeam} . Alternatively, the measurement period can be determined according to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} .

[0045] If the reference signal periodicity of the current beam (TcurrBeam) is different from the reference signal periodicity of the new beam (TnewBeam) , and multi-shot measurement is configured, and reference signals associated with the two beams are adjacent or overlapping in at least one slot in FR2, the measurement period can be determined according to the following criteria. If TnewBeam ＜ TcurrBeam and Tfirst_newBeam = Tfirst_currBeam, the measurement period can be determined according to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN*PN-1) *TnewBeam, (MC*NC-1) *TcurrBeam} , where

[0046] If TnewBeam ＜ TcurrBeam and Tfirst_newBeam ＜ Tfirst_currBeam, the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN*PN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TcurrBeam} . If TcurrBeam ＜ TnewBeam and Tfirst_newBeam = Tfirst_currBeam, the measurement period can be determined according to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN-1) *TnewBeam, (MC*NC*PC-1) *TcurrBeam} , where If TcurrBeam ＜ TnewBeam and Tfirst_currBeam ＜Tfirst_newBeam, the measurement period can be determined according to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC*PC-1 ) *TcurrBeam} . Alternatively, if TnewBeam ＜TcurrBeam, the measurement period can be determined according to max {MN*NN*PN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} . If TcurrBeam ＜ TnewBeam, the measurement period can be determined according to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*PC*TcurrBeam} .

[0047] Using the techniques and criteria discussed above, the UE can determine a measurement period for UE-initiated / event-driven beam measurement reporting delay estimation. This measurement period reflects the time taken for reference signal measurement (s) to trigger an event for single-shot measurement. At the UE, this event can be triggered after measuring the new beam (point A) or after measuring the current beam (point B) . Since the network may be unable to determine the measurement constraints for both scenarios, a worst-case delay scenario (where the event is triggered at the UE 102 after point B) is assumed. The measurement delay periods described herein are also applicable to L1 / L2-triggered inter-cell mobility, where measurements are performed on a serving cell (e.g., the current beam) and a neighbor cell (e.g., the new beam) , respectively.

[0048] If the new beam or current beam overlap with any measurement gap, SMTC occasion, or L1-RSRP measurement, a sharing factor may be considered and the measurement period can be increased accordingly. If the reference signal being measured is an SSB from a serving cell, the sharing factor P from Section 9.5.4.1 of 3GPP TS 38.133 can be used. If the reference signal being measured is an SSB from a cell with a different physical cell identifier (PCI) the sharing factor P from Section 9.13.4.1 of 3GPP TS 38.133 can be used. Otherwise, if the reference signal being measured is a CSI-RS, the sharing factor P from Section 9.5.4.2 of 3GPP TS 38.133 can be used.

[0049] In the foregoing description, the time to send PUCCH is the after measurement time to PUCCH occasion TfirstPUCCH or TPUCCH (e.g., the periodicity of PUCCH resources) , and the total measurement delay is determined as the measurement period + the time to send PUCCH. Table 1: Measurement Periodfor Same Reference Signal Periodicity

[0050] In Table 1, P1 is sharing factor configured for the new beam based on the type of reference signal being measured, and P2 is sharing factor configured for the current beam based on the type of reference signal being measured. Table 2: Measurement Period for Different Reference Signal Periodicities

[0051] In Table 2, P1 is a sharing factor configured for the new beam based on the type of reference signal being measured, P2 is a sharing factor configured for the current beam based on the type of reference signal being measured,  and

[0052] FIG. 6 illustrates a flowchart of an example method 600, according to some implementations. For clarity of presentation, the method 600 is described in the context of the preceding figures. For example, the method 600 can be performed by a UE (such as the UE 102 of FIG. 1) , or any suitable system, environment, software, hardware, or combination thereof. In some implementations, operations of the method 600 can be run in parallel, in combination, in loops, or in any order. The example method 600 shown in FIG. 6 can be modified or reconfigured to include additional, fewer, or different steps (not shown in FIG. 6) , which can be performed in the order shown or in a different order.

[0053] At 602, the UE determines a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam.

[0054] At 604, the UE receives reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period.

[0055] At 606, the UE transmits a beam measurement report in response to determining that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.

[0056] FIG. 7 illustrates a flowchart of an example method 700, according to some implementations. For clarity of presentation, the method 700 is described in the context of the preceding figures. For example, the method 700 can be performed by a base station (such as the base station 104 of FIG. 1) , or any suitable system, environment, software, hardware, or combination thereof. In some implementations, operations of the method 700 can be run in parallel, in combination, in loops, or in any order. The example method 700 shown in FIG. 7 can be modified or reconfigured to include additional, fewer, or different steps (not shown in FIG. 7) , which can be performed in the order shown or in a different order.

