CT topogram scan method, system and device

Abstract

One or more embodiments of the present disclosure relate to a CT topogram scan method, system and device. The CT topogram scan method is applied to a dual-source CT system or a multi-source CT system. The dual-source CT system or the multi-source CT system includes a first imaging device and a second imaging device. The CT topogram scan method comprises: obtaining a spatial parameter of an object; determining a scanning scheme based on the spatial parameter, wherein in the scanning scheme, the object is located within a first scanning field of view (FOV) of the first imaging device, and the object is located within a second scanning FOV of the second imaging device;and scanning the object according to the scanning scheme.

Description

CT TOPOGRAM SCAN METHOD, SYSTEM AND DEVICECROSS-REFERENCE TO RELATED APPLICATIONS

[0001] This application claims priority to Chinese Patent Application No. 202311815085.4, filed on December 26, 2023, the entire contents of which are incorporated herein by reference.TECHNICAL FIELD

[0002] The present disclosure relates to the field of medical imaging technology, and in particular to a CT topogram scan method, system and device.BACKGROUND

[0003] In the field of medical imaging, computed tomography (CT) is widely used in clinical diagnosis, treatment planning, and disease monitoring, especially in tumors and vascular lesions. A dual-source CT system plays an important role in diagnosis and treatment planning because it can provide high-resolution three-dimensional images. The dual-source CT system usually involves two X-ray tubes and two corresponding detectors, which cooperate to capture an image of an object. However, due to the limitations of space and mechanical design, the effective detection range of the two detectors may be limited, resulting in that part of the object is not covered by X-rays, making the image incomplete and affecting the accuracy of the diagnosis. In order to obtain a complete image, the patient is often scanned multiple times, which leads to a long scanning process and lower scanning efficiency.

[0004] Therefore, it is desirable to provide a CT topogram scan method, system, and device capable of improving image integrity, diagnostic accuracy, and scanning efficiency.SUMMARY

[0005] One or more embodiments of the present disclosure provide a CT topogram scan method, applied to a dual-source CT system or a multi-source CT system. The dual-source CT system or the multi-source CT system may include a first imaging device and a second imaging device. The CT topogram scan method may comprise: obtaining a spatial parameter of an object; determining a scanning scheme based on the spatial parameter, in the scanning scheme, the object being located within a first scanning field of view (FOV) of the first imaging device, and the object being located within a second scanning FOV of the second imaging device; and scanning the object according to the scanning scheme.

[0006] In some embodiments, the dual-source CT system or the multi-source CT system may include one or more position sensors. The obtaining the spatial parameter of the object may include: obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors.

[0007] In some embodiments, at least one of the one or more position sensors may be disposed on a scanning bed. The object may be located on the scanning bed.

[0008] In some embodiments, the one or more position sensors may include a camera fixed on a top of the dual-source CT system or the multi-source CT system. The obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors may include: obtaining the spatial parameter by imaging the object by the camera.

[0009] In some embodiments, the one or more position sensors may include a first sensor fixed on a top of the dual-source CT system or the multi-source CT system and a second sensor fixed on a side of the dual-source CT system or the multi-source CT system. The spatial parameter may include a horizontal parameter and a height parameter. The obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors may include: obtaining the horizontal parameter based on the first sensor; and obtaining the height parameter based on the second sensor.

[0010] In some embodiments, the one or more position sensors may include a third sensor configured with a degree of freedom to rotate around the dual-source CT system or the multi-source CT system. The spatial parameter may include the horizontal parameter and the height parameter. The obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors may include: obtaining the horizontal parameter by controlling the third sensor to move to a first preset position; and obtaining the height parameter by controlling the third sensor to move to a second preset position.

[0011] In some embodiments, the scanning scheme may include a first setting position of the first imaging device and a second setting position of the second imaging device. The determining the scanning scheme based on the spatial parameter may include: determining an offset that the object deviates from a scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter; and determining the first setting position and the second setting position based on the offset.

[0012] In some embodiments, the offset may include an offset direction. The determining the first target scanning position and the second setting position based on the offset may include: determining the first target scanning position and the second setting position based on the offset  direction.

[0013] In some embodiments, the offset may include an offset angle. The determining the offset that the object deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter may include: determine a position of the object based on the spatial parameters; and determine an angle between a line connecting the object and the scanning center and a reference direction, wherein the angle is the offset angle.

[0014] In some embodiments, the offset may include an offset distance. The determining the offset that the object deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter may include: determining a position of the object based on the spatial parameter; and determining a length of a line connecting the object and the scanning center based on the position of the object, wherein the length is the offset distance.

[0015] In some embodiments, the determining the first setting position and the second setting position based on the offset may include: determining the second setting position based on the offset; and determining the first setting position based at least on the second setting position.

[0016] In some embodiments, the offset may include an offset direction. The determining the first setting position based at least on the second setting position may include: determine a direction and a position of the first scanning FOV based on the offset direction and the second setting position; and determining the first setting position based on the direction and the position of the first scanning FOV.

[0017] In some embodiments, a relative position between the first imaging device and the second imaging device may remain constant. The determining the first setting position based at least on the second setting position may include: determining the first setting position based on the second setting position and the relative position between the first imaging device and the second imaging device.

[0018] In some embodiments, the second scanning FOV may be less than or equal to the first scanning FOV. The second scanning FOV may include a first sub-FOV and a second sub-FOV. The first sub-FOV may be greater than or equal to the second sub-FOV. At the second setting position, a center of the object may be located within the first sub-FOV or on a contour of the first sub-FOV.

[0019] In some embodiments, the offset may include an offset direction. The determining the second setting position based on the offset may include: determining a direction and a position of the first sub-FOV based on the offset direction; and determining the second setting position based on the direction and the position of the first sub-FOV.

[0020] In some embodiments, the determining the first setting position and the second setting position based on the offset may include: determining the first setting position and the second setting position based on the offset through a determination model. The determination model may be a machine learning model.

[0021] In some embodiments, the scanning the object according to the scanning scheme may include: scanning the object by adjusting the first imaging device to move to the first setting position, and adjusting the second imaging device to move to the second setting position.

[0022] In some embodiments, the scanning scheme may include a target scanning position of the object. The determining the scanning scheme based on the spatial parameter of the object may include: determining an offset that the object deviates from a scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter; determining the target scanning position based on the offset; obtaining a new spatial parameter of the target scanning position by adjusting the object to move to the target scanning position; determining a new offset that the object deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the new spatial parameter; and determining the first setting position and the second setting position based on the new offset.

[0023] In some embodiments, the determining the target scanning position based on the offset may include: in response to determining that the offset is greater than a preset threshold, determining the target scanning position, wherein an offset corresponding to the target scanning position is less than or equal to the preset threshold; or, in response to determining that the offset is less than or equal to the preset threshold, determining that the target scanning position is a current position of the object, the new spatial parameter is the spatial parameter of the current position, and the new offset is an offset of the current position.

[0024] One or more embodiments of the present disclosure provide a CT topogram scan system, applied to a dual-source CT system or a multi-source CT system. The dual-source CT system or the multi-source CT system may include a first imaging device and a second imaging device. The CT topogram scan system may include: an acquisition module, a determination module and a scanning module. The acquisition module may be used to obtain a spatial parameter of an object. The determination module may be used to determine a scanning scheme based on the spatial parameter, in the scanning scheme, the object being located within a first scanning field of view (FOV) of the first imaging device, and the object is located within a second scanning FOV of the second imaging device. The scanning module may be used to scan the object according to the scanning scheme.

