Crystalline forms of a selective c-kit kinase inhibitor

Abstract

Provided herein are various forms and compositions of N- (5- (5-((1R, 2S) -2-fluorocyclopropyl) -1, 2, 4-oxadiazol-3-yl) -2-methylphenyl) -7- ( (2-hydroxy-2-methylpropoxy) methyl) imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxamide useful as a selective inhibitor of c-kit kinase and uses of the same in the treatment of c-kit kinase associated diseases.

Description

CRYSTALLINE FORMS OF A SELECTIVE C-KIT KINASE INHIBITORCROSS-REFERENCE TO RELATED APPLICATION

[0001] This application claims the benefit of International Patent Application No. PCT / CN2024 / 099053, filed June 13, 2024, the contents of which is herein incorporated by reference in its entirety.FIELD OF THE INVENTION

[0002] The present disclosure relates generally to various forms and compositions of N- (5- (5- ( (1R, 2S) -2-fluorocyclopropyl) -1, 2, 4-oxadiazol-3-yl) -2-methylphenyl) -7- ( (2-hydroxy-2-methylpropoxy) methyl) imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxamide useful as a selective inhibitor of c-kit kinase and uses of the same in the treatment of c-kit kinase associated diseases.BACKGROUND

[0003] N- (5- (5- ( (1R, 2S) -2-fluorocyclopropyl) -1, 2, 4-oxadiazol-3-yl) -2-methylphenyl) -7- ( (2-hydroxy-2-methylpropoxy) methyl) imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxamide is a selective inhibitor of c-kit kinase, useful for the depletion of mast cells and thus is useful for treating mast-cell associated diseases including asthma, allergic rhinitis, pulmonary arterial hypertension (PAH) , pulmonary fibrosis, hepatic fibrosis, cardiac fibrosis, scleroderma, irritable bowel syndrome (IBS) , inflammatory bowel disease (IBD) , urticaria, dermatosis, atopic dermatitis, allergic contact dermatitis, rheumatoid arthritis, multiple sclerosis, melanoma, a gastrointestinal stromal tumor, a mast cell tumor, mastocytosis, anaphylactic syndrome, food allergy, type I diabetes and type II diabetes.

[0004] There remains a need in the art for novel compounds, chemical forms, compositions and methods for treating mast-cell associated diseases.SUMMARY OF THE INVENTION

[0005] It has now been found that novel forms of the present disclosure, and compositions thereof, are useful as selective inhibitor of c-kit kinase and exhibit desirable characteristics for the same. In general, salt forms or freebase forms, and pharmaceutically acceptable compositions thereof, are useful for treating or lessening the severity of a variety of diseases or disorders as described in detail herein.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

[0006] Figure 1-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-A of compound 1.

[0007] Figure 1-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-A of compound 1.

[0008] Figure 1-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-A of compound 1.

[0009] Figure 1-A-4 depicts a dynamic vapor sorption (DVS) isotherm plot of Form 1-A of compound 1.

[0010] Figure 1-B-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-B of compound 1.

[0011] Figure 1-B-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-B of compound 1.

[0012] Figure 1-B-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-B of compound 1.

[0013] Figure 1-C-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-C of compound 1.

[0014] Figure 1-C-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-C of compound 1.

[0015] Figure 1-C-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-C of compound 1.

[0016] Figure 1-E-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-E of compound 1.

[0017] Figure 1-E-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-E of compound 1.

[0018] Figure 1-E-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-E of compound 1.

[0019] Figure 1-F-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-F of compound 1.

[0020] Figure 1-F-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-F of compound 1.

[0021] Figure 1-F-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-F of compound 1.

[0022] Figure 1-G-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-G of compound 1.

[0023] Figure 1-H-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-H of compound 1.

[0024] Figure 1-H-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-H of compound 1.

[0025] Figure 1-H-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-H of compound 1.

[0026] Figure 1-I-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-I of compound 1.

[0027] Figure 1-J-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-J of compound 1.

[0028] Figure 1-K-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-K of compound 1.

[0029] Figure 1-L-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-L of compound 1.

[0030] Figure 1-L-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-L of compound 1.

[0031] Figure 1-L-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-L of compound 1.

[0032] Figure 1-M-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-M of compound 1.

[0033] Figure 1-M-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-M of compound 1.

[0034] Figure 1-M-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-M of compound 1.

[0035] Figure 1-N-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-N of compound 1.

[0036] Figure 1-N-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-N of compound 1.

[0037] Figure 1-O-1 depicts an XRPD pattern of Form 1-O of compound 1.

[0038] Figure 1-O-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 1-O of compound 1.

[0039] Figure 1-O-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 1-O of compound 1.

[0040] Figure 2-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 2-A of compound 2.

[0041] Figure 2-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 2-A of compound 2.

[0042] Figure 2-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 2-A of compound 2.

[0043] Figure 2-E-1 depicts an XRPD pattern of Form 2-E of compound 2.

[0044] Figure 3-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 3-A of compound 3.

[0045] Figure 3-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 3-A of compound 3.

[0046] Figure 3-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 3-A of compound 3.

[0047] Figure 4-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 4-A of compound 4.

[0048] Figure 4-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 4-A of compound 4.

[0049] Figure 4-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 4-A of compound 4.

[0050] Figure 4-B-1 depicts an XRPD pattern of Form 4-B of compound 4.

[0051] Figure 4-B-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 4-B of compound 4.

[0052] Figure 4-B-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 4-B of compound 4.

[0053] Figure 5-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 5-A of compound 5.

[0054] Figure 5-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 5-A of compound 5.

[0055] Figure 5-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 5-A of compound 5.

[0056] Figure 6-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 6-A of compound 6.

[0057] Figure 6-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 6-A of compound 6.

[0058] Figure 6-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 6-A of compound 6.

[0059] Figure 7-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 7-A of compound 7.

[0060] Figure 7-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 7-A of compound 7.

[0061] Figure 7-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 7-A of compound 7.

[0062] Figure 7-B-1 depicts an XRPD pattern of Form 7-B of compound.

[0063] Figure 7-B-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 7-B of compound 7.

[0064] Figure 7-B-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 7-B of compound 7.

[0065] Figure 7-C-1 depicts an XRPD pattern of Form 7-C of compound 7.

[0066] Figure 7-C-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 7-C of compound 7.

[0067] Figure 7-C-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 7-C of compound 7.

[0068] Figure 8-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 8-A of compound.

[0069] Figure 8-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 8-A of compound 8.

[0070] Figure 8-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 8-A of compound 8.

[0071] Figure 8-B-1 depicts an XRPD pattern of Form 8-B of compound 8.

[0072] Figure 8-B-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 8-B of compound 8.

[0073] Figure 8-B-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 8-B of compound 8.

[0074] Figure 9-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 9-A of compound.

[0075] Figure 9-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 9-A of compound 9.

[0076] Figure 9-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 9-A of compound 9.

[0077] Figure 9-B-1 depicts an XRPD pattern of Form 9-B of compound 9.

[0078] Figure 9-B-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 9-B of compound 9.

[0079] Figure 9-B-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 9-B of compound 9.

[0080] Figure 9-C-1 depicts an XRPD pattern of Form 9-C of compound 9.

[0081] Figure 9-C-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 9-C of compound 9.

[0082] Figure 9-C-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 9-C of compound 9.

[0083] Figure 10-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 10-A of compound 10.

[0084] Figure 10-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 10-A of compound 10.

[0085] Figure 10-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 10-A of compound 10.

[0086] Figure 11-A-1 depicts an XRPD pattern of Form 11-A of compound 11.

[0087] Figure 11-A-2 depicts a DSC thermogram and TGA trace of Form 11-A of compound 11.

[0088] Figure 11-A-3 depicts a 1H-NMR spectrum of Form 11-A of compound 11.DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTIONGeneral Description of Certain Aspects of the Invention:

[0089] The present disclosure is based at least in part on the identification of a compound that modulates c-kit kinase and methods of using the same to treat c-kit kinase associated diseases. Disclosed herein is compound 1, and salts and solid forms thereof:

[0090] Compound 1, i.e., N- (5- (5- ( (1R, 2S) -2-fluorocyclopropyl) -1, 2, 4-oxadiazol-3-yl) -2-methylphcnyl) -7- ( (2-hydroxy-2-methylpropoxy) methyl) imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxamide, is active in a variety of assays and therapeutic models, acting as a selective inhibitor of c-kit kinase. Compound 1 has been previously disclosed as Compound I-71 in PCT / US2023 / 082895 filed on December 7, 2023, incorporated herein in its entirety, as are methods of making and using the same.

[0091] It would be desirable to provide a solid form of compound 1 (e.g., as a freebase thereof or salt thereof) that imparts characteristics such as improved aqueous solubility, stability and ease of formulation. Accordingly, the present disclosure provides both free base forms and salt forms of compound 1. Forms of Compound I (Free Base)

[0092] It is contemplated that compound 1 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 1 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 1 is in solid form. When compound 1 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0093] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 1 substantially free of impurities. As used herein, the term "substantially free of impurities" means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 1, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 1. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 1 is present. In still other embodirnents of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 1 is present.

[0094] According to one embodiment, a form of compound 1 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 1 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 1 contains no more than about 1.0 area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0095] The structure depicted for a form of compound 1 is also meant to include all tautomeric forms of compound 1. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0096] It has been found that compound 1 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0097] As used herein, the term "polymorph" refers to the different crystal structures into which a compound, or a salt or solvate thereof, can crystallize.

[0098] In certain embodiments, compound 1 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 1 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 1. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 1” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 1. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 1 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 1 is present.

[0099] It has been found that the free base compound 1 can exist in at least thirteen distinct polymorphic forms. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-A. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-B. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-C. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-E. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-F. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-G. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-H. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-I. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-J. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-K. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-L. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-M. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-N. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 1 referred to herein as Form 1-O.

[0100] In some embodiments, compound 1 is amorphous. In some embodiments, compound 1 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 1. Form 1-A of Compound 1

[0101] In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 1 below. Table 1 -XRPD Peak Positions for Form 1-A of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0102] In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, and about 23.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, and about 23.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, and about 23.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, and about 23.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, about and 23.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has six peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, and about 23.6 degrees 2-theta.

[0103] In some embodiments, Form 1-A of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 1 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-A-1.

[0104] Methods for preparing Form 1-A of compound 1 are described infra.

[0105] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-A of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0106] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-A of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0107] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-A of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-A of compound 1 or a composition thereof. Form 1-B of Compound 1

[0108] In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 2 below. Table 2 -XRPD Peak Positions for Form 1-B of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0109] In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has seven peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta. As used herein, the term "about" , when used in reference to a degree 2-theta value refers to the stated value ± 0.2 degree 2-theta.

[0110] In some embodiments, Form 1-B of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 2 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-B-1.

[0111] Methods for preparing Form 1-B of compound 1 are described infra.

[0112] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-B of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0113] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-B of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0114] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-B of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-B of compound 1 or a composition thereof. Form 1-C of Compound 1

[0115] In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 3 below. Table 3 -XRPD Peak Positions for Form 1-C of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0116] In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, and about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, about 22.3 degrees 2-theta.

[0117] As used herein, the term "about" , when used in reference to a degree 2-theta value refers to the stated value ± 0.2 degree 2-theta. In some embodiments, Form 1-C of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 3 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-C-1.

[0118] Methods for preparing Form 1-C of compound 1 are described infra.

[0119] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-C of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0120] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-C of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0121] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-C of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-C of compound 1 or a composition thereof. Form 1-E of Compound 1

[0122] In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 4 below. Table 4 -XRPD Peak Positions for Form 1-E of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0123] In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta. As used herein, the term "about" , when used in reference to a degree 2-theta value refers to the stated value ± 0.2 degree 2-theta.

[0124] In some embodiments, Form 1-E of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 4 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-E-1.

[0125] Methods for preparing Form 1-E of compound 1 are described infra.

[0126] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-E of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0127] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-E of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0128] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-E of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-E of compound 1 or a composition thereof. Form 1-F of Compound 1

[0129] In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 5 below. Table 5 -XRPD Peak Positions for Form 1-F of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0130] In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta. As used herein, the term "about" , when used in reference to a degree 2-theta value refers to the stated value ± 0.2 degree 2-theta.

[0131] In some embodiments, Form 1-F of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 5 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-F-1.

[0132] Methods for preparing Form 1-F of compound 1 are described infra.