[0057] At 702, the base station determines a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam.

[0058] At 704, the base station transmits reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period.

[0059] At 706, the base station receives a beam measurement report indicating that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.

[0060] FIG. 8 illustrates an example UE 800, according to some implementations. The UE 800 may be similar to and substantially interchangeable with UE 102 of FIG. 1. The UE 800 may include any mobile or non-mobile computing device, such as, for example, a mobile phone, computer, tablet, industrial wireless sensors, video device (for example, cameras, video cameras, and the like) , wearable devices (for example, a smart watch) , relaxed internet-of-things (loT) devices, etc.

[0061] The UE 800 may include any / all of processor 802, RF interface circuitry 804, memory / storage 806, user interface 808, sensors 810, driver circuitry 812, power management integrated circuit (PMIC) 814, one or more antenna (s) 816, and battery 818. The components of the UE 800 may be implemented as integrated circuits (ICs) , portions thereof, discrete electronic devices, or other modules, logic, hardware, software, firmware, or a combination thereof. The block diagram of FIG. 8 is intended to show a high-level view of some of the components of the UE 800. However, some of the components shown may be omitted, additional components may be present, and a different arrangement of the components shown may occur in other implementations.

[0062] The components of the UE 800 may be coupled with various other components over one or more interconnects 820, which may represent any type of interface, input / output, bus (local, system, or expansion) , transmission line, trace, or optical connection that allows various circuit components (on common or different chips or chipsets) to interact with one another.

[0063] The processor 802 may include one or more processors. For example, the processor 802 may include processor circuitry such as, for example, baseband (BB) processor circuitry 822A, central processor unit (CPU) circuitry 822B, and graphics processor unit (GPU) circuitry 822C. The processor 802 may include any type of circuitry or processor circuitry that executes or otherwise operates computer-executable instructions, such as program code, software modules, or functional processes from memory / storage 806 to cause the UE 800 to perform operations as described herein.

[0064] In some implementations, the baseband processor circuitry 822A may access a communication protocol stack 824 in the memory / storage 806 to communicate over a 3GPP compatible network. In general, the baseband processor circuitry 822A may access the communication protocol stack to: perform user plane functions at a physical (PHY) layer, medium access control (MAC) layer, radio link control (RLC) layer, packet data convergence protocol (PDCP) layer, service data adaptation protocol (SDAP) layer, and / or protocol data unit (PDU) layer; and perform control plane functions at a PHY layer, MAC layer, RLC layer, PDCP layer, RRC layer, and / or non-access stratum (NAS) layer. In some implementations, the PHY layer operations may additionally / alternatively be performed by components of the RF interface circuitry 804. The baseband processor circuitry 822A may generate or process baseband signals or waveforms that carry information in 3GPP-compatible networks. In some implementations, waveforms for NR may implement cyclic prefix-orthogonal frequency division multiplexing (CP-OFDM) in the uplink or downlink, and discrete Fourier transform-spread-orthogonal frequency division multiplexing (DFT-S-OFDM) in the uplink.

[0065] The memory / storage 806 may include one or more non-transitory, computer-readable media that includes instructions (for example, communication protocol stack 824) that can be executed by the processor 802 to cause the UE 800 to perform various operations described herein. The memory / storage 806 include any type of volatile or non-volatile memory that may be distributed throughout the UE 800. In some implementations, some of the memory / storage 806 may be located on the processor 802 itself (for example, Layer 1 “L1” and Layer 2 “L2” caches) , while other memory / storage 806 is external to the processor 802 but accessible thereto via a memory interface. The memory / storage 806 may include any suitable volatile or non-volatile memory such as, but not limited to, dynamic random access memory (DRAM) , static random access memory (SRAM) , erasable programmable read-only memory (EPROM) , electrically erasable programmable read-only memory (EEPROM) , Flash memory, solid-state memory, or any other type of memory device technology.

[0066] The RF interface circuitry 804 may include transceiver circuitry and radio frequency front end module (RFEM) that allows the UE 800 to communicate with other devices over a radio access network. The RF interface circuitry 804 may include various elements arranged in transmit or receive paths. These elements may include, for example, switches, mixers, amplifiers, filters, synthesizer circuitry, control circuitry, etc.

[0067] In the receive path, the RFEM may receive a radiated signal from an air interface via antenna (s) 816 and proceed to filter and amplify (with a low-noise amplifier) the signal. The signal may be provided to a receiver of the transceiver that downconverts the RF signal into a baseband signal that is provided to the baseband processor.