[0025] One or more embodiments of the present disclosure provide a CT topogram scan device. The CT topogram scan device may include a processor. The processor may be used to execute the CT topogram scan method.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

[0026] The present disclosure will be further illustrated by way of exemplary embodiments, which will be described in detail by means of the accompanying drawings. These embodiments are not limiting, and in these embodiments, the same numbering indicates the same structure, where:

[0027] FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an exemplary dual-source CT system or an exemplary multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure;

[0028] FIG. 2A is a schematic diagram illustrating an exemplary imaging component according to some embodiments of the present disclosure;

[0029] FIG. 2B is a schematic diagram illustrating another exemplary imaging component according to some embodiments of the present disclosure;

[0030] FIG. 3 is a flowchart illustrating an exemplary CT topogram scan process according to some embodiments of the present disclosure;

[0031] FIG. 4 is a flowchart illustrating an exemplary process of determining a scanning scheme according to some embodiments of the present disclosure;

[0032] FIG. 5 is a schematic diagram illustrating an exemplary position of an object and a scanning center according to some embodiments of the present disclosure;

[0033] FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an exemplary position of an object and a scanning center according to some embodiments of the present disclosure;

[0034] FIG. 7 is a schematic diagram illustrating an exemplary offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure;

[0035] FIG. 8 is a schematic diagram illustrating an exemplary offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure;

[0036] FIG. 9 is a schematic diagram illustrating an exemplary offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure; and

[0037] FIG. 10 is a schematic diagram illustrating an internal structure of a computer device according to some embodiments of the present disclosure.DETAILED DESCRIPTION

[0038] In order to more clearly illustrate the technical solutions of the embodiments of the present disclosure, the accompanying drawings required to be used in the description of the embodiments are briefly described below. Obviously, the accompanying drawings in the following description are only some examples or embodiments of the present disclosure, and it is possible for a person of ordinary skill in the art to apply the present disclosure to other similar scenarios in accordance with these drawings without creative labor. Unless obviously obtained from the context or the context illustrates otherwise, the same numeral in the drawings refers to the same structure or operation.

[0039] It should be understood that the terms “system, ” “device, ” “unit, ” and / or “module” used herein are a way to distinguish between different components, elements, parts, sections, or assemblies at different levels. However, the terms may be replaced by other expressions if other words accomplish the same purpose.

[0040] As shown in the present disclosure and in the claims, unless the context clearly suggests an exception, the words “one, ” “a, ” “an, ” “one kind, ” and / or “the” do not refer specifically to the singular, but may also include the plural. Generally, the terms “including, ” and “comprising” suggest only the inclusion of clearly identified steps and elements, however, the steps and elements that do not constitute an exclusive list, and the method or apparatus may also include other steps or elements.

[0041] Flowcharts are used in the present disclosure to illustrate the operations performed by a system according to embodiments of the present disclosure, and the related descriptions are provided to aid in a better understanding of the magnetic resonance imaging method and / or system. It should be appreciated that the preceding or following operations are not necessarily performed in an exact sequence. Instead, steps can be processed in reverse order or simultaneously. Also, it is possible to add other operations to these processes or to remove a step or steps from these processes.

[0042] The dual-source CT system includes two X-ray tubes and two corresponding detectors, and simultaneously obtains anteroposterior and lateral films of an object, which can improve the scanning efficiency and reduce the waiting time of the patient. However, due to the limitations of space and mechanical design, one detector of the dual-source CT system usually adopts an asymmetric setting, which may cause the shorter side of the asymmetric detector to fail to completely cover the object when synchronous dual-topogram scan is performed, resulting in an incomplete image, and affecting the accuracy of diagnosis. Therefore, some embodiments of the present disclosure provide a CT topogram scan method, system and device, which obtains a spatial parameter of the object and determines a scanning scheme according to the spatial parameter. The object is scanned according to the scanning scheme, which ensures that a first scanning FOV of a first imaging device and a second FOV of a second imaging device can completely cover the object, thereby improving the accuracy of the CT topogram scan method; in addition, the complete scan of the object can be completed by performing only one-time scan instead of perform multiple-times scans, which solves the problem of low scanning efficiency of the CT topogram, and improves the scanning efficiency of the CT topogram.

[0043] FIG. 1 is a schematic diagram illustrating an exemplary dual-source CT system or multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 1, a dual-source CT system or a multi-source CT system 100 may include a scanning bed 110, an imaging component 120, and a positioning component 130.

[0044] The scanning bed 110 may be configured to place an object. In some embodiments, the scanning bed 110 may be a component of the scanning system 100, or may be an external device used in cooperation with the scanning system 100. The scanning bed 110 may be moved into a scanning gantry of the imaging component 120 such that the object placed thereon may enter the scanning gantry of the imaging component 120. In some embodiments, the scanning bed 110 may adjust the position of the object in the scanning gantry to improve the scanning imaging effect. In some embodiments, the scanning bed 110 may enter into or move out of the scanning gantry of the imaging component 120 along a length direction (e.g., a Z direction in FIG. 1) of the scanning bed 110, thereby adjusting the position of the object in the length direction (e.g., an axial direction of the scanning gantry, e.g., the Z direction in FIG. 1) . In some embodiments, after entering the scanning gantry, the scanning bed 110 may have a degree of freedom to move along a width direction (e.g., an X direction in FIG. 1) of the scanning bed 110, thereby adjusting the position of the object in the width direction. In some embodiments, the scanning bed 110 may include an adjustment mechanism. The adjustment mechanism may be configured to adjust a height of the scanning bed 110, thereby adjusting the position of the object in a height direction (e.g., a Y direction in FIG. 1) . In some embodiments, the adjustment mechanism may also be configured to adjust the position of the object in the height direction. In some embodiments, one or more position sensors may be provided on the scanning bed 110 and configured to obtain a spatial parameter of the object. More descriptions regarding the one or more position sensors may be found in the related descriptions below.

[0045] For ease of explanation, in some embodiments, when the length direction of the scanning bed 110 is parallel to the axial direction of the scanning gantry of the imaging component 120, the length direction of the scanning bed 110 may be defined as the Z direction, the width direction of the scanning bed 110 may be defined as the X direction, and the height direction of the scanning bed 110 may be defined as the Y direction. Merely by way of example, in FIG. 2A, the X direction refers to a left-right direction shown in FIG. 2A, the Y direction refers to a vertical direction shown in FIG. 2A, and the Z direction refers to a direction perpendicular to a paper surface shown in FIG. 2A.

[0046] The imaging component 120 may be configured to scan the object and generate a scan image. In some embodiments, the object refers to an object that needs to be scanned and imaged. The object may include a biological object (e.g., a human body, an animal, etc. ) , a non-biological object (e.g., a phantom) , etc. In some embodiments, the object may also include a specific part, organ, and / or tissue of a patient. For example, the object may include the head, chest, legs, or the like, or any combination thereof, which is not limited here. In some embodiments, the object may include a specific part, organ, and / or tissue of a patient and other organs and / or tissues within a certain range around the specific part, organ, and / or tissue of a patient. The object may also be referred to as a patient hereinafter.

[0047] FIG. 2A is a schematic diagram illustrating an exemplary imaging component according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 2A, the imaging component 120 may include a first imaging device 121 and a second imaging device 122.