[0133] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-F of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0134] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-F of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0135] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-F of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-F of compound 1 or a composition thereof. Form 1-G of Compound 1

[0136] In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 6 below. Table 6 -XRPD Peak Positions for Form 1-G of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0137] In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has nineor more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta. As used herein, the term "about" , when used in reference to a degree 2-theta value refers to the stated value ± 0.2 degree 2-theta.

[0138] In some embodiments, Form 1-G of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 6 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-G-1.

[0139] Methods for preparing Form 1-G of compound 1 are described infra.

[0140] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1 -G of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0141] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1 -G of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0142] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1 -G of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-G of compound 1 or a composition thereof. Form 1-H of Compound 1

[0143] In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 7 below. Table 7 -XRPD Peak Positions for Form 1-H of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0144] In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta.

[0145] In some embodiments, Form 1-H of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 7 having a relative intensity greater than 1%, 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-H-1.

[0146] Methods for preparing Form 1-H of compound 1 are described infra.

[0147] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1 -H of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0148] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-H of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0149] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1 -H of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-H of compound 1 or a composition thereof. Form 1-I of Compound 1

[0150] In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 8 below. Table 8 -XRPD Peak Positions for Form 1-I of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0151] In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta.

[0152] In some embodiments, Form 1-I of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 8 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-I-1.

[0153] Methods for preparing Form 1-I of compound 1 are described infra.

[0154] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-I of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0155] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-I of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0156] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-I of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-I of compound 1 or a composition thereof. Form 1-J of Compound 1

[0157] In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 9 below. Table 9 -XRPD Peak Positions for Form 1-J of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0158] In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta.

[0159] In some embodiments, Form 1-J of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 9 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-J-1.

[0160] Methods for preparing Form 1-J of compound 1 are described infra.

[0161] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-J of compound 1 and a pharmaceutically acceptable cartier or excipient.

[0162] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-J of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0163] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-J of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-J of compound 1 or a composition thereof. Form 1-K of Compound 1

[0164] In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 10 below. Table 10 -XRPD Peak Positions for Form 1-K of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0165] In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta.

[0166] In some embodiments, Form 1-K of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 10 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-K-1.

[0167] Methods for preparing Form 1-K of compound 1 are described infra.

[0168] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1 -K of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0169] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-K of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0170] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1 -K of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-K of compound 1 or a composition thereof. Form 1-L of Compound 1

[0171] In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 11 below. Table 11-XRPD Peak Positions for Form 1-L of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0172] In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta.

[0173] In some embodiments, Form 1-L of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 11 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-L-1.

[0174] Methods for preparing Form 1-L of compound 1 are described infra.

[0175] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-L of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0176] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-L of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0177] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-L of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-L of compound 1 or a composition thereof. Form 1-M of Compound 1

[0178] In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 12 below. Table 12 -XRPD Peak Positions for Form 1-M of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0179] In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta.

[0180] In some embodiments, Form 1-M of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 12 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-M-1.

[0181] Methods for preparing Form 1-M of compound 1 are described infra.

[0182] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-M of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0183] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1 -M of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0184] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-M of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-M of compound 1 or a composition thereof. Form 1-N of Compound 1

[0185] In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 13 below. Table 13 -XRPD Peak Positions for Form 1-N of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0186] In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta.

[0187] In some embodiments, Form 1-N of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 13 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-N-1.

[0188] Methods for preparing Form 1-N of compound 1 are described infra.

[0189] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-N of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0190] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-N of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0191] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-N of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-N of compound 1 or a composition thereof. Form 1-O of Compound 1

[0192] In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 14 below. Table 14 -XRPD Peak Positions for Form 1-O of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0193] In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta.

[0194] In some embodiments, Form 1-O of compound 1 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 14 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1-O-1.

[0195] Methods for preparing Form 1-O of compound 1 are described infra.

[0196] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 1-O of compound 1 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0197] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 1-O of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0198] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-O of compound 1 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 1-O of compound 1 or a composition thereof. Forms of Compound 2 (Phosphoric Acid salts of Compound 1)

[0199] According to one embodiment, the present disclosure provides a phosphate salt of compound 1, represented by compound 2:

[0200] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the phosphoric acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 2. In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.1. It is contemplated that compound 2 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 2 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 2 is in solid form. When compound 2 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0201] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 2 substantially free of impurities. As used herein, the term "substantially free of impurities" means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 2, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 2. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 2 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 2 is present.

[0202] According to one embodiment, a form of compound 2 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 2 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 2 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0203] The structure depicted for a form of compound 2 is also meant to include all tautomeric forms of compound 2. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0204] It has been found that compound 2 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0205] In certain embodiments, compound 2 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 2 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 2. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 2” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 2. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 2 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 2 is present.

[0206] It has been found that compound 2 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 2 referred to herein as Form 2-A. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 2 referred to herein as Form 2-E.

[0207] In some embodiments, compound 2 is amorphous. In some embodiments, compound 2 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 2. Form 2-A of Compound 2

[0208] In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 15 below. Table 15 -XRPD Peak Positions for Form 2-A of Compound 2 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0209] In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta.

[0210] In some embodiments, Form 2-A of compound 2 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 15 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 2-A-1.

[0211] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.1.

[0212] Methods for preparing Form 2-A of compound 2 are described infra.

[0213] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 2-A of compound 2 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0214] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 2-A of compound 2 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0215] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 2-A of compound 2 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 2-A of compound 2 or a composition thereof. Form 2-E of Compound 2

[0216] In some embodiments, Form 2-E of compound 2 is a form having at least 1, 2, 3, or 4 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 16 below. Table 16 -XRPD Peak Positions for Form 2-E of Compound 2 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0217] In some embodiments, Form 2-E of compound 2 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 10.8, about 20.0, and about 20.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-E of compound 2 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 10.8, about 20.0, and about 20.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-E of compound 2 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 10.8, about 20.0, and about 20.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 2-E of compound 2 is characterized in that it has four in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 10.8, about 20.0, and about 20.8 degrees 2-theta.

[0218] In some embodiments, Form 2-E of compound 2 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 16 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 2-E-1.

[0219] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.1.

[0220] Methods for preparing Form 2-E of compound 2 are described infra.

[0221] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 2-E of compound 2 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0222] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 2-E of compound 2 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0223] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 2-E of compound 2 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 2-E of compound 2 or a composition thereof. Forms of Compound 3 (Citric acid salts of Compound 1)

[0224] According to one embodiment, the present disclosure provides a citric acid salt of compound 1, represented by compound 3:

[0225] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the citric acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 3. In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 0.8. It is contemplated that compound 3 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 3 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 3 is in solid form. When compound 3 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0226] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 3 substantially free of impurities. As used herein, the term "substantially free of impurities" means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 3, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 3. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 3 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 3 is present.

[0227] According to one embodiment, a form of compound 3 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 3 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 3 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0228] The structure depicted for a form of compound 3 is also meant to include all tautomeric forms of compound 3. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0229] It has been found that compound 3 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0230] In certain embodiments, compound 3 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 3 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 3. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 3” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 3. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 3 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 3 is present.

[0231] It has been found that compound 3 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 3 referred to herein as Form 3-A.

[0232] In some embodiments, compound 3 is amorphous. In some embodiments, compound 3 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 3. Form 3-A of Compound 3

[0233] In some embodiments, Form 3-A of compound 3 has at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, or 8 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 17 below. Table 17 -XRPD Peak Positions for Form 3-A of Compound 3 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0234] In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has eight peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta.

[0235] In some embodiments, Form 3-A of compound 3 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 17 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 3-A-1.

[0236] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 0.8.

[0237] Methods for preparing Form 3-A of compound 3 are described infra.

[0238] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 3-A of compound 3 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0239] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 3-A of compound 3 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0240] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 3-A of compound 3 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 3-A of compound 3 or a composition thereof. Forms of Compound 4 (Hydrobromic Acid salts of Compound 1)

[0241] According to one embodiment, the present disclosure provides a hydrobromic salt of compound 1, represented by compound 4:

[0242] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the hydrobromic acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 4. In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0. It is contemplated that compound 4 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 4 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 4 is in solid form. When compound 4 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0243] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 4 substantially free of impurities. As used herein, the term "substantially free of impurities" means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 4, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 4. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 4 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight ora form of compound 4 is present.

[0244] According to one embodiment, a form of compound 4 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 4 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 4 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0245] The structure depicted for a form of compound 4 is also meant to include all tautomeric forms of compound 4. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0246] It has been found that compound 4 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0247] In certain embodiments, compound 4 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 4 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 4. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 4” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 4. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 4 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 4 is present.

[0248] It has been found that compound 4 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides polymorphic forms of compound 4 referred to herein Forms 4-A and Form 4-B.

[0249] In some embodiments, compound 4 is amorphous. In some embodiments, compound 4 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 4. Form 4-A of Compound 4

[0250] In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, or 9 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 18 below. Table 18 -XRPD Peak Positions for Form 4-A of Compound 4 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0251] In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.8, about 19.1, about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.8, about 19.1, about 20.3, about 23.8, about 25.3, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has nine peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta.

[0252] In some embodiments, Form 4-A of compound 4 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 18 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 4-A-1.

[0253] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0.

[0254] Methods for preparing Form 4-A of compound 4 are described infra.

[0255] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 4-A of compound 4 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0256] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 4-A of compound 4 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0257] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 4-A of compound 4 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 4-A of compound 4 or a composition thereof. Form 4-B of Compound 4

[0258] In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 19 below. Table 19 -XRPD Peak Positions for Form 4-B of Compound 4 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0259] In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta.

[0260] In some embodiments, Form 4-B of compound 4 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 19 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 4-B-1.

[0261] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0.

[0262] Methods for preparing Form 4-B of compound 4 are described infra.

[0263] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 4-B of compound 4 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0264] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 4-B of compound 4 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0265] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 4-B of compound 4 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 4-B of compound 4 or a composition thereof. Forms of Compound 5 (Hydrochloric acid salts of Compound 1)

[0266] According to one embodiment, the present disclosure provides a hydrochloric acid salt of compound 1, represented by compound 5:

[0267] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the hydrochloric acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 5. In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0. It is contemplated that compound 5 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 5 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 5 is in solid form. When compound 5 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0268] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 5 substantially free of impurities. As used herein, the term ″substantially free of impurities″ means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 5, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 5. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 5 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight or a form of compound 5 is present.

[0269] According to one embodiment, a form of compound 5 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 5 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 5 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0270] The structure depicted for a form of compound 5 is also meant to include all tautomeric forms of compound 5. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0271] It has been found that compound 5 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0272] In certain embodiments, compound 5 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 5 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 5. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 5” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 5. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 5 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 5 is present.

[0273] It has been found that compound 5 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 5 referred to herein as Form 5-A.

[0274] In some embodiments, compound 5 is amorphous. In some embodiments, compound 5 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 5. Form 5-A of Compound 5

[0275] In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 20 below. Table 20 -XRPD Peak Positions for Form 5-A of Compound 5 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0276] In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has nine peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta.

[0277] In some embodiments, Form 5-A of compound 5 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 20 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 5-A-1.

[0278] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0.

[0279] Methods for preparing Form 5-A of compound 5 are described infra.

[0280] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 5-A of compound 5 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0281] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 5-A of compound 5 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0282] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 5-A of compound 5 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 5-A of compound 5 or a composition thereof. Forms of Compound 6 (Malic acid salts of Compound 1)

[0283] According to one embodiment, the present disclosure provides a malic acid of compound 1, represented by compound 6:

[0284] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the malic acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 6. In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0. It is contemplated that compound 6 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 6 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 6 is in solid form. When compound 6 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0285] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 6 substantially free of impurities. As used herein, the term ″substantially free of impurities″ means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 6, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 6. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 6 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 6 is present.

[0286] According to one embodiment, a form of compound 6 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 6 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 6 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0287] The structure depicted for a form of compound 6 is also meant to include all tautomeric forms of compound 6. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0288] It has been found that compound 6 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0289] In certain embodiments, compound 6 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 6 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 6. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 6” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 6. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 6 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 6 is present.

[0290] It has been found that compound 6 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 6 referred to herein as Form 6-A.

[0291] In some embodiments, compound 6 is amorphous. In some embodiments, compound 6 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 6. Form 6-A of Compound 6

[0292] In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 21 below. Table 21-XRPD Peak Positions for Form 6-A of Compound 6 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0293] In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has sevenor more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has ten peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta.

[0294] In some embodiments, Form 6-A of compound 6 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 21 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 6-A-1.

[0295] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.0.