[0068] In the transmit path, the transmitter of the transceiver up-converts the baseband signal received from the baseband processor and provides the RF signal to the RFEM. The RFEM may amplify the RF signal through a power amplifier prior to the signal being radiated across the air interface via the antenna (s) 816. In various implementations, the RF interface circuitry 804 may be configured to transmit / receive signals in a manner compatible with NR access technologies.

[0069] The antenna (s) 816 may include one or more antenna elements to convert electrical signals into radio waves to travel through the air and to convert received radio waves over the air into electrical signals. In some implementations, the antenna elements may be arranged into one or more antenna panels. The antenna (s) 816 may have antenna panels that are omnidirectional, directional, or a combination thereof, to enable beamforming and multiple input, multiple output communications. The antenna (s) 816 may include any / all of microstrip antennas, printed antennas fabricated on the surface of one or more printed circuit boards, patch antennas, phased array antennas, etc. The antenna (s) 816 may have one or more panels designed for one or more specific frequency bands, such as bands in frequency range 1 (FR1) or frequency range 2 (FR2) .

[0070] The user interface 808 includes various input / output (I / O) devices designed to enable user interaction with the UE 800. The user interface 808 includes input device circuitry and output device circuitry. Input device circuitry includes any physical or virtual means for accepting an input including, inter alia, one or more physical or virtual buttons (for example, a reset button) , a physical keyboard, keypad, mouse, touchpad, touchscreen, microphones, scanner, headset, or the like. The output device circuitry includes any physical or virtual means for showing information or otherwise conveying information, such as sensor readings, actuator position (s) , or other like information. Output device circuitry may include any number or combinations of audio or visual display, including, inter alia, one or more simple visual outputs / indicators (for example, binary status indicators such as light emitting diodes “LEDs” and multi-character visual outputs) , or more complex outputs such as display devices or touchscreens (for example, liquid crystal displays “LCDs, ” LED displays, quantum dot displays, projectors) , with the output of characters, graphics, multimedia objects, and the like being generated or produced from the operation of the UE 800.

[0071] The sensors 810 may include devices, modules, or subsystems whose purpose is to detect events or changes in its environment and send the information (sensor data) about the detected events to some other device, module, subsystem, etc. Examples of such sensors include, inter alia, inertia measurement units including accelerometers, gyroscopes, or magnetometers; microelectromechanical systems or nanoelectromechanical systems including 3-axis accelerometers, 3-axis gyroscopes, or magnetometers; level sensors; temperature sensors (for example, thermistors) ; pressure sensors; image capture devices (for example, cameras or lensless apertures) ; light detection and ranging sensors; proximity sensors (for example, infrared radiation detector and the like) ; depth sensors; ambient light sensors; ultrasonic transceivers; and microphones or other like audio capture devices.

[0072] The driver circuitry 812 may include software and hardware elements that operate to control particular devices that are embedded in the UE 800, attached to the UE 800, or otherwise communicatively coupled with the UE 800. The driver circuitry 812 may include individual drivers allowing other components to interact with or control various I / O devices that may be present within, or connected to, the UE 800. For example, driver circuitry 812 may include a display driver to control and allow access to a display device, a touchscreen driver to control and allow access to a touchscreen interface, sensor drivers to obtain sensor readings of sensors 810 and control and allow access to sensors 810, drivers to obtain actuator positions of electro-mechanic components or control and allow access to the electro-mechanic components, a camera driver to control and allow access to an embedded image capture device, audio drivers to control and allow access to one or more audio devices.

[0073] The PMIC 814 may manage power provided to various components of the UE 800. In particular, with respect to the processor 802, the PMIC 814 may control power-source selection, voltage scaling, battery charging, or direct current (DC) -to-DC conversion.

[0074] In some implementations, the PMIC 814 may control, or otherwise be part of, various power saving mechanisms of the UE 800. A battery 818 may power the UE 800, although in some examples the UE 800 may be mounted deployed in a fixed location, and may have a power supply coupled to an electrical grid. The battery 818 may be a lithium ion battery, a metal-air battery, such as a zinc-air battery, an aluminum-air battery, a lithium-air battery, and the like. In some implementations, such as in vehicle-based applications, the battery 818 may be a lead-acid automotive battery.

