Crystal forms and salts of spirobicyclic compound

Abstract

Provided is the crystal form of free base and salt of the spirobicyclic compound. In particular, provided are the crystal form of free base and salt of the formula (I) compound, their preparation methods and pharmaceutical compositions containing a therapeutically effective amount of a crystal form of free base or salt, and the use thereof as FGFR2 selective inhibitor in the treatment of cancer.

Description

CRYSTAL FORMS AND SALTS OF SPIROBICYCLIC COMPOUND

[0001] The present invention claims the priority of the PCT / CN2023 / 122950, filed on September 28, 2023, the contents of which are incorporated herein by its entirety.Field of invention

[0002] The present invention belongs to the field of biomedicine, and in particular relates to a crystal form of free base or salt of the spirobicyclic compound, a method for preparing and a use thereof.

[0003] Prior arts

[0004] The fibroblast growth factor receptor (FGFR) family of receptor tyrosine kinases consists of four transmembrane receptors (FGFR1, FGFR2, FGFR3 and FGFR4) . Fibroblast Growth Factors (FGFs) act in concert with heparin sulfate proteoglycans (HSPG) as high-affinity FGFR agonists. Binding of FGF / HSPG to FGFR induces receptor dimerization and activation of FGFR tyrosine kinases, followed by trans-autophosphorylation of tyrosine residues in the cytoplasmic kinase domain. This event triggers activation of multiple downstream signaling cascades including the RAS–MAPK-ERK, PI3K–AKT, PKC and JAK-STAT pathways, which promote cell survival, antiapoptotic, proliferation, migration, development, differentiation, and angiogenesis (Gallo, et al. Cytokine & Growth Factor Reviews 2015 26, 425; Ahmad et al. Biochimica et Biophysica Acta 2012, 1823, 850) .

[0005] It has been demonstrated that aberrantly activated FGF / FGFR signaling (i.e., FGFR gene amplification, mutation, gene rearrangements or fusions) axis results in constitutive activation of downstream signaling pathways to allow cells to grow uncontrollably, leading to malignant tumors (Nakamura, npj Precis. Onc. 2021, 5, 66; Gallo, et al. Cytokine & Growth Factor Reviews 2015 26, 425; Ahmad et al. Biochimica et Biophysica Acta 2012, 1823, 850) . Particularly, gene amplification of FGFR1 is identified in about 10%and 10–25%of breast cancer and squamous-cell lung cancer cases, respectively. FGFR2 gene amplification occurs in 4–10%of gastric cancer cases with a poor prognosis. FGFR2 mutations or fusions are found in approximately 10%and 15%of endometrial carcinoma and intrahepatic cholangiocarcinoma, respectively. FGFR3 fusions are common in bladder cancer, lung cancer and glioblastoma (Nakamura, npj Precis. Onc. 2021, 5, 66; Goyal et al. Cancer Treatment Reviews 2021, 95, 102170) . Collectively aberrantly activated FGFRs as oncogenic drivers are promising therapeutic targets for cancers. Indeed, several pan-FGFR tyrosine kinase inhibitors (TKIs) have been shown to be a successful therapeutic strategy in numerous tumor types. However, acquired resistance to pan-FGFR-TKIs is becoming increasingly prominent due to target specific mutations such as gate keeper, molecular breaker as well as other mutations induced by FGFR-TKIs (Yue, et al. J Hematol Oncol 2021, 14, 23; Goyal, et al. Cancer Discov. 2019 9, 1064) . In addition, on-target toxicity limits clinical usage of these inhibitors. One of the most common adverse events associated with pan-FGFR-TKIs is hyperphosphatemia, an on-target off-tumor effect of FGFR1 inhibition. Given those reasons of acquired resistance and adverse event of hyperphosphatemia for pan-FGFR-TKIs, there is an emerging need for the development of new generation of FGFR selective inhibitors, such as a FGFR2 selective inhibitor that can overcome resistance and reduce side effects of pan-FGFR-TKIs for those cancers with aberrant activation of FGFR2 (i.e., endometrial carcinoma, gastric cancer, intrahepatic cholangiocarcinoma, etc. ) .

[0006] International Publication No. WO 2020 / 231990 A1 describes certain compounds as FGFR inhibitors. Chinese Application Publication No. CN 115594682 also discloses certain compounds as FGFR inhibitors. Further, International Publication No. WO 2022 / 109551 A1 describes certain compounds as inhibitors of non-receptor tyrosine-protein kinase Src.

[0007] PCT patent application (application number: PCT / US23 / 16937) discloses the structure of a series of spirobicyclic compounds. In the subsequent research and development, in order to obtain a product that can be readily processed, filtered and dried and to achieve features such as convenient storage, long-term stability and high bioavailability, the present invention has conducted a comprehensive study on the salts of the above substances, and is dedicated to obtaining the most suitable salt.

[0008] Content of the present invention

[0009] All contents involved in the patent application PCT / US23 / 16937 are incorporated into the present invention by way of reference.

[0010] The patent application PCT / US23 / 16937 provides new compounds which inhibit FGFR2. The present invention further provides new compounds which selectively inhibit FGFR2 with respect to FGFR1, FGFR3 or FGFR4. As such, compounds of the present invention are useful in treating diseases or conditions associated with or modulated by FGFR2 including but not limited to cancers that harbor aberrant activation of FGFR2 such as endometrial carcinoma, gastric cancer, intrahepatic cholangiocarcinoma, breast cancer, urinary tract cancer and non-small cell lung cancer (NSCLC) . Further, compounds of the present invention are useful in treating diseases or conditions associated with or modulated by FGFR2 with reduced or attenuated toxicity, or adverse events associated with FGFR1, FGFR3 or FGFR4.

[0011] The patent application PCT / US23 / 16937 provides new compounds which inhibit FGFR2 and, as such, are useful in treating the disorders discussed herein. The new compounds of the present invention provide an alternative for treatment of said disorders.

[0012] The present disclosure relates to solid state forms of 1- (9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-en-3-yl) prop-2-en-1-one, herein after known as Formula (I) . The molecular structure of Formula (I) is shown below:

[0013] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form A.

[0014] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form B.

[0015] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form C.

[0016] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form D.

[0017] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form E.

[0018] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form F.

[0019] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form G.

[0020] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form H.

[0021] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form I.

[0022] In a preferred embodiment of the present invention, the crystal form is freebase Form J.

[0023] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form A of the compound formula (I) is an anhydrate.

[0024] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 5.2±0.2°, 9.3±0.2°, 10.6 ±0.2°, 13.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.4±0.2°, 22.3±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0025] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.6±0.2° and 13.3±0.2°, 10.6±0.2° and 17.2±0.2° or 13.3±0.2° and 17.2±0.2°) or 3 (such as, 10.6±0.2°, 13.3±0.2° and 17.2±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 4 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 5.2±0.2°, 9.3±0.2°, 14.9±0.2° and 22.3±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 4.9±0.2° and 5.2±0.2°, 4.9±0.2° and 9.3±0.2° or 5.2±0.2° and 9.3±0.2°) , 3 (such as, 4.9±0.2°, 5.2±0.2° and 9.3±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks. The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.7±0.2°, 13.6±0.2°, 15.6±0.2°, 21.5±0.2°, 21.9±0.2°, 23.5±0.2°, 23.9±0.2°, 26.3±0.2°, 27.5±0.2° and 27.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0026] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any of the following groups:

[0027] Group (A1) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2° and 17.2±0.2°;

[0028] Group (A2) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0029] Group (A3) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0030] Group (A4) : 5.2±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0031] Group (A5) : 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0032] Group (A6) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0033] Group (A7) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2°, 19.4±0.2° and 22.3±0.2°;

[0034] Group (A8) : 4.9±0.2°, 5.2±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0035] Group (A9) : 4.9±0.2°, 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;

[0036] Group (A10) : 5.2±0.2°, 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°.

[0037] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form A represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 1.

[0038] Table 1 XRPD diffraction peak data of freebase Form A

[0039] The XRPD pattern of freebase Form A is substantially as shown in Figure 1-1.

[0040] The TGA spectrum thereof of freebase Form A is substantially as shown in Figure 1-2.

[0041] The DSC spectrum thereof of freebase Form A is substantially as shown in Figure 1-3.

[0042] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form B of the compound formula (I) is a solvate.

[0043] In a further preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form B of the compound formula (I) is a DCM solvate.

[0044] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 7.2±0.2°, 13.1±0.2°, 13.5 ±0.2°, 13.8±0.2°, 19.0±0.2°, 19.3±0.2°; 19.8±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° or 22.7±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0045] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 19.3±0.2°, 20.1±0.2°and 21.8±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 19.3±0.2° and 20.1±0.2°, 19.3±0.2° and 21.8±0.2°, or 20.1±0.2° and 21.8±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 7.2±0.2°, 13.1±0.2°, 13.5±0.2°, 19.8±0.2° and 22.7±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 7.2±0.2° and 13.1±0.2°, 7.2±0.2° and 13.5±0.2°, 7.2±0.2° and 19.8±0.2°, 7.2±0.2° and 22.7±0.2°, 13.1±0.2° and 13.5±0.2°, 13.1±0.2° and 19.8±0.2°, 13.1±0.2° and 22.7±0.2°, 13.5±0.2°and 19.8±0.2°, 13.5±0.2° and 22.7±0.2°, or 19.8±0.2° and 22.7±0.2°) , 3 (such as, 7.2±0.2°, 13.1±0.2° and 13.5±0.2°, 7.2±0.2°, 13.1±0.2° and 19.8±0.2°, 7.2±0.2°, 13.1±0.2° and 22.7±0.2°, 7.2±0.2°, 13.5±0.2° and 19.8±0.2°, 7.2±0.2°, 13.5±0.2° and 22.7±0.2°, 13.1±0.2°, 13.5±0.2° and 19.8±0.2°, 13.1±0.2°, 13.5±0.2° and 22.7±0.2°, or 13.5±0.2°, 19.8±0.2° and 22.7±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0046] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.6±0.2°, 10.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.6±0.2°, 23.9±0.2°, 25.3±0.2°, 26.5±0.2°, 27.3±0.2°, 28.5±0.2° and 29.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0047] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0048] Group (B1) : 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0049] Group (B2) : 7.2±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0050] Group (B3) : 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0051] Group (B4) : 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0052] Group (B5) : 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0053] Group (B6) : 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;

[0054] Group (B7) : 7.2±0.2°, 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0055] Group (B8) : 7.2±0.2°, 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0056] Group (B9) : 7.2±0.2°, 19.8±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0057] Group (B10) : 7.2±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;

[0058] Group (B11) : 13.1±0.2°, 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0059] Group (B12) : 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0060] Group (B13) : 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;

[0061] Group (B14) : 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;

[0062] Group (B15) : 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;

[0063] Group (B16) : 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°.

[0064] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form B represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 2.

[0065] Table 2 XRPD diffraction peak data of freebase Form B

[0066] The XRPD pattern of freebase Form B is substantially as shown in Figure 2-1.

[0067] The TGA spectrum thereof of freebase Form B is substantially as shown in Figure 2-2.

[0068] The DSC spectrum thereof of freebase Form B is substantially as shown in Figure 2-3.

[0069] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form C of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5 ±0.2°, 15.3±0.2°, 17.6±0.2°, 19.6±0.2° or 23.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 7, or 5 to 7, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 7, of the above diffraction peaks.

[0070] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form C of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.1±0.2°, 10.1±0.2° and 13.5±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.1±0.2° and 10.1±0.2°, 10.1±0.2° and 13.5±0.2°, or 5.1±0.2° and 13.5±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 15.3±0.2°, 17.6±0.2°, 19.6±0.2° and 23.6±0.2, and preferably comprises 2 (17.6±0.2° and 19.6±0.2°, 17.6±0.2° and 23.6±0.2°) , 3 (17.6±0.2°, 19.6±0.2° and 23.6 ±0.2°) or 4 of the above diffraction peaks.

[0071] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form C of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0072] Group (C1) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2° and 13.5±0.2°;

[0073] Group (C2) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 15.3±0.2°;

[0074] Group (C3) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 17.6±0.2°;

[0075] Group (C4) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 19.6±0.2°;

[0076] Group (C5) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°and 23.6±0.2;

[0077] Group (C6) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 17.6±0.2° and 19.6±0.2°;

[0078] Group (C7) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 17.6±0.2° and 23.6±0.2°;

[0079] Group (C8) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 17.6±0.2°, 19.6±0.2° and 23.6 ±0.2°.

[0080] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form C represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 3.

[0081] Table 3 XRPD diffraction peak data of freebase Form C

[0082] [Rectified under Rule 91, 16.12.2024]The XRPD pattern of freebase Form C is substantially as shown in Figure 3-1.

[0083] [Rectified under Rule 91, 16.12.2024][Rectified under Rule 91, 16.12.2024]

[0084] [Rectified under Rule 91, 16.12.2024][Rectified under Rule 91, 16.12.2024]

[0085] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form D of the compound formula (I) is a solvate.

[0086] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form D of the compound formula (I) is a CHCl3 solvate.

[0087] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form D of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0 ±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2° or 34.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 4 to 6, or 5 to 6 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, of the above diffraction peaks.

[0088] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form D of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 10.2±0.2° and 17.0±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.8±0.2° and 10.2±0.2°, 10.2±0.2° and 17.0±0.2°, or 6.8±0.2° and 17.0±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 16.0±0.2°, 17.5±0.2° and 34.3±0.2°, and preferably comprises 2 (16.0±0.2°and 17.5±0.2°, 16.0±0.2° and 34.3±0.2°, or 17.5±0.2° and 34.3±0.2°) or 3 of the above diffraction peaks.

[0089] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form D of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0090] Group (D1) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2° and 17.0±0.2°;

[0091] Group (D2) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2° and 17.0±0.2°;

[0092] Group (D3) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 17.0±0.2° and 17.5±0.2°;

[0093] Group (D4) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 17.0±0.2° and 34.3±0.2°;

[0094] Group (D5) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2° and 17.5±0.2°;

[0095] Group (D6) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2°, and 34.3±0.2°;

[0096] Group (D7) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2° and 34.3±0.2°

[0097] Group (D8) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2° and 34.3±0.2°.

[0098] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form D represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 4.

[0099] Table 4 XRPD diffraction peak data of freebase Form D

[0100] The XRPD pattern of freebase Form D is substantially as shown in Figure 4-1.

[0101] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 17.9 ±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2°, 23.7±0.2°, 24.7±0.2° or 26.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0102] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 13.2±0.2°, 18.7±0.2°and 22.2±0.2° preferably comprises 2 (such as, 13.2±0.2° and 18.7±0.2°, 18.7±0.2°and 22.2±0.2°, or 13.2±0.2° and 22.2±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.4±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2°, 24.7±0.2° and 26.0±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.4±0.2° and 19.1±0.2°, 6.4±0.2° and 19.7±0.2°, 6.4±0.2° and 24.7±0.2°, or 19.1±0.2° and 19.7±0.2°) , 3 (such as, 6.4±0.2°, 19.1±0.2° and 19.7±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0103] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.9±0.2°, 10.5±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 22.8±0.2°, 26.6±0.2°, 28.7±0.2° and 31.2±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0104] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0105] Group (E1) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0106] Group (E2) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0107] Group (E3) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2° and 22.2±0.2°;

[0108] Group (E4) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0109] Group (E5) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.7±0.2°;

[0110] Group (E6) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 26.0±0.2°;

[0111] Group (E7) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°and 22.2±0.2°;

[0112] Group (E8) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2°and 22.2±0.2°;

[0113] Group (E9) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.7±0.2°;

[0114] Group (E10) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0115] Group (E11) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°.

[0116] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form E represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 5.

[0117] Table 5 XRPD diffraction peak data of freebase Form E

[0118] The XRPD pattern of freebase Form E is substantially as shown in Figure 5-1.

[0119] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form F of the compound formula (I) is a solvate.

[0120] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form F of the compound formula (I) is a CHCl3 solvate.

[0121] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 8.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4 ±0.2°, 14.8±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2° or 24.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0122] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 13.4±0.2° and 18.7±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.6±0.2° and 13.4±0.2°, 13.4±0.2° and 18.7±0.2°, or 10.6±0.2° and 18.7±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 17.3±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 17.3±0.2° and 19.2±0.2°, 17.3±0.2° and 19.7±0.2°, 17.3±0.2° and 22.2±0.2°, 17.3±0.2° and 24.6±0.2°, 19.2±0.2° and 19.7±0.2°, 19.2±0.2° and 22.2±0.2°, 19.2±0.2° and 24.6±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°, 19.7±0.2° and 24.6±0.2° or 22.2±0.2° and 24.6±0.2°) , 3 (such as, 17.3±0.2°, 19.2±0.2° and 19.7±0.2°, 17.3±0.2°, 19.2±0.2° and 22.2±0.2°, 17.3±0.2°, 19.2±0.2° and 24.6±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2° and 24.6±0.2°, or 19.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0123] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 12.0±0.2°, 15.6±0.2°, 21.1±0.2°, 23.5±0.2°, 26.0±0.2°, 27.7±0.2° and 34.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0124] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0125] Group (F1) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2° and 18.7±0.2°;

[0126] Group (F2) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;

[0127] Group (F3) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 19.2±0.2°;

[0128] Group (F4) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 19.7±0.2°;

[0129] Group (F5) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0130] Group (F6) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 24.6±0.2°;

[0131] Group (F7) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 19.2±0.2°;

[0132] Group (F8) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 19.7±0.2°;

[0133] Group (F9) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0134] Group (F10) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 24.6±0.2°;

[0135] Group (F11) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 19.7±0.2°;

[0136] Group (F12) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 22.2±0.2°;

[0137] Group (F13) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 24.6±0.2°;

[0138] Group (F14) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0139] Group (F15) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 24.6±0.2°;

[0140] Group (F16) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2°;

[0141] Group (F17) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 19.7±0.2°;

[0142] Group (F18) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 22.2±0.2°;

[0143] Group (F19) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 24.6±0.2°;

[0144] Group (F20) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;

[0145] Group (F21) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2° and 24.6±0.2°;

[0146] Group (F22) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2°.

[0147] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form F represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 6.

[0148] Table 6 XRPD diffraction peak data of freebase Form F

[0149] The XRPD pattern of freebase Form F is substantially as shown in Figure 6-1.

[0150] The TGA spectrum thereof of freebase Form F is substantially as shown in Figure 6-2.

[0151] The DSC spectrum thereof of freebase Form F is substantially as shown in Figure 6-3.

[0152] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form G of the compound formula (I) is an anhydrate.

[0153] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 19.7±0.2°, 21.5±0.2°, 23.8±0.2° or 25.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0154] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.5±0.2° and 13.4±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°, or 10.5±0.2° and 17.2±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 4.8±0.2° and 5.3±0.2°, 4.8±0.2° and 9.6±0.2°, 4.8±0.2° and 21.5±0.2°, 4.8±0.2° and 25.6±0.2°, 5.3±0.2° and 9.6±0.2°, 5.3±0.2° and 21.5±0.2°, 5.3±0.2° and 25.9±0.2°, 9.6±0.2° and 21.5±0.2°, 9.6±0.2° and 25.9±0.2°, or 21.5±0.2° and 25.9±0.2°) , 3 (such as, 4.8±0.2°, 5.3±0.2° and 9.6±0.2°, 4.8±0.2°, 5.3±0.2° and 21.5±0.2°, 4.8±0.2°, 5.3±0.2° and 25.9±0.2°, 4.8±0.2°, 9.6±0.2° and 21.5±0.2°, 4.8±0.2°, 9.6±0.2° and 25.9±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2° and 21.5±0.2°, 5.3±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°, or 9.6±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0155] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0156] Group (G1) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0157] Group (G2) : 4.8±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0158] Group (G3) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0159] Group (G4) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0160] Group (G5) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0161] Group (G6) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;

[0162] Group (G7) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0163] Group (G8) : 4.8±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0164] Group (G9) : 4.8±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0165] Group (G10) : 4.8±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.6±0.2°;

[0166] Group (G11) : 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0167] Group (G12) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0168] Group (G13) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;

[0169] Group (G14) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0170] Group (G15) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;

[0171] Group (G16) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°;

[0172] Group (G17) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;

[0173] Group (G18) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0174] Group (G19) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;

[0175] Group (G20) : 4.8±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0176] Group (G21) : 4.8±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;

[0177] Group (G22) : 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0178] Group (G22) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°;

[0179] Group (G22) : 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;

[0180] Group (G22) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°.

[0181] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 15.1±0.2°, 18.5±0.2°, 22.1±0.2°, 22.5±0.2°, 24.6±0.2°, 27.0±0.2°, 27.8±0.2°, 29.0±0.2°, 30.2±0.2° and 30.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0182] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form G represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 7.

[0183] Table 7 XRPD diffraction peak data of freebase Form G

[0184] The XRPD pattern of freebase Form G is substantially as shown in Figure 7-1.

[0185] The TGA spectrum thereof of freebase Form G is substantially as shown in Figure 7-2.

[0186] The DSC spectrum thereof of freebase Form G is substantially as shown in Figure 7-3.

[0187] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form H of the compound formula (I) is a hydrate.

[0188] The TGA spectrum thereof of freebase Form H is substantially as shown in Figure 8-1.

[0189] The DSC spectrum thereof of freebase Form H is substantially as shown in Figure 8-2.

[0190] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form I of the compound formula (I) is an anhydrate.

[0191] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form I of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.3±0.2°; or has a diffraction peak at 10.5±0.2°, 11.9 ±0.2°, 13.5±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.4±0.2°, 20.6±0.2°, 25.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0192] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form I of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.3±0.2°, 10.5±0.2° and 11.9±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.3±0.2° and 10.5±0.2°, 10.5±0.2° and 11.9±0.2°, or 6.3±0.2° and 11.9±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.5±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.4±0.2° and 20.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 13.5±0.2° and 14.9±0.2°, 13.5±0.2° and 17.1±0.2°, 13.5±0.2° and 19.4±0.2°, 13.5±0.2°and 20.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.1±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°, 14.9±0.2° and 20.6±0.2°, 17.1±0.2° and 19.4±0.2°, 17.1±0.2° and 20.6±0.2°, or 19.4±0.2° and 20.6±0.2) , 3 (such as, 13.5±0.2°, 17.1±0.2° and 19.4±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0193] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form I of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0194] Group (I1) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2° and 11.9±0.2°;

[0195] Group (I2) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 13.5±0.2°;

[0196] Group (I3) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 14.9±0.2°;

[0197] Group (I4) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 17.1±0.2°;

[0198] Group (I5) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 19.4±0.2°;

[0199] Group (I6) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 20.6±0.2°;

[0200] Group (I7) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 14.9±0.2°;

[0201] Group (I8) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 17.1±0.2°;

[0202] Group (I9) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 19.4±0.2°;

[0203] Group (I10) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 20.6±0.2°;

[0204] Group (I11) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 14.9±0.2° and 17.1±0.2°;

[0205] Group (I12) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;

[0206] Group (I13) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 14.9±0.2° and 20.6±0.2°;

[0207] Group (I14) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 17.1±0.2° and 19.4±0.2°;

[0208] Group (I15) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 17.1±0.2° and 20.6±0.2°;

[0209] Group (I16) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 19.4±0.2° and 20.6±0.2°;

[0210] Group (I17) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2°, 17.1±0.2° and 19.4±0.2°.

[0211] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form I represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 9.

[0212] Table 9 XRPD diffraction peak data of freebase Form I

[0213] The TGA spectrum thereof of freebase Form I is substantially as shown in Figure 9-1.

[0214] The DSC spectrum thereof of freebase Form I is substantially as shown in Figure 9-2.

[0215] In a preferred embodiment of the present invention, crystal freebase Form J of the compound formula (I) is an anhydrate.

[0216] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J of the compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 12.0 ±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2°, 22.3±0.2°, 23.5±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0217] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.6±0.2° and 14.9±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, or 10.6±0.2° and 17.2±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 13.4±0.2°, 19.5±0.2°, 22.3±0.2°and 23.5±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 4.9±0.2° and 13.4±0.2°, 4.9±0.2° and 19.5±0.2°, 4.9±0.2° and 22.3±0.2°, 4.9±0.2° and 23.5±0.2°, 13.4±0.2° and 19.5±0.2°, 13.4±0.2° and 22.3±0.2°, 13.4±0.2° and 23.5±0.2°, 19.5±0.2°and 22.3±0.2°, or 22.3±0.2° and 23.5±0.2°) , 3 (such as, 4.9±0.2°, 13.4±0.2° and 19.5±0.2°, 4.9±0.2°, 13.4±0.2°and 22.3±0.2°, 4.9±0.2°, 13.4±0.2° and 23.5±0.2°, 4.9±0.2°, 19.5±0.2° and 22.3±0.2°, 4.9±0.2°, 19.5±0.2° and 23.5±0.2°, 4.9±0.2°, 22.3±0.2° and 22.3±0.2°, 13.4±0.2°, 19.5±0.2° and 22.3±0.2°, 13.4±0.2°, 19.5±0.2°and 23.5±0.2°, 13.4±0.2°, 22.3±0.2° and 23.5±0.2°, or 19.5±0.2°, 22.3±0.2°and 23.5±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0218] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0219] Group (J1) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;

[0220] Group (J2) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;

[0221] Group (J3) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;

[0222] Group (J4) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;

[0223] Group (J5) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;

[0224] Group (J6) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 23.5±0.2°;

[0225] Group (J7) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;

[0226] Group (J8) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;

[0227] Group (J9) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;

[0228] Group (J10) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 23.5±0.2°;

[0229] Group (J11) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;

[0230] Group (J12) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;

[0231] Group (J13) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2° and 22.3±0.2°;

[0232] Group (J14) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 22.3±0.2° and 23.5±0.2°;

[0233] Group (J15) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;

[0234] Group (J16) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;

[0235] Group (J17) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 23.5±0.2°;

[0236] Group (J18) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2° and 22.3±0.2°;

[0237] Group (J19) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2° and 23.5±0.2°;

[0238] Group (J20) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 22.3±0.2° and 22.3±0.2°.

[0239] The X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 8.4±0.2°, 9.0±0.2°, 9.7±0.2°, 15.6±0.2°, 18.4±0.2°, 21.0±0.2°, 21.5±0.2°, 24.0±0.2°, 24.7±0.2° and 27.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0240] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of freebase Form J represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 10.

[0241] Table 10 XRPD diffraction peak data of freebase Form J

[0242] The XRPD pattern of freebase Form J is substantially as shown in Figure 10-1.

[0243] The TGA spectrum thereof of freebase Form J is substantially as shown in Figure 10-2.

[0244] The DSC spectrum thereof of freebase Form J is substantially as shown in Figure 10-3.

[0245] In some embodiments, the solid form is substantially free of other crystalline or amorphous forms.

[0246] In some embodiments, the amount of other crystalline or amorphous forms is 10 % (w / w) or less.

[0247] In some embodiments, the amount of other crystalline or amorphous forms is 5 % (w / w) or less.

[0248] In some embodiments, the solid form is substantially free of impurities.

[0249] In some embodiments, the amount of impurities is 2%or less.

[0250] The present invention also provides a method for preparing the crystal form of formula (I) according to any one of claims 1 to 6, wherein, the method is method 1, 2, 3 or 4:

[0251] method 1 comprising the steps of:

[0252] a freebase of compound formula (I) , followed by an appropriate amount of solvent; the mixture is heated to 38 ℃ to get a clear solution;

[0253] mix and heat a solvent with freebase of compound formula (I) to obtain a clear solution, the solution is cooling to get a suspention; the suspension is co-distilled with EtOH to get a suspension in EtOH; the suspension is cooled to 0 ℃, and filtered and dried;

[0254] the solvent is the mixture of DCM and EtOH, and the ratio is 3: 1.

[0255] method 2 comprising the steps of:

[0256] the formula (I) was suspending in solvent at RT to obtain suspension; the suspension was then heated to obtain a clear solution; the solution was equilibrated and filtered; filtrates were slowly cooled down to 5 ℃,

[0257] the solvent is MeOH, THF, EtOH, H2O, ACN, acetone, CHCl3, n-heptane, DMAc, or mixture of one or more the above solvents;

[0258] method 3 comprising the steps of:

[0259] the formula (I) was dissolved in good solvent to obtain a clear solution; this solution was then placed into a vial with 5 mL of anti-solvent; the vial was sealed with a cap and kept at RT allowing sufficient time for organic vapor to interact with the solution;

[0260] the good solvent is CHCl3, EtOH, H2O, DMSO, NMP, or mixture of one or more the above solvents;

[0261] the anti-solvent is acetone, IPAc, MTBE, n-heptane, toluene, IPA, H2O, ACN, or mixture of one or more the above solvents;

[0262] method 4 comprising the steps of:

[0263] the formula (I) was dissolved in solvent to obtain a clear solution and the solution was magnetically stirred followed by addition of anti-solvent until precipitate appeared; the samples without precipitate were transferred to slurry at 5 ℃ and then transferred to slurry at -20 ℃; the clear samples were transferred to RT for evaporation, and the solids were isolated;

[0264] the solvent is DCM, EtOH, H2O, DMAc, DMSO, NMP, or mixture of one or more the above solvents;

[0265] the anti-solvent is acetone, IPAc, MTBE, n-heptane, toluene, IPA, H2O, ACN, or mixture of one or more the above solvents.

[0266] Preferably, method 1 comprising the steps of:

[0267] an appropriate amount freebase of compound formula (I) , followed by an appropriate amount of solvent; the mixture is heated to 38 ℃ to get a clear solution; the solution is cooling down to 20 ℃ to get a suspension; the mixture is distilled to remove half of the solvent; the resulted suspension is further co-distilled with EtOH to get a suspension in EtOH; the suspension is cooled to 0 ℃, and filtered and dried, wherein, the solvent is the mixture of DCM and EtOH, and the ratio is 3: 1.

[0268] Preferably, method 2 comprising the steps of:

[0269] weighing an appropriate amount of formula (I) , and suspending in an appropriate amount of solvent at RT; The suspension was then heated to 50 ℃, equilibrated for 2 hrs and filtered; Filtrates were slowly cooled down to 5 ℃ at an appropriate rate (for example, 0.1 ℃ / min) ;

[0270] wherein, the solvent is MeOH, THF, EtOH, H2O, ACN, acetone, CHCl3, n-heptane, DMAc, or mixture of one or more the above solvents.

[0271] Preferably, method 3 comprising the steps of:

[0272] approximately an appropriate amount of formula (I) was dissolved in an appropriate amount of good solvent to obtain a clear solution; this solution was then placed into a vial with 5 mL of anti-solvent; the vial was sealed with a cap and kept at RT allowing sufficient time for organic vapor to interact with the solution;

[0273] Wherein, the good solvent is CHCl3, EtOH, H2O, DMSO, NMP, or mixture of one or more the above solvents;

[0274] the anti-solvent is acetone, IPAc, MTBE, n-heptane, toluene, IPA, H2O, ACN, or mixture of one or more the above solvents.

[0275] Preferably, method 4 comprising the steps of:

[0276] an appropriate amount of formula (I) was dissolved in an appropriate amount of solvent to obtain a clear solution and the solution was magnetically stirred followed by addition of anti-solvent until precipitate appeared; the samples without precipitate were transferred to slurry at 5 ℃ and then transferred to slurry at -20 ℃; the clear samples were transferred to RT for evaporation, and the solids were isolated;

[0277] Wherein, the solvent is DCM, EtOH, H2O, DMAc, DMSO, NMP, or mixture of one or more the above solvents;

[0278] The anti-solvent is acetone, IPAc, MTBE, n-heptane, toluene, IPA, H2O, ACN, or mixture of one or more the above solvents.

[0279] In some embodiments, the present also disclosure relates to acid addition salts of formula (I) .