[0296] Methods for preparing Form 6-A of compound 6 are described infra.

[0297] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 6-A of compound 6 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0298] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 6-A of compound 6 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0299] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 6-A of compound 6 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 6-A of compound 6 or a composition thereof. Forms of Compound 7 (Maleic acid salts of Compound 1)

[0300] According to one embodiment, the present disclosure provides a maleate acid salt of compound 1, represented by compound 7:

[0301] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the maleic acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 7. In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 0.3, about 1.1 or about 2.1. It is contemplated that compound 7 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 7 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 7 is in solid form. When compound 7 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0302] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 7 substantially free of impurities. As used herein, the term ″substantially free of impurities″ means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 7, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 7. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 7 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 7 is present.

[0303] According to one embodiment, a form of compound 7 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 7 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 7 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0304] The structure depicted for a form of compound 7 is also meant to include all tautomeric forms of compound 7. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0305] It has been found that compound 7 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0306] In certain embodiments, compound 7 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 7 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 7. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 7” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 7. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 7 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 7 is present.

[0307] It has been found that compound 7 can exist in at least three distinct polymorphic forms. In certain embodiments, the present disclosure provides polymorphic forms of compound 7 referred to herein as Form 7-A, Form 7-B, and Form 7-C.

[0308] In some embodiments, compound 7 is amorphous. In some embodiments, compound 7 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 7. Form 7-A of Compound 7

[0309] In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 22 below. Table 22 -XRPD Peak Positions for Form 7-A of Compound 7 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0310] In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has six peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has seven peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta.

[0311] In some embodiments, Form 7-A of compound 7 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 22 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 7-A-1.

[0312] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 0.3.

[0313] Methods for preparing Form 7-A of compound 7 are described infra.

[0314] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 7-A of compound 7 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0315] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 7-A of compound 7 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0316] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 7-A of compound 7 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 7-A of compound 7 or a composition thereof. Form 7-B of Compound 7

[0317] In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 23 below. Table 23 -XRPD Peak Positions for Form 7-B of Compound 7 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0318] In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has six peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has seven peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta.

[0319] In some embodiments, Form 7-B of compound 7 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 23 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 7-B-1.

[0320] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.1.

[0321] Methods for preparing Form 7-B of compound 7 are described infra.

[0322] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 7-B of compound 7 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0323] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 7-B of compound 7 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0324] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 7-B of compound 7 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a  method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering  to said patient Form 7-B of compound 7 or a composition thereof. Form 7-C of Compound 7

[0325] In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 24 below. Table 24 -XRPD Peak Positions for Form 7-C of Compound 7 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0326] In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta.

[0327] In some embodiments, Form 7-C of compound 7 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 24 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 7-C-1.

[0328] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 2.1.

[0329] Methods for preparing Form 7-C of compound 7 are described infra.

[0330] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 7-C of compound 7 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0331] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 7-C of compound 7 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0332] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 7-C of compound 7 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 7-C of compound 7 or a composition thereof. Forms of Compound 8 (Methanesulfonic acid salts of Compound 1)

[0333] According to one embodiment, the present disclosure provides a methanesulfonic acid salt (mesylate) of compound 1, represented by compound 8:

[0334] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the methanesulfonic acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 8. In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.1. It is contemplated that compound 8 can exist in a variety of physical forms. For example,  compound 8 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 8 is in solid form. When compound 8 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0335] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 8 substantially free of impurities. As used herein, the term "substantially free of impurities" means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 8, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 8. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 8 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 8 is present.

[0336] According to one embodiment, a form of compound 8 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 8 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 8 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0337] The structure depicted for a form of compound 8 is also meant to include all tautomeric forms of compound 8. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0338] It has been found that compound 8 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0339] In certain embodiments, compound 8 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 8 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 8. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 8” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 8. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 8 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 8 is present.

[0340] It has been found that compound 8 can exist in at least two distinct polymorphic forms. In certain embodiments, the present disclosure provides polymorphic forms of compound 8 referred to herein as Form 8-A or Form 8-B.

[0341] In some embodiments, compound 8 is amorphous. In some embodiments, compound 8 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 8. Form 8-A of Compound 8

[0342] In some embodiments, Form 8-A of compound 8 has at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 25 below. Table 25 -XRPD Peak Positions for Form 8-A of Compound 8 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0343] In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta.

[0344] In some embodiments, Form 8-A of compound 8 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 27 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 8-A-1

[0345] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.1.

[0346] Methods for preparing Form 8-A of compound 8 are described infra.

[0347] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 8-A of compound 8 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0348] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 8-A of compound 8 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0349] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 8-A of compound 8 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 8-A of compound 8 or a composition thereof. Form 8-B of Compound 8

[0350] In some embodiments, Form 8-B of compound 8 has at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 26 below. Table 26 -XRPD Peak Positions for Form 8-B of Compound 8 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0351] In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta.

[0352] In some embodiments, Form 8-B of compound 8 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 26 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 8-B-1.

[0353] In certain embodiments, the molar ratio of acid / free base is about 1.1.

[0354] Methods for preparing Form 8-B of compound 8 are described infra.

[0355] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 8-B of compound 8 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0356] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 8-B of compound 8 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0357] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 8-B of compound 8 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 8-B of compound 8 or a composition thereof. Forms of Compound 9 (Oxalic acid salts of Compound 1)

[0358] According to one embodiment, the present disclosure provides an oxalic acid salt (oxalate) of compound 1, represented by compound 9:

[0359] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the oxalic acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 9. In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.0 or about 1.2. It is contemplated that compound 9 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 9 can be in solution, suspension, or in solid fomm. In certain embodiments, compound 9 is in solid form. When compound 9 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0360] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 9 substantially free of impurities. As used herein, the term "substantially free of impurities" means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 9, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 9. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 9 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 9 is present.

[0361] According to one embodiment, a form of compound 9 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 9 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 9 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0362] The structure depicted for a form of compound 9 is also meant to include all tautomeric forms of compound 9. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0363] It has been found that compound 9 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0364] In certain embodiments, compound 9 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 9 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 9. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 9” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 9. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 9 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 9 is present.

[0365] It has been found that compound 9 can exist in at least three distinct polymorphic forms. In certain embodiments, the present disclosure provides polymorphic forms of compound 9 referred to herein as Form 9-A, Form 9-B, or Form 9-C.

[0366] In some embodiments, compound 9 is amorphous. In some embodiments, compound 9 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 9. Form 9-A of Compound 9

[0367] In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is of a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, or 6 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 27 below. Table 27 -XRPD Peak Positions for Form 9-A of Compound 9 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0368] In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has six peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta.

[0369] In some embodiments, Form 9-A of compound 9 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 27 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 9-A-1.

[0370] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.0.

[0371] Methods for preparing Form 9-A of compound 9 are described infra.

[0372] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 9-A of compound 9 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0373] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 9-A of compound 9 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0374] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 9-A of compound 9 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 9-A of compound 9 or a composition thereof. Form 9-B of Compound 9

[0375] In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 28 below. Table 28 -XRPD Peak Positions for Form 9-B of Compound 9 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0376] In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has nine or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has ten or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta.

[0377] In some embodiments, Form 9-B of compound 9 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 28 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 9-B-1.

[0378] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.2.

[0379] Methods for preparing Form 9-B of compound 9 are described infra.

[0380] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 9-B of compound 9 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0381] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 9-B of compound 9 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0382] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 9-B of compound 9 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 9-B of compound 9 or a composition thereof. Form 9-C of Compound 9

[0383] In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 29 below. Table 29 -XRPD Peak Positions for Form 9-C of Compound 9 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2.

[0384] In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has eight or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has nine peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 10.2, about 11.7, about 17.6, about 19.6, about 20.2, about 21.5, about 21.9, and about 23.2 degrees 2-theta.

[0385] In some embodiments, Form 9-C of compound 9 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 29 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 9-C-1.

[0386] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.0.

[0387] Methods for preparing Form 9-C of compound 9 are described infra.

[0388] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 9-C of compound 9 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0389] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 9-C of compound 9 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0390] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 9-C of compound 9 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 9-C of compound 9 or a composition thereof. Forms of Compound 10 (Sulfuric acid salts of Compound 1)

[0391] According to one embodiment, the present disclosure provides a sulfuric acid salt (sulphate) of compound 1, represented by compound 10:

[0392] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the sulfuric acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 10. In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 0.9. It is contemplated that compound 10 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 10 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 10 is in solid form. When compound 10 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0393] In some embodiments, the present disclosure provides a form of compound 10 substantially free of impurities. As used herein, the term ″substantially free of impurities″ means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 10, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 10. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 10 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 10 is present.

[0394] According to one embodiment, a form of compound 10 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 10 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 10 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0395] The structure depicted for a form of compound 10 is also meant to include all tautomeric forms of compound 10. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0396] It has been found that compound 10 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0397] In certain embodiments, compound 10 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 10 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 10. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 10” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 10. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 10 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 10 is present.

[0398] It has been found that compound 10 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 10 referred to herein as Form 10-A.

[0399] In some embodiments, compound 10 is amorphous. In some embodiments, compound 10 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 10. Form 10-A of Compound 10

[0400] In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, or 6 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 30 below. Table 30 -XRPD Peak Positions for Form 10-A of Compound 10 *In this and all subsequent tables, position (°2θ) is within + 0.2.

[0401] In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, and about 24.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, about 24.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, and about 24.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, and about 24.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, and about 24.4 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has six peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, and about 24.4 degrees 2-theta.

[0402] In some embodiments, Form 10-A of compound 10 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 30 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 10-A-1.

[0403] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 0.9.

[0404] Methods for preparing Form 10-A of compound 10 are described infra.

[0405] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 10-A of compound 10 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0406] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 10-A of compound 10 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0407] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 10-A of compound 10 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 10-A of compound 10 or a composition thereof. Forms of Compound 11 (p-Toluenesulfonic acid salts of Compound 1)

[0408] According to one embodiment, the present disclosure provides a p-toluenesulfonic acid salt (tosylate) of compound 1, represented by compound 11:

[0409] It will be appreciated by one of ordinary skill in the art that the tosylate acid and compound 1 are ionically bonded to form compound 11. In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.1. It is contemplated that compound 11 can exist in a variety of physical forms. For example, compound 11 can be in solution, suspension, or in solid form. In certain embodiments, compound 11 is in solid form. When compound 11 is in solid form, said compound may be amorphous, crystalline, or a mixture thereof. Exemplary solid forms are described in more detail below.

[0410] In sornc embodiments, the present disclosure provides a form of compound 11 substantially free of impurities. As used herein, the term ″substantially free of impurities″ means that the compound contains no significant amount of extraneous matter. Such extraneous matter may include different forms of compound 11, residual solvents, or any other impurities that may result from the preparation of, and / or isolation of, compound 11. In certain embodiments, at least about 95%by weight of a form of compound 11 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of a form of compound 11 is present.

[0411] According to one embodiment, a form of compound 11 is present in an amount of at least about 97, 97.5, 98.0, 98.5, 99, 99.5, 99.8 weight percent where the percentages are based on the total weight of the composition. According to another embodiment, a form of compound 11 contains no more than about 3.0 area percent HPLC of total organic impurities and, in certain embodiments, no more than about 1.5 area percent HPLC total organic impurities relative to the total area of the HPLC chromatogram. In other embodiments, a form of compound 11 contains no more than about 1.0%area percent HPLC of any single impurity; no more than about 0.6 area percent HPLC of any single impurity, and, in certain embodiments, no more than about 0.5 area percent HPLC of any single impurity, relative to the total area of the HPLC chromatogram.

[0412] The structure depicted for a form of compound 11 is also meant to include all tautomeric forms of compound 11. Additionally, structures depicted here are also meant to include compounds that differ only in the presence of one or more isotopically enriched atoms. For example, compounds having the present structure except for the replacement of hydrogen by deuterium or tritium, or the replacement of a carbon by a 13C-or 14C-enriched carbon are within the scope of this disclosure.

[0413] It has been found that compound 11 can exist in a variety of solid forms. Exemplary such forms include polymorphs such as those described herein.

[0414] In certain embodiments, compound 11 is a crystalline solid. In other embodiments, compound 11 is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 11. As used herein, the term “substantially free of amorphous compound 11” means that the compound contains no significant amount of amorphous compound 11. In certain embodiments, at least about 95%by weight of crystalline compound 11 is present. In still other embodiments of the disclosure, at least about 99%by weight of crystalline compound 11 is present.