[0075] FIG. 9 illustrates an example access node 900 (e.g., a base station or gNB) , according to some implementations. The access node 900 may be similar to and substantially interchangeable with base station 104. The access node 900 may include one or more of processor 902, RF interface circuitry 904, core network (CN) interface circuitry 906, memory / storage circuitry 908, and one or more antenna (s) 910. The processor 902 may include any type of circuitry or processor circuitry that executes or otherwise operates computer-executable instructions, such as program code, software modules, or functional processes from memory / storage circuitry 908 to cause the access node 900 to perform operations as described herein.

[0076] The components of the access node 900 may be coupled with various other components over one or more interconnects 912. The processor 902, RF interface circuitry 904, memory / storage circuitry 908 (including communication protocol stack 914) , antenna (s) 910, and interconnects 912 may be similar to like-named elements shown and described with respect to FIG. 8. For example, the processor 902 may include processor circuitry such as, for example, BB processor circuitry 916A, CPU circuitry 916B, and GPU circuitry 916C.

[0077] The CN interface circuitry 906 may provide connectivity to a core network, for example, a 5G core (5GC) network using a 5GC-compatible network interface protocol such as carrier Ethernet protocols, or some other suitable protocol. Network connectivity may be provided to / from the access node 900 via a fiber optic or wireless backhaul. The CN interface circuitry 906 may include one or more dedicated processors or field-programmable gate arrays (FPGA) to communicate using one or more of the aforementioned protocols. In some implementations, the CN interface circuitry 906 may include multiple controllers to provide connectivity to other networks using the same or different protocols.

[0078] As used herein, the terms “access node, ” “access point, ” or the like may describe equipment that provides the radio baseband functions for data and / or voice connectivity between a network and one or more users. These access nodes can be referred to as base stations, gNBs, RAN nodes, eNBs, NodeBs, roadside units (RSU) , transmit-receive points (TRP) , and so forth, and can include ground stations (e.g., terrestrial access points) or satellite stations providing coverage within a geographic area (e.g., a cell) . As used herein, the term “NG RAN node” or the like may refer to an access node 900 that operates in an NR or 5G system (for example, a gNB) , and the term “E-UTRAN node” or the like may refer to an access node 900 that operates in an LTE or 4G system (e.g., an eNB) . According to various implementations, the access node 900 may be implemented as one or more of a dedicated physical device such as a macrocell base station, and / or a low power base station for providing femtocells, picocells or other like cells having smaller coverage areas, smaller user capacity, or higher bandwidth compared to macrocells.

[0079] In some implementations, all or parts of the access node 900 may be implemented as one or more software entities running on server computers as part of a virtual network, which may be referred to as a cloud radio access network (CRAN) and / or a virtual baseband unit pool (vBBUP) . In vehicle-to-everything (V2X) scenarios, the access node 900 may be or act as an RSU. The term RSU refers to any transportation infrastructure entity used for V2X communications. An RSU may be implemented in or by a suitable RAN node or a stationary (or relatively stationary) UE, where an RSU implemented in or by a UE may be referred to as a “UE-type RSU, ” an RSU implemented in or by an eNB may be referred to as an “eNB-type RSU, ” an RSU implemented in or by a gNB may be referred to as a “gNB-type RSU, ” and the like.

[0080] Various components may be described as performing a task or tasks, for convenience in the description. Such descriptions should be interpreted as including the phrase “configured to. ” Reciting a component that is configured to perform one or more tasks is expressly intended not to invoke 35 U.S.C. § 112 (f) interpretation for that component.

[0081] For one or more embodiments, at least one of the components set forth in one or more of the preceding figures may be configured to perform one or more operations, techniques, processes, or methods as set forth in the example section below. For example, the baseband circuitry as described above in connection with one or more of the preceding figures may be configured to operate in accordance with one or more of the examples set forth below. For another example, circuitry associated with a UE, base station, network element, or the like, as described above in connection with one or more of the preceding figures may be configured to operate in accordance with one or more of the examples set forth below.

[0082] Example 1 is a method including: determining a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam; receiving reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period; and transmitting a beam measurement report in response to determining that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.

[0083] Example 2 includes the method of example 1, where the measurement period begins when the one or more criteria are satisfied and ends when a reporting event is triggered by measurements of the reference signals associated with the first beam and the second beam.

[0084] Example 3 includes the method of any of examples 1 to 2, further including transmitting an uplink message via one or more PUCCH resources in response to determining that the measurements of the reference signals satisfy the one or more criteria.

[0085] Example 4 includes the method of example 3, where the uplink message includes a request for uplink resources to use for transmission of the beam measurement report.

[0086] Example 5 includes the method of any of examples 3 to 4, where the uplink message indicates an uplink channel to monitor for the beam measurement report.

[0087] Example 6 includes the method of any of examples 1 to 5, where a reference signal periodicity of the first beam is equal to a reference signal periodicity of the second beam.