[0280] In some embodiment of the present invention, the salt is selected from but not limited to the group consisting of HCl salt, HBr salt, sulfate, maleate, phosphate, mucate, tartrate, fumarate, citrate, glycolate, malate, succinate, napadisylate, edisylate, tosylate, mesylate, oxalate, besylate, malonate, aspartate and glutamate.

[0281] In some embodiment of the present invention, the acid is organic or inorganic acid, which is selected from but not limited to the group consisting of HCl, HBr, H2SO4, H3PO4, maleic acid, mucic acid, L-tartaric acid, fumaric acid, citric acid, glycollic acid, L-malic acid, succinic acid, 1, 5-naphthalene disulfonic acid, 1, 2-ethanedisulfonic acid, p-toluenesulfonic acid, methanesulfonic acid, oxalic acid, benzenesulfonic acid, malonic acid, aspartic and glutamic acid.

[0282] In some embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) is 0.2 to 2.0.

[0283] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) is 0.5 to 1.5.

[0284] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) is 0.5, 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1.0, 1.1, 1.2 or 1.5.

[0285] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in HCl salt and sulfate is 0.9.

[0286] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in phosphate is 0.9 or 1.0.

[0287] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in maleate and tartrate is 1.0.

[0288] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in mucate is 0.5 or 0.6.

[0289] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in fumarate is 0.6 or 0.7.

[0290] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in citrate is 0.6 or 1.0.

[0291] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in glycolate is 1.5.

[0292] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in malate and napadisylate is 0.6.

[0293] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in edisylate is 0.6 or 1.0.

[0294] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in succinate is 0.9 or 1.0.

[0295] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in tosylate is 1.0 or 1.2.

[0296] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in mesylate is 0.9, 1.0 or 1.1.

[0297] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in oxalate is 0.5 or 0.7.

[0298] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in besylate is 0.9 or 1.0.

[0299] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in malonate is 0.7 or 1.0.

[0300] In a further preferred embodiment of the present invention, the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) in HBr salt is 0.9 or 1.0.

[0301] In some embodiment of the present invention, the salt of compound of formula (I) is amorphous.

[0302] In some embodiment of the present invention, the salt of compound of formula (I) is crystalline.

[0303] In a further preferred embodiment of the present invention, the HCl salt Form A of compound formula (I) is provided.

[0304] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°, 21.3±0.2°, 26.3±0.2° or 26.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0305] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.2±0.2°and 17.1±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°, or 6.2±0.2° and 26.3 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.6±0.2° and 26.5±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.0±0.2° and 8.7±0.2°, 8.0±0.2° and 12.8±0.2°, 8.0±0.2° and 17.6±0.2°, 8.0±0.2° and 26.5±0.2°, 8.7±0.2° and 12.8±0.2°, 8.7±0.2° and 17.6±0.2°, 8.7±0.2° and 26.5±0.2°, 12.8±0.2° and 17.6±0.2°, 12.8±0.2° and 26.5±0.2°, or 7.6±0.2° and 26.5±0.2°) , 3 (such as, 8.0±0.2°, 8.7±0.2° and 12.8±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2° and 17.6±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2° and 26.5±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2° and 17.6±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2° and 26.5±0.2°, 8.0±0.2°, 17.6±0.2° and 26.5±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2° and 17.6±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2° and 26.5±0.2°, 8.7±0.2°, 17.6±0.2° and 26.5±0.2°, or 12.8±0.2°, 17.6±0.2° and 26.5±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0306] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0307] Group (HA1) : 6.2±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0308] Group (HA2) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0309] Group (HA3) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0310] Group (HA4) : 6.2±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0311] Group (HA5) : 6.2±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0312] Group (HA6) : 6.2±0.2°, 17.1±0.2°, 26.5±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0313] Group (HA7) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0314] Group (HA8) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0315] Group (HA9) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°and 26.3 ±0.2°;

[0316] Group (HA10) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0317] Group (HA11) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0318] Group (HA12) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0319] Group (HA13) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0320] Group (HA14) : 6.2±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°and 26.3 ±0.2°;

[0321] Group (HA15) : 6.2±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0322] Group (HA16) : 6.2±0.2°, 7.6±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0323] Group (HA17) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0324] Group (HA18) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0325] Group (HA19) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0326] Group (HA20) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0327] Group (HA21) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0328] Group (HA22) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0329] Group (HA23) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0330] Group (HA24) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3 ±0.2°;

[0331] Group (HA25) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0332] Group (HA26) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°, 26.3 ±0.2° and 26.5±0.2°.

[0333] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 13.9±0.2°, 16.0±0.2°, 16.5±0.2°, 18.2±0.2°, 19.8±0.2°, 21.8±0.2°, 22.8±0.2°, 24.1±0.2°, 28.3±0.2°and 31.2±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0334] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of HCl salt Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 11.

[0335] Table 11 XRPD diffraction peak data of HCl salt Form A

[0336] The XRPD pattern of HCl salt Form A is substantially as shown in Figure 11-1.

[0337] The TGA spectrum thereof of HCl salt Form A is substantially as shown in Figure 11-2.

[0338] The DSC spectrum thereof of HCl salt Form A is substantially as shown in Figure 11-3.

[0339] In a further preferred embodiment of the present invention, the HCl salt Form B of compound formula (I) is provided.

[0340] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 9.4±0.2°, 12.2±0.2°, 13.7±0.2°, 14.4±0.2°, 16.7±0.2°, 25.5±0.2° or 26.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0341] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 8.7±0.2° and 19.1±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.8±0.2°and 8.7±0.2°, 6.8±0.2° and 19.1±0.2°, or 8.7±0.2° and 19.1±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 12.2±0.2°, 13.7±0.2°, 14.4±0.2° and 16.7±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.1±0.2° and 12.2±0.2°, 6.1±0.2° and 13.7±0.2°, 6.1±0.2° and 14.4±0.2°, 6.1±0.2° and 16.7±0.2°, 12.2±0.2°and 13.7±0.2°, 12.2±0.2° and 14.4±0.2°, 12.2±0.2° and 16.7±0.2°, 13.7±0.2° and 14.4±0.2°, 13.7±0.2° and 16.7±0.2°, or 14.4±0.2° and 16.7±0.2°) , 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0342] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0343] Group (HB1) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0344] Group (HB2) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0345] Group (HB3) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2° and 19.1±0.2°;

[0346] Group (HB4) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0347] Group (HB5) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;

[0348] Group (HB6) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0349] Group (HB7) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2° and 19.1±0.2°;

[0350] Group (HB8) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0351] Group (HB9) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;

[0352] Group (HB10) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0353] Group (HB11) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2°, 13.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0354] Group (HB12) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;

[0355] Group (HB13) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0356] Group (HB14) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;

[0357] Group (HB15) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;

[0358] Group (HB16) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 14.4±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°.

[0359] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 20.6±0.2°, 23.6±0.2°, 24.4±0.2°, 26.0±0.2°, 27.4±0.2°, 28.6±0.2°and 30.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0360] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of HCl salt Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 12.

[0361] Table 12 XRPD diffraction peak data of HCl salt Form B

[0362] The XRPD pattern of HCl salt Form B is substantially as shown in Figure 12-1.

[0363] The TGA spectrum thereof of HCl salt Form B is substantially as shown in Figure 12-2.

[0364] The DSC spectrum thereof of HCl salt Form B is substantially as shown in Figure 12-3.

[0365] In a further preferred embodiment of the present invention, the HCl salt Form C of compound formula (I) is provided.

[0366] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.2±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2°, 20.8±0.2°, 22.0±0.2° or 23.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0367] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.4±0.2° and 18.6±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°, or 10.4±0.2° and 22.0 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2° and 19.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.6±0.2° and 9.3±0.2°, 8.6±0.2° and 16.1±0.2°, 8.6±0.2° and 17.8±0.2°, 8.6±0.2° and 19.6±0.2°, 9.3±0.2° and 16.1±0.2°, 9.3±0.2° and 17.8±0.2°, 9.3±0.2° and 19.6±0.2°, 16.1±0.2° and 17.8±0.2°, 16.1±0.2° and 19.6±0.2°, or 17.8±0.2° and 19.6±0.2°) , 3 (such as, 8.6±0.2°, 9.3±0.2° and 16.1±0.2°, 8.6±0.2°, 9.3±0.2° and 17.8±0.2°, 8.6±0.2°, 9.3±0.2° and 19.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.1±0.2° and 17.8±0.2°, 8.6±0.2°, 17.8±0.2°, and 19.6±0.2°, 9.3±0.2°, 16.1±0.2° and 17.8±0.2°, 9.3±0.2°, 16.1±0.2° and 19.6±0.2°, 9.3±0.2°, 17.8±0.2° and 19.6±0.2°, or 16.1±0.2°, 17.8±0.2° and 19.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0368] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0369] Group (HC1) : 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0370] Group (HC2) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0371] Group (HC3) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0372] Group (HC4) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0373] Group (HC5) : 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0374] Group (HC6) : 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0375] Group (HC7) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0376] Group (HC8) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0377] Group (HC9) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0378] Group (HC10) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0379] Group (HC11) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0380] Group (HC12) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0381] Group (HC13) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0382] Group (HC14) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0383] Group (HC15) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0384] Group (HC16) : 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0385] Group (HC17) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0386] Group (HC18) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0387] Group (HC19) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0388] Group (HC20) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0389] Group (HC21) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0390] Group (HC22) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0391] Group (HC23) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0392] Group (HC24) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0393] Group (HC25) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°;

[0394] Group (HC26) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0 ±0.2°.

[0395] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form C of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 15.2±0.2°, 17.2±0.2°, 26.3±0.2°, 27.8±0.2°, 31.1±0.2° and 33.3±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0396] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of HCl salt Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 13.

[0397] Table 13 XRPD diffraction peak data of HCl salt Form C

[0398] The XRPD pattern of HCl salt Form C is substantially as shown in Figure 13-1.

[0399] The TGA spectrum thereof of HCl salt Form C is substantially as shown in Figure 13-2.

[0400] The DSC spectrum thereof of HCl salt Form C is substantially as shown in Figure 13-3.

[0401] In a further preferred embodiment of the present invention, the HCl salt Form D of compound formula (I) is provided.

[0402] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form D of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 9.0±0.2°, 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2°, 22.0±0.2°, 24.7±0.2° or 29.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0403] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form D of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.6±0.2°, 10.3±0.2° and 21.0 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 9.6±0.2°and 10.3±0.2°, 10.3±0.2° and 21.0 ±0.2°, or 9.6±0.2° and 21.0 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 17.4±0.2° and 18.1±0.2°, 17.4±0.2° and 19.1±0.2°, 17.4±0.2° and 24.7±0.2°, 17.4±0.2° and 25.9±0.2°, 18.1±0.2° and 19.1±0.2°, 18.1±0.2° and 24.7±0.2°, 18.1±0.2° and 29.5±0.2°, 19.1±0.2° and 24.7±0.2°, 19.1±0.2° and 29.5±0.2°, or 24.7±0.2° and 29.5±0.2°) , 3 (such as, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 19.1±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 24.7±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 29.5±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2° and 24.7±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2° and 29.5±0.2°, 17.4±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2° and 24.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2° and 29.5±0.2°, or 19.1±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0404] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form D of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0405] Group (HD1) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0406] Group (HD2) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0407] Group (HD3) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0408] Group (HD4) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0409] Group (HD5) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0410] Group (HD6) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 21.0 ±0.2° and 29.5±0.2°;

[0411] Group (HD7) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0412] Group (HD8) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0413] Group (HD9) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0414] Group (HD10) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 21.0 ±0.2°, and 25.9±0.2°;

[0415] Group (HD11) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0416] Group (HD12) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0417] Group (HD13) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 29.5±0.2°;

[0418] Group (HD14) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0419] Group (HD15) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 29.5±0.2°;

[0420] Group (HD16) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 21.0 ±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°;

[0421] Group (HD17) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0 ±0.2°;

[0422] Group (HD18) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0423] Group (HD19) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 29.5±0.2°;

[0424] Group (HD20) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0425] Group (HD21) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 29.5±0.2°;

[0426] Group (HD22) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 21.0 ±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°;

[0427] Group (HD23) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 24.7±0.2°;

[0428] Group (HD24) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2° and 29.5±0.2°;

[0429] Group (HD25) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0 ±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°.

[0430] The X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form D of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 7.0±0.2°, 12.3±0.2°, 15.3±0.2°, 16.1±0.2°, 20.0±0.2°, 22.8±0.2°, 24.1±0.2°, 25.4±0.2°, 27.6±0.2° and 28.7±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0431] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of HCl salt Form D of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 14.

[0432] Table 14 XRPD diffraction peak data of HCl salt Form D

[0433] The XRPD pattern of HCl salt Form D is substantially as shown in Figure 14-1.

[0434] The TGA spectrum thereof of HCl salt Form D is substantially as shown in Figure 14-2.

[0435] The DSC spectrum thereof of HCl salt Form D is substantially as shown in Figure 14-3.

[0436] In a further preferred embodiment of the present invention, the sulfate Form A of compound formula (I) is provided.

[0437] The X-ray powder diffraction pattern of sulfate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 20.5±0.2°, 24.3±0.2°, 25.0±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0438] The X-ray powder diffraction pattern of sulfate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.9±0.2°and 18.2±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°, or 5.9±0.2° and 19.1 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 12.8±0.2° and 13.8±0.2°, 12.8±0.2° and 16.4±0.2°, 12.8±0.2° and 25.0±0.2°, 12.8±0.2° and 25.8±0.2°, 13.8±0.2° and 16.4±0.2°, 13.8±0.2° and 25.0±0.2°, 13.8±0.2° and 25.8±0.2°, 16.4±0.2° and 25.0±0.2°, 16.4±0.2° and 25.8±0.2°, or 25.0±0.2° and 25.8±0.2°) , 3 (such as, 12.8±0.2°, 13.8±0.2° and 16.4±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2° and 25.0±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2° and 25.8±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2° and 25.0±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2° and 25.8±0.2°, 12.8±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2° and 25.0±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2° and 25.8±0.2°, 13.8±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°, or 16.4±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0439] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of sulfate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0440] Group (SA1) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0441] Group (SA2) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0442] Group (SA31) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0443] Group (SA4) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0444] Group (SA51) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0445] Group (SA6) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0446] Group (SA7) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0447] Group (SA8) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0448] Group (SA9) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0449] Group (SA10) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0450] Group (SA11) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0451] Group (SA12) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0452] Group (SA13) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0453] Group (SA14) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0454] Group (SA15) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0455] Group (SA16) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°;

[0456] Group (SA17) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[0457] Group (SA18) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0458] Group (SA19) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0459] Group (SA20) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0460] Group (SA21) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0461] Group (SA22) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 25.0±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0462] Group (SA23) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[0463] Group (SA24) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.8±0.2°;

[0464] Group (SA25) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°;

[0465] Group (SA26) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°.

[0466] The X-ray powder diffraction pattern of sulfate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.6±0.2°, 14.8±0.2°, 16.8±0.2°, 17.2±0.2°, 17.7±0.2°, 20.0±0.2°, 20.8±0.2°, 23.1±0.2°, 26.2±0.2° and 28.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0467] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of sulfate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 15.

[0468] Table 15 XRPD diffraction peak data of sulfate Form A

[0469] The XRPD pattern of sulfate Form A is substantially as shown in Figure 15-1.

[0470] The TGA spectrum thereof of sulfate Form A is substantially as shown in Figure 15-2.

[0471] The DSC spectrum thereof of sulfate Form A is substantially as shown in Figure 15-3.

[0472] In a further preferred embodiment of the present invention, the maleate Form A of compound formula (I) is provided.

[0473] The X-ray powder diffraction pattern of maleate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 7.9±0.2°, 9.2±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 17.7±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5±0.2°, 23.2±0.2° or 25.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0474] The X-ray powder diffraction pattern of maleate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 7.9±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 7.9±0.2°and 17.6±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°, or 7.9±0.2°and 22.5 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 21.7±0.2° and 23.2±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 15.2±0.2° and 15.7±0.2°, 15.2±0.2° and 16.4±0.2°, 15.2±0.2° and 21.7±0.2°, 15.2±0.2° and 23.2±0.2°, 15.7±0.2° and 16.4±0.2°, 15.7±0.2° and 21.7±0.2°, 15.7±0.2° and 23.2±0.2°, 16.4±0.2° and 21.7±0.2°, 16.4±0.2° and 23.2±0.2°, or 21.7±0.2° and 23.2±0.2°) , 3 (such as, 15.2±0.2°, 15.7±0.2° and 16.4±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2° and 21.7±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2° and 23.2±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2° and 21.7±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2° and 23.2±0.2°, 15.2±0.2°, 21.7±0.2° and 23.2±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2° and 21.7±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2° and 23.2±0.2°, 15.7±0.2°, 21.7±0.2° and 23.2±0.2°, or 16.4±0.2°, 21.7±0.2° and 23.2±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0475] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of maleate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0476] Group (MA1) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0477] Group (MA2) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0478] Group (MA3) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0479] Group (MA4) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0480] Group (MA5) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0481] Group (MA6) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0482] Group (MA7) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0483] Group (MA8) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0484] Group (MA9) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2 ° and 22.5 ±0.2°;

[0485] Group (MA10) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0486] Group (MA11) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0487] Group (MA12) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0488] Group (MA13) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0489] Group (MA14) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0490] Group (MA15) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0491] Group (MA16) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0492] Group (MA17) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0493] Group (MA18) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0494] Group (MA19) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0495] Group (MA20) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0496] Group (MA21) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0497] Group (MA22) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0498] Group (MA23) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5 ±0.2°;

[0499] Group (MA24) : 7.9±0.2°, 5.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0500] Group (MA25) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0501] Group (MA25) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5 ±0.2° and 23.2±0.2°.

[0502] The X-ray powder diffraction pattern of maleate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.2±0.2°, 11.0±0.2°, 13.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.0±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2°, 24.3±0.2°, 26.7±0.2° and 28.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0503] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of maleate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 16.

[0504] Table 16 XRPD diffraction peak data of maleate Form A

[0505] The XRPD pattern of maleate Form A is substantially as shown in Figure 16-1.

[0506] The TGA spectrum thereof of maleate Form A is substantially as shown in Figure 16-2.

[0507] The DSC spectrum thereof of maleate Form A is substantially as shown in Figure 16-3.

[0508] In a further preferred embodiment of the present invention, the maleate Form B of compound formula (I) is provided.

[0509] The X-ray powder diffraction pattern of maleate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.8±0.2°, 19.4±0.2°, 26.5±0.2° or 28.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0510] The X-ray powder diffraction pattern of maleate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 9.9±0.2°and 11.2±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°, or 9.9±0.2° and 19.4 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 26.5±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 7.4±0.2° and 9.5±0.2°, 7.4±0.2° and 10.6±0.2°, 7.4±0.2° and 14.9±0.2°, 7.4±0.2° and 26.5±0.2°, 9.5±0.2° and 10.6±0.2°, 9.5±0.2° and 14.9±0.2°, 9.5±0.2° and 26.5±0.2°, 10.6±0.2° and 14.9±0.2°, 10.6±0.2° and 26.5±0.2°, or 14.9±0.2° and 26.5±0.2°) , 3 (such as, 7.4±0.2°, 9.5±0.2° and 10.6±0.2°, 7.4±0.2°, 9.5±0.2° and 14.9±0.2°, 7.4±0.2°, 9.5±0.2° and 26.5±0.2°, 7.4±0.2°, 10.6±0.2° and 14.9±0.2°, 7.4±0.2°, 10.6±0.2° and 20.6±0.2°, 7.4±0.2°, 14.9±0.2° and 26.5±0.2°, 9.5±0.2°, 10.6±0.2° and 14.9±0.2°, 9.5±0.2°, 10.6±0.2° and 26.5±0.2°, 9.5±0.2°, 14.9±0.2° and 26.5±0.2°, or 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 26.5±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0511] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of maleate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0512] Group (MB1) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0513] Group (MB2) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0514] Group (MB3) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0515] Group (MB4) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0516] Group (MB5) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0517] Group (MB6) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0518] Group (MB7) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0519] Group (MB8) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0520] Group (MB9) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0521] Group (MB10) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0522] Group (MB11) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0523] Group (MB12) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0524] Group (MB13) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0525] Group (MB14) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0526] Group (MB15) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0527] Group (MB16) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0528] Group (MB17) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0529] Group (MB18) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0530] Group (MB19) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0531] Group (MB20) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 20.6±0.2°;

[0532] Group (MB21) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0533] Group (MB22) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4 ±0.2°;

[0534] Group (MB23) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0535] Group (MB24) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°;

[0536] Group (MB25) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4 ±0.2° and 26.5±0.2°.

[0537] The X-ray powder diffraction pattern of maleate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 20.4±0.2°, 22.1±0.2°, 23.6±0.2°, 24.2±0.2° and 29.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4 or 5 of the above diffraction peaks.

[0538] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of maleate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 17.

[0539] Table 17 XRPD diffraction peak data of maleate Form B

[0540] The XRPD pattern of maleate Form B is substantially as shown in Figure 17-1.

[0541] The TGA spectrum thereof of maleate Form B is substantially as shown in Figure 17-2.

[0542] The DSC spectrum thereof of maleate Form B is substantially as shown in Figure 17-3.

[0543] In a further preferred embodiment of the present invention, phosphate Form A of compound formula (I) is provided.

[0544] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.7±0.2°, 9.4±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2°, 23.2±0.2°, 24.4±0.2°or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0545] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.7±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.7±0.2° and 14.0±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2 ±0.2°, or 5.7±0.2° and 19.2 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.6±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 12.6±0.2° and 15.5±0.2°, 12.6±0.2° and 17.2±0.2°, 12.6±0.2° and 23.2±0.2°, 12.6±0.2° and 24.4±0.2°, 15.5±0.2° and 17.2±0.2°, 15.5±0.2° and 23.2±0.2°, 15.5±0.2° and 24.4±0.2°, 17.2±0.2° and 23.2±0.2°, 17.2±0.2° and 24.4±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°) , 3 (such as, 12.6±0.2°, 15.5±0.2° and 17.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.5±0.2° and 23.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.5±0.2° and 24.4±0.2°, 12.6±0.2°, 17.2±0.2° and 23.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.2±0.2° and 24.4±0.2°, 12.6±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2° and 23.2±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2° and 24.4±0.2°, 15.5±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°, or 17.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0546] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0547] Group (PA1) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0548] Group (PA2) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0549] Group (PA3) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0550] Group (PA4) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0551] Group (PA5) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0552] Group (PA6) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0553] Group (PA7) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 15.5±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0554] Group (PA8) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0555] Group (PA9) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0556] Group (PA10) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0557] Group (PA11) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0558] Group (PA12) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0559] Group (PA13) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0560] Group (PA14) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0561] Group (PA15) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0562] Group (PA16) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2 ±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°;

[0563] Group (PA17) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2 ±0.2°;

[0564] Group (PA18) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0565] Group (PA19) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0566] Group (PA20) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0567] Group (PA21) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0568] Group (PA22) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2 ±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°;

[0569] Group (PA23) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0570] Group (PA24) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2° and 24.4±0.2°;

[0571] Group (PA25) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2 ±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°;

[0572] Group (PA26) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2 ±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°.

[0573] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 11.4±0.2°, 18.0±0.2°, 20.3±0.2°, 25.3±0.2°, 29.1±0.2°, 30.4±0.2° and 33.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0574] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of phosphate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 18.

[0575] Table 18 XRPD diffraction peak data of phosphate Form A

[0576] The XRPD pattern of phosphate Form A is substantially as shown in Figure 18-1.

[0577] The TGA spectrum thereof of phosphate Form A is substantially as shown in Figure 18-2.

[0578] The DSC spectrum thereof of phosphate Form A is substantially as shown in Figure 18-3.

[0579] In a further preferred embodiment of the present invention, phosphate Form B of compound formula (I) is provided.

[0580] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.9±0.2°, 19.3±0.2°, 21.4±0.2°or 26.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0581] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.4±0.2°, 12.4±0.2° and 18.9 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.4±0.2° and 12.4±0.2°, 12.4±0.2° and 18.9 ±0.2°, or 6.4±0.2° and 18.9 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 12.9±0.2° and 14.9±0.2°, 12.9±0.2° and 17.2±0.2°, 12.9±0.2° and 21.4±0.2°, 12.9±0.2° and 26.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, 14.9±0.2° and 21.4±0.2°, 14.9±0.2° and 26.6±0.2°, 17.2±0.2° and 21.4±0.2°, 17.2±0.2° and 26.6±0.2°, or 21.4±0.2° and 26.6±0.2°) , 3 (such as, 12.9±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2° and 21.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2° and 26.6±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2° and 21.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2° and 26.6±0.2°, 12.9±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 21.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 26.6±0.2°, 14.9±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°, or 17.2±0.2°, 21.4±0.2°and 26.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0582] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0583] Group (PB1) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0584] Group (PB2) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0585] Group (PB3) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0586] Group (PB4) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0587] Group (PB5) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0588] Group (PB6) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0589] Group (PB7) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0590] Group (PB8) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0591] Group (PB9) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0592] Group (PB10) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0593] Group (PB11) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0594] Group (PB12) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0595] Group (PB13) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0596] Group (PB14) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0597] Group (PB15) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0598] Group (PB16) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 18.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°;

[0599] Group (PB17) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0600] Group (PB18) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0601] Group (PB19) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0602] Group (PB20) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0603] Group (PB21) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0604] Group (PB22) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 18.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°;

[0605] Group (PB23) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[0606] Group (PB24) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2° and 26.6±0.2°;

[0607] Group (PB25) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°;

[0608] Group (PB26) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°.

[0609] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 7.8±0.2°, 15.3±0.2°, 17.9±0.2°, 19.9±0.2°, 23.6±0.2°, 25.0±0.2°, 25.9±0.2°, 28.2±0.2° and 31.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0610] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of phosphate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 19.

[0611] Table 19 XRPD diffraction peak data of phosphate Form B

[0612] The XRPD pattern of phosphate Form B is substantially as shown in Figure 19-1.

[0613] The TGA spectrum thereof of phosphate Form B is substantially as shown in Figure 19-2.

[0614] The DSC spectrum thereof of phosphate Form B is substantially as shown in Figure 19-3.

[0615] In a further preferred embodiment of the present invention, phosphate Form C of compound formula (I) is provided.

[0616] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 12.8±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2°, 24.4±0.2°or 24.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0617] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.0±0.2° and 18.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°, or 6.0±0.2° and 18.6 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2° and 24.9±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.3±0.2° and 12.4±0.2°, 6.3±0.2° and 15.0±0.2°, 6.3±0.2° and 17.1±0.2°, 6.3±0.2° and 24.9±0.2°, 12.4±0.2° and 15.0±0.2°, 12.4±0.2° and 17.1±0.2°, 12.4±0.2° and 24.9±0.2°, 15.0±0.2° and 17.1±0.2°, 15.0±0.2° and 24.9±0.2°, or 17.1±0.2° and 24.9±0.2°) , 3 (such as, 6.3±0.2°, 12.4±0.2° and 15.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2° and 17.1±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2° and 24.9±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2° and 17.1±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2° and 24.9±0.2°, 6.3±0.2°, 17.1±0.2° and 24.9±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2° and 17.1±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2° and 24.9±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2° and 24.9±0.2°, or 15.0±0.2°, 17.1±0.2° and 24.9±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0618] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0619] Group (PC1) : 6.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0620] Group (PC2) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0621] Group (PC3) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0622] Group (PC4) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0623] Group (PC5) : 6.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0624] Group (PC6) : 6.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0625] Group (PC7) : 6.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0626] Group (PC8) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0627] Group (PC9) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0628] Group (PC10) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0629] Group (PC11) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0630] Group (PC12) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0631] Group (PC13) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0632] Group (PC14) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0633] Group (PC15) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0634] Group (PC16) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0635] Group (PC17) : 6.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0636] Group (PC18) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0637] Group (PC19) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0638] Group (PC20) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0639] Group (PC21) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0640] Group (PC22) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0641] Group (PC23) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0642] Group (PC24) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0643] Group (PC25) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0644] Group (PC26) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0645] Group (PC27) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 24.9±0.2°.

[0646] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form C of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 14.3±0.2°, 16.1±0.2°, 19.7±0.2°, 21.1±0.2°, 22.4±0.2°, 25.5±0.2°, 26.2±0.2°, 27.4±0.2°, 29.6±0.2° and 31.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0647] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of phosphate Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 20.

[0648] Table 20 XRPD diffraction peak data of phosphate Form C

[0649] The XRPD pattern of phosphate Form C is substantially as shown in Figure 20-1.

[0650] The TGA spectrum thereof of phosphate Form C is substantially as shown in Figure 20-2.

[0651] The DSC spectrum thereof of phosphate Form C is substantially as shown in Figure 20-3.

[0652] In a further preferred embodiment of the present invention, phosphate Form D of compound formula (I) is provided.

[0653] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form D of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.6±0.2°, 12.9±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9±0.2°, 24.5±0.2°or 27.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0654] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form D of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.6±0.2° and 14.9±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°, or 5.6±0.2° and 18.9 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.7±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 24.5±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 13.7±0.2° and 15.5±0.2°, 13.7±0.2° and 17.0±0.2°, 13.7±0.2° and 17.9±0.2°, 13.7±0.2° and 24.5±0.2°, 15.5±0.2° and 17.0±0.2°, 15.5±0.2° and 17.9±0.2°, 15.5±0.2° and 14.5±0.2°, 17.0±0.2° and 17.9±0.2°, 17.0±0.2° and 24.5±0.2°, or 17.9±0.2° and 24.5±0.2°) , 3 (such as, 13.7±0.2°, 15.5±0.2° and 17.0±0.2°, 13.7±0.2°, 15.5±0.2° and 17.9±0.2°, 13.7±0.2°, 15.5±0.2° and 24.5±0.2°, 13.7±0.2°, 17.0±0.2° and 17.9±0.2°, 13.7±0.2°, 17.0±0.2° and 24.5±0.2°, 13.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.5±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2° and 17.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2° and 24.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2° and 24.5±0.2°, or 17.0±0.2°, 17.9±0.2°and 24.5±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0655] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form D of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0656] Group (PD1) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0657] Group (PD2) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0658] Group (PD3) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, and 18.9 ±0.2°;

[0659] Group (PD4) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0660] Group (PD5) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0661] Group (PD6) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0662] Group (PD7) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 15.5±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0663] Group (PD8) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0664] Group (PD9) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0665] Group (PD10) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0666] Group (PD11) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0667] Group (PD12) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0668] Group (PD13: 5.6±0.2°, 14.5±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0669] Group (PD14) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0670] Group (PD15) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0671] Group (PD16) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0672] Group (PD17) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0673] Group (PD18) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0674] Group (PD19) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0675] Group (PD20) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0676] Group (PD21) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0677] Group (PD22) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0678] Group (PD23) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[0679] Group (PD24) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0680] Group (PD25) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°;

[0681] Group (PD26) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9 ±0.2° and 24.5±0.2°.

[0682] The X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form D of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 22.9±0.2°, 29.4±0.2° and 32.8±0.2°; preferably at least comprises any 1 to 2, or 3 to 4 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3 or 4 of the above diffraction peaks.

[0683] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of phosphate Form D of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 21.

[0684] Table 21 XRPD diffraction peak data of phosphate Form D

[0685] The XRPD pattern of phosphate Form D is substantially as shown in Figure 21-1.

[0686] The TGA spectrum thereof of phosphate Form D is substantially as shown in Figure 21-2.

[0687] The DSC spectrum thereof of phosphate Form D is substantially as shown in Figure 21-3.

[0688] In a further preferred embodiment of the present invention, mucate Form A of compound formula (I) is provided.