[0415] It has been found that compound 11 can exist in at least one distinct polymorphic form. In certain embodiments, the present disclosure provides a polymorphic form of compound 11 referred to herein as Form 11-A.

[0416] In some embodiments, compound 11 is amorphous. In some embodiments, compound 11 is amorphous, and is substantially free of crystalline compound 11. Form 11-A of Compound 11

[0417] In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is a form having at least 1, 2, 3, 4, 5, 6, 7, 8, 9, or 10 spectral peak (s) selected from the peaks listed in Table 31 below. Table 31 -XRPD Peak Positions for Form 11-A of Compound 11 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within + 0.2.

[0418] In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has one or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has two or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has three or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has five or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has seven or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta. In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has eight peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta.

[0419] In some embodiments, Form 11-A of compound 11 is characterized in that it has each of the spectral peaks in its X-ray powder diffraction pattern listed in Table 31 having a relative intensity greater than 10%, 20%, 30%or 40%. In certain embodiments, the X-ray powder diffraction pattern is substantially similar to the XRPD provided in Figure 1 1-A-1.

[0420] Methods for preparing Form 11-A of compound 11 are described infra.

[0421] In certain embodiments the molar ratio of acid / free base is about 1.1.

[0422] In some embodiments, the present disclosure provides a composition comprising compound Form 11-A of compound 11 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.

[0423] In some embodiments, the present disclosure provides a method of selectively inhibiting c-kit kinase in a patient comprising administering to said patient Form 11-A of compound 11 or a composition thereof. In some embodiments, the method depletes mast cells, thereby treating mast-cell associated diseases.

[0424] In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 11-A of compound 11 or a composition thereof. In some embodiments, the present disclosure provides a method of treating a mast-cell associated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient Form 11 -A of compound 11 or a composition thereof. General Methods of Providing Compound 1 and salts thereof

[0425] Compound 1 can be prepared according to the scheme provided below:

[0426] Step 1: To a stirred solution of ethyl 7- (hydroxymethyl) imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxylatc (1.00 g, 4.54 mmol) in THF (10 mL) was added potassium tert-butoxide (1.53 g, 13.6 mmol) at 0 ℃. After 0.5 h, 2, 2-dimethyloxirane (654 mg, 9.08 mmol, 2 eq) was added. The mixture was stirred at 25 ℃ for 12 h, then was concentrated in vacuo. The residue obtained was diluted with water (10 mL) and adjusted to pH 6 with aqueous hydrochloric acid (1M) . The residue was washed with ethyl acetate (30 mL x 3) . The aqueous phase was filtered and concentrated under reduced pressure to give a crude residue that was purified by reverse-phase HPLC (0.1%formic acid condition) to give 7- [ (2-hydroxy-2-methyl-propoxy) methyl] imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxylic acid (200 mg, 0.756 mmol, 17%) as a yellow solid. 1H NMR (400 MHz, DMSO-d6) δ= 9.21 (d, J= 7.2 Hz, 1H) , 8.20 (s, 1H) , 8.13 (s, 1H) , 7.71 (s, 1H) , 7.32 -7.05 (m, 1H) , 4.64 (s, 2H) , 4.57 -4.44 (m, 1H) , 3.26 (s, 2H) , 1.12 (s, 6H) .

[0427] Step 2: To a stirred solution of 7- [ (2-hydroxy-2-methyl-propoxy) methyl] imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxylic acid (183 mg, 0.694 mmol) in pyridine (5 mL) was added 1-ethyl-3- (3-dimethylaminopropyl) carbodiimide (221 mg, 1.16 mmol) . The mixture was stirred at 25 ℃ for 0.5 h, then 5- [5- [ (1R, 2S) -2-fluorocyclopropyl] -1, 2, 4-oxadiazol-3-yl] -2-methyl-aniline (135 mg, 0.578 mmol) was added and the mixture heated at 60 ℃ for 4 h. The reaction mixture was cooled then diluted with water (20 mL) and extracted with ethyl acetate (20 mL x 3) . The cornbined organic phases were washed with brine (20 mL X 3) , dried (Na2SO4) , filtered and concentrated under reduced pressure to give a residue that was purified by prep-HPLC (column: Welch Ultimate XB-SiOH 250*50*10um; mobile phase: [Hexane-ethanol (0.1%NH3. H2O) ] ; B%: 1%-35%, 15min) and prep-HPLC (column: Waters Xbridge 150*25mm*5μm; mobile phase: [water (NH4HCO3) -acetonitrile] ; B%: 38%-68%, 8min) to give N- [5- [5- [ (1R, 2S) -2-fluorocyclopropyl] -l, 2, 4-oxadiazol-3-yl] -2-methyl-phenyl] -7- [ (2-hydroxy-2-methyl-propoxy) methyl] imidazo [1, 2-a] pyridine-3-carboxamide (107 mg, 0.221 mmol, 38%) as a white solid.

[0428] 1H NMR (400MHz, DMSO-d6) δ= 10.00 (s, 1H) , 9.40 (d, J= 7.6 Hz, 1H) , 8.56 (s, 1H) , 8.02 (d, J= 1.6 Hz, 1H) , 7.80-7.75 (m, 1H) , 7.72 (s, 1H) , 7.48 (d, J= 8.0 Hz, 1H) , 7.17-7.09 (m, 1H) , 5.42 -5.17 (m, 1H) , 4.65 (s, 2H) , 4.45 (s, 1H) , 3.27 (s, 2H) , 3.13 -2.98 (m, 1H) , 2.35 (s, 3H) , 2.04 -1.85 (m, 1H) , 1.65 -1.52 (m, 1H) , 1.14 (s, 6H) ; MS (ESI) : m / z for C25H26N5O4F [M+H] +calculated: 480.20, [M+H] + found: . 480.3.

[0429] Salt compounds of general formula A, which formula encompasses, inter alia, salt compounds 2-11, and / or particular forms thereof, are prepared from compound 1, according to the methods disclosed in the general Scheme 1 below.

[0430] For instance, compound 2, and forms thereof, are prepared from compound 1 by combining compound 1 with an equimolar corresponding acid (Y) in a solvent, followed by slurry at RT. The resulting suspension was centrifuged to retrieve the solids. Thus, another aspect of the present disclosure provides a method for preparing compounds of Formula A, and forms thereof.

[0431] As described generally above, in some embodiments, the present disclosure provides a method for preparing a salt compound of the general formula A: comprising steps of: combining compound 1: with a suitable acid (B) and optionally a suitable solvent under conditions suitable for forming a  salt of formula A.

[0432] In some embodiments, a suitable acid is selected from phosphoric acid, citric acid, hydrobromic acid, hydrochloric acid, malic acid, maleic acid, methanesulfonic acid, oxalic acid, sulfuric acid, and p-toluenesulfonic acid. Uses of Compounds and Pharmaceutically Acceptable Compositions

[0433] As described generally above, compound 1, and pharmacally acceptable solid forms and salts thereof described herein, are inhibitors of c-kit kinase. The c-kit kinase inhibiting compounds of the present disclosure can, in some embodiments, find use in inhibiting activity of a target c-kit kinase in vitro or in vivo. Aspects of the subject methods include contacting a sample comprising an effective amount of a c-kit kinase inhibiting compound (e.g., as described herein) to determine whether the desired activity exists.

[0434] In one aspect, the present disclosure provides methods for treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a subject in need thereof. In some embodiments, the method comprises administering to the subject in need thereof a therapeutically effective amount of a compound as disclosed herein, i.e., a compound selected from compounds 1-11 and any polymorphic forms thereof. In some embodiments, the disease or disorder is a mast-cell associated disease, a respiratory disease, an inflammatory disorder, an autoimmune disorder, a metabolic disease, a fibrosis disease, or a dermatological disease. In some embodiments, the disease or disorder is asthma, allergic rhinitis, pulmonary arterial hypertension (PAH) , primary pulmonary hypertension (PPH) , pulmonary fibrosis, hepatic fibrosis, cardiac fibrosis, scleroderma, irritable bowel syndrome (IBS) , inflammatory bowel disease (IBD) , urticaria, dermatosis, atopic dermatitis, allergic contact dermatitis, rheumatoid arthritis, multiple sclerosis, melanoma, a gastrointestinal stromal tumor, a mast cell tumor, mastocytosis, anaphylactic syndrome, food allergy, type I diabetes or type II diabetes.

[0435] In another aspect, the present disclosure provides a compound as disclosed herein, i.e., a compound selected from compounds 1-11 and any polymorphic forms thereof, for use in treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a subject in need thereof. In yet another aspect, the present disclosure provides a compound as disclosed herein, i.e., a compound selected from compounds 1-11 and any polymorphic forms thereof, for the manufacture of a medicament for treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a subject in need thereof. In some embodiments, the disease or disorder is a mast-cell associated disease, a respiratory disease, an inflammatory disorder, an autoimmune disorder, a metabolic disease, a fibrosis disease, or a dermatological disease. In some embodiments, the disease or disorder is asthma, allergic rhinitis, pulmonary arterial hypertension (PAH) , primary pulmonary hypertension (PPH) , pulmonary fibrosis, hepatic fibrosis, cardiac fibrosis, scleroderma, irritable bowel syndrome (IBS) , inflammatory bowel disease (IBD) , urticaria, dermatosis, atopic dermatitis, allergic contact dermatitis, rheumatoid arthritis, multiple sclerosis, melanoma, a gastrointestinal stromal tumor, a mast cell tumor, mastocytosis, anaphylactic syndrome, food allergy, type I diabetes or type II diabetes.

[0436] As used herein, the terms ″combination, ″ ″combined, ″ and related terms refer to the simultaneous or sequential administration of therapeutic agents in accordance with this disclosure. For example, a described compound may be administered with another therapeutic agent simultaneously or sequentially in separate unit dosage forms or together in a single unit dosage form. Accordingly, the present disclosure provides a single unit dosage form comprising a described compound, an additional therapeutic agent, and a pharmaceutically acceptable carrier, adjuvant, or vehicle. Two or more agents are typically considered to be administered ″in combination″when a patient or individual is simultaneously exposed to both agents. In many embodiments, two or more agents are considered to be administered ″in combination″when a patient or individual simultaneously shows therapeutically relevant levels of the agents in a particular target tissue or sample (e.g., in brain, in serum, etc. ) .

[0437] When the compounds of this disclosure are administered in combination therapies with other agents, they may be administered sequentially or concurrently to the patient. Alternatively, pharmaceutical or prophylactic compositions according to this disclosure comprise a combination of compound 1, or any other compound described herein, and another therapeutic or prophylactic agent. Additional therapeutic agents that are normally administered to treat a particular disease or condition may be referred to as ″agents appropriate for the disease, or condition, being treated. ″

[0438] In some embodiments, the subject method includes administering a therapeutically effective amount of one or more additional active agents. By combination therapy is meant that a c-kit inhibiting compound can be used in a combination with another therapeutic agent to treat a single disease or condition. In particular embodiments, a compound of the present disclosure is administered concurrently with the administration of another therapeutic agent, which can be administered as a component of a composition including the compound of the present disclosure or as a component of a different composition.

[0439] The subject compounds can be administered in combination with other therapeutic agents in a variety of therapeutic applications. Therapeutic applications of interest for combination therapy include those applications in which activity of a target c-kit kinase is the cause or a compounding factor in disease progression. As such, the subject compounds find use in combination therapies in which the inhibition of a target c-kit kinase in the subject is desired. The compounds utilized in the compositions and methods of this disclosure may also be modified by appending appropriate functionalities to enhance selective biological properties. Such modifications are known in the art and include those, which increase biological penetration into a given biological system (e.g., blood, lymphatic system, or central nervous system) , increase oral availability, increase solubility to allow administration by injection, alter metabolism and / or alter rate of excretion.

[0440] The term ″treatment″ is used interchangeably herein with the term ″therapeutic method″ and refers to both 1) therapeutic treatments or measures that cure, slow down, lessen symptoms of, and / or halt progression of a diagnosed pathologic conditions, disease or disorder, and 2) and prophylactic / preventative measures. Those in need of treatment may include individuals already having a particular medical disease or disorder as well as those who may ultimately acquire the disorder (i.e., those at risk or needing preventive measures) .

[0441] The term “subject” as used herein refers to any individual or patient to which the subject methods are performed. Generally, the subject is human, although as will be appreciated by those in the art, the subject may be an animal.