[0088] Example 7 includes the method of any of examples 1 to 6, where a reference signal periodicity of the first beam is different from a reference signal periodicity of the second beam.

[0089] Example 8 includes the method of any of examples 1 to 7, where first reference signals associated with the first beam and second reference signals associated with the second beam are received in different slots.

[0090] Example 9 includes the method of any of examples 1 to 8, where at least one slot includes first reference signals associated with the first beam and second reference signals associated with the second beam.

[0091] Example 10 includes the method of example 9, where the first reference signals overlap with the second reference signals in the at least one slot.

[0092] Example 11 includes the method of any of examples 9 to 10, where the first reference signals are adjacent to the second reference signals in the at least one slot.

[0093] Example 12 includes the method of any of examples 9 to 11, where the first reference signals and the second reference signals do not overlap in the at least one slot.

[0094] Example 13 includes the method of any of examples 9 to 12, where the first reference signals and the second reference signals are not adjacent to each other in the at least one slot.

[0095] Example 14 includes the method of any of examples 1 to 13, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TRS of the first beam and the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, or a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam.

[0096] Example 15 includes the method of example 14, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_currBeam, Tfirst_newBeam} .

[0097] Example 16 includes the method of any of examples 14 to 15, where a duration of the measurement period is equal to TRS.

[0098] Example 17 includes the method of any of examples 14 to 16, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_currBeam or Tfirst_newBeam.

[0099] Example 18 includes the method of any of examples 14 to 17, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam + TRS or Tfirst_currBeam + TRS.

[0100] Example 19 includes the method of any of examples 14 to 18, where a duration of the measurement period is equal to 2*TRS.

[0101] Example 20 includes the method of any of examples 1 to 19, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TcurrBeam of the first beam, a reference signal periodicity TnewBeam of the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, or a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam.

[0102] Example 21 includes the method of example 20, where a duration of the measurement period is equal to max {TnewBeam, TcurrBeam} .

[0103] Example 22 includes the method of any of examples 20 to 21, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + min {TnewBeam, TcurrBeam} if Tfirst_newBeam is equal to Tfirst_currBeam.

[0104] Example 23 includes the method of any of examples 1 to 22, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TRS of the first beam and the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam, a number of measurement samples MC used for the first beam, a number of measurement samples MN used for the second beam, a beam sweep factor NC configured for the first beam, or a beam sweep factor NN configured for the first beam.

[0105] Example 24 includes the method of example 23, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TRS, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TRS} .

[0106] Example 25 includes the method of any of examples 23 to 24, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*TRS, MC*NC*TRS} .

[0107] Example 26 includes the method of any of examples 23 to 25, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN-1) *TRS, (MC*NC-1) *TRS} .

[0108] Example 27 includes the method of any of examples 23 to 26, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (2*MN*NN-1) *TRS, Tfirst_currBeam + (2*MC*NC-1) *TRS} .

[0109] Example 28 includes the method of any of examples 23 to 27, where a duration of the measurement period is equal to max {2*MN*NN*TRS, 2*MC*NC*TRS} .

[0110] Example 29 includes the method of any of examples 1 to 28, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TcurrBeam of the first beam, a reference signal periodicity TnewBeam of the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam, a number of measurement samples MC used for the first beam, a number of measurement samples MN used for the second beam, a beam sweep factor NC configured for the first beam, or a beam sweep factor NN configured for the first beam.

[0111] Example 30 includes the method of example 29, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-l) *Tfirst_currBeam} .

[0112] Example 31 includes the method of any of examples 29 to 30, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} .

[0113] Example 32 includes the method of any of examples 29 to 31, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TcurrBeam} .

[0114] Example 33 includes the method of any of examples 29 to 32, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN*PN-1) *TnewBeam, (MC*NC-1) *TcurrBeam} , where

[0115] Example 34 includes the method of any of examples 29 to 33, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN*PN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0116] Example 35 includes the method of any of examples 29 to 34, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN-1) *TnewBeam, (MC*NC*PC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0117] Example 36 includes the method of any of examples 29 to 35, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC*PC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0118] Example 37 includes the method of any of examples 29 to 36, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*PC*TcurrBeam} , wherein

[0119] Example 38 includes the method of any of examples 29 to 37, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*PN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} , wherein

[0120] Example 39 is an apparatus including one or more processors configured to perform the method of any of examples 1-38.

[0121] Example 40 is a UE including: one or more processors; and memory storing instructions that, when executed by the one or more processors, cause the UE to perform the method of any of examples 1-38.