[0689] The X-ray powder diffraction pattern of mucate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 15.8±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2±0.2°, 26.4±0.2° or 29.7±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0690] The X-ray powder diffraction pattern of mucate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.0±0.2°and 17.9±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°, or , 6.0±0.2° and 24.2 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 19.8±0.2° and 29.7±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 7.7±0.2° and 12.1±0.2°, 7.7±0.2° and 12.7±0.2°, 7.7±0.2° and 19.8±0.2°, 7.7±0.2° and 29.7±0.2°, 12.1±0.2° and 12.7±0.2°, 12.1±0.2° and 19.8±0.2°, 12.1±0.2° and 29.7±0.2°, 12.7±0.2° and 19.8±0.2°, 12.1±0.2° and 29.7±0.2°, or 19.8±0.2° and 29.7±0.2°) , 3 (such as, 7.7±0.2°, 12.1±0.2° and 12.7±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2° and 19.8±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2° and 29.7±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2° and 19.8±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2° and 29.7±0.2°, 7.7±0.2°, 19.8±0.2° and 29.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2° and 19.8±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2° and 29.7±0.2°, 12.1±0.2°, 19.8±0.2° and 29.7±0.2°, or 12.7±0.2°, 19.8±0.2° and 29.7±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0691] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of mucate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0692] Group (MA1) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0693] Group (MA2) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0694] Group (MA3) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 12.1±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0695] Group (MA4) : 6.0±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0696] Group (MA5) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0697] Group (MA6) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0698] Group (MA7) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0699] Group (MA8) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0700] Group (MA9) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0701] Group (MA10) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0702] Group (MA11) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0703] Group (MA12) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0704] Group (MA13) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0705] Group (MA14) : 6.0±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0706] Group (MA15) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0707] Group (MA16) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0708] Group (MA17) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0709] Group (MA18) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0710] Group (MA19) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0711] Group (MA20) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0712] Group (MA21) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0713] Group (MA22) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0714] Group (MA23) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2 ±0.2°;

[0715] Group (MA24) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0716] Group (MA25) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2 ±0.2° and 29.7±0.2°;

[0717] Group (MA26) : 6.0±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2 ±0.2°and 29.7±0.2°.

[0718] The X-ray powder diffraction pattern of mucate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 14.7±0.2°, 16.2±0.2°, 21.7±0.2° and 29.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3 or 4 of the above diffraction peaks.

[0719] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of mucate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 22.

[0720] Table 22 XRPD diffraction peak data of mucate Form A

[0721] The XRPD pattern of mucate Form A is substantially as shown in Figure 22-1.

[0722] The TGA spectrum thereof of mucate Form A is substantially as shown in Figure 22-2.

[0723] The DSC spectrum thereof of mucate Form A is substantially as shown in Figure 22-3.

[0724] In a further preferred embodiment of the present invention, mucate Form B of compound formula (I) is provided.

[0725] The X-ray powder diffraction pattern of mucate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 10.6±0.2°, 13.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3±0.2° or 26.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 4, 5, or 6 of the above diffraction peaks.

[0726] The X-ray powder diffraction pattern of mucate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.6±0.2° and 17.1±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°, or 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.2±0.2°, 14.9±0.2° and 26.1±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 13.2±0.2° and 14.9±0.2°, 14.9±0.2° and 26.1±0.2°, or 14.9±0.2° and 26.1±0.2°) or 3 of the above diffraction peaks.

[0727] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of mucate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0728] Group (MB1) : 10.6±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°;

[0729] Group (MB2) : 10.6±0.2°, 13.2±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°;

[0730] Group (MB3) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°;

[0731] Group (MB4) : 10.6±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3 ±0.2° and 26.1±0.2°;

[0732] Group (MB5) : 10.6±0.2°, 13.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3 ±0.2°;

[0733] Group (MB6) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3 ±0.2° and 26.1±0.2°;

[0734] Group (MB7) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3 ±0.2° and 26.1±0.2°.

[0735] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of mucate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 23.

[0736] Table 23 XRPD diffraction peak data of mucate Form B

[0737] The TGA spectrum thereof of mucate Form B is substantially as shown in Figure 23-1.

[0738] The DSC spectrum thereof of mucate Form B is substantially as shown in Figure 23-2.

[0739] In a further preferred embodiment of the present invention, tartrate Form A of compound formula (I) is provided.

[0740] The X-ray powder diffraction pattern of tartrate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.5±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2°, 23.2±0.2°, 25.2±0.2° or 26.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0741] The X-ray powder diffraction pattern of tartrate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 14.2±0.2° and 18.5 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.0±0.2°and 14.2±0.2°, 6.0±0.2° and 18.5 ±0.2°, or 14.2±0.2° and 18.5 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.8±0.2° and 16.7±0.2°, 6.8±0.2° and 17.1±0.2°, 6.8±0.2° and 23.2±0.2°, 6.8±0.2° and 26.4±0.2°, 16.7±0.2°and 17.1±0.2°, 16.7±0.2° and 23.2±0.2°, 16.7±0.2° and 26.4±0.2°, 17.1±0.2° and 23.2±0.2°, 17.1±0.2° and 26.4±0.2°, or 23.2±0.2° and 26.4±0.2°) , 3 (such as, 6.8±0.2°, 16.7±0.2° and 17.1±0.2°, 6.8±0.2°, 16.7±0.2°and 23.2±0.2°, 6.8±0.2°, 16.7±0.2° and 26.4±0.2°, 6.8±0.2°, 17.1±0.2° and 23.2±0.2°, 6.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.4±0.2°, 6.8±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 23.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.4±0.2°, or 17.1±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0742] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of tartrate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0743] Group (TA1) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0744] Group (TA2) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0745] Group (TA3) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0746] Group (TA4) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0747] Group (TA5) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0748] Group (TA6) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0749] Group (TA7) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0750] Group (TA8) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0751] Group (TA9) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0752] Group (TA10) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0753] Group (TA11) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0754] Group (TA12) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0755] Group (TA13) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0756] Group (TA14) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0757] Group (TA15) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0758] Group (TA16) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5 ±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°;

[0759] Group (TA17) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5 ±0.2°;

[0760] Group (TA18) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0761] Group (TA19) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0762] Group (TA20) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0763] Group (TA21) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0764] Group (TA22) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°;

[0765] Group (TA23) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[0766] Group (TA24) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°;

[0767] Group (TA25) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 23.2±0.2°, 18.5 ±0.2° and 26.4±0.2°.

[0768] The X-ray powder diffraction pattern of tartrate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 12.0±0.2°, 20.4±0.2° and 28.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3 of the above diffraction peaks.

[0769] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of tartrate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 24.

[0770] Table 24 XRPD diffraction peak data of tartrate Form A

[0771] The XRPD pattern of tartrate Form A is substantially as shown in Figure 24-1.

[0772] The TGA spectrum thereof of tartrate Form A is substantially as shown in Figure 24-2.

[0773] The DSC spectrum thereof of tartrate Form A is substantially as shown in Figure 24-3.

[0774] In a further preferred embodiment of the present invention, fumarate Form A of compound formula (I) is provided.

[0775] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 8.5±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2°, 25.1±0.2° or 26.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0776] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.2±0.2°; or has a diffraction peak at 6.8±0.2°; or has a diffraction peak at 8.5±0.2°; or has a diffraction peak at 12.3±0.2°; or has a diffraction peak at 14.9±0.2°; or has a diffraction peak at 17.2±0.2°; or has a diffraction peak at 18.7±0.2°; or has a diffraction peak at 20.2±0.2°; or has a diffraction peak at 25.1±0.2°; or has a diffraction peak at 26.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0777] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.2±0.2° and 18.7±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°, or 6.2±0.2° and 25.1 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 20.2±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.8±0.2° and 12.3±0.2°, 6.8±0.2° and 14.9±0.2°, 6.8±0.2° and 17.2±0.2°, 6.8±0.2° and 20.2±0.2°, 12.3±0.2° and 14.9±0.2°, 12.3±0.2° and 17.2±0.2°, 12.3±0.2° and 20.2±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, 14.9±0.2° and 20.2±0.2°, 17.2±0.2° and 20.2±0.2°) , 3 (such as, 6.8±0.2°, 12.3±0.2° and 14.9±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2° and 17.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2° and 20.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2° and 20.2±0.2°, 6.8±0.2°, 17.2±0.2° and 20.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2° and 20.2±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2° and 20.2±0.2°, or 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 20.2±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0778] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0779] Group (FA1) : 6.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0780] Group (FA2) : 6.8±0.2°, 6.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0781] Group (FA3) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0782] Group (FA4) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0783] Group (FA5) : 6.2±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0784] Group (FA6) : 6.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0785] Group (FA7) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0786] Group (FA8) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0787] Group (FA9) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0788] Group (FA10) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0789] Group (FA11) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0790] Group (FA12) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0791] Group (FA13) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2°, 25.1 ±0.2° and 20.2±0.2°;

[0792] Group (FA14) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0793] Group (FA15) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0794] Group (FA16) : 6.2±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0795] Group (FA17) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0796] Group (FA18) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0797] Group (FA19) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0798] Group (FA20) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0799] Group (FA21) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0800] Group (FA22) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0801] Group (FA23) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0802] Group (FA24) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0803] Group (FA25) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°;

[0804] Group (FA26) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1 ±0.2°.

[0805] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 14.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.3±0.2°, 21.3±0.2°, 22.3±0.2°, 25.6±0.2°, 28.0±0.2°, 30.5±0.2° and 32.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0806] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of fumarate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 25.

[0807] Table 25 XRPD diffraction peak data of fumarate Form A

[0808] The XRPD pattern of fumarate Form A is substantially as shown in Figure 25-1.

[0809] The TGA spectrum thereof of fumarate Form A is substantially as shown in Figure 25-2.

[0810] The DSC spectrum thereof of fumarate Form A is substantially as shown in Figure 25-3.

[0811] In a further preferred embodiment of the present invention, fumarate Form B of compound formula (I) is provided.

[0812] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1±0.2°, 23.0±0.2° or 27.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0813] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 8.3±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 8.3±0.2° and 13.4±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1 ±0.2°, or 8.3±0.2° and 20.1 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 23.0±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.7±0.2° and 12.8±0.2°, 6.7±0.2° and 17.4±0.2°, 6.7±0.2° and 18.3±0.2°, 6.7±0.2° and 23.0±0.2°, 12.8±0.2° and 17.4±0.2°, 12.8±0.2° and 18.3±0.2°, 12.8±0.2° and 23.0±0.2°, 17.4±0.2° and 18.3±0.2°, 17.4±0.2° and 23.0±0.2°, or 18.3±0.2° and 23.0±0.2°) , 3 (such as, 6.7±0.2°, 12.8±0.2° and 17.4±0.2°, 6.7±0.2°, 12.8±0.2° and 18.3±0.2°, 6.7±0.2°, 12.8±0.2° and 23.0±0.2°, 6.7±0.2°, 17.4±0.2° and 18.3±0.2°, 6.7±0.2°, 17.4±0.2° and 23.0±0.2°, 6.7±0.2°, 18.3±0.2° and 23.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.4±0.2° and 18.3±0.2°, 12.8±0.2°, 17.4±0.2° and 23.0±0.2°, 12.8±0.2°, 18.3±0.2° and 23.0±0.2°, or 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 23.0±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0814] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0815] Group (FB1) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0816] Group (FB2) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0817] Group (FB3) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0818] Group (FB4) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0819] Group (FB5) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1 ±0.2°;

[0820] Group (FB6) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0821] Group (FB7) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0822] Group (FB8) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0823] Group (FB9) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;

[0824] Group (FB10) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0825] Group (FB11) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;

[0826] Group (FB12) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;

[0827] Group (FB13) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0828] Group (FB14) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1 ±0.2°;

[0829] Group (FB15) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0830] Group (FB16) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0831] Group (FB17) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1 ±0.2°;

[0832] Group (FB18) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1 ±0.2°;

[0833] Group (FB19) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0834] Group (FB20) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1 ±0.2°;

[0835] Group (FB21) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0836] Group (FB22) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0837] Group (FB23) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1 ±0.2°;

[0838] Group (FB24) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0839] Group (FB25) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°;

[0840] Group (FB26) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1 ±0.2° and 23.0±0.2°.

[0841] The X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 14.6±0.2°, 20.7±0.2°, 25.6±0.2°, 27.0±0.2°, 28.6±0.2°, 29.2±0.2° and 30.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0842] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of fumarate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 26.

[0843] Table 26 XRPD diffraction peak data of fumarate Form B

[0844] The XRPD pattern of fumarate Form B is substantially as shown in Figure 26-1.

[0845] The TGA spectrum thereof of fumarate Form B is substantially as shown in Figure 26-2.

[0846] The DSC spectrum thereof of fumarate Form B is substantially as shown in Figure 26-3.

[0847] In a further preferred embodiment of the present invention, citrate Form A of compound formula (I) is provided.

[0848] The X-ray powder diffraction pattern of citrate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 22.9±0.2° or 24.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0849] The X-ray powder diffraction pattern of citrate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.9±0.2°and 13.8±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0 ±0.2°, or 5.9±0.2° and 18.0 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.3±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.3±0.2° and 16.7±0.2°, 8.3±0.2° and 17.2±0.2°, 8.3±0.2° and 19.0±0.2°, 8.3±0.2° and 24.9±0.2°, 16.7±0.2°and 17.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°, 16.7±0.2° and 24.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.0±0.2°, 17.2±0.2° and 24.9±0.2°, or 19.0±0.2° and 24.9±0.2°) , 3 (such as, 8.3±0.2°, 16.7±0.2° and 17.2±0.2°, 8.3±0.2°, 16.7±0.2°and 19.0±0.2°, 8.3±0.2°, 16.7±0.2° and 24.9±0.2°, 8.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.0±0.2°, 8.3±0.2°, 17.2±0.2° and 24.9±0.2°, 8.3±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2° and 19.0±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2° and 24.9±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°, or 17.2±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0850] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of citrate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0851] Group (CA1) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0852] Group (CA2) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0853] Group (CA3) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0854] Group (CA4) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0855] Group (CA5) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0856] Group (CA6) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0857] Group (CA7) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0858] Group (CA8) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0859] Group (CA9) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0860] Group (CA10) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0861] Group (CA11) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0862] Group (CA12) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0863] Group (CA13) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0864] Group (CA14) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0865] Group (CA15) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0866] Group (CA16) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0 ±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°;

[0867] Group (CA17) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[0868] Group (CA18) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0869] Group (CA19) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0870] Group (CA20) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0871] Group (CA21) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0872] Group (CA22) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0 ±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°;

[0873] Group (CA23) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 19.0±0.2°;

[0874] Group (CA24) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 24.9±0.2°;

[0875] Group (CA25) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0 ±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°;

[0876] Group (CA26) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0 ±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°.

[0877] The X-ray powder diffraction pattern of citrate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 19.4±0.2°, 20.3±0.2°, 21.8±0.2°, 25.9±0.2°, 28.6±0.2° and 30.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0878] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of citrate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 27.

[0879] Table 27 XRPD diffraction peak data of citrate Form A

[0880] The XRPD pattern of citrate Form A is substantially as shown in Figure 27-1.

[0881] The TGA spectrum thereof of citrate Form A is substantially as shown in Figure 27-2.

[0882] The DSC spectrum thereof of citrate Form A is substantially as shown in Figure 27-3.

[0883] In a further preferred embodiment of the present invention, citrate Form B of compound formula (I) is provided.

[0884] The X-ray powder diffraction pattern of citrate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° or 20.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 4 (such as, 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, and 17.5±0.2°, or 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° and 20.5±0.2°) or 5 of the above diffraction peaks.

[0885] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of citrate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0886] Group (CB1) : 10.3±0.2°, 14.1±0.2° and 17.5±0.2°;

[0887] Group (CB2) : 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2° and 17.5±0.2°;

[0888] Group (CB3) : 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° and 20.5±0.2°;

[0889] Group (CB4) : 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° and 20.5±0.2°.

[0890] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of citrate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 28.

[0891] Table 28 XRPD diffraction peak data of citrate Form B

[0892] The TGA spectrum thereof of citrate Form B is substantially as shown in Figure 28-1.

[0893] The DSC spectrum thereof of citrate Form B is substantially as shown in Figure 28-2.

[0894] In a further preferred embodiment of the present invention, glycolate Form A of compound formula (I) is provided.

[0895] The X-ray powder diffraction pattern of glycolate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 11.3±0.2°, 14.4±0.2°, 16.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° or 24.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0896] The X-ray powder diffraction pattern of glycolate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 9.7±0.2° and 19.6±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9 ±0.2°, or 9.7±0.2° and 24.9 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 5.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 23.9±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 5.7±0.2° and 14.4±0.2°, 5.7±0.2° and 19.8±0.2°, 5.7±0.2° and 20.4±0.2°, 5.7±0.2° and 23.9±0.2°, 14.4±0.2° and 19.8±0.2°, 14.4±0.2° and 20.4±0.2°, 14.4±0.2° and 23.9±0.2°, 19.8±0.2° and 20.4±0.2°, 19.8±0.2° and 23.9±0.2°, or 20.4±0.2° and 23.9±0.2°) , 3 (such as, 5.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.8±0.2°, 5.7±0.2°, 14.4±0.2° and 20.4±0.2°, 5.7±0.2°, 14.4±0.2° and 23.9±0.2°, 5.7±0.2°, 19.8±0.2° and 20.4±0.2°, 5.7±0.2°, 19.8±0.2° and 23.9±0.2°, 5.7±0.2°, 20.4±0.2° and 23.9±0.2°, 14.4±0.2°, 19.8±0.2° and 20.4±0.2°, 14.4±0.2°, 19.8±0.2° and 23.9±0.2°, 14.4±0.2°, 20.4±0.2° and 23.9±0.2°, or 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 23.9±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0897] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of glycolate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0898] Group (GA1) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0899] Group (GA2) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0900] Group (GA3) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0901] Group (GA4) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0902] Group (GA5) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0903] Group (GA6) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0904] Group (GA7) : 5.7±0.2°, 14.4±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0905] Group (GA8) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0906] Group (GA9) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0907] Group (GA10) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0908] Group (GA11) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2, 19.8±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0909] Group (GA12) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0910] Group (GA13) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0911] Group (GA14) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0912] Group (GA15) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0913] Group (GA16) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0914] Group (GA17) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0915] Group (GA18) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0916] Group (GA19) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0917] Group (GA20) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0918] Group (GA21) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0919] Group (GA22) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0920] Group (GA23) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.8±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0921] Group (GA24) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0922] Group (GA25) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°;

[0923] Group (GA26) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9 ±0.2°.

[0924] The X-ray powder diffraction pattern of glycolate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.9±0.2°, 13.6±0.2°, 13.9±0.2°, 16.1±0.2°, 17.0±0.2°, 22.6±0.2°, 27.8±0.2°, 28.1±0.2°, 28.6±0.2° and 29.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0925] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of glycolate Form A of compound formula (I) , represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 29.

[0926] Table 29 XRPD diffraction peak data of glycolate Form A

[0927] The XRPD pattern of glycolate Form A is substantially as shown in Figure 29-1.

[0928] The TGA spectrum thereof of glycolate Form A is substantially as shown in Figure 29-2.

[0929] The DSC spectrum thereof of glycolate Form A is substantially as shown in Figure 29-3.

[0930] In a further preferred embodiment of the present invention, malate Form A of compound formula (I) is provided.

[0931] The X-ray powder diffraction pattern of malate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 8.5±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.7±0.2°, 23.3±0.2° or 26.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 9, or 7 to 9 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, or 9 of the above diffraction peaks.

[0932] The X-ray powder diffraction pattern of malate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 6.7±0.2° and 18.7 ±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.5±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0933] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of malate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0934] Group (MA1) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[0935] Group (MA2) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 8.5±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[0936] Group (MA3) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.2±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[0937] Group (MA4) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.7±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[0938] Group (MA5) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 17.1±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[0939] Group (MA5) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 18.7 ±0.2° and 26.6±0.2°.

[0940] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of malate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 30.

[0941] Table 30 XRPD diffraction peak data of malate Form A

[0942] The TGA spectrum thereof of malate Form A is substantially as shown in Figure 30-1.

[0943] The DSC spectrum thereof of malate Form A is substantially as shown in Figure 30-2.

[0944] In a further preferred embodiment of the present invention, succinate Form A of compound formula (I) is provided.

[0945] The X-ray powder diffraction pattern of succinate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.9±0.2°, 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 11.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2°, 23.3±0.2° or 25.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0946] The X-ray powder diffraction pattern of succinate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 8.7±0.2° and 18.6 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.7±0.2° and 8.7±0.2°, 8.7±0.2° and 18.6 ±0.2°, or 6.7±0.2°and 18.6 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 14.0±0.2° and 14.3±0.2°, 14.0±0.2° and 16.8±0.2°, 14.0±0.2° and 23.3±0.2°, 14.0±0.2° and 25.1±0.2°, 14.3±0.2° and 16.8±0.2°, 14.3±0.2° and 23.3±0.2°, 14.3±0.2° and 25.1±0.2°, 16.8±0.2° and 23.3±0.2°, 16.8±0.2° and 25.1±0.2°, or 23.3±0.2° and 25.1±0.2°) , 3 (such as, 14.0±0.2°, 14.3±0.2° and 16.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2° and 23.3±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2° and 25.1±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2° and 23.3±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2° and 25.1±0.2°, 14.0±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2° and 23.3±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2° and 25.1±0.2°, 14.3±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°, or 16.8±0.2°, 23.3±0.2°and 25.1±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0947] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of succinate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0948] Group (SA1) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0949] Group (SA2) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0950] Group (SA3) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0951] Group (SA4) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0952] Group (SA5) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 23.3±0.2°;

[0953] Group (SA6) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0954] Group (SA7) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0955] Group (SA8) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0956] Group (SA9) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 23.3±0.2°;

[0957] Group (SA10) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0958] Group (SA11) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2° , 16.8±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0959] Group (SA12) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6 ±0.2° and 23.3±0.2°;

[0960] Group (SA13) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2° 14.3±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0961] Group (SA14) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2° and 23.3±0.2°;

[0962] Group (SA15) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0963] Group (SA16) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°;

[0964] Group (SA17) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[0965] Group (SA18) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6 ±0.2° and 23.3±0.2°;

[0966] Group (SA19) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0967] Group (SA20) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2° and 23.3±0.2°;

[0968] Group (SA21) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0969] Group (SA22) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 18.6 ±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°;

[0970] Group (SA23) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0971] Group (SA24) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2° and 25.1±0.2°;

[0972] Group (SA25) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6 ±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°;

[0973] Group (SA26) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6 ±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°.

[0974] The X-ray powder diffraction pattern of succinate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 17.7±0.2°, 19.3±0.2°, 20.5±0.2°, 25.9±0.2°, 26.6±0.2°, 28.1±0.2° and 29.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[0975] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of succinate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 31.

[0976] Table 31 XRPD diffraction peak data of succinate Form A

[0977] The XRPD pattern of succinate Form A is substantially as shown in Figure 31-1.

[0978] The TGA spectrum thereof of succinate Form A is substantially as shown in Figure 31-2.

[0979] The DSC spectrum thereof of succinate Form A is substantially as shown in Figure 31-3.

[0980] In a further preferred embodiment of the present invention, succinate Form B of compound formula (I) is provided.

[0981] The X-ray powder diffraction pattern of succinate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 8.4±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 24.8±0.2°, 26.0±0.2° or 30.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[0982] The X-ray powder diffraction pattern of succinate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.0±0.2° and 12.0±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4 ±0.2°, or 6.0±0.2° and 18.4 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.9±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.9±0.2° and 14.7±0.2°, 6.9±0.2° and 18.0±0.2°, 6.9±0.2° and 24.8±0.2°, 6.9±0.2° and 26.0±0.2°, 14.7±0.2° and 18.0±0.2°, 14.7±0.2° and 24.8±0.2°, 14.7±0.2° and 26.0±0.2°, 18.0±0.2° and 24.8±0.2°, 18.0±0.2° and 26.0±0.2°, or 24.8±0.2° and 26.0±0.2°) , 3 (such as, 6.9±0.2°, 14.7±0.2° and 18.0±0.2°, 6.9±0.2°, 14.7±0.2° and 24.8±0.2°, 6.9±0.2°, 14.7±0.2° and 26.0±0.2°, 6.9±0.2°, 18.0±0.2° and 24.8±0.2°, 6.9±0.2°, 18.0±0.2° and 26.0±0.2°, 6.9±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 24.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 26.0±0.2°, 14.7±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°, or 18.0±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[0983] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of succinate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[0984] Group (SB1) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0985] Group (SB2) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0986] Group (SB3) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0987] Group (SB4) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0988] Group (SB5) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[0989] Group (SB6) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[0990] Group (SB7) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0991] Group (SB8) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0992] Group (SB9) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[0993] Group (SB10) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[0994] Group (SB11) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[0995] Group (SB12) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[0996] Group (SB13) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[0997] Group (SB14) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[0998] Group (SB15) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[0999] Group (SB16) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4 ±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°;

[1000] Group (SB17) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4 ±0.2°;

[1001] Group (SB18) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 112.0±0.2°, 4.7±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1002] Group (SB19) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[1003] Group (SB20) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1004] Group (SB21) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[1005] Group (SB22) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°12.0±0.2°, 18.4 ±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°;

[1006] Group (SB23) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1007] Group (SB24) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2° and 26.0±0.2°;

[1008] Group (SB25) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4 ±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°;

[1009] Group (SB26) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4 ±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°.

[1010] The X-ray powder diffraction pattern of succinate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.7±0.2°, 14.2±0.2°, 15.1±0.2°, 16.3±0.2°, 17.2±0.2°, 20.1±0.2°, 22.0±0.2°, 24.3±0.2°, 25.5±0.2° and 29.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1011] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of succinate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 32.

[1012] Table 32 XRPD diffraction peak data of succinate Form B

[1013] The XRPD pattern of succinate Form B is substantially as shown in Figure 32-1.

[1014] The TGA spectrum thereof of succinate Form B is substantially as shown in Figure 32-2.

[1015] The DSC spectrum thereof of succinate Form B is substantially as shown in Figure 32-3.

[1016] In a further preferred embodiment of the present invention, napadisylate Form A of compound formula (I) is provided.

[1017] The X-ray powder diffraction pattern of napadisylate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.2±0.2°, 12.5±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 21.1±0.2°, 25.0±0.2°, 25.7±0.2°or 27.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1018] The X-ray powder diffraction pattern of napadisylate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.2±0.2° and 18.5±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8 ±0.2°, or 6.2±0.2° and 20.8 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 25.0±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 15.4±0.2° and 17.6±0.2°, 15.4±0.2° and 25.0±0.2°, 15.4±0.2° and 25.7±0.2°, 15.4±0.2° and 27.0±0.2°, 17.6±0.2° and 25.0±0.2°, 17.6±0.2° and 25.7±0.2°, 17.6±0.2° and 27.0±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°, or 25.7±0.2° and 27.0±0.2°) , 3 (such as, 15.4±0.2°, 17.6±0.2° and 25.0±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2° and 25.7±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2° and 27.0±0.2°, 15.4±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°, 15.4±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°, 15.4±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°, 17.6±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°, 17.6±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°, 17.6±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°, or 25.0±0.2°, 25.7±0.2°and 27.0±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1019] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of napadisylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1020] Group (NA1) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8 ±0.2°;

[1021] Group (NA2) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8 ±0.2°;

[1022] Group (NA3) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8 ±0.2°;

[1023] Group (NA4) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°and 25.0±0.2°;

[1024] Group (NA5) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.7±0.2°;

[1025] Group (NA6) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 27.0±0.2°;

[1026] Group (NA7) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8 ±0.2°;

[1027] Group (NA8) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1028] Group (NA9) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.7±0.2°;

[1029] Group (NA10) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 27.0±0.2°;

[1030] Group (NA11) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1031] Group (NA12) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.7±0.2°;

[1032] Group (NA13) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 27.0±0.2°;

[1033] Group (NA14) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°;

[1034] Group (NA15) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°;

[1035] Group (NA16) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°;

[1036] Group (NA17) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1037] Group (NA18) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 25.7±0.2°;

[1038] Group (NA19) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2° and 27.0±0.2°;

[1039] Group (NA20) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°;

[1040] Group (NA21) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°;

[1041] Group (NA22) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°;

[1042] Group (NA23) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°;

[1043] Group (NA24) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°;

[1044] Group (NA25) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°;

[1045] Group (NA26) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8 ±0.2°, 25.0±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°.

[1046] The X-ray powder diffraction pattern of napadisylate Form A of optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.4±0.2°, 12.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.4±0.2°, 15.0±0.2°, 19.5±0.2°, 20.2±0.2°, 21.8±0.2°, 22.1±0.2° and 23.7±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1047] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of napadisylate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 33.

[1048] Table 33 XRPD diffraction peak data of napadisylate Form A

[1049] The XRPD pattern of napadisylate Form A is substantially as shown in Figure 33-1.

[1050] The TGA spectrum thereof of napadisylate Form A is substantially as shown in Figure 33-2.

[1051] The DSC spectrum thereof of napadisylate Form A is substantially as shown in Figure 33-3.

[1052] In a further preferred embodiment of the present invention, edisylate Form A of compound formula (I) is provided.

[1053] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 15.9±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7±0.2°, 22.7±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1054] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.6±0.2° and 16.8±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°, or 5.6±0.2° and 18.7 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 17.9±0.2° and 22.7±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.6±0.2° and 11.2±0.2°, 8.6±0.2° and 13.7±0.2°, 8.6±0.2° and 17.9±0.2°, 8.6±0.2° and 22.7±0.2°, 11.2±0.2° and 13.7±0.2°, 11.2±0.2° and 17.9±0.2°, 11.2±0.2° and 22.7±0.2°, 13.7±0.2° and 17.9±0.2°, 13.7±0.2° and 22.7±0.2°, or 17.9±0.2° and 22.7±0.2°) , 3 (such as, 8.6±0.2°, 11.2±0.2° and 13.7±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2° and 17.9±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2° and 22.7±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2° and 17.9±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2° and 22.7±0.2°, 8.6±0.2°, 17.9±0.2° and 22.7±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2° and 17.9±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2° and 22.7±0.2°, 11.2±0.2°, 17.9±0.2° and 22.7±0.2°, or 13.7±0.2°, 17.9±0.2° and 22.7±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1055] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1056] Group (EA1) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1057] Group (EA2) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1058] Group (EA3) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1059] Group (EA4) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1060] Group (EA5) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1061] Group (EA6) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1062] Group (EA7) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1063] Group (EA8) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1064] Group (EA9) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1065] Group (EA10) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1066] Group (EA11) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1067] Group (EA12) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1068] Group (EA13) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1069] Group (EA14) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1070] Group (EA15) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1071] Group (EA16) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1072] Group (EA17) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1073] Group (EA18) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1074] Group (EA19) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1075] Group (EA20) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1076] Group (EA21) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1077] Group (EA22) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 17.9±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1078] Group (EA23) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1079] Group (EA24) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1080] Group (EA25) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 17.9±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°;

[1081] Group (EA26) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.7±0.2°.

[1082] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 20.4±0.2°, 24.3±0.2°, 25.6±0.2° and 32.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, or 4 of the above diffraction peaks.

[1083] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of edisylate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 34.

[1084] Table 34 XRPD diffraction peak data of edisylate Form A

[1085] The XRPD pattern of edisylate Form A is substantially as shown in Figure 34-1.

[1086] The TGA spectrum thereof of edisylate Form A is substantially as shown in Figure 34-2.

[1087] The DSC spectrum thereof of edisylate Form A is substantially as shown in Figure 34-3.

[1088] In a further preferred embodiment of the present invention, edisylate Form B of compound formula (I) is provided.