[0442] The terms “therapeutically effective amount” , “effective dose” , “therapeutically effective dose” , “effective amount, ” or the like refer to the amount of a subject compound that will elicit the biological or medical response in a tissue, system, animal or human that is being sought by administering said compound. Generally, the response is either amelioration of symptoms in a patient or a desired biological outcome. In some embodiments, such amount should be sufficient to inhibit a c-kit kinase.

[0443] In some embodiments, an effective amount of a c-kit inhibiting compound is an amount that ranges from about 50 ng / ml to 50 pg / ml (e.g., from about 50 ng / ml to 40 pg / ml, from about 30 ng / ml to 20 pg / ml, from about 50 ng / ml to 10 μg / ml, from about 50 ng / ml to 1 μg / ml, from about 50 ng / ml to 800 ng / ml, from about 50 ng / ml to 700 ng / ml, from about 50 ng / ml to 600 ng / ml, from about 50 ng / ml to 500 ng / ml, from about 50 ng / ml to 400 ng / ml, from about 60 ng / ml to 400 ng / ml, from about 70 ng / ml to 300 ng / ml, from about 60 ng / ml to 100 ng / ml, from about 65 ng / ml to 85 ng / ml, from about 70 ng / ml to 90 ng / ml, from about 200 ng / ml to 900 ng / ml, from about 200 ng / ml to 800 ng / ml, from about 200 ng / ml to 700 ng / ml, from about 200 ng / ml to 600 ng / ml, from about 200 ng / ml to 500 ng / ml, from about 200 ng / ml to 400 ng / ml, or from about 200 ng / ml to about ng / ml) .

[0444] In some embodiments, an effective amount of a c-kit inhibiting compound is an amount that ranges from about 10 pg to 100 mg, e.g., from about 10 pg to 50 pg, from about 50 pg to 150 pg, from about 150 pg to 250 pg, from about 250 pg to 500 pg, from about 500 pg to 750 pg, from about 750 pg to 1 ng, from about 1 ng to 10 ng, from about 10 ng to 50 ng, from about 50 ng to 150 ng, from about 150 ng to 250 ng, from about 250 ng to 500 ng, from about 500 ng to 750 ng, from about 750 ng to 1 mg, from about 1 pg to 10 pg, from about 10 pg to 50 pg, from about 50 pg to 150 pg, from about 150 pg to 250 pg, from about 250 pg to 500 pg, from about 500 pg to 750 pg, from about 750 pg to 1 mg, from about 1 mg to 50 mg, from about 1 mg to 100 mg, or from about 50 mg to 100 mg. The amount can be a single dose amount or can be a total daily amount. The total daily amount can range from about 10 pg to 100 mg, or can range from about 100 mg to 500 mg, or can range from about 500 mg to 1000 mg.

[0445] Also disclosed herein are pharmaceutical compositions including compounds as disclosed herein e.g., any one of compounds 1-11 and polymorphic forms thereof.

[0446] The term “pharmaceutically acceptable cartier” refers to a non-toxic carrier that may be administered to a patient, together with a compound of this disclosure, and which does not destroy the pharmacological activity thereof. Pharmaceutically acceptable carriers that may be used in these compositions include, but are not limited to, ion exchangers, alumina, aluminum stearate, lecithin, serum proteins such as human serum albumin, buffer substances such as phosphates, glycine, sorbic acid, potassium sorbate, partial glyceride mixtures of saturated vegetable fatty acids, water, salts or electrolytes such as protamine sulfate, disodium hydrogen phosphate, potassium hydrogen phosphate, sodium chloride, zinc salts, colloidal silica, magnesium trisilicate, polyvinyl pyrrolidone, cellulose-based substances, polyethylene glycol, sodium carboxymethylcellulose, polyacrylates, waxes, polyethylene-polyoxypropylene-block polymers, polyethylene glycol and wool fat.

[0447] In pharmaceutical compositions comprising only the compounds described herein as the active component, methods for administering these compositions may additionally comprise the step of administering to the subject an additional agent or therapy. Such therapies include, but are not limited to, an anemia therapy, a diabetes therapy, a hypertension therapy, a cholesterol therapy, neuropharmacologic drugs, drugs modulating cardiovascular function, drugs modulating inflammation, immune function, production of blood cells, hormones and antagonists, drugs affecting gastrointestinal function, chemotherapeutics of microbial diseases, and / or chemotherapeutics of neoplastic disease. Other pharmacological therapies can include any other drug or biologic found in any drug class. For example, other drug classes can comprise allergy / cold / ENT therapies, analgesics, anesthetics, anti-inflammatories, antimicrobials, antivirals, asthma / pulmonary therapies, cardiovascular therapies, dermatology therapies, endocrine / metabolic therapies, gastrointestinal therapies, cancer therapies, immunology therapies, neurologic therapies, ophthalmic therapies, psychiatric therapies or rheumatologic therapies. Other examples of agents or therapies that can be administered with the compounds described herein include a matrix metalloprotease inhibitor, a lipoxygenase inhibitor, a cytokine antagonist, an immunosuppressant, a cytokine, a growth factor, an immunomodulator, a prostaglandin or an anti-vascular hyperproliferation compound.

[0448] The term “therapeutically effective amount” as used herein refers to the amount of active compound or pharmaceutical agent that elicits the biological or medicinal response in a tissue, system, animal, individual or human that is being sought by a researcher, veterinarian, medical doctor or other clinician, which includes one or more of the following: (1) Preventing the disease; for example, preventing a disease, condition or disorder in an individual that may be predisposed to the disease, condition or disorder but does not yet experience or display the pathology or symptomatology of the disease, (2) Inhibiting the disease; for example, inhibiting a disease, condition or disorder in an individual that is experiencing or displaying the pathology or symptomatology of the disease, condition or disorder (i.e., arresting further development of the pathology and / or symptomatology) , and (3) Ameliorating the disease; for example, ameliorating a disease, condition or disorder in an individual that is experiencing or displaying the pathology or symptomatology of the disease, condition or disorder (i.e., reversing the pathology and / or symptomatology) . Pharmaceutically Acceptable Compositions

[0449] The compounds and compositions, according to the method of the present disclosure, are administered using any amount and any route of administration effective for treating or lessening the severity of a disorder provided above. The exact amount required will vary from subject to subject, depending on the species, age, and general condition of the subject, the severity of the infection, the particular agent, its mode of administration, and the like. Compounds of the disclosure are preferably formulated in dosage unit form for ease of administration and uniformity of dosage. The expression ″dosage unit form″ as used herein refers to a physically discrete unit of agent appropriate for the patient to be treated. It will be understood, however, that the total daily usage of the compounds and compositions of the present disclosure will be decided by the attending physician within the scope of sound medical judgment. The specific effective dose level for any particular patient or organism will depend upon a variety of factors including the disorder being treated and the severity of the disorder; the activity of the specific compound employed; the specific composition employed; the age, body weight, general health, sex and diet of the patient; the time of administration, route of administration, and rate of excretion of the specific compound employed; the duration of the treatment; drugs used in combination or coincidental with the specific compound employed, and like factors well known in the medical arts.

[0450] Pharmaceutically acceptable compositions of this disclosure can be administered to humans and other animals orally, rectally, parenterally, intracisternally, intravaginally, intraperitoneally, topically (as by powders, ointments, or drops) , bucally, as an oral or nasal spray, or the like, depending on the severity of the infection being treated. In certain embodiments, the compounds of the disclosure are administered orally or parenterally at dosage levels of about 0.01 mg / kg to about 50 mg / kg and preferably from about 1 mg / kg to about 25 mg / kg, of subject body weight per day, one or more times a day, to obtain the desired therapeutic effect.

[0451] Liquid dosage forms for oral administration include, but are not limited to, pharmaceutically acceptable emulsions, microemulsions, solutions, suspensions, syrups and elixirs. In addition to the active compounds, the liquid dosage forms may contain inert diluents commonly used in the art such as, for example, water or other solvents, solubilizing agents and emulsifiers such as ethyl alcohol, isopropyl alcohol, ethyl carbonate, ethyl acetate, benzyl alcohol, benzyl benzoate, propylene glycol, 1, 3-butylene glycol, dimethyl formamide, oils (in particular, cottonseed, groundnut, corn, germ, olive, castor, and sesame oils) , glycerol, tetrahydrofurfuryl alcohol, polyethylene glycols and fatty acid esters of sorbitan, and mixtures thereof. Besides inert diluents, the oral compositions can also include adjuvants such as wetting agents, emulsifying and suspending agents, sweetening, flavoring, and perfuming agents.

[0452] Injectable preparations, for example, sterile injectable aqueous or oleaginous suspensions may be formulated according to the known art using suitable dispersing or wetting agents and suspending agents. The sterile injectable preparation may also be a sterile injectable solution, suspension or emulsion in a nontoxic parenterally acceptable diluent or solvent, for example, as a solution in 1, 3-butanediol. Among the acceptable vehicles and solvents that may be employed are water, Ringer′s solution, U.S.P. and isotonic sodium chloride solution. In addition, sterile, fixed oils are conventionally employed as a solvent or suspending medium. For this purpose any bland fixed oil can be employed including synthetic mono-or diglycerides. In addition, fatty acids such as oleic acid are used in the preparation of injectables.

[0453] Injectable formulations can be sterilized, for example, by filtration through a bacterial-retaining filter, or by incorporating sterilizing agents in the form of sterile solid compositions which can be dissolved or dispersed in sterile water or other sterile injectable medium prior to use.

[0454] In order to prolong the effect of a compound of the present disclosure, it is often desirable to slow the absorption of the compound from subcutaneous or intramuscular injection. This may be accomplished by the use of a liquid suspension of crystalline or amorphous material with poor water solubility. The rate of absorption of the compound then depends upon its rate of dissolution that, in turn, may depend upon crystal size and crystalline form. Alternatively, delayed absorption of a parenterally administered compound form is accomplished by dissolving or suspending the compound in an oil vehicle. Injectable depot forms are made by forming microencapsule matrices of the compound in biodegradable polymers such as polylactide-polyglycolide. Depending upon the ratio of compound to polymer and the nature of the particular polymer employed, the rate of compound release can be controlled. Examples of other biodegradable polymers include poly (orthoesters) and poly (anhydrides) . Depot injectable formulations are also prepared by entrapping the compound in liposomes or microemulsions that are compatible with body tissues.

[0455] Compositions for rectal or vaginal administration are preferably suppositories which can be prepared by mixing the compounds of this disclosure with suitable non-irritating excipients or carriers such as cocoa butter, polyethylene glycol or a suppository wax which are solid at ambient temperature but liquid at body temperature and therefore melt in the rectum or vaginal cavity and release the active compound.

[0456] Solid dosage forms for oral administration include capsules, tablets, pills, powders, and granules. In such solid dosage forms, the active compound is mixed with at least one inert, pharmaceutically acceptable excipient or carrier such as sodium citrate or dicalcium phosphate and / or a) fillers or extenders such as starches, lactose, sucrose, glucose, mannitol, and silicic acid, b) binders such as, for example, carboxymethylcellulose, alginates, gelatin, polyvinylpyrrolidinone, sucrose, and acacia, c) humectants such as glycerol, d) disintegrating agents such as agar-agar, calcium carbonate, potato or tapioca starch, alginic acid, certain silicates, and sodium carbonate, e) solution retarding agents such as paraffin, f absorptionaccelerators such as quaternary ammonium compounds, g) wetting agents such as, for example, cetyl alcohol and glycerol monostearate, h) absorbents such as kaolin and bentonite clay, and i) lubricants such as talc, calcium stearate, magnesium stearate, solid polyethylene glycols, sodium lauryl sulfate, and mixtures thereof. In the case of capsules, tablets and pills, the dosage form may also comprise buffering agents.

[0457] Solid compositions of a similar type may also be employed as fillers in soft and hard-filled gelatin capsules using such excipients as lactose or milk sugar as well as high molecular weight polyethylene glycols and the like. The solid dosage forms of tablets, dragees, capsules, pills, and granules can be prepared with coatings and shells such as enteric coatings and other coatings well known in the pharmaceutical formulating art. They may optionally contain opacifying agents and can also be of a composition that they release the active ingredient (s) only, or preferentially, in a certain part of the intestinal tract, optionally, in a delayed manner. Examples of embedding compositions that can be used include polymeric substances and waxes. Solid compositions of a similar type may also be employed as fillers in soft and hard-filled gelatin capsules using such excipients as lactose or milk sugar as well as high molecular weight polethylene glycols and the like.