[0122] Example 41 is a method including: determining a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam; transmitting reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period; and receiving a beam measurement report indicating that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.

[0123] Example 42 includes the method of example 41, where the measurement period begins when the one or more criteria are satisfied and ends when a reporting event is triggered by measurements of reference signals associated with the first beam and the second beam.

[0124] Example 43 includes the method of any of examples 41 to 42, further including receiving an uplink message via one or more PUCCH resources.

[0125] Example 44 includes the method of example 43, where the uplink message includes a request for uplink resources to use for transmission of the beam measurement report.

[0126] Example 45 includes the method of any of examples 43 to 44, where the uplink message indicates an uplink channel to monitor for the beam measurement report.

[0127] Example 46 includes the method of any of examples 41 to 45, where a reference signal periodicity of the first beam is equal to a reference signal periodicity of the second beam.

[0128] Example 47 includes the method of any of examples 41 to 46, where a reference signal periodicity of the first beam is different from a reference signal periodicity of the second beam.

[0129] Example 48 includes the method of any of examples 41 to 47, where first reference signals associated with the first beam and second reference signals associated with the second beam are received in different slots.

[0130] Example 49 includes the method of any of examples 41 to 48, where at least one slot includes first reference signals associated with the first beam and second reference signals associated with the second beam.

[0131] Example 50 includes the method of example 49, where the first reference signals overlap with the second reference signals in the at least one slot.

[0132] Example 51 includes the method of any of examples 49 to 50, where the first reference signals are adjacent to the second reference signals in the at least one slot.

[0133] Example 52 includes the method of any of examples 49 to 51, where the first reference signals and the second reference signals do not overlap in the at least one slot.

[0134] Example 53 includes the method of any of examples 49 to 52, where the first reference signals and the second reference signals are not adjacent to each other in the at least one slot.

[0135] Example 54 includes the method of any of examples 41 to 53, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of the reference signal periodicity TRS of the first beam and the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, or a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam.

[0136] Example 55 includes the method of example 54, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_currBeam, Tfirst_newBeam} .

[0137] Example 56 includes the method of any of examples 54 to 55, where a duration of the measurement period is equal to TRS.

[0138] Example 57 includes the method of any of examples 54 to 56, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_currBeam or Tfirst_newBeam.

[0139] Example 58 includes the method of any of examples 54 to 57, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam + TRS or Tfirst_currBeam + TRS.

[0140] Example 59 includes the method of any of examples 54 to 58, where a duration of the measurement period is equal to 2*TRS.

[0141] Example 60 includes the method of any of examples 41 to 59, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TcurrBeam of the first beam, a reference signal periodicity TnewBeam of the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, or a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam.

[0142] Example 61 includes the method of example 60, where a duration of the measurement period is equal to max {TnewBeam, TcurrBeam} .

[0143] Example 62 includes the method of any of examples 60 to 61, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + min {TnewBeam, TcurrBeam} if Tfirst_newBeam is equal to Tfirst_currBeam.

[0144] Example 63 includes the method of any of examples 41 to 62, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of the reference signal periodicity TRS of the first beam and the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam, a number of measurement samples MC used for the first beam, a number of measurement samples MN used for the second beam, a beam sweep factor NC configured for the first beam, or a beam sweep factor NN configured for the first beam.

[0145] Example 64 includes the method of example 63, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TRS, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TRS} .

[0146] Example 65 includes the method of any of examples 63 to 64, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*TRS, MC*NC*TRS} .

[0147] Example 66 includes the method of any of examples 63 to 65, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN-1) *TRS, (MC*NC-1) *TRS} .

[0148] Example 67 includes the method of any of examples 63 to 66, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (2*MN*NN-1) *TRS, Tfirst_currBeam + (2*MC*NC-1) *TRS} .

[0149] Example 68 includes the method of any of examples 63 to 67, where a duration of the measurement period is equal to max {2*MN*NN*TRS, 2*MC*NC*TRS} .

[0150] Example 69 includes the method of any of examples 41 to 68, where determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam includes determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TcurrBeam of the first beam, a reference signal periodicity TnewBeam of the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam, a number of measurement samples MC used for the first beam, a number of measurement samples MN used for the second beam, a beam sweep factor NC configured for the first beam, or a beam sweep factor NN configured for the first beam.

[0151] Example 70 includes the method of example 69, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *Tfirst_newBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *Tfirst_currBeam} .

[0152] Example 71 includes the method of any of examples 69 to 70, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} .

[0153] Example 72 includes the method of any of examples 69 to 71, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TcurrBeam} .