[1089] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2°, 20.8±0.2°, 24.8±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1090] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.8±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.8±0.2° and 18.0±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°, or 5.8±0.2° and 19.0 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 14.0±0.2° and 14.7±0.2°, 14.0±0.2° and 16.3±0.2°, 14.0±0.2° and 20.2±0.2°, 14.0±0.2° and 24.8±0.2°, 14.7±0.2° and 16.3±0.2°, 14.7±0.2° and 20.0±0.2°, 14.7±0.2° and 24.8±0.2°, 16.3±0.2° and 20.0±0.2°, 16.3±0.2° and 24.8±0.2°, or 20.2±0.2° and 24.8±0.2°) , 3 (such as, 14.0±0.2°, 14.7±0.2° and 16.3±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2° and 20.2±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2° and 24.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2° and 20.2±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2° and 24.8±0.2°, 14.7±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2° and 24.8±0.2°, 14.7±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°, or 16.3±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1091] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1092] Group (EB1) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1093] Group (EB2) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1094] Group (EB3) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1095] Group (EB4) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1096] Group (EB5) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2° and 20.2±0.2°;

[1097] Group (EB6) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1098] Group (EB7) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1099] Group (EB8) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1100] Group (EB9) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2° and 20.2±0.2°;

[1101] Group (EB10) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1102] Group (EB11) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1103] Group (EB12) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.0±0.2°;

[1104] Group (EB13) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;

[1105] Group (EB14) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.0±0.2°;

[1106] Group (EB15) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;

[1107] Group (EB16) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°;

[1108] Group (EB17) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0 ±0.2°;

[1109] Group (EB18) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.2±0.2°;

[1110] Group (EB19) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;

[1111] Group (EB20) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.2±0.2°;

[1112] Group (EB21) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;

[1113] Group (EB22) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°;

[1114] Group (EB23) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1115] Group (EB24) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°;

[1116] Group (EB25) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°.

[1117] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 22.9±0.2° and 26.0±0.2°; preferably at least comprises 1 or 2 of the above diffraction peaks.

[1118] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of edisylate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 35.

[1119] Table 35 XRPD diffraction peak data of edisylate Form B

[1120] The XRPD pattern of edisylate Form B is substantially as shown in Figure 35-1.

[1121] The TGA spectrum thereof of edisylate Form B is substantially as shown in Figure 35-2.

[1122] The DSC spectrum thereof of edisylate Form B is substantially as shown in Figure 35-3.

[1123] In a further preferred embodiment of the present invention, edisylate Form C of compound formula (I) is provided.

[1124] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.5±0.2°, 11.1±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2°, 22.4±0.2°, 25.3±0.2° or 27.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1125] The X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.5±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.5±0.2° and 17.7±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6 ±0.2°, or 5.5±0.2°and 18.6 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 13.6±0.2° and 17.0±0.2°, 13.6±0.2° and 19.9±0.2°, 13.6±0.2° and 22.4±0.2°, 13.6±0.2° and 27.3±0.2°, 17.0±0.2° and 19.9±0.2°, 17.0±0.2° and 22.4±0.2°, 17.0±0.2° and 27.3±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°, or 22.4±0.2° and 27.3±0.2°) , 3 (such as, 13.6±0.2°, 17.0±0.2° and 19.9±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2° and 22.4±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2° and 27.3±0.2°, 13.6±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°, 13.6±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°, 13.6±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°, 17.0±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°, or 19.9±0.2°, 22.4±0.2°and 27.3±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1126] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1127] Group (EC1) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[1128] Group (EC2) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[1129] Group (EC3) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[1130] Group (EC4) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 19.9±0.2°;

[1131] Group (EC5) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 22.4±0.2°;

[1132] Group (EC6) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 27.3±0.2°;

[1133] Group (EC7) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6 ±0.2°;

[1134] Group (EC8) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 19.9±0.2°;

[1135] Group (EC9) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 22.4±0.2°;

[1136] Group (EC10) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 27.3±0.2°;

[1137] Group (EC11) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 19.9±0.2°;

[1138] Group (EC12) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 22.4±0.2°;

[1139] Group (EC13) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 27.3±0.2°;

[1140] Group (EC14) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°;

[1141] Group (EC15) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°;

[1142] Group (EC16) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°;

[1143] Group (EC17) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 19.9±0.2°;

[1144] Group (EC18) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 22.4±0.2°;

[1145] Group (EC19) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2° and 27.3±0.2°;

[1146] Group (EC20) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°;

[1147] Group (EC21) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°;

[1148] Group (EC22) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°;

[1149] Group (EC23) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°;

[1150] Group (EC24) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°;

[1151] Group (EC25) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°;

[1152] Group (EC26) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6 ±0.2°, 19.9±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°.

[1153] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of edisylate Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 36.

[1154] Table 36 XRPD diffraction peak data of edisylate Form C

[1155] The XRPD pattern of edisylate Form C is substantially as shown in Figure 36-1.

[1156] The TGA spectrum thereof of edisylate Form C is substantially as shown in Figure 36-2.

[1157] The DSC spectrum thereof of edisylate Form C is substantially as shown in Figure 36-3.

[1158] In a further preferred embodiment of the present invention, tosylate Form A of compound formula (I) is provided.

[1159] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 19.9±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2°, 24.4±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1160] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 15.3±0.2° and 15.8±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°, or 15.3±0.2° and 24.4 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 22.9±0.2° and 23.3±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 4.4±0.2° and 11.4±0.2°, 4.4±0.2° and 11.7±0.2°, 4.4±0.2° and 22.9±0.2°, 4.4±0.2° and 23.3±0.2°, 11.4±0.2° and 11.7±0.2°, 11.4±0.2° and 22.9±0.2°, 11.4±0.2° and 23.3±0.2°, 11.7±0.2° and 22.9±0.2°, 11.7±0.2° and 23.3±0.2°, or 22.9±0.2° and 23.3±0.2°) , 3 (such as, 4.4±0.2°, 11.4±0.2° and 11.7±0.2°, 4.4±0.2°, 11.4±0.2° and 22.9±0.2°, 4.4±0.2°, 11.4±0.2° and 23.3±0.2°, 4.4±0.2°, 11.7±0.2° and 22.9±0.2°, 4.4±0.2°, 11.7±0.2° and 23.3±0.2°, 4.4±0.2°, 22.9±0.2° and 23.3±0.2°, 11.4±0.2°, 11.7±0.2° and 22.9±0.2°, 11.4±0.2°, 11.7±0.2° and 23.3±0.2°, 11.4±0.2°, 22.9±0.2° and 23.3±0.2°, or 11.7±0.2°, 22.9±0.2°and 23.3±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1161] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1162] Group (TA1) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1163] Group (TA2) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1164] Group (TA3) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1165] Group (TA4) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1166] Group (TA5) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1167] Group (TA6) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1168] Group (TA7) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1169] Group (TA8) : 4.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1170] Group (TA9) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1171] Group (TA10) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1172] Group (TA11) : 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1173] Group (TA12) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1174] Group (TA13) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1175] Group (TA14) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1176] Group (TA15) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1177] Group (TA16) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1178] Group (TA17) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 11.7±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1179] Group (TA18) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1180] Group (TA19) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 23.3±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1181] Group (TA20) : 4.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1182] Group (TA21) : 4.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1183] Group (TA22) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1184] Group (TA23) : 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1185] Group (TA24) : 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1186] Group (TA25) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1187] Group (TA25) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4 ±0.2°. The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 7.6±0.2°, 8.7±0.2°, 17.9±0.2°, 21.3±0.2°, 26.0±0.2°, 28.6±0.2°, 30.8±0.2 and 35.4±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1188] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of tosylate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 37.

[1189] Table 37 XRPD diffraction peak data of tosylate Form A

[1190] The XRPD pattern of tosylate Form A is substantially as shown in Figure 37-1.

[1191] The TGA spectrum thereof of tosylate Form A is substantially as shown in Figure 37-2.

[1192] The DSC spectrum thereof of tosylate Form A is substantially as shown in Figure 37-3.

[1193] In a further preferred embodiment of the present invention, tosylate Form B of compound formula (I) is provided.

[1194] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 21.2±0.2°, 22.1±0.2°, 24.0±0.2° or 26.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1195] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.7±0.2°and 18.0±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°, or 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.4±0.2°, 24.0±0.2° and 26.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 12.6±0.2° and 14.3±0.2°, 12.6±0.2° and 18.4±0.2°, 12.6±0.2° and 24.0±0.2°, 12.6±0.2° and 26.8±0.2°, 14.3±0.2° and 18.4±0.2°, 14.3±0.2° and 24.0±0.2°, 14.3±0.2° and 26.8±0.2°, 18.4±0.2° and 24.0±0.2°, 18.4±0.2° and 26.8±0.2°, or 24.0±0.2° and 26.8±0.2°) , 3 (such as, 12.6±0.2°, 14.3±0.2° and 18.4±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2° and 24.0±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2° and 26.8±0.2°, 12.6±0.2°, 18.4±0.2° and 24.0±0.2°, 12.6±0.2°, 18.4±0.2° and 26.8±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2° and 26.8±0.2°, 14.3±0.2°, 18.4±0.2° and 24.0±0.2°, 14.3±0.2°, 18.4±0.2° and 26.8±0.2°, 14.3±0.2°, 14.0±0.2° and 26.8±0.2°, or 18.4±0.2°, 24.0±0.2°and 26.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1196] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1197] Group (TB1) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1198] Group (TB2) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1199] Group (TB3) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1200] Group (TB4) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1201] Group (TB5) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1202] Group (TB6) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1203] Group (TB7) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1204] Group (TB8) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1205] Group (TB9) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1206] Group (TB10) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1207] Group (TB11) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1208] Group (TB12) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1209] Group (TB13) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1210] Group (TB14) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1211] Group (TB15) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1212] Group (TB16) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2°, 24.0±0.2° and 26.8±0.2°;

[1213] Group (TB17) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1 ±0.2°;

[1214] Group (TB18) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1215] Group (TB19) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1216] Group (TB20) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1217] Group (TB21) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1218] Group (TB22) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1219] Group (TB23) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2° and 24.0±0.2°;

[1220] Group (TB24) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1221] Group (TB25) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1222] Group (TB26) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1 ±0.2°, 24.0±0.2° and 26.8±0.2°.

[1223] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 4.2±0.2°, 13.4±0.2°, 19.2±0.2°, 26.4±0.2°, 31.4±0.2° and 32.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1224] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of tosylate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 38.

[1225] Table 38 XRPD diffraction peak data of tosylate Form B

[1226] The XRPD pattern of tosylate Form B is substantially as shown in Figure 38-1.

[1227] The TGA spectrum thereof of tosylate Form B is substantially as shown in Figure 38-2.

[1228] The DSC spectrum thereof of tosylate Form B is substantially as shown in Figure 38-3.

[1229] In a further preferred embodiment of the present invention, tosylate Form C of compound formula (I) is provided.

[1230] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2°, 23.1±0.2° or 27.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, or 8 of the above diffraction peaks.

[1231] The X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 4.3±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 4.3±0.2°and 14.9±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7 ±0.2°, 4.3±0.2° and 16.7 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 20.9±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.2±0.2° and 12.7±0.2°, 8.2±0.2° and 20.9±0.2°, 8.2±0.2° and 23.1±0.2°, 8.2±0.2° and 27.6±0.2°, 12.7±0.2°and 20.9±0.2°, 12.7±0.2° and 23.1±0.2°, 12.7±0.2° and 27.6±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°, or 23.1±0.2° and 27.6±0.2°) , 3 (such as, 8.2±0.2°, 12.7±0.2° and 20.9±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°and 23.1±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2° and 27.6±0.2°, 8.2±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°, 8.2±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°, 8.2±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°, 12.7±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°, 12.7±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°, 12.7±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°, or 20.9±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1232] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1233] Group (TC1) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1234] Group (TC2) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1235] Group (TC3) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1236] Group (TC4) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 20.9±0.2°;

[1237] Group (TC5) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 23.1±0.2°;

[1238] Group (TC6) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 27.6±0.2°;

[1239] Group (TC7) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1240] Group (TC8) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 20.9±0.2°;

[1241] Group (TC9) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 23.1±0.2°;

[1242] Group (TC10) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 27.6±0.2°;

[1243] Group (TC11) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 20.9±0.2°;

[1244] Group (TC12) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 23.1±0.2°;

[1245] Group (TC13) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 27.6±0.2°;

[1246] Group (TC14) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°;

[1247] Group (TC15) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°;

[1248] Group (TC16) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°;

[1249] Group (TC17) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 20.9±0.2°;

[1250] Group (TC18) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 23.1±0.2°;

[1251] Group (TC19) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2° and 27.6±0.2°;

[1252] Group (TC20) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°;

[1253] Group (TC21) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°;

[1254] Group (TC22) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°;

[1255] Group (TC23) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°;

[1256] Group (TC24) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°;

[1257] Group (TC25) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°;

[1258] Group (TC26) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7 ±0.2°, 20.9±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°.

[1259] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of tosylate Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 39.

[1260] Table 39 XRPD diffraction peak data of tosylate Form C

[1261] The TGA spectrum thereof of tosylate Form C is substantially as shown in Figure 39-1.

[1262] The DSC spectrum thereof of tosylate Form C is substantially as shown in Figure 39-2.

[1263] The 1HNMR of tosylate Form C is substantially as shown in Figure 39-3.

[1264] In a further preferred embodiment of the present invention, mesylate Form A of compound formula (I) is provided.

[1265] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2°, 16.9±0.2°, 18.5±0.2°, 20.6±0.2° or 21.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1266] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 4.9±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 4.9±0.2° and 14.4±0.2°, 4.9±0.2° and 14.6 ±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 9.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 9.6±0.2° and 16.3±0.2°, 9.6±0.2° and 16.6 ±0.2°, 9.6±0.2° and 16.9 ±0.2°, 9.6±0.2° and 20.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 16.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 16.9 ±0.2°, 16.3±0.2° and 20.6 ±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9 ±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6 ±0.2°, or 16.9±0.2° and 20.6±0.2°) , 3 (such as, 9.6±0.2°, 16.3±0.2° and 16.6 ±0.2°, 9.6±0.2°, 16.3±0.2° and 16.9 ±0.2°, 9.6±0.2°, 16.3±0.2° and 20.6 ±0.2°, 9.6±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9 ±0.2°, 9.6±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6 ±0.2°, 9.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6 ±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9 ±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6 ±0.2°, 16.3±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6 ±0.2°, or 16.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1267] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1268] Group (MA1) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6 ±0.2°;

[1269] Group (MA2) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6 ±0.2°;

[1270] Group (MA3) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2° and 16.3±0.2°;

[1271] Group (MA4) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2° and 16.6±0.2°;

[1272] Group (MA5) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2° and16.9±0.2°;

[1273] Group (MA6) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2° and 20.6±0.2°;

[1274] Group (MA7) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 16.3±0.2° and 14.6 ±0.2°;

[1275] Group (MA8) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 16.6 ±0.2° and 14.6 ±0.2°;

[1276] Group (MA9) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 16.9 ±0.2° and 14.6 ±0.2°;

[1277] Group (MA10) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1278] Group (MA11) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 16.6 ±0.2°;

[1279] Group (MA12) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1280] Group (MA13) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1281] Group (MA14) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1282] Group (MA15) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1283] Group (MA16) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°;

[1284] Group (MA17) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 16.6 ±0.2°;

[1285] Group (MA18) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1286] Group (MA19) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1287] Group (MA20) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1288] Group (MA21) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1289] Group (MA22) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1290] Group (MA23) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1291] Group (MA24) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.3±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6 ±0.2°;

[1292] Group (MA25) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6 ±0.2°, 16.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°.

[1293] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 8.5±0.2°, 15.7±0.2°, 22.0±0.2°, 22.6±0.2°, 24.1±0.2°, 25.4±0.2°, 27.3±0.2°, 27.7±0.2° and 31.3±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1294] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of mesylate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 40.

[1295] Table 40 XRPD diffraction peak data of mesylate Form A

[1296] The XRPD pattern of mesylate Form A is substantially as shown in Figure 40-1.

[1297] The TGA spectrum thereof of mesylate Form A is substantially as shown in Figure 40-2.

[1298] The DSC spectrum thereof of mesylate Form A is substantially as shown in Figure 40-3.

[1299] In a further preferred embodiment of the present invention, mesylate Form B of compound formula (I) is provided.

[1300] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2°, 19.6±0.2°, 20.8±0.2° or 23.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1301] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.0±0.2° and 18.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°, or 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2° and 20.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.5±0.2° and 8.2±0.2°, 6.5±0.2° and 9.3±0.2°, 6.5±0.2° and 11.9±0.2°, 6.5±0.2° and 20.8±0.2°, 8.2±0.2° and 9.3±0.2°, 8.2±0.2° and 11.9±0.2°, 8.2±0.2° and 20.8±0.2°, 9.3±0.2° and 11.9±0.2°, 9.3±0.2° and 20.8±0.2°, or 11.9±0.2° and 20.8±0.2°) , 3 (such as, 6.5±0.2°, 8.2±0.2° and 9.3±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2° and 11.9±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2° and 20.8±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2° and 11.9±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2° and 20.8±0.2°, 6.5±0.2°, 11.9±0.2° and 20.8±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2° and 11.9±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2° and 20.8±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2° and 20.8±0.2°, or 9.3±0.2°, 11.9±0.2° and 20.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1302] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1303] Group (MB1) : 6.0±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1304] Group (MB2) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1305] Group (MB3) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1306] Group (MB4) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1307] Group (MB5) : 6.0±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1308] Group (MB6) : 6.0±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1309] Group (MB7) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1310] Group (MB8) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1311] Group (MB9) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1312] Group (MB10) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1313] Group (MB11) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1314] Group (MB12) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1315] Group (MB13) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1316] Group (MB14) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1317] Group (MB15) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1318] Group (MB16) : 6.0±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1319] Group (MB17) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1320] Group (MB18) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1321] Group (MB19) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1322] Group (MB20) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1323] Group (MB21) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1324] Group (MB22) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1325] Group (MB23) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1326] Group (MB24) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1327] Group (MB25) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°;

[1328] Group (MB26) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9 ±0.2° and 20.8±0.2°.

[1329] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 12.8±0.2°, 13.6±0.2°, 14.8±0.2°, 15.3±0.2°, 17.2±0.2°, 17.8±0.2°, 21.6±0.2°, 25.3±0.2°, 25.9±0.2° and 28.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1330] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of mesylate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 41.

[1331] Table 41 XRPD diffraction peak data of mesylate Form B

[1332] The XRPD pattern of mesylate Form B is substantially as shown in Figure 41-1.

[1333] The TGA spectrum thereof of mesylate Form B is substantially as shown in Figure 41-2.

[1334] The DSC spectrum thereof of mesylate Form B is substantially as shown in Figure 41-3.

[1335] In a further preferred embodiment of the present invention, mesylate Form C of compound formula (I) is provided.

[1336] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 20.1±0.2°, 22.3±0.2° or 27.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1337] The X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.6±0.2° and 11.1±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7 ±0.2°, or 5.6±0.2° and 18.7 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.3±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 22.3±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.3±0.2° and 13.7±0.2°, 8.3±0.2° and 16.6±0.2°, 8.3±0.2° and 17.3±0.2°, 8.3±0.2° and 22.3±0.2°, 13.7±0.2° and 16.6±0.2°, 13.7±0.2° and 17.3±0.2°, 13.7±0.2° and 22.3±0.2°, 16.6±0.2° and 17.3±0.2°, 16.6±0.2° and 22.3±0.2°, or 17.3±0.2° and 22.3±0.2°) , 3 (such as, 8.3±0.2°, 13.7±0.2° and 16.6±0.2°, 8.3±0.2°, 13.7±0.2° and 17.3±0.2°, 8.3±0.2°, 13.7±0.2° and 22.3±0.2°, 8.3±0.2°, 16.6±0.2° and 17.3±0.2°, 8.3±0.2°, 16.6±0.2° and 22.3±0.2°, 8.3±0.2°, 17.3±0.2° and 22.3±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2° and 17.3±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2° and 22.3±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2° and 22.3±0.2°, or 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 22.3±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1338] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1339] Group (MC1) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1340] Group (MC2) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1341] Group (MC3) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1342] Group (MC4) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1343] Group (MC5) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1344] Group (MC6) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1345] Group (MC7) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1346] Group (MC8) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1347] Group (MC9) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1348] Group (MC10) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1349] Group (MC11) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1350] Group (MC12) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1351] Group (MC13) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1352] Group (MC14) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1353] Group (MC15) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1354] Group (MC16) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1355] Group (MC17) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1356] Group (MC18) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1357] Group (MC19) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1358] Group (MC20) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1359] Group (MC21) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1360] Group (MC22) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1361] Group (MC23) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7 ±0.2°;

[1362] Group (MC24) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1363] Group (MC25) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°;

[1364] Group (MC26) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7 ±0.2° and 22.3±0.2°.

[1365] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of mesylate Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 42.

[1366] Table 42 XRPD diffraction peak data of mesylate Form C

[1367] The XRPD pattern of mesylate Form C is substantially as shown in Figure 42-1.

[1368] The TGA spectrum thereof of mesylate Form C is substantially as shown in Figure 42-2.

[1369] The DSC spectrum thereof of mesylate Form C is substantially as shown in Figure 42-3.

[1370] In a further preferred embodiment of the present invention, oxalate Form A of compound formula (I) is provided.

[1371] The X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0±0.2°, 21.8±0.2°, 25.9±0.2° or 29.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1372] The X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 3.7±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 3.7±0.2°and 11.1±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0 ±0.2°, or 3.7±0.2° and 18.0 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 10.5±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 21.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 10.5±0.2° and 14.2±0.2°, 10.5±0.2° and 14.9±0.2°, 10.5±0.2° and 17.5±0.2°, 10.5±0.2° and 21.8±0.2°, 14.2±0.2° and 14.9±0.2°, 14.2±0.2° and 17.5±0.2°, 14.2±0.2° and 21.8±0.2°, 14.9±0.2° and 17.5±0.2°, 14.9±0.2° and 21.8±0.2°, or 17.5±0.2° and 21.8±0.2°) , 3 (such as, 10.5±0.2°, 14.2±0.2° and 14.9±0.2°, 10.5±0.2°, 14.2±0.2° and 17.5±0.2°, 10.5±0.2°, 14.2±0.2° and 21.8±0.2°, 10.5±0.2°, 14.9±0.2° and 17.5±0.2°, 10.5±0.2°, 14.9±0.2° and 21.8±0.2°, 10.5±0.2°, 17.5±0.2° and 21.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2° and 17.5±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2° and 21.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2° and 21.8±0.2°, or 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 21.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1373] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1374] Group (OA1) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1375] Group (OA2) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1376] Group (OA3) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1377] Group (OA4) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1378] Group (OA5) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1379] Group (OA6) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1380] Group (OA7) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1381] Group (OA8) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1382] Group (OA9) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1383] Group (OA10) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1384] Group (OA11) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1385] Group (OA12) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1386] Group (OA13) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 21.8±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1387] Group (OA14) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1388] Group (OA15) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1389] Group (OA16) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1390] Group (OA17) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1391] Group (OA18) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1392] Group (OA19) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1393] Group (OA20) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1394] Group (OA21) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1395] Group (OA22) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1396] Group (OA23) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0 ±0.2°;

[1397] Group (OA24) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1398] Group (OA25) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°;

[1399] Group (OA26) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0 ±0.2° and 21.8±0.2°.

[1400] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of oxalate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 43.

[1401] Table 43 XRPD diffraction peak data of oxalate Form A

[1402] The TGA spectrum thereof of oxalate Form A is substantially as shown in Figure 43-1.

[1403] The DSC spectrum thereof of oxalate Form A is substantially as shown in Figure 43-2.

[1404] In a further preferred embodiment of the present invention, oxalate Form B of compound formula (I) is provided.

[1405] The X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.4±0.2°, 23.6±0.2° or 25.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1406] The X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.8±0.2°and 14.5±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°, or 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.1±0.2° and 13.8±0.2°, 6.1±0.2° and 16.7±0.2°, 6.1±0.2° and 19.4±0.2°, 6.1±0.2° and 25.5±0.2°, 13.8±0.2° and 16.7±0.2°, 13.8±0.2° and 19.4±0.2°, 13.8±0.2° and 25.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°, 16.7±0.2° and 25.5±0.2°, or 19.4±0.2° and 25.5±0.2°) , 3 (such as, 6.1±0.2°, 13.8±0.2° and 16.7±0.2°, 6.1±0.2°, 13.8±0.2° and 19.4±0.2°, 6.1±0.2°, 13.8±0.2° and 25.5±0.2°, 6.1±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°, 6.1±0.2°, 16.7±0.2° and 25.5±0.2°, 6.1±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 25.5±0.2°, 13.8±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°, or 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1407] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1408] Group (OB1) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1409] Group (OB2) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1410] Group (OB3) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1411] Group (OB4) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1412] Group (OB5) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1413] Group (OB6) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.5±0.2°;

[1414] Group (OB7) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1415] Group (OB8) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1416] Group (OB9) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1417] Group (OB10) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.5±0.2°;

[1418] Group (OB11) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1419] Group (OB12) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1420] Group (OB13) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.5±0.2°;

[1421] Group (OB14) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1422] Group (OB15) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.5±0.2°;

[1423] Group (OB16) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°;

[1424] Group (OB17) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1 ±0.2°;

[1425] Group (OB18) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1426] Group (OB19) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.5±0.2°;

[1427] Group (OB20) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1428] Group (OB21) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1 ±0.2° and 25.5±0.2°;

[1429] Group (OB22) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°;

[1430] Group (OB23) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1431] Group (OB24) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1 ±0.2°, 16.7±0.2° and 25.5±0.2°;

[1432] Group (OB25) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 1 9.1 ±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°;

[1433] Group (OB26) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1 ±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°.

[1434] The X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 12.2±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2°, 18.3±0.2°, 20.7±0.2°, 23.2±0.2°, 24.3±0.2°, 26.9±0.2°, 27.3±0.2° and 31.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1435] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of oxalate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 44.

[1436] Table 44 XRPD diffraction peak data of oxalate Form B

[1437] The XRPD pattern of oxalate Form B is substantially as shown in Figure 44-1.

[1438] The TGA spectrum thereof of oxalate Form B is substantially as shown in Figure 44-2.

[1439] The DSC spectrum thereof of oxalate Form B is substantially as shown in Figure 44-3.

[1440] In a further preferred embodiment of the present invention, besylate Form A of compound formula (I) is provided.

[1441] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 20.6±0.2°, 21.4±0.2°, 25.0±0.2° or 30.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1442] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 4.1±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 4.1±0.2°and 16.5±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9 ±0.2°, or 4.1±0.2° and 16.9 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 21.4±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.4±0.2° and 11.7±0.2°, 8.4±0.2° and 21.4±0.2°, 8.4±0.2° and 25.0±0.2°, 8.4±0.2° and 30.0±0.2°, 11.7±0.2°and 21.4±0.2°, 11.7±0.2° and 25.0±0.2°, 11.7±0.2° and 30.0±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°, or 25.0±0.2° and 30.0±0.2°) , 3 (such as, 8.4±0.2°, 11.7±0.2° and 21.4±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°and 25.0±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2° and 30.0±0.2°, 8.4±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°, 8.4±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°, 8.4±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°, 11.7±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°, 11.7±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°, 11.7±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°, or 21.4±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1443] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1444] Group (BA1) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1445] Group (BA2) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1446] Group (BA3) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1447] Group (BA4) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[1448] Group (BA5) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1449] Group (BA6) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1450] Group (BA7) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9 ±0.2°;

[1451] Group (BA8) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[1452] Group (BA9) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1453] Group (BA10) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1454] Group (BA11) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[1455] Group (BA12) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1456] Group (BA13) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1457] Group (BA14) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°;

[1458] Group (BA15) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°;

[1459] Group (BA16) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°;

[1460] Group (BA17) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 21.4±0.2°;

[1461] Group (BA18) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 25.0±0.2°;

[1462] Group (BA19) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1463] Group (BA20) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°;

[1464] Group (BA21) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°;

[1465] Group (BA22) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°;

[1466] Group (BA23) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°;

[1467] Group (BA24) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°;

[1468] Group (BA25) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°;

[1469] Group (BA26) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9 ±0.2°, 21.4±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°.

[1470] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.0±0.2°, 10.4±0.2°, 13.0±0.2°, 19.7±0.2°, 27.3±0.2° and 29.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, or 6 of the above diffraction peaks.

[1471] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of besylate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 45.

[1472] Table 45 XRPD diffraction peak data of besylate Form A

[1473] The XRPD pattern of besylate Form A is substantially as shown in Figure 45-1.

[1474] The TGA spectrum thereof of besylate Form A is substantially as shown in Figure 45-2.

[1475] The DSC spectrum thereof of besylate Form A is substantially as shown in Figure 45-3.

[1476] In a further preferred embodiment of the present invention, besylate Form B of compound formula (I) is provided.

[1477] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2°, 22.0±0.2°, 23.2±0.2°, 23.6±0.2° or 26.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1478] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 4.7±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 4.7±0.2°and 10.9±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8 ±0.2°, or 4.7±0.2° and 18.8 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.1±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 8.1±0.2° and 15.1±0.2°, 8.1±0.2° and 16.2±0.2°, 8.1±0.2° and 23.2±0.2°, 8.1±0.2° and 23.6±0.2°, 15.1±0.2°and 16.2±0.2°, 15.1±0.2° and 23.2±0.2°, 15.1±0.2° and 23.6±0.2°, 16.2±0.2° and 23.2±0.2°, 16.2±0.2° and 23.6±0.2°, or 23.2±0.2° and 23.6±0.2°) , 3 (such as, 8.1±0.2°, 15.1±0.2° and 16.2±0.2°, 8.1±0.2°, 15.1±0.2°and 23.2±0.2°, 8.1±0.2°, 15.1±0.2° and 23.6±0.2°, 8.1±0.2°, 16.2±0.2° and 23.2±0.2°, 8.1±0.2°, 16.2±0.2° and 23.6±0.2°, 8.1±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2° and 23.6±0.2°, 15.1±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°, or 16.2±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1479] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1480] Group (BB1) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1481] Group (BB2) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1482] Group (BB3) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1483] Group (BB4) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1484] Group (BB5) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[1485] Group (BB6) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.6±0.2°;

[1486] Group (BB7) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1487] Group (BB8) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1488] Group (BB9) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[1489] Group (BB10) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.6±0.2°;

[1490] Group (BB11) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1491] Group (BB12) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[1492] Group (BB13) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.6±0.2°;

[1493] Group (BB14) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[1494] Group (BB15) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 23.6±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1495] Group (BB16) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8 ±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°;

[1496] Group (BB17) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8 ±0.2°;

[1497] Group (BB18) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[1498] Group (BB19) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.6±0.2°;

[1499] Group (BB20) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.2±0.2°;

[1500] Group (BB21) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8 ±0.2° and 23.6±0.2°;

[1501] Group (BB22) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8 ±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°;

[1502] Group (BB23) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;

[1503] Group (BB24) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8 ±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°;

[1504] Group (BB25) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8 ±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°.

[1505] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.4±0.2°, 12.1±0.2°, 12.8±0.2°, 13.9±0.2°, 16.8±0.2°, 17.7±0.2°, 19.3±0.2°, 20.7±0.2°, 25.7±0.2° and 27.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1506] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of besylate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 46.

[1507] Table 46 XRPD diffraction peak data of besylate Form B

[1508] The XRPD pattern of besylate Form B is substantially as shown in Figure 46-1.

[1509] The TGA spectrum thereof of besylate Form B is substantially as shown in Figure 46-2.

[1510] The DSC spectrum thereof of besylate Form B is substantially as shown in Figure 46-3.

[1511] In a further preferred embodiment of the present invention, besylate Form C of compound formula (I) is provided.