[0048] The first imaging device 121 may include a first X-ray tube 121-1 and a first detector 121-2, and a relative position between the first X-ray tube 121-1 and the first detector 121-2 remains constant. The first X-ray source 121-1 and the first detector 121-2 may be located at both ends of a frame of the imaging component 120 in a radial direction, respectively. The first X-ray tube 121-1 may be configured to emit X-rays. The first detector 121-2 may be configured to receive the X-rays after irradiating an object, and convert the X-rays into photoelectric signals for output. The first imaging device 121 may be configured to scan and image the object within a first scanning field of view (FOV) . The first FOV refers to a range in which the first scanning device 121 is capable of performing scanning and imaging. The scanning FOV refers to a range enclosed by a center of an X-ray tube to two ends of a detector. For example, as shown in FIG. 2A, a center of the first X-ray tube 121-1 is a point A1, and two ends of the first detector 121-2 are a point B1 and a point C1, respectively. The first scanning FOV corresponding to the first imaging device 121 may be a range enclosed by the point A1, the point B1, and the point C1.

[0049] The second imaging device 122 may include a second X-ray tube 122-1 and a second detector 122-2, and a relative position between the second X-ray tube 122-1 and a second detector 122-2 remains constant. The second X-ray tube 122-1 and a second detector 122-2 may be located at both ends of the frame of the imaging component 120 in the radial direction, respectively. The second X-ray tube 122-1 may be configured to emit X-rays. The second detector 122-2 may be configured to receive X-rays after irradiating the object, and convert the X-rays into photoelectric signals for output. The second imaging device 122 may be configured to scan and image the object within a second scanning FOV. The second scanning FOV refers to a range in which the second scanning device 122 is capable of performing scanning and imaging. FIG. 2B is a schematic diagram illustrating another exemplary imaging component according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 2B, a center of the second X-ray tube 122-1 is a point A2, and two ends of the second detector 122-2 are a point B2 and a point C2, respectively. The second scanning FOV corresponding to the second imaging device 122 may be a range enclosed by the point A2, the point B2, and the point C2.

[0050] In some embodiments, the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may simultaneously scan and image the object from different angles, thereby improving scanning efficiency and reducing waiting time. In some embodiments, due to the limitations of space and mechanical design, the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may have different scanning FOVs. For example, the second scanning FOV of the second imaging device 122 may be less than or equal to the first scanning FOV of the first imaging device 121.

[0051] The positioning component 130 may be configured to adjust the positions of the first imaging device 121 and the second imaging device 122. In some embodiments, the positioning component 130 may be configured to adjust the first imaging device 121 to a first setting position and the second imaging device 122 to a second setting position according to the spatial parameter of the object, such that the first scanning FOV of the first imaging device 121 and the second scanning FOV of the second imaging device 122 can completely cover the object. More descriptions regarding the above embodiments may be found in FIG. 3 and related descriptions thereof.

[0052] The first imaging device 121 and the second imaging device 122 may be rotatably mounted on the positioning component 130 around a rotation center point O (also referred to as a scanning center) .

[0053] In some embodiments, during a process of adjusting the positions of the first imaging device 121 and the second imaging device 122 by the positioning component 130, a relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may remain constant. That is, the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may rotate synchronously. In some embodiments, the first imaging device 121 and the second imaging device 122 are perpendicular to each other. For example, when one of the first imaging device 121 and the second imaging device 122 is located on a left side or a right side, the other of the first imaging device 121 and the second imaging device 122 is located on an upper side or a lower side accordingly.

[0054] In other embodiments, the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may rotate independently of each other, and the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may change.

[0055] In some embodiments, the first imaging device 121 may be a symmetrical design. The symmetrical design means that the first detector 121-2 of the first imaging device 121 is symmetrical with respect to a first center line. The first center line refers to a connection line between the center (e.g., the point A1) of the first X-ray tube 121-1 of the first imaging device 121 and the rotation center (e.g., the scanning center, point O) of the adjustment device 130. For example, as shown in FIG. 2A, the first center line may be an axis 123, and the first detector 121-2 may be symmetrical with respect to the first center line 123. In some embodiments, the second imaging device 122 may also be a symmetrical design.

[0056] In some embodiments, due to the limitations of space and mechanical design, the second imaging device 122 may be an asymmetrical design to avoid interference between the second imaging device 122 and the first imaging device 121. The asymmetrical design means that the second detector 122-2 of the second imaging device 122 is asymmetrical with respect to a second center line. The second center line refers to a connection line between the center (e.g., the point A2) of the second X-ray tube 122-1 of the second imaging device 122 and the rotation center (e.g., the scanning center, point O) of the adjustment device 130. For example, as shown in FIG. 2B, the second center line may be an axis 124, and the second detector 122-2 may be asymmetrical with respect to the second center line 124. The asymmetrical design of the second detector 122-2 can well avoid interference between the second detector 122-2 and the first detector 122-1, thereby avoiding collision between the second detector 122-2 and the first detector 122-1.

[0057] In some embodiments, the second scanning FOV corresponding to the second imaging device 122 may include a first sub-FOV and a second sub-FOV. The first sub-FOV may be greater than or equal to the second sub-FOV. The first sub-FOV and the second sub-FOV refer to two FOVs obtained by dividing the second scanning FOV of the second imaging device 122 based on the second center line 124. When the first sub-FOV is equal to the second sub-FOV, the dual-source CT system or the multi-source CT system 100 may be a symmetrical dual-source scanning system. When the first sub-FOV is greater than the second sub-FOV, the dual-source CT system or the multi-source CT system 100 may be an asymmetrical dual-source scanning system. In other words, the CT topogram scan method provided by the embodiments of the present disclosure can be used for the symmetrical dual-source scanning system and the asymmetrical dual-source scanning system, and has high applicability. For example, as shown in FIG. 2B, the second imaging device 122 is an asymmetrical design, and an intersection point of the second center line 124 and the second detector 122-2 is a point D. The first sub-FOV may be a range enclosed by the point A2, the point B2, and the point D, and the second sub-FOV may be a range enclosed by the point A2, the point C2, and point D. The first sub-FOV may be greater than the second sub-FOV.

[0058] In some embodiments, the dual-source CT system or the multi-source CT system 100 may further include one or more position sensors (not shown in the figure) . The one or more position sensors may be configured to obtain a spatial parameter of the object. The spatial parameter refers to a parameter of the object relative to a reference plane or a reference point. More descriptions regarding the spatial parameter may be found in FIG. 3 and related descriptions thereof.

[0059] In some embodiments, the one or more position sensors may include one or more types of sensors, such as an infrared rangefinder, an ultrasonic rangefinder, a camera, etc.

[0060] In some embodiments, the one or more position sensors may be disposed on the scanning bed 110. Specifically, the one or more position sensors may be disposed in a region (e.g., a bed surface on which the patient lies flat) of the scanning bed 110 where the object is located. The one or more position sensors may be configured to obtain a height parameter along the Y direction, a horizonal parameter along the X direction, etc., of the object. For example, the one or more position sensors may determine the spatial parameter of the object with the ground as a reference. Alternatively, the one or more position sensors may determine the spatial parameter of the object with the frame of the imaging component 120 as a reference.

[0061] In some embodiments, the one or more position sensors may be disposed on the imaging component 120. The one or more position sensors may determine the spatial parameter of the object with the frame of the imaging component 120 as a reference. In some embodiments, the one or more position sensors may include a camera fixed on a top of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100, and determine the spatial parameter of the object by imaging the object by the camera. More descriptions regarding the one or more position sensors may be found in FIG. 3 and related descriptions thereof.

[0062] In some embodiments, the one or more position sensors may include a first sensor fixed on a top of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100 and a second sensor fixed on a side of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100. The first sensor and the second sensor may cooperate to determine the spatial parameter of the object. More descriptions regarding this embodiment may be found in FIG. 3 and related descriptions thereof.

