Semiconductor equipment
Patent Information
- Authority / Receiving Office
- JP · JP
- Patent Type
- Applications
- Current Assignee / Owner
- SEMICON ENERGY LAB CO LTD
- Filing Date
- 2026-04-08
- Publication Date
- 2026-06-25
AI Technical Summary
【0026】 本発明の一態様により、新規な半導体装置、または新規な半導体装置の動作方法を提供 することができる。また、本発明の一態様により、新規な判定システム、または新規な判 定システムの動作方法を提供することができる。また、本発明の一態様により、消費電力 を削減すること、例えば休止状態の電力を削減することができる。また、本発明の一態様 により、休止状態から通常状態へ復帰する処理に要する時間を短縮すること、あるいは、 それに要するエネルギーを削減することができる。また、本発明の一態様により、判定を 行う回路の消費電力を低減することができる。また、本発明の一態様により、判定を行う システムの精度を向上することができる。また、本発明の一態様により、センサ素子によ り監視する対象物の安全性を高めることができる。また、本発明の一態様により、対象物 の監視を簡便に行うシステムを提供することができる。
Smart Images

Figure 2026104900000001_ABST
Abstract
Claims
[Claim 1] It comprises a detection circuit, a first determination circuit, a second determination circuit, a power supply circuit, and a power management device. The detection circuit has a function of analyzing the first data and making a first determination in which a first value or a second value is selected. The first determination circuit and the second determination circuit have the function of extracting image features, When the first value is selected by the first determination, the power management device has a function to supply voltage from the power circuit to the first determination circuit. The first determination circuit has the function of analyzing the first data and making a second determination, The second determination circuit is a semiconductor device that, when an event is detected in the second determination, analyzes the first data and performs a third determination.