[1512] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2°, 19.4±0.2°, 21.2±0.2°, 23.6±0.2° or 26.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1513] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.3±0.2°, 6.5±0.2° and 16.7 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.3±0.2°and 6.5±0.2°, 6.5±0.2° and 16.7 ±0.2°, or 6.3±0.2° and 16.7 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 18.8±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 13.0±0.2° and 14.8±0.2°, 13.0±0.2° and 18.8±0.2°, 13.0±0.2° and 19.4±0.2°, 13.0±0.2° and 26.8±0.2°, 14.8±0.2° and 18.8±0.2°, 14.8±0.2° and 19.4±0.2°, 14.8±0.2° and 26.8±0.2°, 18.8±0.2° and 19.4±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°, or 19.4±0.2° and 26.8±0.2°) , 3 (such as, 13.0±0.2°, 14.8±0.2° and 18.8±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2° and 19.4±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2° and 26.8±0.2°, 13.0±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°, 13.0±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°, 13.0±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°, 14.8±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°, 14.8±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°, 14.8±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°, or 18.8±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1514] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1515] Group (BC1) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1516] Group (BC2) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1517] Group (BC3) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1518] Group (BC4) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;

[1519] Group (BC5) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°;

[1520] Group (BC6) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1521] Group (BC7) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2° and 16.7 ±0.2°;

[1522] Group (BC8) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;

[1523] Group (BC9) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°;

[1524] Group (BC10) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2° and 26.8±0.2°;

[1525] Group (BC11) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;

[1526] Group (BC12) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°;

[1527] Group (BC13) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7 ±0.2°, 18.8±0.2° and 19.4±0.2°;

[1528] Group (BC14) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7 ±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;

[1529] Group (BC15) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7 ±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°;

[1530] Group (BC16) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7 ±0.2° and 18.8±0.2°;

[1531] Group (BC17) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7 ±0.2°, 14.8±0.2° and 19.4±0.2°;

[1532] Group (BC18) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7 ±0.2° and 26.8±0.2°;

[1533] Group (BC19) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2° , 13.0±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;

[1534] Group (BC20) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7 ±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;

[1535] Group (BC21) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°;

[1536] Group (BC22) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;

[1537] Group (BC23) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;

[1538] Group (BC24) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7 ±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°;

[1539] Group (BC25) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7 ±0.2°, 18.8±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°.

[1540] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form C of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 11.2±0.2°, 17.8±0.2°, 22.8±0.2°, 24.8±0.2°, 25.7±0.2°, 29.0±0.2° and 30.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1541] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of besylate Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 47.

[1542] Table 47 XRPD diffraction peak data of besylate Form C

[1543] The XRPD pattern of besylate Form C is substantially as shown in Figure 47-1.

[1544] The TGA spectrum thereof of besylate Form C is substantially as shown in Figure 47-2.

[1545] The DSC spectrum thereof of besylate Form C is substantially as shown in Figure 47-3.

[1546] In a further preferred embodiment of the present invention, besylate Form D of compound formula (I) is provided.

[1547] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form D of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 20.0±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2°, 27.5±0.2°, 28.6±0.2° or 30.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1548] The X-ray powder diffraction pattern of besylate Form D of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 4.6±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 4.6±0.2°and 15.7±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4 ±0.2°, or 4.6±0.2° and 24.4 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 23.0±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 11.9±0.2° and 15.0±0.2°, 11.9±0.2° and 23.0±0.2°, 11.9±0.2° and 27.5±0.2°, 11.9±0.2° and 30.0±0.2°, 15.0±0.2° and 23.0±0.2°, 15.0±0.2° and 27.5±0.2°, 15.0±0.2° and 30.0±0.2°, 23.0±0.2° and 27.5±0.2°, 23.0±0.2° and 30.0±0.2°, or 27.5±0.2° and 30.3±0.2°) , 3 (such as, 11.9±0.2°, 15.0±0.2° and 23.0±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2° and 27.5±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2° and 30.3±0.2°, 11.9±0.2°, 23.0±0.2° and 27.5±0.2°, 11.9±0.2°, 23.0±0.2° and 30.3±0.2°, 11.9±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°, 15.0±0.2°, 23.0±0.2° and 27.5±0.2°, 15.0±0.2°, 23.0±0.2° and 30.3±0.2°, 15.0±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°, or 23.0±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1549] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form D of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1550] Group (BD1) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1551] Group (BD2) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1552] Group (BD3) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1553] Group (BD4) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1554] Group (BD5) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1555] Group (BD6) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.3±0.2°;

[1556] Group (BD7) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1557] Group (BD8) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1558] Group (BD9) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1559] Group (BD10) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1560] Group (BD11) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1561] Group (BD12) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1562] Group (BD13) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1563] Group (BD14) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1564] Group (BD15) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.0±0.2°;

[1565] Group (BD16) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°;

[1566] Group (BD17) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4 ±0.2°;

[1567] Group (BD18) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1568] Group (BD19) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.3±0.2°;

[1569] Group (BD20) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1570] Group (BD21) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.3±0.2°;

[1571] Group (BD22) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°;

[1572] Group (BD23) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2° and 27.5±0.2°;

[1573] Group (BD24) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2° and 30.3±0.2°;

[1574] Group (BD25) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4 ±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°;

[1575] Group (BD26) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4 ±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°.

[1576] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of besylate Form D of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 48.

[1577] Table 48 XRPD diffraction peak data of besylate Form D

[1578] The TGA spectrum thereof of besylate Form D is substantially as shown in Figure 48-1.

[1579] The DSC spectrum thereof of besylate Form D is substantially as shown in Figure 48-2.

[1580] In a further preferred embodiment of the present invention, malonate Form A of compound formula (I) is provided.

[1581] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9±0.2°, 19.4±0.2° or 23.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1582] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.8±0.2° and 14.5±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°, or 6.8±0.2° and 18.9 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 16.8±0.2° and 19.4±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.0±0.2° and 8.8±0.2°, 6.0±0.2° and 12.0±0.2°, 6.0±0.2° and 16.8±0.2°, 6.0±0.2° and 19.4±0.2°, 8.8±0.2° and 12.0±0.2°, 8.8±0.2° and 16.8±0.2°, 8.8±0.2° and 19.4±0.2°, 12.0±0.2° and 16.8±0.2°, 12.0±0.2°and 19.4±0.2°, or 16.8±0.2° and 19.4±0.2°) , 3 (such as, 6.0±0.2°, 8.8±0.2° and 12.0±0.2°, 6.0±0.2°, 8.8±0.2°and 16.8±0.2°, 6.0±0.2°, 8.8±0.2° and 19.4±0.2°, 6.0±0.2°, 12.0±0.2° and 16.8±0.2°, 6.0±0.2°, 12.0±0.2° and 19.4±0.2°, 6.0±0.2°, 16.8±0.2° and 19.4±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2° and 16.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2° and 19.4±0.2°, 8.8±0.2°, 16.8±0.2° and 19.4±0.2°, or 12.0±0.2°, 16.8±0.2° and 19.4±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1583] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1584] Group (MA1) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1585] Group (MA2) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1586] Group (MA6) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1587] Group (MA4) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1588] Group (MA5) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1589] Group (MA6) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1590] Group (MA7) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1591] Group (MA8) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1592] Group (MA9) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°and 18.9 ±0.2°;

[1593] Group (MA10) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1594] Group (MA11) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1595] Group (MA12) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1596] Group (MA13) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1597] Group (MA14) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1598] Group (MA15) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1599] Group (MA16) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1600] Group (MA17) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1601] Group (MA18) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1602] Group (MA19) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1603] Group (MA20) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1604] Group (MA21) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1605] Group (MA22) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1606] Group (MA23) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9 ±0.2°;

[1607] Group (MA24) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1608] Group (MA25) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°;

[1609] Group (MA26) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9 ±0.2° and 19.4±0.2°. The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 13.5±0.2°, 13.9±0.2°, 18.0±0.2°, 20.6±0.2°, 23.0±0.2°, 24.1±0.2°, 25.4±0.2°, 26.1±0.2°, 27.0±0.2° and 28.4±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1610] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of malonate Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 49.

[1611] Table 49 XRPD diffraction peak data of malonate Form A

[1612] The XRPD pattern of malonate Form A is substantially as shown in Figure 49-1.

[1613] The TGA spectrum thereof of malonate Form A is substantially as shown in Figure 49-2.

[1614] The DSC spectrum thereof of malonate Form A is substantially as shown in Figure 49-3.

[1615] In a further preferred embodiment of the present invention, malonate Form B of compound formula (I) is provided.

[1616] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 18.5±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2°, 26.6±0.2° or 30.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1617] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 10.8±0.2° and 19.9±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°, or 10.8±0.2° and 26.0 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2° and 30.1±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 9.9±0.2° and 10.4±0.2°, 9.9±0.2° and 11.4±0.2°, 9.9±0.2° and 17.0±0.2°, 9.9±0.2° and 30.1±0.2°, 10.4±0.2° and 11.4±0.2°, 10.4±0.2° and 17.0±0.2°, 10.4±0.2° and 30.1±0.2°, 11.4±0.2° and 17.0±0.2°, 11.4±0.2° and 30.1±0.2°, or 17.0±0.2° and 30.1±0.2°) , 3 (such as, 9.9±0.2°, 10.4±0.2° and 11.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.4±0.2° and 17.0±0.2°, 9.9±0.2°, 10.4±0.2° and 30.1±0.2°, 9.9±0.2°, 11.4±0.2° and 17.0±0.2°, 9.9±0.2°, 11.4±0.2° and 30.1±0.2°, 9.9±0.2°, 17.0±0.2° and 30.1±0.2°, 10.4±0.2°, 11.4±0.2° and 17.0±0.2°, 10.4±0.2°, 11.4±0.2° and 30.1±0.2°, 10.4±0.2°, 17.0±0.2° and 30.1±0.2°, or 11.4±0.2°, 17.0±0.2°and 30.1±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1618] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1619] Group (MB1) : 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1620] Group (MB2) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1621] Group (MB3) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1622] Group (MB4) : 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1623] Group (MB5) : 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1624] Group (MB6) : 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2°and 30.1±0.2°;

[1625] Group (MB7) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1626] Group (MB8) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1627] Group (MB9) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1628] Group (MB10) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1629] Group (MB11) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1630] Group (MB12) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1631] Group (MB13) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1632] Group (MB14) : 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1633] Group (MB15) : 10.8±0.2°, 1.4±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1634] Group (MB16) : 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1635] Group (MB17) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1636] Group (MB18) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1637] Group (MB19) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1638] Group (MB20) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1639] Group (MB21) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1640] Group (MB22) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1641] Group (MB23) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0 ±0.2°;

[1642] Group (MB24) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1643] Group (MB25) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°;

[1644] Group (MB26) : 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0 ±0.2° and 30.1±0.2°.

[1645] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 14.6±0.2° and 27.7±0.2°; preferably at least comprises any 1 or 2 the above diffraction peaks.

[1646] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of malonate Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 50.

[1647] Table 50 XRPD diffraction peak data of malonate Form B

[1648] The XRPD pattern of malonate Form B is substantially as shown in Figure 50-1.

[1649] The TGA spectrum thereof of malonate Form B is substantially as shown in Figure 50-2.

[1650] The DSC spectrum thereof of malonate Form B is substantially as shown in Figure 50-3.

[1651] In a further preferred embodiment of the present invention, malonate Form C of compound formula (I) is provided.

[1652] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 5.8±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2°, 20.5±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1653] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.8±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 5.8±0.2° and 18.1±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°, 5.8±0.2° and 20.5 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.9±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 13.8±0.2° and 14.2±0.2°, 13.8±0.2° and 14.5±0.2°, 13.8±0.2° and 16.7±0.2°, 13.8±0.2° and 19.9±0.2°, 14.2±0.2° and 14.5±0.2°, 14.2±0.2° and 16.7±0.2°, 14.2±0.2° and 19.9±0.2°, 14.5±0.2° and 16.7±0.2°, 14.5±0.2° and 19.9±0.2°, or 16.7±0.2° and 19.9±0.2°) , 3 (such as, 13.8±0.2°, 14.2±0.2° and 14.5±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2° and 16.7±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2° and 19.9±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2° and 16.7±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 19.9±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2° and 16.7±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2° and 19.9±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.9±0.2°, or 14.5±0.2°, 16.7±0.2°and 19.9±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1654] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1655] Group (MC1) : 5.8±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1656] Group (MC2) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1657] Group (MC3) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1658] Group (MC4) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1659] Group (MC5) : 5.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1660] Group (MC6) : 5.8±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1661] Group (MC7) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1662] Group (MC8) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1663] Group (MC9) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1664] Group (MC10) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1665] Group (MC11) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1666] Group (MC12) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1667] Group (MC13) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1668] Group (MC14) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1669] Group (MC15) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1670] Group (MC16) : 5.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1671] Group (MC17) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1672] Group (MC18) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1673] Group (MC19) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1674] Group (MC20) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1675] Group (MC21) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1676] Group (MC22) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1677] Group (MC23) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1678] Group (MC24) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1679] Group (MC25) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°;

[1680] Group (MC26) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5 ±0.2°.

[1681] The X-ray powder diffraction pattern of malonate Form C of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 15.3±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 23.4±0.2°, 24.4±0.2° and 31.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5 or 6 of the above diffraction peaks.

[1682] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of malonate Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 51.

[1683] Table 51 XRPD diffraction peak data of malonate Form C

[1684] The XRPD pattern of malonate Form C is substantially as shown in Figure 51-1.

[1685] The TGA spectrum thereof of malonate Form C is substantially as shown in Figure 51-2.

[1686] The DSC spectrum thereof of malonate Form C is substantially as shown in Figure 51-3.

[1687] In a further preferred embodiment of the present invention, HBr salt Form A of compound formula (I) is provided.

[1688] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 15.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2°, 24.8±0.2° or 29.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1689] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form A of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 9.5±0.2°and 19.0±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°, 9.5±0.2° and 21.2 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 24.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 10.3±0.2° and 16.2±0.2°, 10.3±0.2° and 17.4±0.2°, 10.3±0.2° and 18.1±0.2°, 10.3±0.2° and 24.8±0.2°, 16.2±0.2° and 17.4±0.2°, 16.2±0.2° and 18.1±0.2°, 16.2±0.2° and 24.8±0.2°, 17.4±0.2° and 18.1±0.2°, 17.4±0.2° and 24.8±0.2°, or 18.1±0.2° and 24.8±0.2°) , 3 (such as, 10.3±0.2°, 16.2±0.2° and 17.4±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2° and 18.1±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2° and 24.8±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2° and 18.1±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2° and 24.8±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2° and 24.8±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2° and 18.1±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2° and 24.8±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2° and 24.8±0.2°, or 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 24.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1690] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1691] Group (HBA1) : 9.5±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1692] Group (HBA2) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1693] Group (HBA3) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1694] Group (HBA4) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1695] Group (HBA5) : 9.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1696] Group (HBA6) : 9.5±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1697] Group (HBA7) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1698] Group (HBA8) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1699] Group (HBA9) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1700] Group (HBA10) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1701] Group (HBA11) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1702] Group (HBA12) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1703] Group (HBA13) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1704] Group (HBA14) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1705] Group (HBA15) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1706] Group (HBA16) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1707] Group (HBA17) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1708] Group (HBA18) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1709] Group (HBA19) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1710] Group (HBA20) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1711] Group (HBA21) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1712] Group (HBA22) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1713] Group (HBA23) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2 ±0.2°;

[1714] Group (HBA24) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1715] Group (HBA25) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°;

[1716] Group (HBA26) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2 ±0.2° and 24.8±0.2°.

[1717] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form A of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 12.8±0.2°, 20.6±0.2°, 22.2±0.2°, 22.6±0.2°, 23.5±0.2°, 24.3±0.2°, 25.5±0.2°, 27.3±0.2°, 28.0±0.2° and 28.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1718] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of HBr salt Form A of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 52.

[1719] Table 52 XRPD diffraction peak data of HBr salt Form A

[1720] The XRPD pattern of HBr salt Form A is substantially as shown in Figure 52-1.

[1721] The TGA spectrum thereof of HBr salt Form A is substantially as shown in Figure 52-2.

[1722] The DSC spectrum thereof of HBr salt Form A is substantially as shown in Figure 52-3.

[1723] In a further preferred embodiment of the present invention, HBr salt Form B of compound formula (I) is provided.

[1724] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form B of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2°, 25.6±0.2°, 25.8±0.2° or 27.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1725] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form B of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.1±0.2°and 16.2±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°, or 6.1±0.2° and 19.0±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 6.7±0.2° and 14.5±0.2°, 6.7±0.2° and 16.7±0.2°, 6.7±0.2° and 20.6±0.2°, 6.7±0.2° and 25.6±0.2°, 14.5±0.2°and 16.7±0.2°, 14.5±0.2° and 20.6±0.2°, 14.5±0.2° and 25.6±0.2°, 16.7±0.2° and 20.6±0.2°, 16.7±0.2° and 25.6±0.2° or 20.6±0.2° and 25.6±0.2°) , 3 (such as, 6.7±0.2°, 14.5±0.2° and 16.7±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°and 20.6±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2° and 25.6±0.2°, 6.7±0.2°, 16.7±0.2° and 20.6±0.2°, 6.7±0.2°, 16.7±0.2° and 25.6±0.2°, 6.7±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 20.6±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 25.6±0.2°, 14.5±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°, or 16.7±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1726] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1727] Group (HBB1) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;

[1728] Group (HBB2) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;

[1729] Group (HBB3) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;

[1730] Group (HBB4) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;

[1731] Group (HBB5) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1732] Group (HBB6) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1733] Group (HBB7) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;

[1734] Group (HBB8) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;

[1735] Group (HBB9) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1736] Group (HBB10) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1737] Group (HBB11) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;

[1738] Group (HBB12) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1739] Group (HBB13) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1740] Group (HBB14) : 6.1±0.2°, 16.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1741] Group (HBB15) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1742] Group (HBB16) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°;

[1743] Group (HBB17) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;

[1744] Group (HBB18) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1745] Group (HBB19) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1746] Group (HBB20) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1747] Group (HBB21) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1748] Group (HBB22) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°;

[1749] Group (HBB23) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;

[1750] Group (HBB24) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;

[1751] Group (HBB25) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°;

[1752] Group (HBB26) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°.

[1753] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form B of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 12.3±0.2°, 17.0±0.2°, 21.7±0.2°, 23.5±0.2°, 24.7±0.2°, 26.2±0.2°, 28.5±0.2°, 29.5±0.2° and 31.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.

[1754] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks HBr salt Form B of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 53.

[1755] Table 53 XRPD diffraction peak data of HBr salt Form B

[1756] The XRPD pattern of HBr salt Form B is substantially as shown in Figure 53-1.

[1757] The TGA spectrum thereof of HBr salt Form B is substantially as shown in Figure 53-2.

[1758] The DSC spectrum thereof of HBr salt Form B is substantially as shown in Figure 53-3.

[1759] In a further preferred embodiment of the present invention, HBr salt Form C of compound formula (I) is provided.

[1760] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form C of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2°, 26.4±0.2°, 27.6±0.2° or 28.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.

[1761] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form C of compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4 ±0.2°, preferably comprises 2 (such as, 6.2±0.2°and 17.3±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4 ±0.2°, or 6.2±0.2° and 26.4 ±0.2°) of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 23.8±0.2°, and preferably comprises 2 (such as, 12.6±0.2° and 15.1±0.2°, 12.6±0.2° and 18.0±0.2°, 12.6±0.2° and 22.5 ±0.2°, 12.6±0.2° and 23.8 ±0.2°, 15.1±0.2° and 18.0±0.2°, 15.1±0.2° and 22.5 ±0.2°, 15.1±0.2° and 23.8 ±0.2°, 18.0±0.2° and 22.5 ±0.2°, 18.0±0.2° and 23.8 ±0.2°, or 22.5±0.2° and 23.8 ±0.2°) , 3 (such as, 12.6±0.2°, 15.1±0.2° and 18.0±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2° and 22.5±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2° and 23.8±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2° and 22.5±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2° and 23.8±0.2°, 12.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.8±0.2°, 15.1±0.2°, 18.0±0.2° and 22.5±0.2°, 15.1±0.2°, 18.0±0.2° and 23.8±0.2°, 15.1±0.2°, 22.5±0.2° and 23.8±0.2°, or 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 23.8±0.2°) , 4, or 5 of the above diffraction peaks.

[1762] In some embodiment of the present invention, the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:

[1763] Group (HBC1) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1764] Group (HBC2) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1765] Group (HBC3) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1766] Group (HBC4) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1767] Group (HBC5) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1768] Group (HBC6) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1769] Group (HBC7) : 6.2±0.2°, 2.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1770] Group (HBC8) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2, 18.0±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1771] Group (HBC9) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1772] Group (HBC10) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1773] Group (HBC11) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1774] Group (HBC12) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1775] Group (HBC13) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1776] Group (HBC14) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1777] Group (HBC15) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 23.8 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1778] Group (HBC16) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8 ±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1779] Group (HBC17) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1780] Group (HBC18) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1781] Group (HBC19) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1782] Group (HBC20) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1783] Group (HBC21) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1784] Group (HBC22) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1785] Group (HBC23) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1786] Group (HBC24) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1787] Group (HBC25) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°;

[1788] Group (HBC26) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4 ±0.2°.

[1789] The X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form C of compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 18.9±0.2°, 20.7±0.2° and 30.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 (such as, 18.9±0.2° and 20.7±0.2°, 20.7±0.2° and 30.6±0.2°, or 18.9±0.2° and 30.6±0.2°) or 3 of the above diffraction peaks.

[1790] Most preferably, using Cu-Kα radiation, the characteristic X-ray diffraction peaks of HBr salt Form C of compound formula (I) represented by 2θ angle and interplanar spacing d value are shown in Table 54.

[1791] Table 54 XRPD diffraction peak data of HBr salt Form C

[1792] The XRPD pattern of HBr salt Form C is substantially as shown in Figure 54-1.

[1793] The TGA spectrum thereof of HBr salt Form C is substantially as shown in Figure 54-2.

[1794] The DSC spectrum thereof of HBr salt Form C is substantially as shown in Figure 54-3.

[1795] In some embodiments, the solid form is substantially free of other crystalline or amorphous forms.

[1796] In some embodiments, the amount of other crystalline or amorphous forms is 10 % (w / w) or less.

[1797] In some embodiments, the amount of other crystalline or amorphous forms is 5 % (w / w) or less.

[1798] In some embodiments, the solid form is substantially free of impurities.

[1799] In some embodiments, the amount of impurities is 2%or less.

[1800] In some embodiments, X-ray powder diffraction pattern of the crystal form, the 2θ error between the diffraction peak position having relative peak intensity and the reference diffraction peak position is ±0.2° to ±0.5°.

[1801] In some embodiments, X-ray powder diffraction pattern of the crystal form, the 2θ error between the diffraction peak position having relative peak intensity and the reference diffraction peak position is ±0.2° to ±0.3°.

[1802] In some embodiments, X-ray powder diffraction pattern of the crystal form, the 2θ error between the diffraction peak position having relative peak intensity and the reference diffraction peak position is ±0.2°.

[1803] In some embodiments, the salt or salt’s crystal form is anhydrate.

[1804] In some embodiments, the salt or salt’s crystal form is hydrate.

[1805] In some embodiments, the salt or salt’s crystal form is solvate.

[1806] In some embodiments, the solvate is MeOH, EtOH, THF or acetone solvate. The present invention also provides a method for preparing a salt of the compound of formula (I) , specifically comprising the following steps of:

[1807] 1) weighing an appropriate amount of free base, and followed by addition of an appropriate amount of solvent;

[1808] 2) adding an appropriate amount (for example, equimolar to the freebase) of acid, Slurry at an appropriate temperature for an several hours;

[1809] 3) Centrifuge (for example, 10000 rpm, 2 min) the sample and dry the solid at an appropriate temperature for an appropriate time to get the target product;

[1810] Wherein, the solvent is selected from the group of MeOH, acetone, H2O, THF, EtOH, or mixture of one or more the above solvents.

[1811] Further, the present invention provides a pharmaceutical composition, comprising an effective amount of the crystal form of free base of the compound formula (I) , the salt or salt’s crystal form of the compound of formula (I) , and physiologically / pharmaceutically acceptable carriers.

[1812] Further, the present invention provides a method of treating cancer comprising administrating to a patient in need thereof an effective amount of the salt or salt’s crystal form of the compound of formula (I) .

[1813] Further, the present invention provides a method of treating cancer wherein the cancer harbors aberrant activation of FGFR2 comprising administrating to a patient in need thereof an effective amount of the crystal form of free base or salt of compound of formula (I) .

[1814] Further, the present invention provides a method of treating cancer comprising administrating to a patient in need thereof an effective amount of the crystal form of free base or salt of compound of formula (I) wherein the cancer is selected from the group consisting of endometrial carcinoma, gastric cancer, intrahepatic cholangiocarcinoma, breast cancer, urinary tract cancer and non-small cell lung cancer (NSCLC) .

[1815] Further, the present invention provides a method of treating cancer comprising administrating to a patient in need thereof an effective amount of the crystal form of free base or salt of compound of formula (I) wherein the cancer is selected from the group consisting of endometrial carcinoma, gastric cancer, and intrahepatic cholangiocarcinoma.

[1816] Further, the present invention provides a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) for use in the treatment of cancer wherein the cancer harbors aberrant activation of FGFR2.

[1817] Further, the present invention provides a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) for use in the treatment of cancer wherein the cancer is selected from the group consisting of endometrial carcinoma, gastric cancer, intrahepatic cholangiocarcinoma, breast cancer, urinary tract cancer and non-small cell lung cancer (NSCLC) .

[1818] Further, the present invention provides a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) for use in the treatment of cancer wherein the cancer is selected from the group consisting of endometrial carcinoma, gastric cancer, and intrahepatic cholangiocarcinoma.

[1819] Further, the present invention provides an FGFR2 selective inhibitor, comprising therapeutically effective amount of the crystal form o formula (I) according to any one of claims 1 to 6, the pharmaceutically acceptable salt of a compound of formula (I) according to any one of claims 7 to 14.

[1820] Further, the present invention provides the use of a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) for the manufacture of a medicament for treating cancer.

[1821] As used herein, the term "patient" refers to an animal such as a mammal and includes a human. A human is a preferred patient.

[1822] It is recognized that one skilled in the art may treat cancer by administering to a patient presently displaying symptoms an effective amount of the crystal form of free base or salt of compound of formula (I) . Thus, the terms "treatment" and "treating" are intended to refer to all processes wherein there may be a slowing, interrupting, arresting, controlling, or stopping of the progression of an existing disorder and / or symptoms thereof, but does not necessarily indicate a total elimination of all symptoms.

[1823] Further, it is recognized that one skilled in the art may treat cancer by administering to a patient at risk of future symptoms an effective amount of the crystal form of free base or salt of compound of formula (I) and is intended to include prophylactic treatment of such.

[1824] As used herein, the term "effective amount" of crystal form of free base or salt of compound of formula (I) refers to an amount, that is a dosage, which is effective in treating a disorder, such as the diseases described herein. The attending diagnostician, as one skilled in the art, can readily determine an effective amount by the use of conventional techniques and by observing results obtained under analogous circumstances. In determining an effective amount or dose of a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) , a number of factors are considered, including, but not limited to crystal form of free base or salt of compound of formula (I) to be administered; the co-administration of other agents, if used; the species of mammal; its size, age, and general health; the degree of involvement or the severity of the disorder, such as cancer; the response of the individual patient; the mode of administration; the bioavailability characteristics of the preparation administered; the dose regimen selected; the use of other concomitant medication; and other relevant circumstances.

[1825] A crystal form of the crystal form of free base or salt of compound of formula (I) may be administered alone or in the form of a pharmaceutical composition with pharmaceutically acceptable carriers, diluents or excipients. Such pharmaceutical compositions and processes for making the same are known in the art (See, e.g., Remington: The Science and Practice of Pharmacy, A. Adejare, Editor, 23rd Edition., Academic Press, 2020) .

[1826] Within this invention it is to be understood that the combinations, compositions, kits, methods, uses or compounds for use according to this invention may envisage the simultaneous, concurrent, sequential, successive, alternate, or separate administration of the active ingredients or components. It will be appreciated that the FGFR2 inhibitor compound (e.g. a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) and the at least one other pharmacologically active substance can be administered formulated either dependently or independently, such as e.g. the FGFR2 inhibitor compound (e.g. crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) and the at least one other pharmacologically active substance may be administered either as part of the same pharmaceutical composition / dosage form or, preferably, in separate pharmaceutical compositions / dosage forms. In this context, “combination” or “combined” within the meaning of this invention includes, without being limited, a product that results from the mixing or combining of more than one active ingredient and includes both fixed and non-fixed (e.g., free) combinations (including kits) and uses, such as e.g., the simultaneous, concurrent, sequential, successive, alternate, or separate use of the components or ingredients. The term “fixed combination” means that the active ingredients are both administered to a patient simultaneously in the form of a single entity or dosage. The term “non-fixed combination” means that the active ingredients are both administered to a patient as separate entities either simultaneously, concurrently, or sequentially with no specific time limits, wherein such administration provides therapeutically effective levels of the two compounds in the body of the patient.

[1827] The administration of the FGFR2 inhibitor compound (e.g., a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) and the at least one other pharmacologically active substance may take place by co-administering the active components or ingredients, such as e.g., by administering them simultaneously or concurrently in one single or in two or more separate formulations or dosage forms. Alternatively, the administration of the FGFR2 inhibitor compound (e.g., crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) and the at least one other pharmacologically active substance may take place by administering the active components or ingredients sequentially or in alternation, such as e.g., in two or more separate formulations or dosage forms.

[1828] For example, simultaneous administration includes administration at substantially the same time. This form of administration may also be referred to as “concomitant” administration. Concurrent administration includes administering the active agents within the same general time period, for example on the same day (s) but not necessarily at the same time. Alternate administration includes administration of one agent during a time period, for example over the course of a few days or a week, followed by administration of the other agent (s) during a subsequent period of time, for example over the course of a few days or a week, and then repeating the pattern for one or more cycles. Sequential or successive administration includes administration of one agent during a first time period (for example over the course of a few days or a week) using one or more doses, followed by administration of the other agent (s) during a second and / or additional time period (for example over the course of a few days or a week) using one or more doses. An overlapping schedule may also be employed, which includes administration of the active agents on different days over the treatment period, not necessarily according to a regular sequence. Variations on these general guidelines may also be employed, e.g., according to the agents used and the condition of the subject.

[1829] The elements of the combinations of this invention may be administered (whether dependently or independently) by methods customary to the skilled person, e.g. by oral, enteral, parenteral (e.g., intramuscular, intraperitoneal, intravenous, transdermal or subcutaneous injection, or implant) , nasal, vaginal, rectal, or topical routes of administration and may be formulated, alone or together, in suitable dosage unit formulations containing conventional non-toxic pharmaceutically acceptable carriers, excipients and / or vehicles appropriate for each route of administration.

[1830] Accordingly, in one aspect the invention provides a method for the treatment and / or prevention of cancer comprising administering to a patient in need thereof a therapeutically effective amount of a FGFR2 inhibitor compound (e.g. crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) and a therapeutically effective amount of at least one other pharmacologically active substance, wherein the FGFR2 inhibitor compound (e.g. a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) is administered simultaneously, concurrently, sequentially, successively, alternately or separately with the at least one other pharmacologically active substance.

[1831] In another aspect the invention provides a FGFR2 inhibitor compound (e.g., a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) for use in the treatment and / or prevention of cancer, wherein the FGFR2 inhibitor compound (e.g., a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) is administered simultaneously, concurrently, sequentially, successively, alternately, or separately with the at least one other pharmacologically active substance.

[1832] In another aspect the invention provides a kit comprising a first pharmaceutical composition or dosage form comprising a FGFR2 inhibitor compound (e.g. a crystal form of free base or salt of compound of formula (I) ) , and, optionally, one or more pharmaceutically acceptable carriers, excipients and / or vehicles, and at least a second pharmaceutical composition or dosage form comprising another pharmacologically active substance, and, optionally, one or more pharmaceutically acceptable carriers, excipients and / or vehicles, for use in the treatment and / or prevention of cancer, wherein the first pharmaceutical composition is to be administered simultaneously, concurrently, sequentially, successively, alternately or separately with the second and / or additional pharmaceutical composition or dosage form.