[0458] The active compounds can also be in micro-encapsulated form with one or more excipients as noted above. The solid dosage forms of tablets, dragees, capsules, pills, and granules can be prepared with coatings and shells such as enteric coatings, release controlling coatings and other coatings well known in the pharmaceutical formulating art. In such solid dosage forms the active compound may be admixed with at least one inert diluent such as sucrose, lactose or starch. Such dosage forms may also comprise, as is normal practice, additional substances other than inert diluents, e.g., tableting lubricants and other tableting aids such a magnesium stearate and microcrystalline cellulose. In the case of capsules, tablets and pills, the dosage forms may also comprise buffering agents. They may optionally contain opacifying agents and can also be of a composition that they release the active ingredient (s) only, or preferentially, in a certain part of the intestinal tract, optionally, in a delayed manner. Examples of embedding compositions that can be used include polymeric substances and waxes.

[0459] Dosage forms for topical or transdermal administration of a compound of this disclosure include ointments, pastes, creams, lotions, gels, powders, solutions, sprays, inhalants or patches. The active component is admixed under sterile conditions with a pharmaceutically acceptable carrier and any needed preservatives or buffers as may be required. Ophthalmic formulation, ear drops, and eye drops are also contemplated as being within the scope of this disclosure. Additionally, the present disclosure contemplates the use of transdermal patches, which have the added advantage of providing controlled delivery of a compound to the body. Such dosage forms can be made by dissolving or dispensing the compound in the proper medium. Absorption enhancers can also be used to increase the flux of the compound across the skin. The rate can be controlled by either providing a rate controlling membrane or by dispersing the compound in a polymer matrix or gel.

[0460] All features of each of the aspects of the disclosure apply to all other aspects mutatis mutandis. Each of the references referred to herein, including but not limited to patents, patent applications and journal articles, is incorporated by reference herein as though fully set forth in its entirety,

[0461] In order that the disclosure described herein may be more fully understood, the following examples are set forth. It should be understood that these examples are for illustrative purposes only and are not to be construed as limiting this disclosure in any manner. EXAMPLES

[0462] As depicted in the Examples below, in certain exemplary embodiments, compounds are prepared according to the following general procedures. It will be appreciated that, although the general methods depict the synthesis of certain compounds of the present disclosure, the following general methods, and other methods known to one of ordinary skill in the art, can be applied to all compounds and subclasses and species of each of these compounds, as described herein. Solvent Abbreviations Analysis Methods X-ray Powder Diffraction (XRPD) Method

[0463] XRPD patterns were identified with an X-ray diffractometer (PANalytical Empyrean) . The XRPD parameters used are listed in Table 30: Table 32 -Parameters for XRPD Tests Thermogravimetric Analysis (TGA) and Differential Scanning Calorimeter (DSC)

[0464] Approximately 5-10 mg of material was added into a pre-tared open aluminum pan and loaded into a TA Instruments Discovery SDT 650 Auto -Simultaneous DSC and held at room temperature. The sample was then heated at a rate of 10 ℃ / min from 30 ℃ to 350 ℃ during which time the change in sample weight was recorded along with the heat flow response (DSC) . Nitrogen was used as the sample purge gas, at a flow rate of 200 cm3 / min. Dynamic Vapor Sorption (D VS)

[0465] Approximately 10 mg of sample was placed into a mesh vapor sorption balance pan and loaded into a DVS-1 / DVS Intrinsic / DVS Advantage dynamic vapor sorption balance by Surface Measurement Systems. The sample was subjected to a ramping profile from 40 -90%relative humidity (RH) at 10%increments, maintaining the sample at each step until a stable weight had been achieved (dm / dt 0.004%, minimum step length 30 min, maximum step length 500 min) at 25 ℃. After completion of the sorption cycle, the sample was dried using the same procedure to 0 %RH and then a second sorption cycle back to 40%RH. Two cycles were performed. The weight change during the sorption / desorption cycles were plotted, allowing for the hygroscopic nature of the sample to be determined. Proton Nuclear Magnetic Resonance (1H-NMR)

[0466] 1H Solution NMR was collected on a Bruker 400M NMR Spectrometer or a Bruker AVIIIHD spectrometer equipped with a DCH cryoprobe operating at 500.12 MHz. Samples were prepared in DMSO-d6 at a concentration of about 10 mM. Preparation of Biorelevant Media Simulated Gastric Fluid (SGF)

[0467] About 200 mg of sodium chloride and about 100 mg Triton X-100 was weighted into a 100-mL volumetric flask. About 100 mL of purified water was added to the flask and the solution was sonicated until all solids were completely dissolved. 1 M HCl was added to adjust the pH to 1.8 and the solution was mixed well and the pH was checked with a pH meter. Fasted State Simulated Intestinal Fluid (FaSSIF)

[0468] About 170 mg of sodium phosphate monobasic, about 21 mg of sodium hydroxide and about 310 mg of sodium chloride were weighted into a 50-mL volumetric flask. About 50 mL of purified water was added to the flask and the solution was sonicated until all solids were completely dissolved. The pH was adjusted to pH 6.5. About 22 mg of simulated intestinal fluid (SIF) powder was added into a separate 10-mL volumetric flask. The pH 6.5 buffer solution was added to the 10-mL volumetric flask to reach 10 mL total volume and the solution was mixed well. Fed State Simulated Intestinal Fluid (FeSSIF)

[0469] About 0.41 mg of glacial acetic acid, about 202 mg of sodium hydroxide and about 594 mg of sodium chloride were weighted into a 50-mL volumetric flask. About 50 mL of purified water was added to the flask and the solution was sonicated until all solids were completely dissolved. The pH was adjusted to pH 5.0. About 112 mg of simulated intestinal fluid (SIF) powder was added into a separate 10-mL volumetric flask. The pH 5.0 buffer solution was added to the 10-mL volumetric flask to reach 10 mL total volume and the solution was mixed well. Example 1: HTRF Biochemical Assay for wtKIT, PDGFRα and CSF-1R

[0470] Exemplary compounds were tested for ability to inhibit the phosphorylation of a peptide substrate by the tyrosine kinase wt KIT, PDGFRα, or CSF-1R. Assay procedures and results are described below. Part I -Procedures for HTRF Assay

[0471] Enzyme, substrate, and cofactors (ATP and Mn2+) are combined in a well of a microtiter plate and incubated for 3 hours at 25 ℃. At the end of the incubation, the reaction is quenched by the addition of an EDTA-containing buffer. Assay Parameters: Peptide Substrate

[0472] The substrate used in the CSF-1R and PDGFRα assay is FAM-KKKKEEIYFFF-CONH2 (FAM is carboxyfluorescein) . Peptide should be >95%purity. The substrate for the KIT assay is FAM-GEEPLYWSFPAKKK-NH2. Setup &Conditions 1. To a well of a 384-wellplate add 5μL of 2X enzyme buffer (or control) . 2. Add 100 nL of 100X compound. Enzyme and compound may be pre-incubated at this  time if desired. 3. Add 5 μL of 2X substrate buffer. 4. Incubate plate at 25 ℃ for 3 hours. 5. Add 10uL of anti-phosphotyrosine antibody buffer. 6. Read plate in BioTek Synergy Reader. Reaction Conditions for wtKIT assay Final Assay Reaction Mixture 100 mM HEPES, pH 7.5 0.1%BSA 0.01%Triton x-100 1 mM DTT 10 mM MnCl2 10 μM Sodium Orthovanadate 10 μM Beta-Glycerophosphate 400 μM ATP 1%DMSO (from compound) 1 μM FAM-KKKKEEIYFFF-CONH2, 5.0 nM wtKIT Enzyme (1888289AM) * *Specific activity may vary from lot to lot. Enzyme concentration may need to be adjusted to  yield 10-20%conversion of substrate to product. Table 33: Protein Lots and assay conditions Part II -Results

[0473] Experimental results are provided in Table 34, below. The symbol “****” indicates an IC50 less than or equal to 0.05 μM. The symbol “***” indicates an IC50 in the range of greater than 0.05 μM and less than or equal to 0.5 μM. The symbol “**” indicates an IC50 in the range of greater than 0.5 μM and less than or equal to 5 μM. The symbol “*” indicates an IC50 in the range of greater than 5 μM to 30 μM. Table 34. Example 2: -Caliper Biochemical Assay for wtKIT, PDGFRα and CSF-1R Part I -Procedures for Biochemical caliper wtKIT Assay

[0474] Enzyme, substrate, and cofactors (ATP and Mn2+) are combined in a well of a microtiter plate and incubated for 3 hours at 25 ℃. At the end of the incubation, the reaction is quenched by the addition of an EDTA-containing buffer. Substrate and product are separated electrophoretically using the microfluidic-based LabChip 3000 Drug Discovery System from Caliper Life Sciences*and quantitated by fluorescence intensity. Assay Parameters: Pepfide Substrate:

[0475] The substrate used in the CSF-1R and PDGFRα assay is FAM-KKKKEEIYFFF-CONH2 (FAM is carboxyfluorescein) . Peptide should be >95%purity. The substrate for the KIT assay is FAM-GEEPLYWSFPAKKK-NH2.

[0476] Assay Setup &Conditions: 1. To a well of a 384-well plate add 5 μL of2 X enzyme buffer (or control)  2. Add 100 nL of 100X compound. 3. Add 5 μL of 2X substrate buffer. 4. Incubate plate at 25 ℃ for 3 hours. 5. Add 10 uL of anti-phosphotyrosine antibody buffer. 6. Read plate LabChip 3000 Drug Discovery System

[0477] Reaction Conditions: 3 hours at 25 ℃ where 100%Inhibitor: No enzyme.

[0478] Final Assay Reaction Mixture: 100 mM HEPES, pH 7.5 0.1%BSA 0.01%Triton X-100 1 mM DTT 10 mM MnCl2 10 μM Sodium Orthovanadate 10 μM Beta-Glycerophosphate 400 μM ATP 1%DMSO (from compound) 1 μM FAM-KKKKEEIYFFF-CONH2 5.0 nM wtKIT Enzyme (1888289AM) * *Specific activity may vary from lot to lot. Enzyme concentration may need to be adjusted to  yield 10-20%conversion of substrate to product. Table 35: Materials &Buffers

[0479] Materials: 1X Core Buffer 100 mM HEPES, pH 7.5 0.1%BSA 0.01%Triton X-100 10 mM MnCl2 1 mM DTT 10 μM Sodium Orthovanadate 10 μM Beta-Glycerophosphate 2X Enzyme Buffer 1X Core Buffer 10 nM c-KIT Enzyme (lot 1888289AM) 2X Substrate Buffer 1X Core Buffer 800 μM ATP 2 μM FAM-KKKKEEIYFFF-CONH2 2X Anti-phosphotyrosine antibody Buffer 50 mM HEPES 0.05%Brij-35 145ng / mL Anfi-Phosphotyrosine-Biotin antibody 20 ng / mL Streptavidin Part II -Results

[0480] Experimental results are provided in Table 36, below. The symbol  indicates an IC50 less than or equal to 0.05 μM. The symbol  indicates an IC50 in the range of greater than 0.05 μM and less than or equal to 0.5 μM. The symbol  indicates an IC50 in the range of greater than 0.5 μM and less than or equal to 5 μM. The symbol  indicates an IC50 in the range of greater than 5 μM to 30 μM. Table 36. Example 3 -Cell-Based Assay for Inhibiting wtKIT

[0481] Exemplary compounds were tested for ability to inhibit KIT phosphorylation using M-07e cells as monitored by pKIT ELISA. M-07e cells are also represented as M-07E, M-O7e, M07-e, M07e, Mo7e, MO7e, M07E and MO7E. Assay procedures and results are described below. Part I -Procedures for determining KIT inhibition inM-07e cells using pKIT ELISA

[0482] Reagents and consumables: ● M-07e cells: Initially obtained from Accegen, cat#ABC-TC1313 ● p-cKIT Capture ELISA antibody: anti-Human Phospho-CD117 / c-kit, R&D cat# DYC3527-5 ● Anti-pY-HRP antibody: R&D cat#DYC3527-5 ● 25x wash buffer: Quantikine ELISA Wash Buffer 1, R&D cat#WA126 ● PBS: R&D cat#DY006 ● 96well ELISA plates: Clear Polystyrene Microplates, R&D Cat#DY990 ● 96well Tissue culture plates:  96 Well TC-Treated Microplates, cat#CLS3894 ● RPMI medium:  RPMI-1640 Medium, Cat#30-2001 ● FBS: Fetal Bovine Serum, certified, United States Gibco, Thermo-Fisher 16000044 ● GM-CSF: Recombinant Human GM-CSF Protein, R&D cat#215-GM ● SCF: Recombinant Human SCF Protein, R&D cat#255-SC