[0154] Example 73 includes the method of any of examples 69 to 72, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN*PN-1) *TnewBeam, (MC*NC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0155] Example 74 includes the method of any of examples 69 to 73, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN*PN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0156] Example 75 includes the method of any of examples 69 to 74, where a duration of the measurement period is equal to Tfirst_newBeam or Tfirst_currBeam + max { (MN*NN-1) *TnewBeam, (MC*NC*PC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0157] Example 76 includes the method of any of examples 69 to 75, where a duration of the measurement period is equal to max {Tfirst_newBeam + (MN*NN-1) *TnewBeam, Tfirst_currBeam + (MC*NC*PC-1) *TcurrBeam} , wherein

[0158] Example 77 includes the method of any of examples 69 to 76, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*TnewBeam, MC*NC*PC*TcurrBeam} , wherein

[0159] Example 78 includes the method of any of examples 69 to 77, where a duration of the measurement period is equal to max {MN*NN*PN*TnewBeam, MC*NC*TcurrBeam} , wherein

[0160] Example 79 is an apparatus including one or more processors configured to perform the method of any of examples 41-78.

[0161] Example 80 is an access node including: one or more processors; and memory storing instructions that, when executed by the one or more processors, cause the access node to perform the method of any of examples 41-78.

[0162] Any of the foregoing examples can be combined with any other example (or combination of examples) , unless explicitly stated otherwise. The foregoing description of one or more implementations provides illustration and description, but is not intended to be exhaustive or to limit the scope of embodiments to the precise form disclosed. Modifications and variations are possible in light of the above teachings or may be acquired from practice of various embodiments.

[0163] Although the embodiments above have been described in considerable detail, numerous variations and modifications will become apparent to those skilled in the art once the above disclosure is fully appreciated. It is intended that the following claims be interpreted to embrace all such variations and modifications.

[0164] As described above, one aspect of the present technology may relate to the gathering and use of data available from specific and legitimate sources to allow for interaction with a second device for a data transfer. The present disclosure contemplates that in some instances, this gathered data may include personal information data that uniquely identifies or can be used to identify a specific person. Such personal information data can include demographic data, location-based data, online identifiers, telephone numbers, email addresses, home addresses, data or records relating to a user’s health or level of fitness (e.g., vital signs measurements, medication information, exercise information) , date of birth, or any other personal information.

[0165] The present disclosure recognizes that the use of such personal information data, in the present technology, can be used to the benefit of users. For example, the personal information data can be used to provide for secure data transfers occurring between a first device and a second device. The personal information data may further be utilized for identifying an account associated with the user from a service provider for completing a data transfer.

[0166] The present disclosure contemplates that those entities responsible for the collection, analysis, disclosure, transfer, storage, or other use of such personal information data will comply with well-established privacy policies and / or privacy practices. In particular, such entities would be expected to implement and consistently apply privacy practices that are generally recognized as meeting or exceeding industry or governmental requirements for maintaining the privacy of users. Such information regarding the use of personal data should be prominent and easily accessible by users, and should be updated as the collection and / or use of data changes. Personal information from users should be collected for legitimate uses only. Further, such collection / sharing should occur only after receiving the consent of the users or other legitimate basis specified in applicable law. Additionally, such entities should consider taking any needed steps for safeguarding and securing access to such personal information data and ensuring that others with access to the personal information data adhere to their privacy policies and procedures. Further, such entities can subject themselves to evaluation by third parties to certify their adherence to widely accepted privacy policies and practices. In addition, policies and practices should be adapted for the particular types of personal information data being collected and / or accessed and adapted to applicable laws and standards, including jurisdiction-specific considerations that may serve to impose a higher standard. For example, in the US, collection of or access to certain health data may be governed by federal and / or state laws, such as the Health Insurance Portability and Accountability Act (HIPAA) ; whereas health data in other countries may be subject to other regulations and policies and should be handled accordingly.

[0167] Despite the foregoing, the present disclosure also contemplates embodiments in which users selectively block the use of, or access to, personal information data. That is, the present disclosure contemplates that hardware and / or software elements can be provided to prevent or block access to such personal information data. For example, the present technology can be configured to allow users to select to “opt in” or “opt out” of participation in the collection of personal information data during registration for services or anytime thereafter. For example, a user may “opt in” or “opt out” of having information associated with an account of the user stored on a user device and / or shared by the user device. In addition to providing “opt in” and “opt out” options, the present disclosure contemplates providing notifications relating to the access or use of personal information. For example, a user may be notified upon downloading an application that their personal information data will be accessed and then reminded again just before personal information data is accessed by the application. In some instances, the user may be notified upon initiation of a data transfer of the device accessing information associated with the account of the user and / or the sharing of information associated with the account of the user with another device.