[1833] In a further embodiment of the invention the components (i.e., the combination partners) of the combinations, kits, uses, methods, and compounds for use according to the invention (including all embodiments) are administered simultaneously.

[1834] In a further embodiment of the invention the components (i.e., the combination partners) of the combinations, kits, uses, methods, and compounds for use according to the invention (including all embodiments) are administered concurrently.

[1835] In a further embodiment of the invention the components (i.e., the combination partners) of the combinations, kits, uses, methods, and compounds for use according to the invention (including all embodiments) are administered sequentially.

[1836] In a further embodiment of the invention the components (i.e., the combination partners) of the combinations, kits, uses, methods, and compounds for use according to the invention (including all embodiments) are administered successively.

[1837] In a further embodiment of the invention the components (i.e., the combination partners) of the combinations, kits, uses, methods, and compounds for use according to the invention (including all embodiments) are administered alternately.

[1838] In a further embodiment of the invention the components (i.e., the combination partners) of the combinations, kits, uses, methods, and compounds for use according to the invention (including all embodiments) are administered separately.

[1839] The “therapeutically effective amount” of the active compound (s) to be administered is the minimum amount necessary to prevent, ameliorate, or treat a disease or disorder. The combinations of this invention may be administered at therapeutically effective single or divided daily doses. The active components of the combination may be administered in such doses which are therapeutically effective in monotherapy, or in such doses which are lower than the doses used in monotherapy, but when combined result in a desired (joint) therapeutically effective amount.

[1840] Without further elaboration, it is believed that one skilled in the art can, based on the above description, utilize the present invention to its fullest extent. The following examples are to be construed as merely illustrative and not limitative of the remainder of the disclosure in any way whatsoever.

[1841] All publications cited herein are hereby incorporated by reference in their entirety.

[1842] Set forth below are examples illustrating preparation and efficacy evaluation of compounds of this invention.Brief description of the drawings

[1843] Figure 1-1 XRPD pattern of freebase Form A.

[1844] Figure 1-2 TGA curve of freebase Form A.

[1845] Figure 1-3 DSC curve of freebase Form A.

[1846] Figure 2-1 XRPD pattern of freebase Form B.

[1847] Figure 2-2 TGA curve of freebase Form B.

[1848] Figure 2-3 DSC curve of freebase Form B.

[1849] Figure 3-1 XRPD pattern of freebase Form C.

[1850] Figure 4-1 XRPD pattern of freebase Form D.

[1851] Figure 5-1 XRPD pattern of freebase Form E.

[1852] Figure 6-1 XRPD pattern of freebase Form F.

[1853] Figure 6-2 TGA curve of freebase Form F.

[1854] Figure 6-3 DSC curve of freebase Form F.

[1855] Figure 6-4 1HNMR of freebase Form F.

[1856] Figure 7-1 XRPD pattern of freebase Form G.

[1857] Figure 7-2 TGA curve of freebase Form G.

[1858] Figure 7-3 DSC curve of freebase Form G.

[1859] Figure 8-1 TGA curve of freebase Form H.

[1860] Figure 8-2 DSC curve of freebase Form H.

[1861] Figure 9-1 TGA curve of freebase Form I.

[1862] Figure 9-2 DSC curve of freebase Form I.

[1863] Figure 10-1 XRPD pattern of freebase Form J.

[1864] Figure 10-2 TGA curve of freebase Form J.

[1865] Figure 10-3 DSC curve of freebase Form J.

[1866] Figure 11-1 XRPD pattern of HCl salt Form A.

[1867] Figure 11-2 TGA curve of HCl salt Form A.

[1868] Figure 11-3 DSC curve of HCl salt Form A.

[1869] Figure 12-1 XRPD pattern of HCl salt Form B.

[1870] Figure 12 -2 TGA curve of HCl salt Form B.

[1871] Figure 12 -3 DSC curve of HCl salt Form B.

[1872] Figure 13 -1 XRPD pattern of HCl salt Form C.

[1873] Figure 13 -2 TGA curve of HCl salt Form C.

[1874] Figure 13 -3 DSC curve of HCl salt Form C.

[1875] Figure 14 -1 XRPD pattern of HCl salt Form D.

[1876] Figure 14 -2 TGA curve of HCl salt Form D.

[1877] Figure 14 -3 DSC curve of HCl salt Form D.

[1878] Figure 15 -1 XRPD pattern of sulfate Form A.

[1879] Figure 15 -2 TGA curve of sulfate Form A.

[1880] Figure 15 -3 DSC curve of sulfate Form A.

[1881] Figure 16 -1 XRPD pattern of maleate Form A.

[1882] Figure 16 -2 TGA curve of maleate Form A.

[1883] Figure 16 -3 DSC curve of maleate Form A.

[1884] Figure 17 -1 XRPD pattern of maleate Form B.

[1885] Figure 17 -2 TGA curve of maleate Form B.

[1886] Figure 17 -3 DSC curve of maleate Form B.

[1887] Figure 18 -1 XRPD pattern of phosphate Form A.

[1888] Figure 18 -2 TGA curve of phosphate Form A.

[1889] Figure 18 -3 DSC curve of phosphate Form A.

[1890] Figure 19 -1 XRPD pattern of phosphate Form B.

[1891] Figure 19 -2 TGA curve of phosphate Form B.

[1892] Figure 19 -3 DSC curve of phosphate Form B.

[1893] Figure 20 -1 XRPD pattern of phosphate Form C.

[1894] Figure 20-2 TGA curve of phosphate Form C.

[1895] Figure 20 -3 DSC curve of phosphate Form C.

[1896] Figure 21 -1 XRPD pattern of phosphate Form D.

[1897] Figure 21 -2 TGA curve of phosphate Form D.

[1898] Figure 21 -3 DSC curve of phosphate Form D.

[1899] Figure 22 -1 XRPD pattern of mucate Form A.

[1900] Figure 22 -2 TGA curve of mucate Form A.

[1901] Figure 22 -3 DSC curve of mucate Form A.

[1902] Figure 23 -1 TGA curve of mucate Form B.

[1903] Figure 23 -2 DSC curve of mucate Form B.

[1904] Figure 24 -1 XRPD pattern of tartrate Form A.

[1905] Figure 24 -2 TGA curve of tartrate Form A.

[1906] Figure 24 -3 DSC curve of tartrate Form A.

[1907] Figure 25 -1 XRPD pattern of fumarate Form A.

[1908] Figure 25 -2 TGA curve of fumarate Form A.

[1909] Figure 25 -3 DSC curve of fumarate Form A.

[1910] Figure 26 -1 XRPD pattern of fumarate Form B.

[1911] Figure 26 -2 TGA curve of fumarate Form B.

[1912] Figure 26 -3 DSC curve of fumarate Form B.

[1913] Figure 27 -1 XRPD pattern of citrate Form A.

[1914] Figure 27 -2 TGA curve of citrate Form A.

[1915] Figure 27 -3 DSC curve of citrate Form A.

[1916] Figure 28 -1 TGA curve of citrate Form B.

[1917] Figure 28 -2 DSC curve of citrate Form B.

[1918] Figure 29 -1 XRPD pattern of glycolate Form A.

[1919] Figure 29 -2 TGA curve of glycolate Form A.

[1920] Figure 29 -3 DSC curve of glycolate Form A.

[1921] Figure 30 -1 TGA curve of malate Form A.

[1922] Figure 30 -2 DSC curve of malate Form A.

[1923] Figure 31 -1 XRPD pattern of succinate Form A.

[1924] Figure 31 -2 TGA curve of succinate Form A.

[1925] Figure 31 -3 DSC curve of succinate Form A.

[1926] Figure 32 -1 XRPD pattern of succinate Form B.

[1927] Figure 32 -2 TGA curve of succinate Form B.

[1928] Figure 32 -3 DSC curve of succinate Form B.

[1929] Figure 33 -1 XRPD pattern of napadisylate Form A.

[1930] Figure 33 -2 TGA curve of napadisylate Form A.

[1931] Figure 33 -3 DSC curve of napadisylate Form A.

[1932] Figure 34 -1 XRPD pattern of edisylate Form A.

[1933] Figure 34 -2 TGA curve of edisylate Form A.

[1934] Figure 34 -3 DSC curve of edisylate Form A.

[1935] Figure 35 -1 XRPD pattern of edisylate Form B.

[1936] Figure 35 -2 TGA curve of edisylate Form B.

[1937] Figure 35 -3 DSC curve of edisylate Form B.

[1938] Figure 36 -1 XRPD pattern of edisylate Form C.

[1939] Figure 36 -2 TGA curve of edisylate Form C.

[1940] Figure 36 -3 DSC curve of edisylate Form C.

[1941] Figure 37 -1 XRPD pattern of tosylate Form A.

[1942] Figure 37 -2 TGA curve of tosylate Form A.

[1943] Figure 37 -3 DSC curve of tosylate Form A.

[1944] Figure 38 -1 XRPD pattern of tosylate Form B.

[1945] Figure 38 -2 TGA curve of tosylate Form B.

[1946] Figure 38 -3 DSC curve of tosylate Form B.

[1947] Figure 39 -1 TGA curve of tosylate Form C.

[1948] Figure 39 -2 DSC curve of tosylate Form C.

[1949] Figure 39 -3 1HNMRe of tosylate Form C.

[1950] Figure 40-1 XRPD pattern of mesylate Form A.

[1951] Figure 40 -2 TGA curve of mesylate Form A.

[1952] Figure 40 -3 DSC curve of mesylate Form A.

[1953] Figure 41 -1 XRPD pattern of mesylate Form B.

[1954] Figure 41 -2 TGA curve of mesylate Form B.

[1955] Figure 41 -3 DSC curve of mesylate Form B.

[1956] Figure 42 -1 XRPD pattern of mesylate Form C.

[1957] Figure 42 -2 TGA curve of mesylate Form C.

[1958] Figure 42 -3 DSC curve of mesylate Form C.

[1959] Figure 43 -1 TGA curve of oxalate Form A.

[1960] Figure 43 -2 DSC curve of oxalate Form A.

[1961] Figure 44 -1 XRPD pattern of oxalate Form B.

[1962] Figure 44 -2 TGA curve of oxalate Form B.

[1963] Figure 44 -3 DSC curve of oxalate Form B.

[1964] Figure 45 -1 XRPD pattern of besylate Form A.

[1965] Figure 45 -2 TGA curve of besylate Form A.

[1966] Figure 45 -3 DSC curve of besylate Form A.

[1967] Figure 46 -1 XRPD pattern of besylate Form B.

[1968] Figure 46 -2 TGA curve of besylate Form B.

[1969] Figure 46 -3 DSC curve of besylate Form B.

[1970] Figure 47 -1 XRPD pattern of besylate Form C.

[1971] Figure 47 -2 TGA curve of besylate Form C.

[1972] Figure 47 -3 DSC curve of besylate Form C.

[1973] Figure 48 -1 TGA curve of besylate Form D.

[1974] Figure 48 -2 DSC curve of besylate Form D.

[1975] Figure 49 -1 XRPD pattern of malonate Form A.

[1976] Figure 49 -2 TGA curve of malonate Form A.

[1977] Figure 49 -3 DSC curve of malonate Form A.

[1978] Figure 50 -1 XRPD pattern of malonate Form B.

[1979] Figure 50 -2 TGA curve of malonate Form B.

[1980] Figure 50 -3 DSC curve of malonate Form B.

[1981] Figure 51 -1 XRPD pattern of malonate Form C.

[1982] Figure 51 -2 TGA curve of malonate Form C.

[1983] Figure 51 -3 DSC curve of malonate Form C.

[1984] Figure 52 -1 XRPD pattern of HBr salt Form A.

[1985] Figure 52 -2 TGA curve of HBr salt Form A.

[1986] Figure 52 -3 DSC curve of HBr salt Form A.

[1987] Figure 53 -1 XRPD pattern of HBr salt Form B.

[1988] Figure 53 -2 TGA curve of HBr salt Form B.

[1989] Figure 53 -3 DSC curve of HBr salt Form B.

[1990] Figure 54 -1 XRPD pattern of HBr salt Form C.

[1991] Figure 54 -2 TGA curve of HBr salt Form C.

[1992] Figure 54 -3 DSC curve of HBr salt Form C.

[1993] Detailed description of the preferred embodiment

[1994] Unless otherwise stated, the terms used in the specification and claims have the meanings described below.

[1995] As used herein, the term “halogen” or “halo” refers to fluoro, chloro, bromo, or iodo, unless otherwise specified herein. A particular value of halogen is chloro or bromo.

[1996] The abbreviations as used herein are accustomed to the art, some of which are also provided with the corresponding definitions below.

[1997] Different expressions such as "X is selected from the group consisting of A, B or C" , "X is selected from the group consisting of A, B and C" , "X is A, B or C" , "X is A, B and C" and the like, express the same meaning, that is, X can be any one or more of A, B and C. "Optional" or "optionally" means that the event or circumstance described subsequently can, but need not, occur, and such a description includes the situation in which the event or circumstance does or does not occur.

[1998] "Substituted" refers to one or more hydrogen atoms in a group, preferably up to 5, and more preferably 1 to 3 hydrogen atoms, independently substituted by a corresponding number of substituents. It goes without saying that the substituents only exist in their possible chemical position. The person skilled in the art is able to determine whether the substitution is possible or impossible by experiments or theory without excessive efforts. For example, the combination of amino or hydroxy having free hydrogen and carbon atoms having unsaturated bonds (such as olefinic) may be unstable.

[1999] "Stereoisomerism" includes geometric isomerism (cis-trans isomerism) , optical isomerism, and conformational isomerism.

[2000] The term “hydrate” and “solvate” are meant to describe crystalline Compound forms that include an amount of water or solvent, as supported by data derived from differential scanning calorimetry (DSC) experiments, thermogravimetric analysis (TGA) experiments, X-ray diffraction experiments, and / or the procedure for generating the solid crystalline form.

[2001] In some embodiments, a solvate crystalline form or hydrate crystalline form comprises at least 1.5%, 1.75%, 2.0%, 2.5%, 3.0%, 4.0%, 5.0%, 6.0%, 7.0%, 8.0%, 9.0%, 10.0%, 15.0%, or 20.0%of the total weight of the sample as water, solvent, or a combination thereof, as determined by TGA.

[2002] Crystalline solid forms termed a “solvate, ” or “hydrate” are not meant to be limiting. For example, a solvate or hydrate can comprise a combination of water and solvent in the crystalline solid form.

[2003] The hydrogen atom of the present invention can be substituted by its isotope deuterium. Any of the hydrogen atoms in the compounds of the examples of the present invention can also be substituted by deuterium atom (s) .

[2004] A "pharmaceutical composition" refers to a mixture of one or more of the compounds according to the present invention or physiologically / pharmaceutically acceptable salts or prodrugs thereof with other chemical components, and other components such as physiologically / pharmaceutically acceptable carriers and excipients. The purpose of the pharmaceutical composition is to facilitate administration of a compound to an organism, which is conducive to the absorption of the active ingredient so as to exert biological activity.

[2005] A "pharmaceutically acceptable salt" refers to a salt of the compound of the present invention, which is safe and effective in mammals and has the desired biological activity.

[2006] X-ray powder diffraction (XRPD) pattern refers to the experimentally observed diffraction pattern or the parameters derived from it, and the X-ray powder diffraction pattern is characterized by peak position (abscissa) and peak intensity (ordinate) . Those skilled in the art will appreciate that the experimental error therein depends on the conditions of the instrument, the preparation of the sample, and the purity of the sample. In particular, it is well known to those skilled in the art that X-ray diffraction pattern generally varies with the conditions of the instrument. Those skilled in the art will appreciate that suitable error tolerances for XRPD may be: 2θ±0.5°, 2θ±0.4°, 2θ±0.3°, 2θ±0.2°. In particular, it is important to point out that the relative intensity in X-ray diffraction pattern may vary with experimental conditions, so the order of peak intensity cannot be used as the sole or decisive factor. In addition, due to the influence of experimental factors such as the height of the sample, the overall deviation of the peak angle will occur, and a certain deviation is usually allowed. Therefore, those skilled in the art can understand that any crystal form having the same or similar characteristic peaks as the pattern of the present invention falls within the scope of the present invention.

[2007] "TGA" refers to thermogravimetric analysis (TGA) test.

[2008] "DSC" refers to differential scanning calorimetry (DSC) test.

[2009] "HPLC" refers to high performance liquid chromatography (HPLC) test.

[2010] "PK" refers to pharmacokinetic (PK) test.

[2011] The present invention will be further described with reference to the following examples, but the examples should not be considered as limiting the scope of the present invention.

[2012] I. Preparation of the Compounds

[2013] The structures of the compounds of the present invention were identified by nuclear magnetic resonance (NMR) and / or liquid chromatography-mass spectrometry (LC-MS) . NMR shifts (δ) are given in parts per million (ppm) . NMR was determined by a Bruker AVANCE-400 machine. The solvents for determination were deuterated-dimethyl sulfoxide (DMSO-d6) , deuterated-methanol (CD3OD) and deuterated-chloroform (CDCl3) , and the internal standard was tetramethylsilane (TMS) .

[2014] Liquid chromatography-mass spectrometry (LC-MS) was determined on an Agilent 1200 Infinity Series mass spectrometer. High performance liquid chromatography (HPLC) was determined on an Agilent 1200DAD high pressure liquid chromatograph (Sunfire C18 150×4.6 mm chromatographic column) , and a Waters 2695-2996 high pressure liquid chromatograph (Gimini C18 150×4.6 mm chromatographic column) . Yantai Huanghai HSGF254 or Qingdao GF254 silica gel plate was used as the thin-layer silica gel chromatography (TLC) plate. The dimension of the silica gel plate used in TLC was 0.15 mm to 0.2 mm, and the dimension of the silica gel plate used in product purification was 0.4 mm to 0.5 mm. Yantai Huanghai 200 to 300 mesh silica gel was generally used as a carrier for column chromatography.

[2015] The raw materials used in the examples of the present invention are known and commercially available, or can be synthesized by adopting or according to known methods in the art.

[2016] Unless otherwise stated, all reactions of the present invention were carried out under continuous magnetic stirring under a dry nitrogen or argon atmosphere, the solvent was dry, and the reaction temperature was in degrees celsius.

[2017] Intermediate

[2018] Synthesis of tert-butyl 9- (4-amino-5-bromo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-ene-3-carboxylate.

[2019] Step 1. Synthesis of 4-Chloro-7-Methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidine.

[2020] To a solution of 4-chloro-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidine (50 g, 326 mmol, 1 eq) in DMF (400 mL) was added Cs2CO3 (160 g, 489 mmol, 1.5 eq) at 0 ℃ under N2, followed by MeI (92 g, 652 mmol, 2 eq) , and the resulting mixture was stirred at room temperature for 2 hrs. The mixture was poured into water (3000 mL) . The precipitated solid was collected by filtration, washed with water, and dried under reduced pressure to afford the title compound (41 g, 75 %) as a white solid.

[2021] LCMS: m / z 168.33 [M+1] +.

[2022] Step 2. Synthesis of 5-bromo-4-chloro-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidine.

[2023] To a solution of compound 4-chloro-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidine (41 g, 245 mmol, 1 eq) in DMF (350 mL) was added NBS (52.3 g, 294 mmol, 1.2 eq) in one portion under N2 at 0 ℃, and the resulting mixture was stirred at room temperature for 2 hrs. The mixture was poured into water. The precipitated solid was collected by filtration, washed with water, and dried under reduced pressure to afford the title compound (53 g, 88 %) as a white solid.

[2024] LCMS: m / z 247.80 [M+1] +.

[2025] Step 3. Synthesis of 5-bromo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine.

[2026] A mixture of 5-bromo-4-chloro-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidine (15 g, 60.9 mmol, 1 eq) in NH3-H2O (150 mL) was stirred at 100℃ for 72 hrs in a sealed tube. The mixture was cooled to room temperature and diluted with water. The solid was filtered, washed with water and dried under reduced pressure to afford the title compound (12 g, 87 %) as a white solid.

[2027] LCMS: m / z 227.03 [M+1] +.

[2028] Step 4. Synthesis of 5-bromo-6-iodo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine.

[2029] To a solution of 5-bromo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine (6 g, 26.4 mmol, 1 eq) in DCM (60 mL) was added TFA (15 g, 132 mmol, 5 eq) and NIS (5.6 g, 31.7 mmol, 1.2 eq) in one portion under N2 at 0 ℃. The mixture was stirred at room temperature for 2 hrs. The mixture was poured into saturated aqueous Na2SO3 solution. The precipitated solid was collected by filtration, washed with water, and dried under reduced pressure to afford the title compound (8.2 g, 88 %) as a gray solid.

[2030] LCMS: m / z 352.96 [M+1] +.

[2031] Step 5. Synthesis of tert-butyl 9- (4-amino-5-bromo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-ene-3-carboxylate.

[2032] A mixture of 5-bromo-6-iodo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine (3 g, 8.5 mmol, 1 eq) , tert-butyl 9- (4, 4, 5, 5-tetramethyl-1, 3, 2-dioxaborolan-2-yl) -3-azaspiro [5.5] -undec-8-ene-3-carboxylate (6.4 g, 17 mmol, 2 eq) , Pd (PPh3) 4 (981 mg, 0.85 mmol, 0.1 eq) and K3PO4 (3.52 g, 25.5 mmol, 3 eq) in DMF (24 mL) and H2O (3 mL) was degassed with N2 three times and then stirred at 50 ℃ for 16 h under N2. The resulting mixture was diluted with H2O (50 mL) and extracted with EtOAc (3 x 40 mL) . The combined organic layers were washed with brine (4 x 30 mL) , dried over anhydrous Na2SO4, and filtered. The filtrate was concentrated under reduced pressure. The residue was purified by silica gel column chromatography, eluting with DCM / MeOH (70: 1) to afford the title compound (892 mg, 22 %yield) as a yellow solid.

[2033] LCMS: m / z 476.20 [M+1] +.Example

[2034] Synthesis of 1- (9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-en-3-yl) prop-2-en-1-one (Formula (I) ) .

[2035] Step 1. Synthesis of tert-butyl 9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-ene-3-carboxylate.

[2036] To a solution of tert-butyl 9- (4-amino-5-bromo-7-methyl-7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-ene-3-carboxylate (300 mg, 0.63 mmol) in DMAc (10 mL) were added copper iodide (12 mg, 0.063 mmol) , CsF (191 mg, 1.26 mmol) , Pd (PPh3) 4 (73mg, 0.063 mmol) and 2- (tributylstannyl) pyrimidine (350 mg, 0.95 mmol) . The suspension was degassed under vacuum and purged with N2 several times. The resulting mixture was stirred at 90℃ for 16 hrs. under N2. After completion, the reaction mixture was cooled to room temperature, diluted with water and extracted with EtOAc. The combined organic layers were washed with brine, dried over anhydrous Na2SO4, and concentrated under reduced pressure. The residue was purified by flash column chromatography on silica gel to afford tert-butyl 9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-ene-3-carboxylate (100 mg, 0.21 mmol, 33%) as a brown solid.

[2037] LC-MS m / e: 476 (MH+) .

[2038] Step 2. Synthesis of 7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -6- (3-azaspiro [5.5] undec-8-en-9-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine.

[2039] To a solution of tert-butyl 9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-ene-3-carboxylate (100 mg, 0.21 mmol) in MeOH (2 mL) was added 4M HCl in dioxane (3 mL) . The resulting mixture was stirred at room temperature for 1 hr and then concentrated under reduced pressure to afford 7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -6- (3-azaspiro [5.5] undec-8-en-9-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine (78 mg, 0.21 mmol, quant. ) as a solid, which is used directly in next step without further purification.

[2040] LC-MS m / e: 376 (MH+) .

[2041] Step 3. Synthesis of 1- (9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin -6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-en-3-yl) prop-2-en-1-one

[2042] To a suspension of 7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -6- (3-azaspiro [5.5] undec-8-en-9-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-4-amine (78 mg, 0.21 mmol) and triethylamine (0.22 mL, 1.6 mmol) in DCM (10 mL) was added prop-2-enoyl chloride (22 mg, 0.25 mmol) in DCM (2 mL) at 0 ℃. The reaction mixture was stirred at 0 ℃for 30 min and then concentrated under reduced pressure. The residue was purified by prep-HPLC to afford 1- (9- (4-amino-7-methyl-5- (pyrimidin-2-yl) -7H-pyrrolo [2, 3-d] pyrimidin-6-yl) -3-azaspiro [5.5] undec-8-en-3-yl) prop-2-en-1-one (20 mg, 46 μmol, 22%) as a white solid.

[2043] LC-MS m / e: 430.2 (MH+) .

[2044] 1H NMR (400 MHz, DMSO-d6) δ 8.77 (d, J = 5.0 Hz, 2H) , 8.10 (s, 1H) , 7.24 (t, J = 5.0 Hz, 1H) , 6.89 -6.82 (m, 3H) , 6.11 (dd, J = 16.8, 2.4 Hz, 1H) , 5.69 -5.64 (m, 2H) , 3.69 -3.66 (m, 2H) , 3.59 (s, 3H) , 3.55 -3.52 (m, 2H) , 2.35 -2.25 (m, 2H) , 2.15 -2.05 (m, 2H) , 1.71 -1.68 (m, 2H) , 1.59 -1.55 (m, 4H) .

[2045] II. Biological Assay and Evaluation of the Compounds

[2046] The present invention is further described below in combination with the following test examples, which are not intended to limit the scope of the present invention.

[2047] pERK Potency Assay

[2048] The purpose of this assay is to measure the ability of test compounds to inhibit FGFR mediated downstream signaling cascades, i.e., ERK phosphorylation in cells with FGFR aberrations. FGFR aberrations become constitutively active and thus induces cascades of cellular signaling events that result in increased phosphorylation of ERK at Threonine 202 and Tyrosine 204 (pERK) . The procedure called In Cell ELISA described below measures the level of cellular pERK in response to FGFR specific inhibitor compounds in FGFR aberrations of AN3CA (FGFR2 / k310R, N549K) , DMS114 (FGFR1 amplification) , RT112 (FGFR3 overexpression / FGFR3-TACC3 fusion) and Hep3B (FGF19 amplification) cells. AN3CA, DMS114 and Hep3B cells are from ATCC. RT112 cells are from Sigma. DMS114 cells are grown and maintained using RPMI-1640 medium supplemented with 10%heat-inactivated fetal bovine serum. AN3CA, Hep3B and RT112 cells are grown and maintained using DMEM supplemented with 10%heat-inactivated fetal bovine serum. On the day before test compound addition, cells are plated in poly-D-lysine coated 96-well cell culture plates ( Cat#356640) at 40000 cells / well / 100 μL and grown overnight in a 37℃, 5%CO2 incubator. Test compounds are prepared with 4-fold serial dilutions in DMSO, with a top concentration of 10 μM.On the day of the assay, 50 μL of test compound diluted in media was added to each well of cell culture plate with the final concentration of compounds spanning from 0.000038 μM to 10 μM. After compound addition, cells are incubated for 3 hours at 37℃, 5%CO2 and then the culture medium is removed. Cells are fixed with 4%formaldehyde in phosphate-buffered saline (PBS) and incubated at RT for 20 min. The plate is then washed three times with PBST (PBS with 0.05%tween-20) , followed by the incubation with 100 μL of pre-cooled methanol at -20℃ for 20 min. After incubation, methanol is removed, and the plate is washed once with PBST. Cells are permeabilized with 100 μL / well of 0.1%Triton X-100 in PBS at RT for 20 min and then quenched with quenching buffer (PBST containing 1%H2O2 and 0.1%sodium azide) for 20 min at RT with gentle shaking. After washing once with PBST, blocking buffer (250 μl / well, PierceTM Protein-Free-PBS Blocking Buffer, Cat# 37572) was then added to the cells for 1-h incubation at RT, followed by anti-pERK antibody (cell signaling, 1: 1000 dilution in 5%BSA in PBST) incubation overnight at 4℃ and secondary antibody-HRP (Jackson immunoresearch, 1: 3000 dilution in 5%BSA in PBST) incubation at RT for 1h. PBST wash is carried out after each step three times. Before the addition of the substrate (Advansta ELISABright) , the plate is washed with PBS twice to remove detergent residues. Cellular pERK level is determined using the microplate reader (Biotek Synergy H1) to detect the chemiluminescence signal. IC50 is determined by fitting a 4-parameter sigmoidal concentration-response model. FGFR wild type cells (H1975, PC-9 and AGS) are used to serve as negative control (FGFR selectivity) with the same assay procedures described above.

[2049] Results of pERK potency for FGFR1, FGFR2 and FGFR3, and selectivity for FGFR2 relative to FGFR1 and FGFR3 are presented in Table A.

[2050] In Table A, compounds having an IC50 less than or equal to 1 nM are represented as “A” ; compounds having an IC50 greater than 1 nM but less than or equal to 10 nM are represented as “B” ; compounds having an IC50 greater than 10 nM but less than or equal to 30 nΜ are represented as “C” ; compounds having an IC50 greater than 30 nΜ but less than or equal to 100 nΜ are represented as “D” ; and compounds having an IC50 greater than 100 nΜ are represented as “E” . The value “ND” refers to not determined.

[2051] Further in Table A, compounds having a selectivity ratio greater than 50 but less than or equal to 150 are represented as “F” ; compounds having a selectivity ratio greater than 150 but less than or equal to 500 are represented as “G” ; compounds having a selectivity ratio greater than 500 but less than or equal to 1000 are represented as “H” ; compounds having a selectivity ratio greater than 1000 but less than or equal to 2000 are represented as “I” ; and compounds having a selectivity ratio greater than 2000 are represented as “J” . The value “ND” refers to not determined.

[2052] These data demonstrate that Example compounds of the invention for which results are obtained listed in Table A are potent and selective inhibitors of FGFR2 with respect to FGFR1 or FGFR3.

[2053] Table A

[2054] 2D Cell Proliferation Assay

[2055] Cell proliferation assays are used to examine the potency with which compounds inhibit in vitro cell proliferation of cancer cell lines carrying FGFR aberrations or FGFR wild type. This demonstrates the molecular mode of action of compounds. Low IC50 values are indicative of the high potency of the FGFR inhibitor compounds in this assay setting. It is observed that FGFR inhibitor compounds demonstrate potent inhibitory effect on the proliferation of human cancer cell lines carrying FGFR aberrations. Cell proliferation assays are performed in two-dimensional (2D) anchorage-dependent conditions in 96 well plates ( Black / Clear flat Bottom, Cat# 3603) with the following cell lines:

[2056] Ba / F3 FGFR2-BICC1 (human FGFR2 / V546F) : Mouse Ba / F3 cell line stably expressed exogenous human FGFR2-BICC1 fusion gene bearing V546F mutation in FGFR2 Ba / F3;

[2057] FGFR2-BICC1 (human FGFR2 / N546K) : Mouse Ba / F3 cell line stably expressed exogenous human FGFR2-BICC1 fusion gene bearing N549K mutation in FGFR2;

[2058] Snu-16: human gastric cancer cell with FGFR2 amplification;

[2059] KATO III: human gastric cancer cell with FGFR2 amplification;

[2060] AN3CA: Human endometrial cancer with FGFR2 mutation (k310R, N549K) ;

[2061] MFM-223: Human breast cancer with FGFR1 / 2 amplification;

[2062] MFE-296: Human endometrial cancer with FGFR2 mutation (N549K) ;

[2063] MFE-280: Human endometrial cancer with FGFR2 mutation (B252W) ;

[2064] NCI-H1581: human non-small cell lung cancer with FGFR1 amplification;

[2065] KG-1a: Acute myelogenous leukemia with FGFR1OP2-FGFR1 translocation;

[2066] DMS114: human small cell carcinoma of the lung with FGFR1 amplification;

[2067] RT112: human bladder cancer with FGFR3 overexpression / FGFR3-TACC3 fusion;

[2068] SW780: human bladder cancer with FGFR3 overexpression / FGFR3-BALAP2L1 fusion;

[2069] Hep3B: Liver cancer with FGF19 amplification (FGFR4 ligand) ;

[2070] AGS: Human gastric adenocarcinoma with Kras G12D mutation and FGFR wild type;

[2071] PC-9: human non-small cell lung cancer (NSCLC) with wild-type FGFR and an EGFR del19 mutation; or

[2072] H1975: human non-small cell lung cancer (NSCLC) with wild-type FGFR and EGFR L858R / T790M mutation.