[0483] Protocol: 1. Prepare cells: a. Culture M-07e cells in RPMI medium +20%serum +GM-CSF+penstrep  To make 50 mL of growth medium i. 40 mL RPMI media ii. 10 mL FBS iii. 10 uL of GM-CSF (100 ug / mL stock) iv. 0.5 mL pen strep (100x) b. Harvest cells c. Re-suspend cells in 100%RPMI media (without serum) to final concentration of  1 million cells / mL d. Transfer 100 uL of cell solution to 11 columns of a 96 well flat bottom cell  culture plate e. Incubate cells over night at 37 ℃ 2. Prepare ELISA Plates: a. Dilute capture antibody to concentration 4 ug / mL in PBS b. Coat 96 well microplates with 100 uL of capture antibody c. Seal plates and incubate at RT overnight d. Wash plates with 300 uL of wash buffer e. Repeat wash f. Treat plates with 300 uL of blocking buffer at RT for 1 hour 3. Addition of compounds: a. Prepare compound dilutions in RPMI media i. Top test concentration is 1 uM ii. Serially dilute compounds 3x for a total of 8 concentrations b. Add 10 uL of 10x compound dilutions to cells i. No compounds added in column 11 (for controls) c. Incubate cells with compounds for 2 hours at 37 ℃ d. Stimulate cells with SCF for 5 min at concentration of 100ng / mL (final) i. In column 11 stimulate top 4 wells. Leave bottom 4 wells unstimulated e. Remove cell culture media with multichannel pipet f. Add 110 uL of Lysis buffer to all wells g. Incubate plates at RT for 30 min while shaking 4. Transfer 100 uL of cell lysis to each prepared Elisa plate 5. Add 100 uL of the standard pc-KIT dilutions to the standard wells in column 12 a. Top concentration = 2000 pg / mL b. 2x dilutions 6. Incubate ELISA plate with cell lysate for 2 hours at RT 7. Wash Plate with wash buffer (wash 1) 8. Repeat wash (wash 2) 9. Repeat wash (wash 3) (do not allow plate to dry) 10. Add 100 uL of diluted anti-pY-HRP (1 / 1000 dilution in detection antibody dilution  buffer) and incubate 2 hours at RT 11. Wash plate with wash buffer (wash 1) 12. Repeat wash (wash 2) 13. Repeat wash (wash 3) 14. Add 100 uL of substrate solution to each well 15. Incubate plates 20 min Note: Plate development is indicated by aqua color 16. Add 50 uL of stop solution to each well 17. Determine optical density on Bitek Synergy Neo2: a. Make new experiment b. Select absorbance 1 set to 450 nm Part II -Results

[0484] Experimental results are provided in Table 37, below. The symbol “++++” indicates an IC50 less than or equal to 0.05 μM. The symbol “+++” indicates an IC50 in the range of greater than 0.05 μM and less than or equal to 0.5 μM. The symbol “++” indicates an IC50 in the range of greater than 0.5 μM and less than or equal to 5 μM. The symbol “+” indicates an IC50 in the range of greater than 5 μM to 30 μM. Table 37. Example 4: NanoBRET Cellular Assay for wtKIT and CSF-1R

[0485] Exemplary compounds were tested for their ability to inhibit target engagement of KIT or CSF-1R kinases through competitive displacement of a Nano-Luc luciferase kinase fusion in HEK293 cells.

[0486] The NanoBRET target engagement assay employs an energy transfer technique designed to measure molecular proximity in living cells. The assay measures the apparent affinity of test compounds by competitive displacement of the NanoBRET tracer, reversibly bound to a NanoLuc luciferase-kinase fusion construct in cells. The intracellular binding affinity and selectivity are physiologically relevant and fundamental to the pharmacological mechanism of the compounds. While biochemical and biophysical assays identify the kinase inhibitors in vitro, the NanoBRET target engagement assay serves to determine the direct interaction of the compounds binding to target kinases in cells.Part 1 -Procedures

[0487] HEK293 cells transiently expressing NanoLuc-DDR1 fusion vector were seeded into 384-well plates and treated with the Tracer K-4 and compound for 1 hour. The BRET signal was measured on an EnVision 2104 multilabel microplate reader. NanoBRET Target Engagement Assay in HEK293 cells transiently transfected with KIT and CSF1R-NanoLuc Fusion Vector. HEK293 cells were transfected with 1 μg KIT or CSF1R-NanoLuc Fusion Vector and 9 μg carrier DNA. The transfected cells were treated with test compounds (starting at 10 μM, 10-dose with 3-fold dilution) and reference compound (desatinib) (starting at 1 μM, 10-dose with 3-fold dilution) . Percent inhibition due to compound activity was calculated to determine IC50.Part II -Results

[0488] Experimental results are provided in Table 38, below. The symbol “****” indicates a IC50 less than or equal to 0.1 μM. The symbol “***” indicates a IC50 greater than 0.1 μtM and less than or equal to 1.0 μM. The symbol “**” indicates a IC50 greater than 1.0 μM and less than or equal to 10 μM. The symbol “*” indicates a IC50 greater than 10 μM. Table 38. Example 5: Preparation of Forms 1-A, 1-B, 1-C, 1-E, 1-F, 1-G, 1-H, 1-I, I-J, 1-K, 1-L, 1- M, 1-N and 1-O of Compound 1 Form 1-A of Compound 1

[0489] Form 1-A of compound 1 was prepared as described above in the general methods. Characterization of the resulting material demonstrated crystalline Form 1-A of compound 1 free base.

[0490] The XRPD pattern is displayed in Figure 1-A-1. The TGA / DSC curves of are displayed in Figure 1-A-2, which shows a weight loss of 3.75%up to 150 ℃ and two endotherms at about 70.2 and about 128.2 ℃ (peak) . As used herein, the term "about" , when used in reference to a DSC curve temperature refers to the stated value ± 2 ℃. 1H NMR results are listed in Figure 1-A-3. In order to evaluate the hygroscopicity of Forrn 1-A of compound 1, dynamic vapor sorption (DVS) isotherm plot was collected at 25 ℃ between 0%RH and 95%RH. The DVS plot is shown in Figure 1-A-4. XRPD characterization was performed for the sample after DVS test. Based on the result, the water uptake of Form 1-A of compound 1 at 25 ℃ / 80%RH was 4.841%. Form 1-A of compound 1 converted to Form 1-J of compound 1 after DVS test (room humidity was 28.3%RH) .

[0491] Table 1, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-A of compound 1. Table 1 -XRPD Peak Positions for Form 1-A of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-B of Compound 1

[0492] Form 1-B of compound 1 was prepared as follows:

[0493] Procedure A: Form 1-B of compound 1 was obtained via heating Form 1-A of compound 1 to 100 ℃ and cooling to RT.

[0494] Procedure B: Form 1-B of compound 1 was prepared via vapor-solid diffusion of Form 1-A of compound 1 under ～20% / 30% / 40%RH conditions at RT for 1 day (room humidity ～18%RH) . Form 1-B of compound 1 was obtained under all conditions.

[0495] The XRPD pattern of Form 1-B of compound 1 is displayed in Figure 1-B-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-B-2, which showed a weight loss of 2.12%up to 150 ℃, and two endotherms at 69.9 and 129.1 ℃ (peak) . During the VH-XRPD test of Form 1-A of compound 1, Form 1-B of compound 1 was obtained at 20%RH, which converted to Form 1-K of compound 1 after the humidity decreased to 10%RH.

[0496] Table 2, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-B of compound 1. Table 2 -XRPD Peak Positions for Form 1-B of Compound 1 Form 1-C of Compound 1

[0497] Form 1-C of compound 1 was prepared as follows:

[0498] Procedure A: Form 1-C of compound 1 was prepared via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in MIBK / n-Heptane system followed by drying at RT for 17 hrs.

[0499] Procedure B: Form 1-C of compound 1 was prepared via slow cooling of Form 1-A of compound 1 in IPAc.

[0500] The XRPD pattern of Form 1-C of compound 1 is displayed in Figure 1-C-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-C-2, which showed a weight loss of 0.96%up to 150 ℃ and an endotherm at 163.9 ℃ (peak temperature) . 1H NMR result (Figure 1-C-3) showed the molar ratio of residual MIBK / API was 0.06 (1.3 wt%) , and the molar ratio of residual n-Heptane / API was 0.07 (1.4 wt%) .

[0501] Table 3, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-C of compound 1. Table 3 -XRPD Peak Positions for Form 1-C of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°20) is within ± 0.2. Form 1-E of Compound 1

[0502] Form 1-E of compound 1 was prepared as follows:

[0503] Procedure A: Form 1-E of compound 1 was obtained via slurry of Form 1-A of compound 1 in 1, 4-Dioxane / n-Heptane (1: 1, v / v) at 50 ℃ for 4 days.

[0504] Procedure B: Form 1-E of compound 1 was prepared via slurry at 50 ℃ of Form 1-A of compound 1 in 1, 4-Dioxane / n-Heptane (1: 1, v / v) for 3 days. The XRPD results showed Form 1-H of compound 1 was obtained for two batches, which converted partially to Form 1-E after drying at RT (room humidity ～25%RH) for 4 hrs. Form 1-E of compound 1 was obtained from the mixture via heating to 100 ℃ and cooling to RT.

[0505] Procedure C: Form 1-E of compound 1 was prepared via slurry at 50 ℃ of Form 1-A of compound 1 in 1, 4-Dioxane / n-Heptane (1: 1, v / v) for 24 hrs. After drying at RT (room humidity ～18%RH) for 2 hrs Forms 1-E and 1-B of compound 1 were obtained.

[0506] The XRPD pattern of Form 1-E of compound 1 is displayed in Figure 1-E-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-E-2 which showed a weight loss of 5.18%up to 150 ℃, and one endotherm at 127.1 ℃. 1H NMR results are shown in Figure 1-E-3 which show a the molar ratio of 1, 4-Dioxane / API was 0.2 (3.8 wt%) .

[0507] Table 4, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-E of compound 1. Table 4 -XRPD Peak Positions for Form 1-E of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-F of Compound 1

[0508] Form 1-F of compound 1 was prepared as follows:

[0509] Procedure A: Form 1-F of compound 1 was obtained via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in NMP / H2O system. Form 1-F of compound 1 was obtained after a water wash and drying at RT for 3 days.

[0510] Procedure B: Form 1-F of compound 1 was obtained via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in NMP / H2O system followed by slurry at 5 ℃ for 3 days. Form 1-F of compound 1 was obtained after a water wash and drying at RT for 2 days.

[0511] The XRPD pattern of Form 1-F of compound 1 is displayed in Figure 1-F-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-F-2, which showed a weight loss of 5.82%up to 150 ℃ and two endotherms at 92.5 and 110.3 ℃ (peak temperature) . 1H NMR results showed the molar ratio of residual NMP / API was 0.08 (1.6 wt%) (Figure 1-F-3) .

[0512] In order to investigate the DSC signals of Form 1-F of compound 1, Form 1-F of compound 1 was heated to 55 ℃ and 100 ℃ followed by cooled to RT. After being heated to 55 ℃ and cooled to RT, extra peaks were observed for Form 1-F of compound 1, which was postulated to be a mixture of Form 1-F of compound 1 and Form 1-M of compound 1. After being heated to 100 ℃ and cooled to RT, Form 1-M of compound 1 was obtained.

[0513] Table 5, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-F of compound 1. Table 5 -XRPD Peak Positions for Form 1-F of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-G of Compound 1

[0514] Form 1-G of compound 1 was prepared as follows:

[0515] Procedure A: Form 1-G of compound 1 was obtained via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in Acetone / Toluene system followed by slurry at 5 ℃ for 3 days and slurry at -20 ℃ for 1 day. The XRPD pattern showed the sample converted to Form 1-A of compound 1 after drying at RT (room humidity ～35%RH) . Meanwhile, peak overlay was observed between Form 1-G of compound 1 and Form 1-A of compound 1, and thus it was postulated that residual Form 1-A existed in this sample.

[0516] Procedure B: Form 1-G of compound 1 was obtained via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in Acetone / Toluene system followed by slurry at -20 ℃ for 17 hrs. XRPD result showed Form 1-G of compound 1 converted to Form 1-A of compound 1 after drying at RT (room humidity ～40%RH) for 5 hrs.