[0063] In some embodiments, the one or more position sensors may further include a third sensor. The third sensor may be configured to have a degree of freedom to rotate around the dual-source CT system or the multi-source CT system 100. Merely by way of example, the third sensor may be mounted on the imaging component 120 to rotate with the imaging component 120. Alternatively, the third sensor may be mounted on the positioning component 130, and the positioning component 130 may adjust the position of the third sensor separately. The third sensor may rotate around the rotation center point, so as to rotate to different position angles in the dual-source CT system or the multi-source CT system 100 to image the object, and obtain the spatial parameter of the object. More descriptions regarding this embodiment may be found in FIG. 3 and related descriptions thereof.

[0064] FIG. 3 is a flowchart illustrating an exemplary CT topogram scan process according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 3, a process 300 may include the following operations.

[0065] In 310, a spatial parameter of an object may be obtained.

[0066] The object refers to an object that needs to be scanned and imaged. More descriptions regarding the object may be found in FIG. 1 and related descriptions thereof.

[0067] The spatial parameter refers to a parameter of the object relative to a reference plane (e.g. the ground) or a reference point (e.g., a rotation center point) . For example, the spatial parameter may include a position, a distance, a direction, horizontal coordinate and height coordinate of the object relative to the reference plane or the reference point. In some embodiments, the spatial parameter may further include related information of the object. For example, the spatial parameter may include size information (e.g., a length, a width, and a height) , shape information (e.g., a circular shape, an elliptical shape, a rectangular shape, etc. ) , and volume information of the object.

[0068] In some embodiments, the spatial parameter may include a horizontal parameter and a height parameter. The horizontal parameter refers to parameter information of the object relative to the reference plane or the reference point in an X direction. For example, the horizontal parameter may include a position, an object size, or the like, of the object relative to the reference plane or reference point in the X direction. The height parameter refers to parameter information of the object relative to the reference plane or reference point in a Y direction. For example, the height parameter may include a height, an object thickness, or the like, of the object relative to the reference plane or reference point in the Y direction.

[0069] In some embodiments, the spatial parameter of the object may be input from the other devices, or measured by one or more position sensors, or read from a relevant database (e.g., historical data) .

[0070] In some embodiments, the operation 310 may include: obtaining the spatial parameters of the object based on the one or more position sensors.

[0071] In some embodiments, when the one or more position sensors are disposed on the scanning bed 110, at least one of the one or more position sensors may obtain a height parameter of the scanning bed 110 relative to the ground, and at least another of the one or more position sensors may obtain a horizontal parameter of the scanning bed 110 relative to the frame of the imaging component 120. The spatial parameter of the object may be determined in combination with the position of the object on the scanning bed 110.

[0072] In some embodiments, when the one or more position sensors include a camera fixed on a top (e.g., a top of the frame of the imaging component 120) of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100, the spatial parameter of the object may be obtained by imaging the object by the camera. For example, the horizontal parameter of the object may be determined by recognizing the object in the image and measuring the size of the object in the image based on an image obtained by the camera; and the height parameter of the object may be determined by comparing the image size of the object in the image with an actual size of the object. In some embodiments, the camera may be disposed on the top (e.g., the top of the frame of the imaging component 120) of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100. The scanning center (e.g., the point O) may be located on a center line of an FOV of the camera. The horizontal parameter of the object may be determined based on a difference between the center of the object and the center line of the FOV of the camera in the X direction. In some embodiments, in order to improve efficiency and simplify operations, the actual size of the object may not be measured in advance. Accordingly, since the specifications of the scanning bed 110 are known, the height parameter of the object may be determined based on a ratio of a width size of the scanning bed 110 in the image to an actual width size of the scanning bed 110. An actual length size and an actual width size of the object may be determined based on the ratio of the width size of the scanning bed 110 in the image to the actual width size of the scanning bed 110 and a size of the object in the image. The ratio of the width size of the scanning bed 110 in the image to the actual width size of the scanning bed 110 may correspond to the height parameter, and the specific corresponding relationship may be obtained by looking up a table, a related database (e.g., historical data) , or by machine learning.

[0073] In some embodiments, the one or more position sensors may include a first sensor fixed on the top of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100 and a second sensor fixed on the side of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100. The horizontal parameter may be obtained based on the first sensor, and the height parameter may be obtained based on the second sensor. For example, the first sensor and the second sensor may be cameras, and the two cameras may respectively photograph the object to obtain a first capture image and a second capture image. The horizontal parameter, the height parameter, the actual length size, and the actual width size, etc., of the object may be determined by recognizing the object in the first capture image and measuring the size of the object in the first capture image. The height parameter, the horizontal parameter, the actual length size, and an actual thickness size, etc., of the object may be determined by recognizing the object in the second capture image and measuring the size of the object in the second capture image. In some embodiments, the actual size of the object may also be measured in advance, and the one or more position sensors may include an infrared rangefinder or an ultrasonic rangefinder for obtaining the height parameter and the horizontal parameter of the object.

[0074] In some embodiments, the one or more position sensors may further include a third sensor. When the third sensor is configured to have a degree of freedom to rotate around the dual-source CT system or the multi-source CT system 100, the horizontal parameter may be obtained by controlling the third sensor to move to a first preset position. The height parameter may be obtained by controlling the third sensor to move to a second preset position. The first preset position refers to a position where the third sensor can determine a relative position between the object and the imaging component 120 in the X direction. The second preset position refers to a position where the third sensor can determine a relative position between the object and the imaging component 120 in the Y direction. For example, the third sensor may be the camera, the first preset position may be the top of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100, and the second preset position may be the side of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100. The camera may obtain a third capture image and a fourth capture image by photographing the object at the first preset position and the second preset position. The horizontal parameter, the height parameter, the actual length size, and the actual width size, etc., of the object may be determined by recognizing the object in the third capture image and measuring the size of the object in the third capture image. The height parameter, the horizontal parameter, the actual length size, and the actual thickness size, etc., of the object may be determined by recognizing the object in the fourth capture image and measuring the size of the object in the fourth capture image. As another example, when the third sensor is an infrared rangefinder or an ultrasonic rangefinder, the actual size of the object may also be measured in advance, the first preset position may be located at the side of the dual-source CT system or the multi-source CT system 100, and the second preset position may be located at the top of the dual-source CT system or the multi-source CT system. For example, the horizontal parameter of the object may be determined by obtaining a relative position of the object and the imaging component 120 in the X direction at the first preset position by the infrared rangefinder or the ultrasonic rangefinder. The height parameter of the object may be determined by obtaining a relative position of the object and the imaging component 120 in the Y direction at the second preset position by the infrared rangefinder or the ultrasonic rangefinder.

[0075] In 320, a scanning scheme may be determined based on the spatial parameter.

[0076] The scanning scheme refers to parameter information used to guide the first imaging device and the second imaging device to perform scanning and imaging process of the object. For example, the scanning scheme may include target positions of the first imaging device 121 and the second imaging device 122 during scanning and imaging process, angles at which the first X-ray tube 121-1 and the second X-ray tube 122-1 emit X-rays, etc. In some embodiments, the scanning scheme may include a first setting position of the first imaging device 121 and a second setting position of the second imaging device 122. The first setting position refers to a position of the first X-ray tube 121-1 of the first imaging device 121 when the scanning and imaging process are performed on the object. The second setting position refers to a position of the second X-ray tube 122-1 of the second imaging device 122 when the scanning and imaging process are performed on the object.