[2073] Cell lines are purchased from the American Type Cultur...

Claims

1.A crystal form of compound of formula (I) , wherein the crystal form is freebase Form A, B, C, D, E, F, G, H, I or J: being crystal freebase Form A, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 5.2±0.2°, 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, at 13.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.4±0.2°, 22.3±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form B, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 7.2±0.2°, 13.1±0.2°, 13.5±0.2°, 13.8±0.2°, 19.0±0.2°, 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° or 22.7±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form C, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 15.3±0.2°, 17.6±0.2°, 19.6±0.2° or 23.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 7, or 5 to 7, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 7, of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form D, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2° or 34.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 4 to 6, or 5 to 6 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form E, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2°, 23.7±0.2°, 24.7±0.2° or 26.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form F, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 8.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.8±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2° or 24.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form G, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 19.7±0.2°, 21.5±0.2°, 23.8±0.2° or 25.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form I, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 6.3±0.2°; or has a diffraction peak at 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.4±0.2°, 20.6±0.2°, 25.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being crystal freebase Form J, the X-ray powder diffraction pattern has a diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 12.0±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2°, 22.3±0.2°, 23.5±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.2.The crystal form according to claim 1, wherein:the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°, preferably comprises 2 or 3 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 4 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 5.2±0.2°, 9.3±0.2°, 14.9±0.2° and 22.3±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B has a diffraction peak at 2θ of 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 7.2±0.2°, 13.1±0.2°, 13.5±0.2°, 19.8±0.2° and 22.7±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form C has a diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°; or has a diffraction peak at 5.1±0.2°; or has a diffraction peak at 10.1±0.2°; or has a diffraction peak at 13.5 ±0.2°; or has a diffraction peak at 15.3±0.2°; or has a diffraction peak at 17.6±0.2°; or has a diffraction peak at 19.6±0.2°; or has a diffraction peak at 23.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 7, or 5 to 7, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 7, of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form D has a diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 10.2±0.2° and 17.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 16.0±0.2°, 17.5±0.2° and 34.3±0.2, and preferably comprises 2 or 3 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E has a diffraction peak at 2θ of 13.2±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.4±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2°, 24.7±0.2° and 26.0±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F has a diffraction peak at 2θ of 10.6±0.2°, 13.4±0.2° and 18.7±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 17.3±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G has a diffraction peak at 2θ of 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form I has a diffraction peak at 2θ of 6.3±0.2°, 10.5±0.2° and 11.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.5±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.4±0.2° and 20.6±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J has a diffraction peak at 2θ of 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.9±0.2°, 13.4±0.2°, 19.5±0.2°, 22.3±0.2° and 23.5±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks.3.The crystal form according to claim 1, wherein:the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (A1) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2° and 17.2±0.2°;Group (A2) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A3) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A4) : 5.2±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A5) : 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A6) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A7) : 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2°, 19.4±0.2° and 22.3±0.2°;Group (A8) : 4.9±0.2°, 5.2±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A9) : 4.9±0.2°, 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (A10) : 5.2±0.2°, 9.3±0.2°, 10.6±0.2°, 13.3±0.2°, 17.2±0.2° and 19.4±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (B1) : 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B2) : 7.2±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B3) : 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B4) : 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B5) : 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B6) : 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;Group (B7) : 7.2±0.2°, 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B8) : 7.2±0.2°, 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B9) : 7.2±0.2°, 19.8±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B10) : 7.2±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;Group (B11) : 13.1±0.2°, 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B12) : 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B13) : 13.1±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;Group (B14) : 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2° and 21.8±0.2°;Group (B15) : 13.5±0.2°, 19.3±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°; andGroup (B16) : 19.3±0.2°, 19.8±0.2°, 20.1±0.2°, 21.8±0.2° and 22.7±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form C of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (C1) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2° and 13.5±0.2°;Group (C2) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 15.3±0.2°;Group (C3) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 17.6±0.2°;Group (C4) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 19.6±0.2°;Group (C5) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2° and 23.6±0.2;Group (C6) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 17.6±0.2° and 19.6±0.2°;Group (C7) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 17.6±0.2° and 23.6±0.2°; andGroup (C8) : 5.1±0.2°, 10.1±0.2°, 13.5±0.2°, 17.6±0.2°, 19.6±0.2° and 23.6±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form D of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (D1) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2° and 17.0±0.2°;Group (D2) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2° and 17.0±0.2°;Group (D3) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 17.0±0.2° and 17.5±0.2°;Group (D4) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 17.0±0.2° and 34.3±0.2°;Group (D5) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2° and 17.5±0.2°;Group (D6) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2°, and 34.3±0.2°;Group (D7) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2° and 34.3±0.2°; andGroup (D8) : 6.8±0.2°, 10.2±0.2°, 16.0±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2° and 34.3±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (E1) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (E2) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (E3) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2° and 22.2±0.2°;Group (E4) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (E5) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.7±0.2°;Group (E6) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 26.0±0.2°;Group (E7) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2° and 22.2±0.2°;Group (E8) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (E9) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.7±0.2°;Group (E10) : 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°; andGroup (E11) : 6.4±0.2°, 13.2±0.2°, 18.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (F1) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2° and 18.7±0.2°;Group (F2) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (F3) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 19.2±0.2°;Group (F4) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 19.7±0.2°;Group (F5) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (F6) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2° and 24.6±0.2°;Group (F7) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 19.2±0.2°;Group (F8) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 19.7±0.2°;Group (F9) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (F10) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 24.6±0.2°;Group (F11) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 19.7±0.2°;Group (F12) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 22.2±0.2°;Group (F13) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 24.6±0.2°;Group (F14) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (F15) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2° and 24.6±0.2°;Group (F16) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2°;Group (F17) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 19.7±0.2°;Group (F18) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 22.2±0.2°;Group (F19) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2° and 24.6±0.2°;Group (F20) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2° and 22.2±0.2°;Group (F21) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.2±0.2°, 19.7±0.2° and 24.6±0.2°; andGroup (F22) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 18.7±0.2°, 19.7±0.2°, 22.2±0.2° and 24.6±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (G1) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G2) : 4.8±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G3) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G4) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G5) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G6) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G7) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G8) : 4.8±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G9) : 4.8±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G10) : 4.8±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.6±0.2°;Group (G11) : 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G12) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G13) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G14) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G15) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G16) : 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G17) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2° and 17.2±0.2°;Group (G18) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G19) : 4.8±0.2°, 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G20) : 4.8±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G21) : 4.8±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G22) : 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°;Group (G22) : 5.3±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°;Group (G22) : 5.3±0.2°, 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2° and 21.5±0.2°; andGroup (G22) : 9.6±0.2°, 10.5±0.2°, 13.4±0.2°, 17.2±0.2°, 21.5±0.2° and 25.9±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form I of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (I1) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2° and 11.9±0.2°;Group (I2) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 13.5±0.2°;Group (I3) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 14.9±0.2°;Group (I4) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 17.1±0.2°;Group (I5) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (I6) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2° and 20.6±0.2°;Group (I7) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 14.9±0.2°;Group (I8) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 17.1±0.2°;Group (I9) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 19.4±0.2°;Group (I10) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2° and 20.6±0.2°;Group (I11) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 14.9±0.2° and 17.1±0.2°;Group (I12) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (I13) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 14.9±0.2° and 20.6±0.2°;Group (I14) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 17.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (I15) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 17.1±0.2° and 20.6±0.2°;Group (I16) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 19.4±0.2° and 20.6±0.2°; andGroup (I17) : 6.3±0.2°, 10.5±0.2°, 11.9±0.2°, 13.5±0.2°, 17.1±0.2° and 19.4±0.2°;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J of the compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (J1) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;Group (J2) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;Group (J3) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;Group (J4) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;Group (J5) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;Group (J6) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 23.5±0.2°;Group (J7) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2° and 17.2±0.2°;Group (J8) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;Group (J9) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;Group (J10) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 23.5±0.2°;Group (J11) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;Group (J12) : 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;Group (J13) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2° and 22.3±0.2°;Group (J14) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 22.3±0.2° and 23.5±0.2°;Group (J15) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 19.5±0.2°;Group (J16) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 22.3±0.2°;Group (J17) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 13.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 23.5±0.2°;Group (J18) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2° and 22.3±0.2°;Group (J19) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 19.5±0.2° and 23.5±0.2°; andGroup (J20) : 4.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 22.3±0.2° and 22.3±0.2°.4.The crystal form according to claim 1, wherein,the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form A of the compound formula (I) optionally also comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.7±0.2°, 13.6±0.2°, 15.6±0.2°, 21.5±0.2°, 21.9±0.2°, 23.5±0.2°, 23.9±0.2°, 26.3±0.2°, 27.5±0.2° and 27.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form B at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.6±0.2°, 10.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.6±0.2°, 23.9±0.2°, 25.3±0.2°, 26.5±0.2°, 27.3±0.2°, 28.5±0.2°and 29.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form C at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 5.1±0.2°, 10.1±0.2° and 13.5±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 15.3±0.2°, 17.6±0.2°, 19.6±0.2°and 23.6±0.2, and preferably comprises 2, 3, or 4 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form E at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 9.9±0.2°, 10.5±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 22.8±0.2°, 26.6±0.2°, 28.7±0.2° and 31.2±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form F at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 12.0±0.2°, 15.6±0.2°, 21.1±0.2°, 23.5±0.2°, 26.0±0.2°, 27.7±0.2° and 34.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form G at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 15.1±0.2°, 18.5±0.2°, 22.1±0.2°, 22.5±0.2°, 24.6±0.2°, 27.0±0.2°, 27.8±0.2°, 29.0±0.2°, 30.2±0.2° and 30.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;the X-ray powder diffraction pattern of crystal freebase Form J at least comprises one or more diffraction peaks at 2θ of 8.4±0.2°, 9.0±0.2°, 9.7±0.2°, 15.6±0.2°, 15.6±0.2°, 18.4±0.2°, 21.0±0.2°, 21.5±0.2°, 24.0±0.2°, 24.7±0.2° and 27.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks.5.The crystal form according to claim 1, whereinthe X-ray powder diffraction pattern of crystal form A is as shown in Figure 1-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 1-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 1-3;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form B is as shown in Figure 2-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 2-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 2-3;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form C is as shown in Figure 3-1;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form D is as shown in Figure 4-1;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form E is as shown in Figure 5-1;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form F is as shown in Figure 6-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 6-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 6-3;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form G is as shown in Figure 7-1, or c has the TGA spectrum as shown in Figure 7-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 7-3;the crystal form H has the DSC spectrum as shown in Figure 8-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 8-2;the crystal form I has the TGA spectrum as shown in Figure 9-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 9-2;the X-ray powder diffraction pattern of crystal form J is as shown in Figure 10-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 10-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 10-3.6.The crystal form according to any one of claims 1 to 5, the crystal forms of freebase Form A to J are anhydrate, solvate or hydrate; the solvates are preferred DCM solvate and CHCl3 solvate; And the amount of solvent or water in solvate or hydrate is 0.1～5, preferred the amount of solvent or water in solvate or hydrate is 1.7.A pharmaceutically acceptable salt of a compound of formula (I) , wherein: the pharmaceutically acceptable salt is selected from the group consisting of HCl salt, HBr salt, sulfate, maleate, phosphate, mucate, tartrate, fumarate, citrate, glycolate, malate, succinate, napadisylate, edisylate, tosylate, mesylate, oxalate, besylate, malonate, aspartate or glutamate; 8.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to claim 7, wherein the molar ratio of the acid to the freebase compound of formula (I) is 0.2 to 2.0; preferably 0.5 to 1.5, more preferably 0.5, 0.6, 0.7, 0.8, 0.9, 1.0, 1.1, 1.2 or 1.5;or, the pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) is amorphous or crystalline.9.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to claim 7 or 8, wherein the crystalline is HCl salt Form A, HCl salt Form B, HCl salt Form C, HCl salt Form D, Sulfate Form A, maleate Form A, maleate Form B, phosphate Form A, phosphate Form B, phosphate Form C, phosphate Form D, mucate Form A, mucate Form B, tartrate Form A, fumarate Form A, fumarate Form B, citrate Form A, citrate Form B, glycolate Form A, malate Form A, succinate Form A, succinate Form B, napadisylate Form A, edisylate Form A, edisylate Form B, edisylate Form C, tosylate Form A, tosylate Form B, tosylate Form C, mesylate Form A, mesylate Form B, mesylate Form C, oxalate Form A, oxalate Form B, besylate Form A, besylate Form B, besylate Form C, besylate Form D, malonate Form A, malonate Form B, malonate Form C, HBr salt Form A, HBr salt Form B or HBr salt Form C;being HCl salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°, 21.3±0.2°, 26.3±0.2° or 26.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 9.4±0.2°, 12.2±0.2°, 13.7±0.2°, 14.4±0.2°, 16.7±0.2°, 25.5±0.2° or 26.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.2±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2°, 20.8±0.2°, 22.0±0.2° or 23.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.0±0.2°, 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2°, 22.0±0.2°, 24.7±0.2° or 29.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being sulfate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 20.5±0.2°, 24.3±0.2°, 25.0±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being maleate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 7.9±0.2°, 9.2±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 17.7±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5±0.2°, 23.2±0.2° or 25.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being maleate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.8±0.2°, 19.4±0.2°, 26.5±0.2° or 28.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being phosphate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.7±0.2°, 9.4±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2°, 23.2±0.2°, 24.4±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being phosphate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.9±0.2°, 19.3±0.2°, 21.4±0.2° or 26.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being phosphate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 12.8±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2°, 24.4±0.2° or 24.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being phosphate Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 12.9±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9±0.2°, 24.5±0.2° or 27.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being mucate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 15.8±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2±0.2°, 26.4±0.2° or 29.7±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being mucate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 13.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3±0.2° or 26.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 4, 5, or 6 of the above diffraction peaks;being tartrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.5±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2°, 23.2±0.2°, 25.2±0.2° or 26.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being fumarate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 8.5±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2°, 25.1±0.2° or 26.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being fumarate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1±0.2°, 23.0±0.2° or 27.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being citrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 22.9±0.2° or 24.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being citrate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° or 20.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 4 or 5 of the above diffraction peaks;being glycolate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 11.3±0.2°, 14.4±0.2°, 16.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° or 24.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being malate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 8.5±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.7±0.2°, 23.3±0.2° or 26.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 9, or 7 to 9 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, or 9 of the above diffraction peaks;being succinate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 11.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2°, 23.3±0.2° or 25.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being succinate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 8.4±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 24.8±0.2°, 26.0±0.2° or 30.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being napadisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 12.5±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 21.1±0.2°, 25.0±0.2°, 25.7±0.2° or 27.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being edisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 15.9±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7±0.2°, 22.7±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being edisylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2°, 20.8±0.2°, 24.8±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being edisylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.5±0.2°, 11.1±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2°, 22.4±0.2°, 25.3±0.2° or 27.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being tosylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 19.9±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2°, 24.4±0.2° or 27.4±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being tosylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 21.2±0.2°, 22.1±0.2°, 24.0±0.2° or 26.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being tosylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2°, 23.1±0.2° or 27.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, or 8 of the above diffraction peaks;being mesylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2°, 16.9±0.2°, 18.5±0.2°, 20.6±0.2° or 21.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being mesylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2°, 19.6±0.2°, 20.8±0.2° or 23.9±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being mesylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2°, 20.1±0.2°, 22.3±0.2° or 27.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being oxalate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0±0.2°, 21.8±0.2°, 25.9±0.2° or 29.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being oxalate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.4±0.2°, 23.6±0.2° or 25.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being besylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of besylate Form A of compound formula (I) has a diffraction peak at 2θ of 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 20.6±0.2°, 21.4±0.2°, 25.0±0.2° or 30.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being besylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2°, 22.0±0.2°, 23.2±0.2°, 23.6±0.2° or 26.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being besylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2°, 19.4±0.2°, 21.2±0.2°, 23.6±0.2° or 26.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being besylate Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 20.0±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2°, 27.5±0.2°, 28.6±0.2° or 30.3±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being malonate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9±0.2°, 19.4±0.2° or 23.5±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being malonate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 18.5±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2°, 26.6±0.2° or 30.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being malonate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.8±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2°, 20.5±0.2° or 25.8±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 15.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2°, 24.8±0.2° or 29.6±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2°, 25.6±0.2°, 25.8±0.2° or 27.0±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2°, 26.4±0.2°, 27.6±0.2° or 28.1±0.2°; preferably comprises any 2 to 5, or 3 to 5, or 3 to 6, or 3 to 8, or 5 to 8, or 6 to 8, or 6 to 10, or 8 to 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks; and more preferably comprises any 6, 7, 8, 9, or 10 of the above diffraction peaks.10.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to any one of claims 7-9, wherein:being HCl salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.6±0.2° and 26.5±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 8.7±0.2° and 19.1±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 12.2±0.2°, 13.7±0.2°, 14.4±0.2° and 16.7±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2° and 19.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being HCl Ssalt Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.6±0.2°, 10.3±0.2° and 21.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being sulfate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being maleate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 7.9±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 21.7±0.2° and 23.2±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being maleate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2° and 26.5±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being phosphate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.7±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.6±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being phosphate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.4±0.2°, 12.4±0.2° and 18.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being phosphate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2° and 24.9±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being phosphate Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.7±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 24.5±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being mucate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 19.8±0.2° and 29.7±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being mucate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 10.6±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.2±0.2°, 14.9±0.2° and 26.1±0.2°, and preferably comprises 2 or 3 of the above diffraction peaks;being tartrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 14.2±0.2° and 18.5±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being fumarate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 20.2±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being fumarate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 8.3±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 23.0±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being citrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.9±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.3±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being glycolate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 5.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 23.9±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being malate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 6.7±0.2° and 18.7±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.5±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being succinate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 8.7±0.2° and 18.6±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being succinate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.9±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being napadisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 25.0±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being edisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 17.9±0.2° and 22.7±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being edisylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.8±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being edisylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.5±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being tosylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 22.9±0.2° and 23.3±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being tosylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.4±0.2°, 24.0±0.2° and 26.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being tosylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.3±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 20.9±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being mesylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.9±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 9.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being mesylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.0±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2° and 20.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being mesylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.6±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.3±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 22.3±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being oxalate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 3.7±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 10.5±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 21.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being oxalate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.1±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being besylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.1±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 21.4±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being besylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.7±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 8.1±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being besylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.3±0.2°, 6.5±0.2° and 16.7±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 18.8±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being besylate Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.6±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 23.0±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being malonate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.0±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 16.8±0.2° and 19.4±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being malonate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2° and 30.1±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being malonate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.8±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.9±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 24.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.1±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.2±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 23.8±0.2°, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks.11.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to any one of claims 7-10, wherein:being HCl salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HA1) : 6.2±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA2) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA3) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA4) : 6.2±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA5) : 6.2±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA6) : 6.2±0.2°, 17.1±0.2°, 26.5±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA7) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA8) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA9) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°and 26.3±0.2°;Group (HA10) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA11) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA12) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA13) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA14) : 6.2±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA15) : 6.2±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA16) : 6.2±0.2°, 7.6±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA17) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA18) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA19) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA20) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA21) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA22) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA23) : 6.2±0.2°, 8.0±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;Group (HA24) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2° and 26.3±0.2°;Group (HA25) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 12.8±0.2°, 17.1±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°; andGroup (HA26) : 6.2±0.2°, 8.7±0.2°, 17.1±0.2°, 17.6±0.2°, 26.3±0.2° and 26.5±0.2°;being HCl salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HB1) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB2) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB3) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB4) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB5) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB6) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB7) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB8) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB9) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB10) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB11) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2°, 13.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB12) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB13) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 12.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB14) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2°, 14.4±0.2° and 19.1±0.2°;Group (HB15) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 13.7±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°; andGroup (HB16) : 6.8±0.2°, 8.7±0.2°, 14.4±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;being HCl salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HC1) : 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC2) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC3) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC4) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC5) : 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC6) : 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC7) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC8) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC9) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC10) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC11) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC12) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC13) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC14) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC15) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC16) : 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC17) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC18) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC19) : 8.6±0.2°, 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC20) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC21) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC22) : 8.6±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC23) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC24) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°;Group (HC25) : 9.3±0.2°, 10.4±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°; andGroup (HC26) : 10.4±0.2°, 16.1±0.2°, 17.8±0.2°, 18.6±0.2°, 19.6±0.2° and 22.0±0.2°being HCl salt Form D, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form D of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HD1) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD2) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD3) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD4) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD5) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD6) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 21.0±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD7) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD8) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD9) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD10) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 21.0±0.2° and 25.9±0.2°;Group (HD11) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD12) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD13) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD14) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD15) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD16) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 21.0±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD17) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2° and 21.0±0.2°;Group (HD18) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD19) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 21.0±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD20) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD21) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD22) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 21.0±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°;Group (HD23) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2° and 24.7±0.2°;Group (HD24) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2° and 29.5±0.2°; andGroup (HD25) : 9.6±0.2°, 10.3±0.2°, 19.1±0.2°, 21.0±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2°;being sulfate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of sulfate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (SA1) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA2) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA31) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA4) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA51) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA6) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA7) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA8) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA9) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA10) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA11) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA12) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA13) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA14) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA15) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA16) : 5.9±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA17) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2° and 19.1±0.2°;Group (SA18) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA19) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA20) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA21) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA22) : 5.9±0.2°, 12.8±0.2°, 25.0±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA23) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.0±0.2°;Group (SA24) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2° and 25.8±0.2°;Group (SA25) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°; andGroup (SA26) : 5.9±0.2°, 16.4±0.2°, 18.2±0.2°, 19.1±0.2°, 25.0±0.2° and 25.8±0.2°;being maleate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of maleate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MA1) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA2) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA3) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA4) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA5) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA6) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA7) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA8) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA9) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2 ° and 22.5±0.2°;Group (MA10) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA11) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA12) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA13) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA14) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA15) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA16) : 7.9±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA17) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA18) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA19) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA20) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA21) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA22) : 7.9±0.2°, 15.2±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA23) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2° and 22.5±0.2°;Group (MA24) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (MA25) : 7.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°; andGroup (MA25) : 7.9±0.2°, 16.4±0.2°, 17.6±0.2°, 21.7±0.2°, 22.5±0.2° and 23.2±0.2°;being maleate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of maleate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MB1) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB2) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB3) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB4) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB5) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB6) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;Group (MB7) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB8) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB9) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB10) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB11) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB12) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;Group (MB13) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB14) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;Group (MB15) : 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°; andGroup (MB16) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB17) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB18) : 7.4±0.2°, 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;Group (MB19) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB20) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MB21) : 7.4±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;Group (MB22) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MB23) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;Group (MB24) : 9.5±0.2°, 9.9±0.2°, 11.2±0.2°, 14.9±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°; andGroup (MB25) : 9.9±0.2°, 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 11.2±0.2°, 19.4±0.2° and 26.5±0.2°;being phosphate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (PA1) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA2) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA3) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA4) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA5) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA6) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA7) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 15.5±0.2°, 14.0±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA8) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA9) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA10) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA11) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA12) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA13) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA14) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA15) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA16) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA17) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2° and 19.2±0.2°;Group (PA18) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA19) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA20) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA21) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA22) : 5.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 19.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA23) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2° and 23.2±0.2°;Group (PA24) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2° and 24.4±0.2°;Group (PA25) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 15.5±0.2°, 19.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°; andGroup (PA26) : 5.7±0.2°, 14.0±0.2°, 17.2±0.2°, 19.2±0.2°, 23.2±0.2° and 24.4±0.2°being phosphate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (PB1) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB2) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB3) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB4) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB5) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB6) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB7) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB8) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB9) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB10) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB11) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB12) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB13) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB14) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB15) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB16) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 18.9±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB17) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PB18) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB19) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB20) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB21) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB22) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 12.9±0.2°, 18.9±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB23) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (PB24) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2° and 26.6±0.2°;Group (PB25) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°; andGroup (PB26) : 6.4±0.2°, 12.4±0.2°, 17.2±0.2°, 18.9±0.2°, 21.4±0.2° and 26.6±0.2°;being phosphate Form C, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (PC1) : 6.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC2) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC3) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC4) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC5) : 6.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC6) : 6.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC7) : 6.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC8) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC9) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC10) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC11) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC12) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC13) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC14) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC15) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC16) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC17) : 6.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2°and 24.9±0.2°;Group (PC18) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC19) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC20) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 12.4±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC21) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC22) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 15.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC23) : 6.0±0.2°, 6.3±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC24) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (PC25) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PC26) : 6.0±0.2°, 12.4±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°; andGroup (PC27) : 6.0±0.2°, 15.0±0.2°, 17.1±0.2°, 18.0±0.2°, 18.6±0.2° and 24.9±0.2°;being phosphate Form D, the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form D of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (PD1) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD2) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD3) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, and 18.9±0.2°;Group (PD4) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD5) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD6) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;Group (PD7) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 15.5±0.2°, 14.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD8) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD9) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD10) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;Group (PD11) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD12) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD13: 5.6±0.2°, 14.5±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD14) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD15) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;Group (PD16) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;Group (PD17) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD18) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD19) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;Group (PD20) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD21) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9±0.2°and 24.5±0.2°;Group (PD22) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 14.9±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;Group (PD23) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2° and 18.9±0.2°;Group (PD24) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.0±0.2°, 18.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (PD25) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 15.5±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°; andGroup (PD26) : 5.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.0±0.2°, 17.9±0.2°, 18.9±0.2° and 24.5±0.2°;being mucate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of mucate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MA1) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA2) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA3) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 12.1±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA4) : 6.0±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA5) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA6) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA7) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA8) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA9) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA10) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA11) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA12) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA13) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2°and 29.7±0.2°;Group (MA14) : 6.0±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA15) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA16) : 6.0±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA17) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA18) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA19) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA20) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA21) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA22) : 6.0±0.2°, 7.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA23) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2° and 24.2±0.2°;Group (MA24) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;Group (MA25) : 6.0±0.2°, 12.1±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°; andGroup (MA26) : 6.0±0.2°, 12.7±0.2°, 17.9±0.2°, 19.8±0.2°, 24.2±0.2° and 29.7±0.2°;being mucate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of mucate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MB1) : 10.6±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3±0.2°;Group (MB2) : 10.6±0.2°, 13.2±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3±0.2°;Group (MB3) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3±0.2°;Group (MB4) : 10.6±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3±0.2°and 26.1±0.2°;Group (MB5) : 10.6±0.2°, 13.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2° and 19.3±0.2°;Group (MB6) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3±0.2° and 26.1±0.2°; andGroup (MB7) : 10.6±0.2°, 14.9±0.2°, 17.1±0.2°, 19.3±0.2° and 26.1±0.2°.being tartrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of tartrate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (TA1) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA2) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA3) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA4) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA5) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA6) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA7) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA8) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA9) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA10) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA11) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA12) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA13) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA14) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA15) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA16) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA17) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2° and 18.5±0.2°;Group (TA18) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA19) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA20) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA21) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA22) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.5±0.2°, 23.2±0.2° and 26.4±0.2°;Group (TA23) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2° and 23.2±0.2°;Group (TA24) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 17.1±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°; andGroup (TA25) : 6.0±0.2°, 14.2±0.2°, 17.1±0.2°, 23.2±0.2°, 18.5±0.2° and 26.4±0.2°;being fumarate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (FA1) : 6.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA2) : 6.8±0.2°, 6.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA3) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA4) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA5) : 6.2±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA6) : 6.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA7) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA8) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA9) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA10) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA11) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA12) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA13) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2°, 25.1±0.2° and 20.2±0.2°;Group (FA14) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA15) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA16) : 6.2±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA17) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA18) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA19) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 12.3±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA20) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA21) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA22) : 6.2±0.2°, 6.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.±0.2°;Group (FA23) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2° and 25.1±0.2°;Group (FA24) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 14.9±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2°and 25.1±0.2°;Group (FA25) : 6.2±0.2°, 12.3±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°; andGroup (FA26) : 6.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.2±0.2°, 18.7±0.2°, 20.2±0.2° and 25.1±0.2°;being fumarate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (FB1) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB2) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB3) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB4) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB5) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB6) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB7) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB8) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB9) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB10) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB11) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB12) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB13) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB14) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB15) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB16) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB17) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB18) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB19) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB20) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB21) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB22) : 6.7±0.2°, 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB23) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2° and 20.1±0.2°;Group (FB24) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;Group (FB25) : 8.3±0.2°, 12.8±0.2°, 13.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°; andGroup (FB26) : 8.3±0.2°, 13.4±0.2°, 17.4±0.2°, 18.3±0.2°, 20.1±0.2° and 23.0±0.2°;being citrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of citrate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (CA1) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA2) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA3) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA4) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA5) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA6) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA7) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA8) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA9) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA10) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA11) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA12) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA13) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA14) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA15) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA16) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA17) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2° and 18.0±0.2°;Group (CA18) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA19) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA20) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA21) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA22) : 5.9±0.2°, 8.3±0.2°, 13.