[0168] Moreover, it is the intent of the present disclosure that personal information data should be managed and handled in a way to minimize risks of unintentional or unauthorized access or use. Risk can be minimized by limiting the collection of data and deleting data once it is no longer needed. In addition, and when applicable, including in certain health related applications, data de-identification can be used to protect a user’s privacy. De-identification may be facilitated, when appropriate, by removing identifiers, controlling the amount or specificity of data stored (e.g., collecting location data at city level rather than at an address level) , controlling how data is stored (e.g., aggregating data across users) , and / or other methods such as differential privacy.

[0169] Therefore, although the present disclosure broadly covers use of personal information data to implement one or more various disclosed embodiments, the present disclosure also contemplates that the various embodiments can also be implemented without the need for accessing such personal information data. That is, the various embodiments of the present technology are not rendered inoperable due to the lack of all or a portion of such personal information data. For example, content can be selected and delivered to users based on aggregated non-personal information data or a bare minimum amount of personal information, such as the content being handled only on the user’s device or other non-personal information available to the content delivery services.

Claims

1.A method comprising:determining a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam;receiving reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period; andtransmitting a beam measurement report in response to determining that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.2.The method of claim 1, wherein the measurement period begins when the one or more criteria are satisfied and ends when a reporting event is triggered by measurements of the reference signals associated with the first beam and the second beam.3.The method of claim 1, further comprising transmitting an uplink message via one or more physical uplink control channel (PUCCH) resources in response to determining that the measurements of the reference signals satisfy the one or more criteria.4.The method of claim 3, wherein the uplink message comprises a request for uplink resources to use for transmission of the beam measurement report.5.The method of claim 3, wherein the uplink message indicates an uplink channel to monitor for the beam measurement report.6.The method of claim 1, wherein a reference signal periodicity of the first beam is equal to a reference signal periodicity of the second beam.7.The method of claim 1, wherein a reference signal periodicity of the first beam is different from a reference signal periodicity of the second beam.8.The method of claim 1, wherein first reference signals associated with the first beam and second reference signals associated with the second beam are received in different slots.9.The method of claim 1, wherein at least one slot comprises first reference signals associated with the first beam and second reference signals associated with the second beam.10.The method of claim 9, wherein the first reference signals overlap with the second reference signals in the at least one slot.11.The method of claim 9, wherein the first reference signals are adjacent to the second reference signals in the at least one slot.12.The method of claim 9, wherein the first reference signals and the second reference signals do not overlap in the at least one slot.13.The method of claim 9, wherein the first reference signals and the second reference signals are not adjacent to each other in the at least one slot.14.The method of claim 1, wherein determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam comprises determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TRS of the first beam and the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, or a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam.15.The method of claim 1, wherein determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam comprises determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TcurrBeam of the first beam, a reference signal periodicity TnewBeam of the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, or a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam.16.The method of claim 1, wherein determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam comprises determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TRS of the first beam and the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam, a number of measurement samples MC used for the first beam, a number of measurement samples MN used for the second beam, a beam sweep factor NC configured for the first beam, or a beam sweep factor NN configured for the first beam.17.The method of claim 1, wherein determining the measurement period based at least on the reference signal configuration of the first beam and the reference signal configuration of the second beam comprises determining the measurement period based on at least one of a reference signal periodicity TcurrBeam of the first beam, a reference signal periodicity TnewBeam of the second beam, a time Tfirst_currBeam to a next reference signal associated with the first beam, a time Tfirst_newBeam to a next reference signal associated with the second beam, a number of measurement samples MC used for the first beam, a number of measurement samples MN used for the second beam, a beam sweep factor NC configured for the first beam, or a beam sweep factor NN configured for the first beam.18.An apparatus comprising one or more processors configured to perform the method of any of claims 1-17.19.A user equipment (UE) comprising:one or more processors; andmemory storing instructions that, when executed by the one or more processors, cause the UE to perform the method of any of claims 1-17.20.A method comprising:determining a measurement period for reporting delay estimation based at least on a reference signal configuration of a first beam and a reference signal configuration of a second beam;transmitting reference signals via the first beam and the second beam during the measurement period; andreceiving a beam measurement report indicating that measurements of the reference signals received during the measurement period satisfy one or more criteria.21.An apparatus comprising one or more processors configured to perform the method of claim 20.22.An access node comprising:one or more processors; andmemory storing instructions that, when executed by the one or more processors, cause the access node to perform the method of claim 20.

Images