[0077] In some embodiments, in the scanning scheme, the object may be located within the first scanning FOV, and the object may be located within the second scanning FOV. For example, in the scanning scheme, the object is completely within the first scanning FOV (e.g., the object does not coincide with the contour of the first scanning FOV) . As another example, in the scanning scheme, the object is inscribed in the contour of the first scanning FOV (e.g., the object partially coincides with the contour of the first scanning FOV) . For example, in the scanning scheme, the object is completely within the second scanning FOV (e.g., the object does not coincide with the contour of the second scanning FOV) . As another example, in the scanning scheme, the object is inscribed in the contour of the second scanning FOV (e.g., the object partially coincides with the contour of the second scanning FOV) . In other words, during the process of CT topogram scan, the first scanning FOV corresponding to the first imaging device and the second scanning FOV corresponding to the second imaging device may completely cover the entire object, so as to ensure complete imaging of the object, and improve the scanning accuracy.

[0078] In some embodiments, the scanning scheme may be determined via a preset data comparison table based on the spatial parameter. The preset data comparison table may record scanning schemes corresponding to different spatial parameters. The preset data comparison table may be preset based on prior knowledge or historical data.

[0079] FIG. 4 is a flowchart illustrating an exemplary process of determining a scanning scheme according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 4, the operation 320 may include the following sub-operations.

[0080] In 321, an offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system may be determined based on a spatial parameter.

[0081] The offset refers to a position difference of the object relative to the scanning center. In some embodiments, the offset may include an offset direction. In some embodiments, any reference point in the object (e.g., a center point of the object, or a center of gravity of the object, or a selected point determined artificially according to actual needs, etc. ) can be selected to represent the position of the object, and the offset refers to the position difference of the reference point and the scanning center. In some embodiments, the offset may further include an offset distance. The offset direction of the object relative to the scanning center may include the following situations: a right direction, an upper right direction, an upper direction, an upper left direction, a left direction, a lower left direction, a lower direction, and a lower right direction. The upper direction and the lower direction refer to an offset direction that the object deviates from the scanning center in the Y direction, and the left direction and the right direction refer to an offset direction that the object deviates from the scanning center in the X direction. For example, FIG. 5 a schematic diagram illustrating an exemplary position of an object and a scanning center according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 5, the object may be higher than the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system, and the offset direction that the object deviates from the scanning center may be the upper direction. FIG. 6 is a schematic diagram illustrating an exemplary position of an object and a scanning center according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 6, an object 610 may be lower than the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system in the Y direction, and the offset direction that the object deviates from the scanning center may be the lower direction.

[0082] In some embodiments, the position of the scanning center may be obtained via a database or historical data. In some embodiments, the position of the scanning center may be determined by obtaining a user input.

[0083] In some embodiments, for the horizontal parameter of the spatial parameter, a processor may determine the offset distance and / or the offset direction of the object in the X direction by calculating a horizontal distance between any reference point (e.g., the center point of the object) of the object and the scanning center. For the height parameters of the spatial parameter, the processor may determine the offset distance and / or offset direction of the object in the Y direction by calculating a distance between the reference point of the object and the scanning center in the Y direction.

[0084] In some embodiments, the offset direction may include an offset angle. A position region of the object relative to the scanning center may be more specifically represented by the offset angle. The operation 321 may include: determining a position of the object based on the spatial parameter; and determining an angle between a connection line and a reference direction according to the connection line between the object and the scanning center. The angle may be the offset angle. In some embodiments, the operation 321 may include: determining a position of the object based on the spatial parameter; and determining a length of the connection line between the object and the scanning center based on the position of the object. The length may be the offset distance. For example, the length of the connection line between the position of the object and the scanning center is the offset distance. In some embodiments, a coordinate system may be established with the scanning center as the origin. Coordinates of any reference point of the object in the coordinate system may be obtained, and the coordinates may represent the position of the object relative to the scanning center. The offset angle may be determined by calculating the angle between the connection line between the reference point and the scanning center and a coordinate axis of the coordinate system according to the coordinates of the reference point of the object in the coordinate system. The offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be determined according to the reference point and the angle. A distance between the reference point and the scanning center may be calculated, and determined as the offset distance of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system. In some embodiments, the offset angle may be determined with a positive axis of a horizontal axis (the coordinate axis in the X direction) in the coordinate system as a reference, and a positive axis of a vertical axis (the coordinate axis in the Y direction) as a positive direction. More descriptions may be found in FIG. 7 and related descriptions thereof.

[0085] When the selected reference point is located on the connection line between the scanning center and the center point of the object, an angle between the connection line between the reference point and the scanning center and the horizontal axis of the coordinate system may be the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system, and the distance between the reference point and the scanning center may be the offset distance of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system. When the selected reference point is not located on the connection line between the scanning center and the center point of the object (e.g., when the selected reference point is a contact point between the object and the scanning bed 110, or is a boundary point of the object) , a corresponding relationship between the reference point and the offset direction and the offset distance may be determined according to the coordinates of the reference point, and the offset direction and the offset distance may be calculated according to the corresponding relationship.

[0086] Merely by way of example, FIG. 7 is a schematic diagram illustrating an exemplary offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 7, a plane rectangular coordinate system may be established by selecting the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system as the origin (0, 0) , a positive axis direction of a horizontal axis is a right direction of the X direction, and a positive axis direction of a vertical axis is an upper direction of the Y direction. The center point of the object may be selected as a reference point, and an angle α between a connection line between the object and the scanning center and the horizontal axis of the coordinate system may be calculated according to the coordinates (x0, y0) of the center point of the object in the coordinate system. The specific calculation method may be expressed as: α=arctanα=arctan (y0 / x0) , and the distance between the object and the scanning center may be calculated. When x0 is positive and y0 is 0, the corresponding angle α is 0°; when x0 is 0 and y0 is positive, the corresponding angle α is 90°; when x0 is negative and y0 is 0, the corresponding angle α is 180°; when x0 is 0 and y0 is negative, the corresponding angle α is 270°; when x0 is 0 and y0 is 0, the reference point of the object coincides with the origin (and the scanning center) .

[0087] The offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be determined according to the angle α. Specifically, when the angle is 0°, the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the right direction. When the angle is in an interval of (0°, 90°) , the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the upper right direction. When the angle is 90°, the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the upper direction. When the angle is in an interval of (90°, 180°) , the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the upper left direction. When the angle is 180°, the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the left direction. When the angle is in an interval of (180°, 270°) , the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the lower left direction. When the angle is 270°, the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the lower direction. When the angle is in an interval of (270°, 360°) , the offset direction of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be the lower right direction. The offset distance of the object relative to the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system may be determined according to the distance between the object and the scanning center.

[0088] In 322, a first setting position and a second setting position may be determined based on the offset.

[0089] In some embodiments, a storage device may pre-store different offsets and corresponding relationships between the first setting position and the second setting position. The processor may access the storage device based on the determined offset, and generate the first setting position and the second setting position via the corresponding relationship. In some embodiments, the first setting position and the second setting position may be determined based on the offset direction, such that the second detector 122-2 of the second imaging device 122 with a smaller scanning FOV can be close to the object, and the first imaging device 121 and the second imaging device 122 can perform complete imaging on the object.

[0090] In some embodiments, the second setting position may be determined based on the offset; and the first setting position may be determined based at least on the second setting position.