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA23) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (CA24) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2° and 24.9±0.2°;Group (CA25) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°; andGroup (CA26) : 5.9±0.2°, 13.8±0.2°, 17.2±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.9±0.2°;being citrate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of citrate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (CB1) : 10.3±0.2°, 14.1±0.2° and 17.5±0.2°;Group (CB2) : 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2° and 17.5±0.2°;Group (CB3) : 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° and 20.5±0.2°; andGroup (CB4) : 4.5±0.2°, 10.3±0.2°, 14.1±0.2°, 17.5±0.2° and 20.5±0.2°;being glycolate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of glycolate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (GA1) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA2) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA3) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA4) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA5) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA6) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA7) : 5.7±0.2°, 14.4±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA8) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA9) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA10) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA11) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2, 19.8±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA12) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA13) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA14) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA15) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA16) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA17) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA18) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA19) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA20) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA21) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA22) : 5.7±0.2°, 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2°and 24.9±0.2°;Group (GA23) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.8±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA24) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;Group (GA25) : 9.7±0.2°, 14.4±0.2°, 19.6±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°; andGroup (GA26) : 9.7±0.2°, 19.6±0.2°, 19.8±0.2°, 20.4±0.2°, 23.9±0.2° and 24.9±0.2°;being malate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of malate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MA1) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MA2) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 8.5±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MA3) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.2±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MA4) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.7±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MA5) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 17.1±0.2° and 18.7±0.2°; andGroup (MA5) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 18.7±0.2° and 26.6±0.2°;being succinate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of succinate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (SA1) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA2) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA3) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA4) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA5) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 18.6±0.2° and 23.3±0.2°;Group (SA6) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA7) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA8) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA9) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 18.6±0.2° and 23.3±0.2°;Group (SA10) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA11) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA12) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6±0.2° and 23.3±0.2°;Group (SA13) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2° 14.3±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA14) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2° and 23.3±0.2°;Group (SA15) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA16) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 18.6±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA17) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2° and 18.6±0.2°;Group (SA18) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6±0.2° and 23.3±0.2°;Group (SA19) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA20) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2° and 23.3±0.2°;Group (SA21) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA22) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.0±0.2°, 18.6±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA23) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA24) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2° and 25.1±0.2°;Group (SA25) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.6±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°; andGroup (SA26) : 6.7±0.2°, 8.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.6±0.2°, 23.3±0.2° and 25.1±0.2°;being succinate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of succinate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (SB1) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB2) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB3) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB4) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB5) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB6) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB7) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB8) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB9) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB10) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB11) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB12) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB13) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB14) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB15) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB16) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB17) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 18.4±0.2°;Group (SB18) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 4.7±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB19) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB20) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB21) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB22) : 6.0±0.2°, 6.9±0.2°, 12.0±0.2°, 18.4±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB23) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 24.8±0.2°;Group (SB24) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 26.0±0.2°;Group (SB25) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.4±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°; andGroup (SB26) : 6.0±0.2°, 12.0±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 24.8±0.2° and 26.0±0.2°;being napadisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of napadisylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (NA1) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8±0.2°;Group (NA2) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8±0.2°;Group (NA3) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8±0.2°;Group (NA4) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°and 25.0±0.2°;Group (NA5) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA6) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA7) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2° and 20.8±0.2°;Group (NA8) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.0±0.2°;Group (NA9) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA10) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA11) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.0±0.2°;Group (NA12) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA13) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA14) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA15) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA16) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA17) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.0±0.2°;Group (NA18) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA19) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA20) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA21) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA22) : 6.2±0.2°, 15.4±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA23) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2° and 25.7±0.2°;Group (NA24) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2° and 27.0±0.2°;Group (NA25) : 6.2±0.2°, 17.6±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°; andGroup (NA26) : 6.2±0.2°, 18.5±0.2°, 20.8±0.2°, 25.0±0.2°, 25.7±0.2° and 27.0±0.2°;being edisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (EA1) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA2) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA3) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA4) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA5) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA6) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA7) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA8) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA9) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA10) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA11) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA12) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA13) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA14) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA15) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA16) : 5.6±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA17) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA18) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA19) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 11.2±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA20) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA21) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA22) : 5.6±0.2°, 8.6±0.2°, 17.9±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA23) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2° and 18.7±0.2°;Group (EA24) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;Group (EA25) : 5.6±0.2°, 11.2±0.2°, 17.9±0.2°, 16.8±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°; andGroup (EA26) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 16.8±0.2°, 17.9±0.2°, 18.7±0.2° and 22.7±0.2°;being edisylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (EB1) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB2) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB3) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB4) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB5) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.2±0.2°;Group (EB6) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB7) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB8) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB9) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.2±0.2°;Group (EB10) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB11) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB12) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.0±0.2°;Group (EB13) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB14) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.0±0.2°;Group (EB15) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB16) : 5.8±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB17) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2° and 19.0±0.2°;Group (EB18) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.2±0.2°;Group (EB19) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB20) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 20.2±0.2°;Group (EB21) : 5.8±0.2°, 14.0±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB22) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB23) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2° and 24.8±0.2°;Group (EB24) : 5.8±0.2°, 14.7±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°; andGroup (EB25) : 5.8±0.2°, 16.3±0.2°, 18.0±0.2°, 19.0±0.2°, 20.2±0.2° and 24.8±0.2°;being edisylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (EC1) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6±0.2°;Group (EC2) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6±0.2°;Group (EC3) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6±0.2°;Group (EC4) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°and 19.9±0.2°;Group (EC5) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC6) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC7) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2° and 18.6±0.2°;Group (EC8) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 19.9±0.2°;Group (EC9) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC10) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC11) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 19.9±0.2°;Group (EC12) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC13) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC14) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC15) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC16) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC17) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 19.9±0.2°;Group (EC18) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC19) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC20) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC21) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC22) : 5.5±0.2°, 13.6±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC23) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2° and 22.4±0.2°;Group (EC24) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2° and 27.3±0.2°;Group (EC25) : 5.5±0.2°, 17.0±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°; andGroup (EC26) : 5.5±0.2°, 17.7±0.2°, 18.6±0.2°, 19.9±0.2°, 22.4±0.2° and 27.3±0.2°;being tosylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (TA1) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA2) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA3) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA4) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA5) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA6) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA7) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA8) : 4.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA9) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA10) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA11) : 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA12) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA13) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA14) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA15) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA16) : 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA17) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 11.7±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA18) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA19) : 4.4±0.2°, 11.4±0.2°, 23.3±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA20) : 4.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA21) : 4.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA22) : 4.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA23) : 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA24) : 11.4±0.2°, 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;Group (TA25) : 11.4±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°; andGroup (TA25) : 11.7±0.2°, 15.3±0.2°, 15.8±0.2°, 22.9±0.2°, 23.3±0.2° and 24.4±0.2°;being tosylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (TB1) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB2) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB3) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB4) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB5) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB6) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB7) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB8) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB9) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB10) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB11) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB12) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB13) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB14) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB15) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB16) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2°, 24.0±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB17) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2° and 22.1±0.2°;Group (TB18) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB19) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB20) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB21) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB22) : 6.7±0.2°, 12.6±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB23) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2° and 24.0±0.2°;Group (TB24) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°;Group (TB25) : 6.7±0.2°, 14.3±0.2°, 14.0±0.2°, 18.0±0.2°, 22.1±0.2° and 26.8±0.2°; andGroup (TB26) : 6.7±0.2°, 18.0±0.2°, 18.4±0.2°, 22.1±0.2°, 24.0±0.2° and 26.8±0.2°;being tosylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (TC1) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7±0.2°;Group (TC2) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7±0.2°;Group (TC3) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7±0.2°;Group (TC4) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 20.9±0.2°;Group (TC5) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC6) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC7) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2° and 16.7±0.2°;Group (TC8) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 20.9±0.2°;Group (TC9) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC10) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC11) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 20.9±0.2°;Group (TC12) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC13) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC14) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC15) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC16) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC17) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 20.9±0.2°;Group (TC18) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC19) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC20) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC21) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°; 20.9±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC22) : 4.3±0.2°, 8.2±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC23) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2° and 23.1±0.2°;Group (TC24) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2° and 27.6±0.2°;Group (TC25) : 4.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°; andGroup (TC26) : 4.3±0.2°, 14.9±0.2°, 16.7±0.2°, 20.9±0.2°, 23.1±0.2° and 27.6±0.2°;being mesylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MA1) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6±0.2°;Group (MA2) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2° and 14.6±0.2°;Group (MA3) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2° and 16.3±0.2°;Group (MA4) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2° and 16.6±0.2°;Group (MA5) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2° and16.9±0.2°;Group (MA6) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA7) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 16.3±0.2° and 14.6±0.2°;Group (MA8) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 16.6±0.2° and 14.6±0.2°;Group (MA9) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 16.9±0.2° and 14.6±0.2°;Group (MA10) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA11) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2° and 16.6±0.2°;Group (MA12) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2° and 16.9±0.2°;Group (MA13) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA14) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9±0.2°;Group (MA15) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA16) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA17) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2° and 16.6±0.2°;Group (MA18) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2° and 16.9±0.2°;Group (MA19) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA20) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9±0.2°;Group (MA21) : 4.9±0.2°, 9.6±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA22) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2° and 16.9±0.2°;Group (MA23) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.6±0.2° and 20.6±0.2°;Group (MA24) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.3±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°; andGroup (MA25) : 4.9±0.2°, 14.4±0.2°, 14.6±0.2°, 16.6±0.2°, 16.9±0.2° and 20.6±0.2°;being mesylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MB1) : 6.0±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB2) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB3) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB4) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB5) : 6.0±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB6) : 6.0±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB7) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB8) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB9) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB10) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB11) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB12) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB13) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB14) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB15) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB16) : 6.0±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB17) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB18) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB19) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 8.2±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB20) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB21) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB22) : 6.0±0.2°, 6.5±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB23) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MB24) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 9.3±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;Group (MB25) : 6.0±0.2°, 8.2±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°; andGroup (MB26) : 6.0±0.2°, 9.3±0.2°, 11.9±0.2°, 18.3±0.2°, 18.9±0.2° and 20.8±0.2°;being mesylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MC1) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC2) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC3) : 5.6±0.2°, 13.7±0.2°, 11.1±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC4) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC5) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC6) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC7) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC8) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC9) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC10) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC11) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC12) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC13) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC14) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC15) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC16) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC17) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC18) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC19) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC20) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC21) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC22) : 5.6±0.2°, 8.3±0.2°, 11.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC23) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2° and 18.7±0.2°;Group (MC24) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 16.6±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;Group (MC25) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 13.7±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°; andGroup (MC26) : 5.6±0.2°, 11.1±0.2°, 16.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.7±0.2° and 22.3±0.2°;being oxalate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (OA1) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA2) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA3) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA4) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA5) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA6) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA7) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA8) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°and 18.0±0.2°;Group (OA9) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA10) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA11) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA12) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA13) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 21.8±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA14) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA15) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA16) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA17) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 11.1±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA18) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA19) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA20) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA21) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA22) : 3.7±0.2°, 10.5±0.2°, 11.1±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA23) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2° and 18.0±0.2°;Group (OA24) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 14.9±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°;Group (OA25) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.2±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°; andGroup (OA26) : 3.7±0.2°, 11.1±0.2°, 14.9±0.2°, 17.5±0.2°, 18.0±0.2° and 21.8±0.2°being oxalate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (OB1) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB2) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB3) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB4) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB5) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB6) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB7) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB8) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB9) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB10) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB11) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB12) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB13) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB14) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB15) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB16) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB17) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.1±0.2°;Group (OB18) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB19) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB20) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB21) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB22) : 6.1±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB23) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2° and 19.4±0.2°;Group (OB24) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2°, 16.7±0.2° and 25.5±0.2°;Group (OB25) : 6.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 19.1±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°; andGroup (OB26) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.1±0.2°, 19.4±0.2° and 25.5±0.2°;being besylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (BA1) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9±0.2°;Group (BA2) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9±0.2°;Group (BA3) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9±0.2°;Group (BA4) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (BA5) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA6) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA7) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2° and 16.9±0.2°;Group (BA8) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (BA9) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA10) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA11) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (BA12) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA13) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA14) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA15) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA16) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA17) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 21.4±0.2°;Group (BA18) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA19) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA20) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA21) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA22) : 4.1±0.2°, 8.4±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA23) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2° and 25.0±0.2°;Group (BA24) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BA25) : 4.1±0.2°, 11.7±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°; andGroup (BA26) : 4.1±0.2°, 16.5±0.2°, 16.9±0.2°, 21.4±0.2°, 25.0±0.2° and 30.0±0.2°;being besylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (BB1) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB2) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB3) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB4) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB5) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8±0.2° and 23.2±0.2°;Group (BB6) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB7) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB8) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB9) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8±0.2° and 23.2±0.2°;Group (BB10) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB11) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB12) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8±0.2° and 23.2±0.2°;Group (BB13) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB14) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2° and 23.2±0.2°;Group (BB15) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 23.6±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB16) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB17) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BB18) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8±0.2° and 23.2±0.2°;Group (BB19) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB20) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2° and 23.2±0.2°;Group (BB21) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB22) : 4.7±0.2°, 8.1±0.2°, 10.9±0.2°, 18.8±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB23) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2° and 23.6±0.2°;Group (BB24) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 15.1±0.2°, 18.8±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°; andGroup (BB25) : 4.7±0.2°, 10.9±0.2°, 16.2±0.2°, 18.8±0.2°, 23.2±0.2° and 23.6±0.2°;being besylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (BC1) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2° and 16.7±0.2°;Group (BC2) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2° and 16.7±0.2°;Group (BC3) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2° and 16.7±0.2°;Group (BC4) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BC5) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°;Group (BC6) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC7) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2° and 16.7±0.2°;Group (BC8) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BC9) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°;Group (BC10) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC11) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BC12) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2° and 19.4±0.2°;Group (BC13) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 19.4±0.2°;Group (BC14) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC15) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC16) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2° and 18.8±0.2°;Group (BC17) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2°, 14.8±0.2° and 19.4±0.2°;Group (BC18) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC19) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2° , 13.0±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC20) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC21) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 13.0±0.2°, 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC22) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC23) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2° and 26.8±0.2°;Group (BC24) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 14.8±0.2°, 16.7±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°; andGroup (BC25) : 6.3±0.2°, 6.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.8±0.2°, 19.4±0.2° and 26.8±0.2°;being besylate Form D, the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form D of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (BD1) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD2) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD3) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD4) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD5) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD6) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 30.3±0.2°;Group (BD7) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD8) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD9) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD10) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BD11) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD12) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD13) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BD14) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD15) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2° and 30.0±0.2°;Group (BD16) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°;Group (BD17) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2° and 24.4±0.2°;Group (BD18) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD19) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2° and 30.3±0.2°;Group (BD20) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD21) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2° and 30.3±0.2°;Group (BD22) : 4.6±0.2°, 11.9±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°;Group (BD23) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2° and 27.5±0.2°;Group (BD24) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2° and 30.3±0.2°;Group (BD25) : 4.6±0.2°, 15.0±0.2°, 15.7±0.2°, 24.4±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°; andGroup (BD26) : 4.6±0.2°, 15.7±0.2°, 23.0±0.2°, 24.4±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2°;being malonate Form A, the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MA1) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA2) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA6) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA4) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA5) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA6) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA7) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA8) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA9) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°and 18.9±0.2°;Group (MA10) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA11) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA12) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA13) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA14) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA15) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA16) : 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA17) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA18) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA19) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA20) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA21) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA22) : 6.0±0.2°, 6.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA23) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2° and 18.9±0.2°;Group (MA24) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;Group (MA25) : 6.8±0.2°, 8.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°; andGroup (MA26) : 6.8±0.2°, 12.0±0.2°, 14.5±0.2°, 16.8±0.2°, 18.9±0.2° and 19.4±0.2°;being malonate Form B, the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MB1) : 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB2) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB3) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB4) : 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB5) : 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB6) : 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB7) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB8) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB9) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB10) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2°and 30.1±0.2°;Group (MB11) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB12) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB13) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB14) : 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB15) : 10.8±0.2°, 1.4±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB16) : 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB17) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB18) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB19) : 9.9±0.2°, 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB20) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB21) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB22) : 9.9±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB23) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2° and 26.0±0.2°;Group (MB24) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;Group (MB25) : 10.4±0.2°, 10.8±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°; andGroup (MB26) : 10.8±0.2°, 11.4±0.2°, 17.0±0.2°, 19.9±0.2°, 26.0±0.2° and 30.1±0.2°;being malonate Form C, the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (MC1) : 5.8±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC2) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC3) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC4) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC5) : 5.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC6) : 5.8±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC7) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC8) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC9) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC10) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC11) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC12) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC13) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC14) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC15) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC16) : 5.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC17) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC18) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC19) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC20) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC21) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC22) : 5.8±0.2°, 13.8±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC23) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC24) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 14.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;Group (MC25) : 5.8±0.2°, 14.2±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°; andGroup (MC26) : 5.8±0.2°, 14.5±0.2°, 16.7±0.2°, 18.1±0.2°, 19.9±0.2° and 20.5±0.2°;being HBr salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form A of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HBA1) : 9.5±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA2) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA3) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA4) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA5) : 9.5±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA6) : 9.5±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA7) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA8) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA9) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA10) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2 ° and 24.8±0.2°;Group (HBA11) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA12) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA13) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA14) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA15) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA16) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA17) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA18) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA19) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA20) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA21) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA22) : 9.5±0.2°, 10.3±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA23) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2° and 21.2±0.2°;Group (HBA24) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;Group (HBA25) : 9.5±0.2°, 16.2±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°; andGroup (HBA26) : 9.5±0.2°, 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.0±0.2°, 21.2±0.2° and 24.8±0.2°;being HBr salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form B of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HBB1) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB2) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB3) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB4) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB5) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB6) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB7) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB8) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB9) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB10) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB11) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB12) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB13) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB14) : 6.1±0.2°, 16.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB15) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB16) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB17) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2° and 19.0±0.2°;Group (HBB18) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB19) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB20) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB21) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB22) : 6.1±0.2°, 6.7±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB23) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 20.6±0.2°;Group (HBB24) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2° and 25.6±0.2°;Group (HBB25) : 6.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.2±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°; andGroup (HBB26) : 6.1±0.2°, 16.2±0.2°, 16.7±0.2°, 19.0±0.2°, 20.6±0.2° and 25.6±0.2°being HBr salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form C of compound formula (I) comprises diffraction peaks at 2θ selected from any one of the following groups:Group (HBC1) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC2) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC3) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC4) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC5) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC6) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC7) : 6.2±0.2°, 2.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC8) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2, 18.0±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC9) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC10) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC11) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC12) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC13) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC14) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC15) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC16) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC17) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC18) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC19) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC20) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC21) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC22) : 6.2±0.2°, 12.6±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC23) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC24) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°;Group (HBC25) : 6.2±0.2°, 15.1±0.2°, 17.3±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°; andGroup (HBC26) : 6.2±0.2°, 17.3±0.2°, 18.0±0.2°, 22.5±0.2°, 23.8±0.2° and 26.4±0.2°.12.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to any one of claims 7-11, wherein:being HCl salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 13.9±0.2°, 16.0±0.2°, 16.5±0.2°, 18.2±0.2°, 19.8±0.2°, 21.8±0.2°, 22.8±0.2°, 24.1±0.2°, 28.3±0.2°and 31.2±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 20.6±0.2°, 23.6±0.2°, 24.4±0.2°, 26.0±0.2°, 27.4±0.2°, 28.6±0.2°and 30.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 15.2±0.2°, 17.2±0.2°, 26.3±0.2°, 27.8±0.2°, 31.1±0.2° and 33.3±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being HCl salt Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.6±0.2°, 10.3±0.2° and 21.0±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 17.4±0.2°, 18.1±0.2°, 19.1±0.2°, 24.7±0.2° and 29.5±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being sulfate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.6±0.2°, 14.8±0.2°, 16.8±0.2°, 17.2±0.2°, 17.7±0.2°, 20.0±0.2°, 20.8±0.2°, 23.1±0.2°, 26.2±0.2° and 28.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being maleate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 10.2±0.2°, 11.0±0.2°, 13.9±0.2°, 15.7±0.2°, 17.0±0.2°, 19.1±0.2°, 19.7±0.2°, 24.3±0.2°, 26.7±0.2° and 28.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being maleate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 20.4±0.2°, 22.1±0.2°, 23.6±0.2°, 24.2±0.2°and 29.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4 or 5 of the above diffraction peaks;being phosphate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 11.4±0.2°, 18.0±0.2°, 20.3±0.2°, 25.3±0.2°, 29.1±0.2°, 30.4±0.2° and 33.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being phosphate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 7.8±0.2°, 15.3±0.2°, 17.9±0.2°, 19.9±0.2°, 23.6±0.2°, 25.0±0.2°, 25.9±0.2°, 28.2±0.2° and 31.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being phosphate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 14.3±0.2°, 16.1±0.2°, 19.7±0.2°, 21.1±0.2°, 22.4±0.2°, 25.5±0.2°, 26.2±0.2°, 27.4±0.2°, 29.6±0.2° and 31.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being phosphate Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 22.9±0.2°, 29.4±0.2° and 32.8±0.2°; preferably at least comprises any 1 to 2, or 3 to 4 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3 or 4 of the above diffraction peaks;being mucate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 14.7±0.2°, 16.2±0.2°, 21.7±0.2° and 29.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3 or 4 of the above diffraction peaks;being tartrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 12.0±0.2°, 20.4±0.2° and 28.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3 of the above diffraction peaks;being fumarate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 14.1±0.2°, 14.5±0.2°, 16.3±0.2°, 21.3±0.2°, 22.3±0.2°, 25.6±0.2°, 28.0±0.2°, 30.5±0.2° and 32.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being fumarate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 14.6±0.2°, 20.7±0.2°, 25.6±0.2°, 27.0±0.2°, 28.6±0.2°, 29.2±0.2° and 30.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being citrate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.7±0.2°, 19.4±0.2°, 20.3±0.2°, 21.8±0.2°, 25.9±0.2°, 28.6±0.2° and 30.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being glycolate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 6.9±0.2°, 13.6±0.2°, 13.9±0.2°, 16.1±0.2°, 17.0±0.2°, 22.6±0.2°, 27.8±0.2°, 28.1±0.2°, 28.6±0.2° and 29.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being succinate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 17.7±0.2°, 19.3±0.2°, 20.5±0.2°, 25.9±0.2°, 26.6±0.2°, 28.1±0.2° and 29.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being succinate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.7±0.2°, 14.2±0.2°, 15.1±0.2°, 16.3±0.2°, 17.2±0.2°, 20.1±0.2°, 22.0±0.2°, 24.3±0.2°, 25.5±0.2° and 29.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being napadisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.4±0.2°, 12.3±0.2°, 12.7±0.2°, 14.4±0.2°, 15.0±0.2°, 19.5±0.2°, 20.2±0.2°, 21.8±0.2°, 22.1±0.2° and 23.7±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being edisylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 20.4±0.2°, 24.3±0.2°, 25.6±0.2° and 32.5±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, or 4 of the above diffraction peaks;being edisylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 22.9±0.2° and 26.0±0.2°; preferably at least comprises 1 or 2 of the above diffraction peaks;being tosylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 7.6±0.2°, 8.7±0.2°, 17.9±0.2°, 21.3±0.2°, 26.0±0.2°, 28.6±0.2°, 30.8±0.2° and 35.4±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being tosylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.2±0.2°, 13.4±0.2°, 19.2±0.2°, 26.4±0.2°, 31.4±0.2° and 32.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being mesylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 8.5±0.2°, 15.7±0.2°, 22.0±0.2°, 22.6±0.2°, 24.1±0.2°, 25.4±0.2°, 27.3±0.2°, 27.7±0.2° and 31.3±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being mesylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 12.8±0.2°, 13.6±0.2°, 14.8±0.2°, 15.3±0.2°, 17.2±0.2°, 17.8±0.2°, 21.6±0.2°, 25.3±0.2°, 25.9±0.2° and 28.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being oxalate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 12.2±0.2°, 17.0±0.2°, 17.5±0.2°, 18.3±0.2°, 20.7±0.2°, 23.2±0.2°, 24.3±0.2°, 26.9±0.2°, 27.3±0.2° and 31.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being besylate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 5.0±0.2°, 10.4±0.2°, 13.0±0.2°, 19.7±0.2°, 27.3±0.2° and 29.0±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, or 6 of the above diffraction peaks;being besylate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.4±0.2°, 12.1±0.2°, 12.8±0.2°, 13.9±0.2°, 16.8±0.2°, 17.7±0.2°, 19.3±0.2°, 20.7±0.2°, 25.7±0.2° and 27.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being besylate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 11.2±0.2°, 17.8±0.2°, 22.8±0.2°, 24.8±0.2°, 25.7±0.2°, 29.0±0.2° and 30.9±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being besylate Form D, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 4.6±0.2°, 15.7±0.2° and 24.4±0.2°, preferably comprises 2 of the above diffraction peaks, and more preferably comprises 3 of the above diffraction peaks; optionally, can further comprises at least one diffraction peak at 2θ of 11.9±0.2°, 15.0±0.2°, 23.0±0.2°, 27.5±0.2° and 30.3±0.2, and preferably comprises 2, 3, 4, or 5 of the above diffraction peaks;being malonate Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 13.5±0.2°, 13.9±0.2°, 18.0±0.2°, 20.6±0.2°, 23.0±0.2°, 24.1±0.2°, 25.4±0.2°, 26.1±0.2°, 27.0±0.2° and 28.4±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being malonate Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 14.6±0.2° and 27.7±0.2°; preferably at least comprises any 1 or 2 the above diffraction peaks;being malonate Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 15.3±0.2°, 16.2±0.2°, 17.4±0.2°, 23.4±0.2°, 24.4±0.2° and 31.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5 or 6 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form A, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 12.8±0.2°, 20.6±0.2°, 22.2±0.2°, 22.6±0.2°, 23.5±0.2°, 24.3±0.2°, 25.5±0.2°, 27.3±0.2°, 28.0±0.2° and 28.8±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form B, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 9.5±0.2°, 12.3±0.2°, 17.0±0.2°, 21.7±0.2°, 23.5±0.2°, 24.7±0.2°, 26.2±0.2°, 28.5±0.2°, 29.5±0.2° and 31.1±0.2°; preferably at least comprises any 2 to 3, or 4 to 5, or 6 to 7 of the above diffraction peaks; and further preferably comprises any 2, 3, 4, 5, 6, or 7 of the above diffraction peaks;being HBr salt Form C, the X-ray powder diffraction pattern thereof has diffraction peaks at 2θ of 18.9±0.2°, 20.7±0.2° and 30.6±0.2°; preferably at least comprises any 2 or 3 of the above diffraction peaks.13.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to any one of claims 7-12, wherein, the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form A is as shown in Figure 11-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 11-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 11-3;the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form B is as shown in Figure 12-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 12-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 12-3;the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form C is as shown in Figure 13-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 13-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 13-3;the X-ray powder diffraction pattern of HCl salt Form D is as shown in Figure 14-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 14-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 14-3;the X-ray powder diffraction pattern of sulfate Form A is as shown in Figure 15-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 15-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 15-3;the X-ray powder diffraction pattern of maleate Form A is as shown in Figure 16-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 16-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 16-3;the X-ray powder diffraction pattern of maleate Form B is as shown in Figure 17-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 17-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 17-3;the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form A is as shown in Figure 18-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 18-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 18-3;the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form B is as shown in Figure 19-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 19-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 19-3;the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form C is as shown in Figure 20-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 20-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 20-3;the X-ray powder diffraction pattern of phosphate Form D is as shown in Figure 21-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 21-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 21-3;the X-ray powder diffraction pattern of mucate Form A is as shown in Figure 22-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 22-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 22-3;the mucate Form B has the TGA spectrum as shown in Figure 23-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 23-2;the X-ray powder diffraction pattern of tartrate Form A is as shown in Figure 24-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 24-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 24-3;the X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form A is as shown in Figure 25-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 25-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 25-3;the X-ray powder diffraction pattern of fumarate Form B is as shown in Figure 26-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 26-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 26-3;the X-ray powder diffraction pattern of citrate Form A is as shown in Figure 27-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 27-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 27-3;the citrate Form B has the TGA spectrum as shown in Figure 28-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 28-2;the X-ray powder diffraction pattern of glycolate Form A is as shown in Figure 29-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 29-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 29-3;the malate Form A has the TGA spectrum as shown in Figure 30-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 30-2;the X-ray powder diffraction pattern of succinate Form A is as shown in Figure 31-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 31-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 31-3;the X-ray powder diffraction pattern of succinate Form B is as shown in Figure 32-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 32-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 32-3;the X-ray powder diffraction pattern of napadisylate Form A is as shown in Figure 33-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 33-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 33-3;the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form A is as shown in Figure 34-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 34-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 34-3;the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form B is as shown in Figure 35-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 35-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 35-3;the X-ray powder diffraction pattern of edisylate Form C is as shown in Figure 36-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 36-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 36-3;the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form A is as shown in Figure 37-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 37-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 37-3;the X-ray powder diffraction pattern of tosylate Form B is as shown in Figure 38-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 38-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 38-3;the tosylate Form C has the TGA spectrum as shown in Figure 39-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 39-2;the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form A is as shown in Figure 40-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 40-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 40-3;the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form B is as shown in Figure 41-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 41-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 41-3;the X-ray powder diffraction pattern of mesylate Form C is as shown in Figure 42-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 42-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 42-3;the oxalate Form A has the TGA spectrum as shown in Figure 43-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 43-2;the X-ray powder diffraction pattern of oxalate Form B is as shown in Figure 44-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 44-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 44-3;the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form A is as shown in Figure 45-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 45-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 45-3;the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form B is as shown in Figure 46-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 46-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 46-3;the X-ray powder diffraction pattern of besylate Form C is as shown in Figure 47-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 47-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 47-3;the besylate Form D has the TGA spectrum as shown in Figure 48-1, or has the DSC spectrum as shown in Figure 48-2;the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form A is as shown in Figure 49-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 49-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 49-3;the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form B is as shown in Figure 50-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 50-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 50-3;the X-ray powder diffraction pattern of malonate Form C is as shown in Figure 51-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 51-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 51-3;the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form A is as shown in Figure 52-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 52-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 52-3;the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form B is as shown in Figure 53-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 53-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 53-3;the X-ray powder diffraction pattern of HBr salt Form C is as shown in Figure 54-1, or has the TGA spectrum as shown in Figure 54-2, or has the DSC spectrum as shown in Figure 54-3.14.The pharmaceutically acceptable salt of the compound of formula (I) according to any one of claims 7 to 13, the pharmaceutically acceptable salt or the pharmaceutically acceptable salt’s crystal form is anhydrate, solvate or hydrate; the solvates are preferred MeOH, EtOH, THF or acetone solvate.15.A a method for preparing the crystal form of formula (I) according to any one of claims 1 to 6, wherein, the method is method 1, 2, 3 or 4: method 1 comprising the steps of:a freebase of compound formula (I) , followed by an appropriate amount of solvent; the mixture is heated to a clear solution;mix and heat a solvent with freebase of compound formula (I) to obtain a clear solution, the solution is cooling to get a suspention; the suspension is co-distilled with EtOH to get a suspension in EtOH; the suspension is cooled to 0 ℃, and filtered and dried;the solvent is the mixture of DCM and EtOH;method 2 comprising the steps of:the formula (I) was suspending in solvent at RT to obtain suspension; the suspension was then heated to obtain a clear solution; the solution was equilibrated and filtered; filtrates were slowly cooled,the solvent is MeOH, THF, EtOH, H2O, ACN, acetone, CHCl3, n-heptane, DMAc, or mixture of one or more the above solvents;method 3 comprising the steps of:the formula (I) was dissolved in good solvent to obtain a clear solution; this solution was then placed into a vial with 5 mL of anti-solvent; the vial was sealed with a cap and kept at RT allowing sufficient time for organic vapor to interact with the solution;the good solvent is CHCl3, EtOH, H2O, DMSO, NMP, or mixture of one or more the above solvents;the anti-solvent is acetone, IPAc, MTBE, n-heptane, toluene, IPA, H2O, ACN, or mixture of one or more the above solvents;method 4 comprising the steps of:the formula (I) was dissolved in solvent to obtain a clear solution and the solution was magnetically stirred followed by addition of anti-solvent until precipitate appeared; the samples without precipitate were transferred to slurry at 5 ℃ and then transferred to slurry at -20 ℃; the clear samples were transferred to RT for evaporation, and the solids were isolated;the solvent is DCM, EtOH, H2O, DMAc, DMSO, NMP, or mixture of one or more the above solvents;the anti-solvent is acetone, IPAc, MTBE, n-heptane, toluene, IPA, H2O, ACN, or mixture of one or more the above solvents.16.A method for preparing the salt or salt’s crystal form of formula (I) according to any one of claims 7 to 14, wherein, comprising the steps of:1) weighing free base of formula (I) , and followed by addition of an appropriate amount of solvent;2) adding an acid and slurrying;3) centrifuge the sample and dry the solid to get the target product;the solvent is selected from the group of MeOH, acetone, H2O, THF, EtOH, DCM or mixture of one or more the above solvents.17.A pharmaceutical composition, comprising therapeutically effective amount of the crystal form of formula (I) according to any one of claims 1 to 6, or the pharmaceutically acceptable salt of a compound of formula (I) according to any one of claims 7 to 14, and one or more pharmaceutically acceptable carrier (s) , diluent (s) or excipient (s) .18.An use of the crystal form o formula (I) according to any one of claims 1 to 6, the pharmaceutically acceptable salt of a compound of formula (I) according to any one of claims 7 to 14, or the pharmaceutical composition according to claim 17 in the preparation of a FGFR2 selective inhibitor medicament.19.The use according to claim 19, wherein the use is a use in the preparation of a medicament for treating cancer, the cancer includes but not limited to endometrial carcinoma, gastric cancer or intrahepatic cholangiocarcinoma.20.An FGFR2 selective inhibitor, wherein, comprising therapeutically effective amount of the crystal form o formula (I) according to any one of claims 1 to 6, the pharmaceutically acceptable salt of a compound of formula (I) according to any one of claims 7 to 14.

Images