Particle pollution source matching method and device based on single-particle mass spectrum

CN122409440APending Publication Date: 2026-07-17JINAN UNIVERSITY
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Patent Information

Authority / Receiving Office
CN · China
Patent Type
Applications(China)
Current Assignee / Owner
JINAN UNIVERSITY
Filing Date
2026-06-16
Publication Date
2026-07-17

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Abstract

本发明提供了基于单颗粒质谱图谱的颗粒物污染源匹配方法及装置,通过预先采集多个已知污染源类别的单颗粒质谱数据建立污染源谱库;在检测阶段,获取待识别颗粒物的正离子质谱图和 / 或负离子质谱图,并进行质荷比对齐、噪声剔除和归一化处理,得到待识别离子特征向量;分别计算该待识别离子特征向量与各已知污染源类别参考源谱之间的匹配分歧系数,根据匹配分歧系数确定候选污染源类别;进一步将待识别离子特征向量与候选污染源类别对应的源特异性指纹离子信息进行匹配,得到指纹离子匹配结果,并据此输出污染源匹配结果。本发明能够提高颗粒物污染源匹配的客观性、准确性和可解释性。
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