[0091] In some embodiments, a direction and a position of the first sub-FOV with a larger FOV of the second imaging device 122 may be determined based on the offset direction. The second setting position may be determined based on the direction and the position of the first sub-FOV. For example, the processor may correspond the first sub-FOV with a larger FOV of the second imaging device to the offset direction, and a portion of the second detector 122-2 corresponding to the first sub-FOV may be located at the position corresponding to the offset direction, so as to ensure a complete scan of a portion of the object that deviates from the scanning center, thereby determining the second setting position of the second imaging device 122.

[0092] In some embodiments, when the first imaging device 121 and the second imaging device 122 rotate independently of each other and a relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 is changeable, the direction and the position of the first sub-FOV may be determined based on the offset direction and the second setting position, and the first setting position of the first imaging device may be determined based on the direction and the position of the first sub-FOV. For example, as shown in FIG. 6, when the offset direction of the object relative to the scanning center is the lower left direction, the second setting position of the second imaging device 122 may be located on the right, and the first sub-FOV with a larger FOV of the second detector 122 may cover the lower left direction. Correspondingly, the second sub-FOV with a smaller FOV of the second detector 122 covers the upper left direction. In this case, since the scanning FOV of the first imaging device 121 needs to cover the object, and in order to avoid interference between the second imaging device 122 and the first imaging device 121, the first scanning FOV may at least cover the left direction (e.g., the upper left direction or the lower left direction) . That is, the direction and the position of the first scanning FOV may be the upper left direction and the upper right direction or the lower left direction and the lower right direction. Correspondingly, the first setting position of the first imaging device 121 may be located on the upper side (covering the upper left direction and the upper right direction) or the lower side (covering the lower left direction and the lower right direction) .

[0093] In some embodiments, when the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 remains constant (e.g., in order to prevent the first detector 121-2 of the first imaging device 121 and the second detector 122-2 of the second imaging device 122 from coinciding to cause interference) , the first detector 121-2 of the first imaging device 121 may be rotated to a position of a shorter end of the second detector 122-2 of the second imaging device 122, and the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may be perpendicular to each other. In this case, the first setting position of the first imaging device 121 may be determined based on the second setting position of the second imaging device 122. Specifically, the first setting position may be determined based on the second setting position and the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122.

[0094] For example, when the offset direction of the object 510 is the upper direction, a longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 may be rotated to the upper direction, and a shorter end C2-D of the second detector 122-1 may be rotated to the lower direction correspondingly, so as to ensure that the larger first sub-FOV corresponding to the longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 corresponds to the offset direction. For example, as shown in FIG. 5, the longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 may be rotated to the upper right direction, and the shorter end C2-D of the second detector 122-1 may be rotated to the lower right direction. Accordingly, the second setting position of the second imaging device 122 is located on the left. And the first setting position may be determined to be located on the upper based on the second setting position and the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 as shown in FIG. 5. Alternatively, the longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 may be rotated to the upper left direction, and the shorter end C2-D of the second detector 122-1 may be rotated to the lower left direction correspondingly. Accordingly, the second setting position of the second imaging device 122 is located on the right. And the first setting position may be determined to be located on the upper based on the second setting position and the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 as shown in FIG. 5. As another example, as shown in FIG. 6, when the offset direction of the object is the lower left direction, the longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 may be rotated to the lower left direction, and the shorter end C2-D of the second detector 122-1 may be rotated to the upper left direction, so as to ensure that the larger first sub-FOV corresponding to the longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 corresponds to the offset direction. Accordingly, the second setting position of the second imaging device 122 is located on the upper. And the first setting position may be determined to be located on the right based on the second setting position and the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 as shown in FIG. 6.

[0095] It should be noted that when the second imaging device 122 has another structure (for example, when the positions of the longer end B2-D and the shorter end C2-D are interchanged compared to the positions shown in FIG. 6) , under a circumstance that the offset direction of the object is the lower left direction as shown in FIG. 6, the longer end B2-D of the second detector 122-1 of the second imaging device 122 is rotated to the lower left direction, and the shorter end C2-D of the second detector 122-1 is correspondingly rotated to the lower right direction, and the second setting position of the second imaging device 122 is located on the upper. The first setting position may be determined to be located on the upper based on the second setting position and the relative position between the first imaging device 121 and the second imaging device 122 as shown in FIG. 6.

[0096] In some embodiments, the second setting position of the second imaging device may also be determined based on the offset angle and the offset distance. For example, the position of the object may be determined based on the offset angle and the offset distance, so as to determine a scanning position capable of making a relative distance between a center of the object and a center (e.g., the point D) of the second detector 122-2 of the second imaging device 122 the shortest, and determine the scanning position as the second setting position of the second imaging device 122.

[0097] For example, FIG. 8 is a schematic diagram illustrating an exemplary offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 8, an offset position of the object 810 is right relative to the scanning center, so the second detector 122-2 of the second imaging device 122 may be placed on in right direction to ensure that a side plane of the object 810 can be completely covered by the second scanning FOV of the second imaging device 122. In some embodiments, a scanning position capable of maintaining a relative distance between the second detector 122-2 and an object 810 to be minimum may be selected and determined as the second setting position. FIG. 9 is a schematic diagram illustrating an exemplary offset that an object deviates from a scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system according to some embodiments of the present disclosure. As shown in FIG. 9, an offset position of an object 910 is lower relative to a rotation center, so the second detector 122-2 of the second imaging device 122 may be placed in the lower direction to ensure that the object 910 can be completely covered by the second scanning FOV of the second imaging device 122. In some embodiments, a scanning position capable of maintaining a relative distance between the second detector 122-2 and the object 910 to be the minimum may be selected and determined as the second setting position.

[0098] In some embodiments, when the second imaging device 122 is located at the second setting position, a center of the object may be located within a first sub-FOV with a larger FOV or on a contour of the first sub-FOV, such that most of the object may be located within the first sub-FOV, and the rest portion of the object may be located within a second sub-FOV with a smaller FOV, thereby ensuring that the second imaging device 122 performs a complete scan of the object. For example, as shown in FIG. 5, the center of the object 510 may be located within the first sub-FOV of the second scanning device 122. As shown in FIG. 9, the center of the object 910 may be located within the first sub-FOV of the second scanning device 122.

[0099] In some embodiments, the first setting position and the second setting position may be determined based on the offset via a determination model.

[0100] The determination model may be a machine learning model. The determination model may be a neural networks (NN) model, or other models, such as a deep neural network (DNN) model.

[0101] In some embodiments, an input of the determination model may include the offset the object that deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system. An output of the determination model may include the first setting position and the second setting position.

[0102] In some embodiments, the determination model may be obtained by training a plurality of training samples with labels. For example, the plurality of training samples may be input into an initial determination model, a value of a loss function may be determined via the labels and an output of the initial determination model, and parameters of the initial determination model may be iteratively updated based on the loss function. When an iterative preset condition is met, the model training may be completed, and a trained determination model may be obtained. The iterative preset condition may include convergence of the loss function, a count of iterations reaching a threshold, etc.

[0103] In some embodiments, the plurality of training samples may include a sample offset of a sample object that deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system when a historical scanning and imaging process was performed on the sample object. The labels may include a sample first setting position and a sample second setting position corresponding to a set of training samples. In some embodiments, the plurality of training samples and the labels corresponding to the plurality of training samples may be obtained based on historical data.

[0104] In some embodiments of the present disclosure, the first setting position and the second setting position are determined by processing the offset via the determination model, the influence of a plurality of factors can be considered simultaneously, making the determination of the first setting position and the second setting position efficient and accurate, thereby avoiding errors caused by manual determination.

[0105] In some embodiments of the present disclosure, the offset of the object is determined based on the spatial parameter of the object, and the first setting position and the second setting position are determined, which ensures that the first scanning FOV of the first imaging device and the second scanning FOV of the second imaging device can completely cover the front plane and the side plane of the object, thereby ensuring the scanning accuracy. In addition, the complete scan image can be obtained by only one scan, thereby improving the scanning efficiency.

[0106] In 330, the object may be scanned according to the scanning scheme.

[0107] In some embodiments, the positioning component 130 may be controlled to adjust the first imaging device 121 to move to the first setting position and adjust the second imaging device 122 to move to the second setting position, and then the first imaging device 121 and the second imaging device 122 may be controlled to perform a scanning and imaging process on the object.

[0108] In some embodiments, the scanning scheme may further include a target scanning position of the object. The target scanning position refers to a position of the object when the scanning and imaging process is performed on the object.

[0109] In some embodiments, the processor may determine an offset of the object that deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on a spatial parameter of a current position of the object; and determine the target scanning position based on the offset. More descriptions regarding determining the offset based on the spatial parameter may be found in the operation 320, which are not repeated here.

[0110] In some embodiments, the processor may select a position that can be completely covered by a first scanning FOV of the first imaging device 121 and a second scanning FOV of the second imaging device 122 based on the offset, and determine the position as the target scanning position. For example, the scanning center or a position near the scanning center may be selected and determined as the target scanning position.

[0111] In some embodiments, determining the target scanning position based on the offset may include: determining the target scanning position when the offset is greater than a preset threshold. An offset corresponding to the target scanning position may be less than or equal to the preset angle threshold. Or, the target scanning position may be determined to be the current position of the object when the offset is less than or equal to the preset threshold.

[0112] When the offset of the object is greater than the preset threshold, it means that an offset amplitude of the object exceeds the FOV of the first imaging device 121 and the second imaging device 122. In this case, the object may be moved to the target scanning position where the offset corresponding to the target scanning position is less than or equal to the preset threshold, such that the object can be completely covered by the scanning FOV of the first imaging device 121 and the second imaging device 122, and the object with a large offset amplitude can also be completely scanned. When the offset is less than or equal to the preset threshold, it means that the offset amplitude of the object does not exceed the FOV of the first imaging device 121 and the second imaging device 122, the object can be completely covered by the scanning FOV of the first imaging device 121 and the second imaging device 122, and the object can be completely scanned. In some embodiments, when the offset includes an offset angle, the preset threshold includes a preset angle threshold, and when the offset includes an offset distance, the preset threshold includes a preset distance threshold.

[0113] In some embodiments, when the target scanning position is determined, a new spatial parameter of the object may be obtained after the object is adjusted to move to the target scanning position. The processor may determine a new offset that the object deviates from the scanning center of a dual-source CT system or a multi-source CT system based on the new spatial parameter, and determine the first setting position and the second setting position based on the new offset. It should be noted that when the target scanning position is determined to be the current position of the object, the new spatial parameter may be determined to be the spatial parameter of the current position, and the new offset may be determined to be the offset of the current position. For more details on determining the first setting position and the second setting position, please refer to the related descriptions of the operation 310 and the operation 320, which will not be repeated here.

[0114] In some embodiments, the object may be adjusted to move to the target scanning position by controlling the scanning bed 110 to move or adjusting via an adjustment mechanism of the scanning bed 110. When the object is moved to the position, the imaging component 120 may be controlled to perform the scanning and imaging process on the object.

[0115] In some embodiments of the present disclosure, when the scanning bed 110 can move freely within the scanning gantry of the dual-source CT system or the multi-source CT system, the position of the object is adjusted by moving the scanning bed 110 or adjusting via the adjustment mechanism of the scanning bed 110, such that the first scanning FOV of the first imaging device 121 and the second scanning FOV of the second imaging device 122 can completely cover the object on the scanning bed 100, thereby improving the scanning accuracy. In addition, multiple-times of scans are not required, and the complete scan of the object can be realized by only one-time scan, thereby improving the scanning efficiency.

[0116] Some embodiments of the present disclosure provide a CT topogram scan system, the CT topogram scan system includes an acquisition module, a determination module and a scanning module. The acquisition module is used to obtain a spatial parameter of an object. The determination module is used to determine a scanning scheme based on the spatial parameter. The scanning module is used to scan the object according to the scanning scheme.

[0117] Some embodiments of the present disclosure provide a CT topogram scan device. The CT topogram scan device includes a processor, the processor is used to execute the CT topogram scan method.

[0118] Some embodiments of the present disclosure provide a computer device. The computer device may be a server. A schematic diagram illustrating an internal structure diagram of the computer device is shown in FIG. 10. The computer device may include a processor, a storage device, an input / output interface (input / output, referred to as I / O) , and a communication interface. The processor, the storage device, and the I / O may be connected through a system bus. The communication interface may be connected to the system bus via the I / O. The processor of the computer device may be configured to provide computing and control capabilities. The storage device of the computer device may include a non-volatile storage medium and an internal memory. The non-volatile storage medium may store an operating system, computer programs, and a database. The internal memory may be configured provide an environment for the operation of the operating system and the computer programs in the non-volatile storage medium. The database of the computer device may be configured to store scan data. The I / O of the computer device may be configured to exchange information between the processor and an external device. The communication interface of the computer device may be configured to communicate with an external terminal through a network connection. When the computer programs are executed by the processor, the CT topogram scan method may be implemented.

[0119] Those skilled in the art understand that the structure shown in FIG. 10 is merely a block diagram of a partial structure related to the solution of the present disclosure, and does not constitute a limitation on the computer device to which the solution of the present disclosure is applied. The specific computer device may include more or fewer components than shown in the figure, or combine certain components, or have a different arrangement of components.

[0120] Having thus described the basic concepts, it may be rather apparent to those skilled in the art after reading this detailed disclosure that the foregoing detailed disclosure is intended to be presented by way of example only and is not limiting. Various alterations, improvements, and modifications may occur and are intended to those skilled in the art, though not expressly stated herein. These alterations, improvements, and modifications are intended to be suggested by this disclosure and are within the spirit and scope of the exemplary embodiments of this disclosure.

[0121] Moreover, certain terminology has been used to describe embodiments of the present disclosure. For example, the terms “one embodiment, ” “an embodiment, ” and “some embodiments” mean that a particular feature, structure, or feature described in connection with the embodiment is included in at least one embodiment of the present disclosure. Therefore, it is emphasized and should be appreciated that two or more references to “an embodiment” or “one embodiment” or “an alternative embodiment” in various portions of this specification are not necessarily all referring to the same embodiment. Furthermore, the particular features, structures, or features may be combined as suitable in one or more embodiments of the present disclosure.

[0122] Similarly, it should be appreciated that in the foregoing description of embodiments of the present disclosure, various features are sometimes grouped together in a single embodiment, figure, or description thereof for the purpose of streamlining the disclosure aiding in the understanding of one or more of the various embodiments. This method of disclosure, however, is not to be interpreted as reflecting an intention that the claimed subject matter requires more features than are expressly recited in each claim. Rather, claimed subject matter may lie in less than all features of a single foregoing disclosed embodiment.

[0123] In some embodiments, the numerical parameters used in the description and claims are approximate values, and the approximate values may be changed according to the required features of individual embodiments. In some embodiments, the numerical parameters should consider the prescribed effective digits and adopt the method of general digit retention. Although the numerical ranges and parameters used to confirm the breadth of the range in some embodiments of the present disclosure are approximate values, in specific embodiments, settings of such numerical values are as accurate as possible within a feasible range.

[0124] For each patent, patent application, patent application publication, or other materials cited in the present disclosure, such as articles, books, specifications, publications, documents, or the like, the entire contents of which are hereby incorporated into the present disclosure as a reference. The application history documents that are inconsistent or conflict with the content of the present disclosure are excluded, and the documents that restrict the broadest scope of the claims of the present disclosure (currently or later attached to the present disclosure) are also excluded. It should be noted that if there is any inconsistency or conflict between the description, definition, and / or use of terms in the auxiliary materials of the present disclosure and the content of the present disclosure, the description, definition, and / or use of terms in the present disclosure is subject to the present disclosure.

[0125] Finally, it should be understood that the embodiments described in the present disclosure are only used to illustrate the principles of the embodiments of the present disclosure. Other variations may also fall within the scope of the present disclosure. Therefore, as an example and not a limitation, alternative configurations of the embodiments of the present disclosure may be regarded as consistent with the teaching of the present disclosure. Accordingly, the embodiments of the present disclosure are not limited to the embodiments introduced and described in the present disclosure explicitly.

Claims

1.A CT topogram scan method, applied to a dual-source CT system or a multi-source CT system, wherein the dual-source CT system or the multi-source CT system includes a first imaging device and a second imaging device, and the CT topogram scan method comprises:obtaining a spatial parameter of an object;determining a scanning scheme based on the spatial parameter, wherein in the scanning scheme, the object is located within a first scanning field of view (FOV) of the first imaging device, and the object is located within a second scanning FOV of the second imaging device; andscanning the object according to the scanning scheme.2.The CT topogram scan method of claim 1, wherein the dual-source CT system or the multi-source CT system includes one or more position sensors, and the obtaining the spatial parameter of the object includes:obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors.3.The CT topogram scan method of claim 2, wherein at least one of the one or more position sensors is disposed on a scanning bed, the object is located on the scanning bed.4.The CT topogram scan method of claim 2 or 3, wherein the one or more position sensors include a camera fixed on a top of the dual-source CT system or the multi-source CT system, and the obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors includes:obtaining the spatial parameter by imaging the object by the camera.5.The CT topogram scan method of any one of claims 2-4, wherein the one or more position sensors include a first sensor fixed on a top of the dual-source CT system or the multi-source CT system and a second sensor fixed on a side of the dual-source CT system or the multi-source CT system, the spatial parameter includes a horizontal parameter and a height parameter, andthe obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors includes:obtaining the horizontal parameter based on the first sensor; andobtaining the height parameter based on the second sensor.6.The CT topogram scan method of any one of claims 2-5, wherein the one or more position sensors include a third sensor configured with a degree of freedom to rotate around the dual-source CT system or the multi-source CT system, the spatial parameter includes a horizontal parameter and a height parameter, andthe obtaining the spatial parameter of the object via the one or more position sensors includes:obtaining the horizontal parameter by controlling the third sensor to move to a first preset position; andobtaining the height parameter by controlling the third sensor to move to a second preset position.7.The CT topogram scan method of any one of claims 1-7, wherein the scanning scheme includes a first setting position of the first imaging device and a second setting position of the second imaging device, andthe determining the scanning scheme based on the spatial parameter includes:determining an offset that the object deviates from a scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter; anddetermining the first setting position and the second setting position based on the offset.8.The CT topogram scan method of claim 7, wherein the offset includes an offset direction, and the determining the first target scanning position and the second setting position based on the offset includes:determining the first target scanning position and the second setting position based on the offset direction.9.The CT topogram scan method of claim 7 or 8, wherein the offset includes an offset angle, andthe determining the offset that the object deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter includes:determine a position of the object based on the spatial parameters; anddetermine an angle between a line connecting the object and the scanning center and a reference direction, wherein the angle is the offset angle.10.The CT topogram scan method of any one of claims 7-9, wherein the offset includes an offset distance, andthe determining the offset that the object deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter includes:determining a position of the object based on the spatial parameter; anddetermining a length of a line connecting the object and the scanning center based on the position of the object, wherein the length is the offset distance.11.The CT topogram scan method of claim any one of claims 7-10, wherein the determining the first setting position and the second setting position based on the offset includes:determining the second setting position based on the offset; anddetermining the first setting position based at least on the second setting position.12.The CT topogram scan method of claim 11, wherein the offset includes an offset direction, andthe determining the first setting position based at least on the second setting position includes:determine a direction and a position of the first scanning FOV based on the offset direction and the second setting position; anddetermining the first setting position based on the direction and the position of the first scanning FOV.13.The CT topogram scan method of claim 11, wherein a relative position between the first imaging device and the second imaging device remains constant, andthe determining the first setting position based at least on the second setting position includes:determining the first setting position based on the second setting position and the relative position between the first imaging device and the second imaging device.14.The CT topogram scan method of any one of claims 11-13, wherein the second scanning FOV is less than or equal to the first scanning FOV, the second scanning FOV includes a first sub-FOV and a second sub-FOV, the first sub-FOV being greater than or equal to the second sub-FOV, andat the second setting position, a center of the object is located within the first sub-FOV or on a contour of the first sub-FOV.15.The CT topogram scan method of claim 14, wherein the offset includes an offset direction, andthe determining the second setting position based on the offset includes:determining a direction and a position of the first sub-FOV based on the offset direction; anddetermining the second setting position based on the direction and the position of the first sub-FOV.16.The CT topogram scan method of any one of claims 7-15, wherein the determining the first setting position and the second setting position based on the offset includes:determining the first setting position and the second setting position based on the offset through a determination model, the determination model being a machine learning model.17.The CT topogram scan method of any one of claims 7-16, wherein the scanning the object according to the scanning scheme includes:scanning the object by adjusting the first imaging device to move to the first setting position, and adjusting the second imaging device to move to the second setting position.18.The CT topogram scan method of any one of claims 1-17, wherein the scanning scheme includes a target scanning position of the object, andthe determining the scanning scheme based on the spatial parameter of the object includes:determining an offset that the object deviates from a scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the spatial parameter;determining the target scanning position based on the offset;obtaining a new spatial parameter of the target scanning position by adjusting the object to move to the target scanning position;determining a new offset that the object deviates from the scanning center of the dual-source CT system or the multi-source CT system based on the new spatial parameter; anddetermining the first setting position and the second setting position based on the new offset.19.The CT topogram scan method of claim 18, wherein the determining the target scanning position based on the offset includes:in response to determining that the offset is greater than a preset threshold, determining the target scanning position, wherein an offset corresponding to the target scanning position is less than or equal to the preset threshold; or,in response to determining that the offset is less than or equal to the preset threshold, determining that the target scanning position is a current position of the object, the new spatial parameter is the spatial parameter of the current position, and the new offset is an offset of the current position.20.A CT topogram scan system, applied to a dual-source CT system or a multi-source CT system, wherein the dual-source CT system or the multi-source CT system includes a first imaging device and a second imaging device, andthe CT topogram scan system includes: an acquisition module, a determination module and a scanning module, whereinthe acquisition module is used to obtain a spatial parameter of an object;the determination module is used to determine a scanning scheme based on the spatial parameter, wherein in the scanning scheme, the object is located within a first scanning field of view (FOV) of the first imaging device, and the object is located within a second scanning FOV of the second imaging device;the scanning module is used to scan the object according to the scanning scheme.21.A CT topogram scan device, including a processor, whereinthe processor is configured to execute the CT topogram scan method of any one of claims 1 to 19.

Images