[0517] Procedure C: Form 1-G of compound 1 was obtained via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in Acetone / Toluene system followed by slurry at -20 ℃ for 17 hrs. The XRPD showed Form 1-G of compound 1 converted to Form 1-B of compound 1 after drying at RT for 3 days (room humidity ～25%RH) .

[0518] Procedure D: Form 1-G of compound 1 was obtained via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in Acetone / Toluene system followed by slurry at -20 ℃ for 19 hrs. XRPD results showed Form 1-G of compound 1 converted to Form 1-K of compound 1 after drying at RT (room humidity ～18%RH) for 2 hrs.

[0519] In the XRPD patterns of wet samples, no other forms of compound 1 were observed, and thus the XRPD pattern of the wet sample was used as Form 1-G of compound 1 reference.

[0520] The XRPD pattern of Form 1-G of compound 1 is displayed in Figure 1-G-1.

[0521] Considering the rapid form conversion of Form 1-G of compound 1 during drying, no further characterization was performed.

[0522] Table 6, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-G of compound 1. Table 6 -XRPD Peak Positions for Form 1-G of Compound 1 Form 1-H of Compound 1

[0523] Form 1-H of compound 1 was prepared as follows:

[0524] Procedure A: Form 1-H of compound 1 was obtained via vapor-solution diffusion of Form 1-A of compound 1 in 1, 4-Dioxane / H2O at RT for 13 days.

[0525] The XRPD pattern of Form 1-H of compound 1 is displayed in Figure 1-H-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-H-2, which showed a weight loss of 8.74%up to 150 ℃ and an endotherm at 139.2 ℃ (peak temperature) . 1H NMR result (Figure 1-H-3) showed the molar ratio of residual 1, 4-Dioxane / API was 0.5 (7.6 wt%) .

[0526] In order to investigate the TGA weight loss of Form 1-H of compound 1, Form 1-H of compound 1 was heated to 107 ℃ followed by cooled to RT. The XRPD result showed that Form 1-H of compound 1 converted partially to Form 1-E of compound 1.

[0527] During the re-preparation of Form 1-E of compound 1, Form 1-H of compound 1 was obtained, which converted partially to Form 1-E after drying. The TGA / DSC of this product showed a weight loss of 5.42%up to 150 ℃ and an endotherm at 142.4 ℃ (peak temperature) . The product was heated to 100 ℃, and XRPD result showed that Form 1-E of compound 1 was obtained. 1H NMR result showed a molar ratio of residual 1, 4-dioxane / API was 0.2 (3.8%) .

[0528] Table 7, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-H of compound 1. Table 7 -XRPD Peak Positions for Form 1-H of Compound 1 Form 1-I of Compound 1

[0529] Form 1-I of compound 1 was prepared as follows:

[0530] Procedure A: Form 1-I of compound 1 was obtained via vapor-solution diffusion of starting Form 1-A of compound 1 in THF / n-Hexane at RT for 7 days. After drying at RT (room humidity～20%RH) , Form 1-I of compound 1 converted to Form 1-K of compound 1. In the XRPD, peak overlay was observed between Form 1-I and form 1-K, and thus it was postulated that residual Form 1-K of compound 1 existed in this sample.

[0531] Procedure B: Form 1-I of compound 1 was obtained via vapor-solution diffusion of Form 1-A of compound 1 in THF / n-Hexane. XRPD results showed Form 1-I of compound 1 (partial Form 1-B peaks were observed in the XRPD pattern of wet samples) converted to Form 1-B of compound 1 after drying at RT (～30%RH) for 1 day.

[0532] Procedure C: Form 1-I of compound 1 was obtained via vapor-solution of Form 1-A of compound 1 in THF / n-Hexane. XRPD results showed Form 1-I of compound 1 converted to Form 1-K of compound 1 after drying at RT (～14%RH) for 3 hrs (without film) .

[0533] In the XRPD patterns of wet samples, no peak of Form 1-A or Form 1-K was observed, and thus the XRPD pattern of wet sample was used as Form 1-I of compound 1 reference.

[0534] Considering the rapid form conversion of Form 1-I of compound 1 during drying, no further characterization was performed.

[0535] Table 8, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-I of compound 1. Table 8 -XRPD Peak Positions for Form 1-I of Compound 1 Form 1-J of Compound 1

[0536] Form 1-J of compound 1 was prepared as follows:

[0537] Procedure A: Form 1-J of compound 1 was obtained from exposing Form 1-A of compound 1 at 30%RH.

[0538] XRPD of Form 1-J of compound 1 is shown in Figure 1-J-1. Due to small amounts of material, no further characterization was completed.

[0539] Table 9, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form1-J of compound 1. Table 9 -XRPD Peak Positions for Form 1-J of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-K of Compound 1

[0540] Procedure A: Form 1-K of compound 1 was obtained from Form 1-A of compound 1 via N2 purge for 20 min.

[0541] Procedure B: Form 1-K of compound 1 was obtained via vapor-solid diffusion of 50 mg Form 1-A of compound 1 under ～10%RH condition for 1 day.

[0542] The XRPD pattern is displayed in Figure 1-K-1. Because Form 1-K of compound 1 converted to Form 1-A of compound 1 after being exposed to air (room humidity ～42%RH) , no further characterization was performed.

[0543] The VT-XRPD results showed no form change was observed for Form 1-K of compound 1 after heated to 150 ℃ and cooled to 30 ℃ under N2 purge, but converted to Form 1-A of compound 1 after being exposed to air (room humidity ～42%RH) .

[0544] Table 10, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-K of compound 1. Table 10 -XRPD Peak Positions for Form 1-K of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-L of Compound 1

[0545] Form 1-L of compound 1 was prepared as follows:

[0546] Procedure A: Form 1-L of compound 1 was obtained was prepared via anti-solvent addition of Form 1-A of compound 1 in 1, 4-Dioxane / H2O system followed by drying at RT for 3 days. XRPD result showed Form 1-L of compound 1 converted to Form 1-A of compound 1 after stored at RT for 3 days (room humidity ～25%RH) . Meanwhile, peak overlay was observed between Form 1-L and Form 1-A, and thus it was postulated that residual Form 1-A existed in this sample.

[0547] XRPD of Form 1-L of compound 1 is shown in Figure 1-L-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-L-2, which shows a weight loss of 4.36%up to 150 ℃ and two endotherms at 128.0 and 138.1 ℃ (peak) . 1H NMR result (Figure 1-L-3) showed the molar ratio of residual 1, 4-Dioxane / API was 0.2 (3.3 wt%) .

[0548] Table 11, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-L of compound 1. Table 11 -XRPD Peak Positions for Form 1-L of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-M of Compound 1

[0549] Form 1-M of compound 1 was prepared as follows:

[0550] Procedure A: Form 1-M of compound 1 was obtained from Form 1-F of compound 1 via heating to 100 ℃ and cooling to RT.

[0551] The XRPD pattern is displayed in Figure 1-M-1. The TGA / DSC results are displayed in Figure 1-M-2, which showed a weight loss of 1.81%up to 150 ℃, and an endotherm at 110.6 ℃ (peak) . 1H NMR result (Figure 1-M-3) showed the molar ratio of residual NMP / API was 0.07 (1.4 wt%) .

[0552] Table 12, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-M of compound 1. Table 12 -XRPD Peak Positions for Form 1-M of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-N of Compound 1

[0553] Form 1-N of compound 1 was prepared as follows:

[0554] Procedure A: Form 1-N of compound 1 was obtained from slurry of Form 8-B of compound 8 in H2O at 37 ℃ for 24 hrs.

[0555] The XRPD pattern for Form 1-N of compound 1 is displayed in Figure 1-N-1. The 1H NMR result (Figure 1-N-3) showed the molar ratio of acid / base was 0.01, which indicated Form 1-N of compound 1 is a freebase form. Due to the limited amount of compound, no other characterization was performed.

[0556] Table 13, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-N of compound 1. Table 13 -XRPD Peak Positions for Form 1-N of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 1-O of Compound 1

[0557] Form 1-O of compound 1 was prepared as follows:

[0558] Procedure A: Form 1-O of compound 1 was obtained from slurry of Form 1-A of compound 1 in anisole at 50℃ for 1 day.

[0559] The XRPD pattern for Form 1-O of compound 1 is displayed in Figure 12-O-1. The 1H NMR result (Figure 12-O-3) showed the molar ratio of residual anisole / Form I-O was 0.3 (5.0 wt%) . Due to the limited amount of compound, no other characterization was performed. The TGA / DSC curves were displayed in Figure 12-O-2, which showed a weight loss of 9.18%up to 150 ℃ and three endotherms at 86.0, 139.9 and 196.8 ℃ (peak) .

[0560] Table 14, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 1-O of compound 1. Table 14 -XRPD Peak Positions for Form 1-N of Compound 1 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 6: Preparation of Form 2-A of Compound 2 Form 2-A of Compound 2

[0561] Form 2-A of compound 2 was prepared as follows:

[0562] Procedure A: 1.0 g of Form 1-A of compound 1 was added into a 20-mL glass vial followed by addition of 5 mL of EtOAc to obtain a suspension. 140 μL 15 M H3PO4 was added into 14 mL EtOAc for dilution. The diluted H3PO4 was then added into the sample with slurry at RT at ～1000 rpm dropwise. A gel was obtained, which was transferred to slurry at 50 ℃ for 2 hrs. A suspension was then obtained, which was transferred to slurry at RT for 21 hrs. The wet solid was tested by XRPD and identified as Form 2-A of compound 2.

[0563] Procedure B: 7.03 g Form 1-A of compound 1 was added into a 100-mL easy-max reactor followed by addition of 30 mL EtOAc. A suspension was obtained. Form 2-A of compound 2 suspension was added into the reactor as a seed followed by slurry at 50 ℃ at ～700 rpm. 980 μL 15 M H3PO4 was added into 60 mL EtOAc for dilution. The diluted H3PO4 was added into the reactor over 2 hrs with slurry at 50 ℃ at ～700 rpm. After the addition of H3PO4, the reaction was cooled to 25 ℃ followed by slurry at 25 ℃ at ～500 rpm for 1 hr and at ～700 rpm for 20 hrs. Vacuum filtration was done on the sample and the resulting cake was washed using 2x10 mL EtOAc. The solid was dried under vacuum at 40 ℃ for 7 hrs and at RT for 15 hrs.

[0564] The XRPD pattern of Form 2-A of compound 2 is displayed in Figure 2-A-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 2-A-2, which showed a weight loss of 4.14%up to 150 ℃ and two endotherms at 70.1 and 184.8 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 2-A-3 shows the molar ratio of residual ACN / API is 0.04 (0.3 wt%) .

[0565] Table 15, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 2-A of compound 2. Table 15 -XRPD Peak Positions for Form 2-A of Compound 2 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 2-E of Compound 2

[0566] Form 2-E of compound 2 was prepared as follows:

[0567] Form 2-E was obtained via slurry of Form 2-A in THF at room temperature for 4 days with 1, 3-dimethylimidazolium dimethyl phosphate as additive. Due to limited sample amount, additional ～30 mg of starting material was added, and XRPD pattern showed that Form 2-A was obtained after slurry at room temperature for 1 day.

[0568] Procedure B: About 30 mg of Form 2-A was suspended in 0.5 mL of THF in an HPLC glass vial. About 5 μL of 1, 3-dimethylimidazolium dimethylphosphate ionic liquid was added into the vial. After the suspension was stirred for about 3 days at room temperature, the remaining solids were centrifuged for XRPD analysis which indicated the formation of Form 2-E.

[0569] Table 16, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 2-A of compound 2. Table 16 -XRPD Peak Positions for Form 2-A of Compound 2 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 7: Preparation of Form 3-A of Compound 3 Form 3-A of Compound 3

[0570] Form 3-A of compound 3 was prepared as follows:

[0571] Procedure A: Form 3-A of compound 3 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar citric acid in IPAc at RT for 3 days.

[0572] The XRPD pattern of Form 3-A of compound 3 is displayed in Figure 3-A-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 3-A-2, which shows a weight loss of 9.64%up to 150 ℃ and one endotherm at 104.4 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 3-A-3 shows the molar ratio of acid / base was 0.8, and the molar ratio of residual IPAc / API was 0.2 (3.0 wt%) .

[0573] Table 17, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 3-A of compound 3. Table 17 -XRPD Peak Positions for Form 3-A of Compound 3 Example 8: Preparation of Forms 4-A and 4-B of Compound 4 Form 4-A of Compound 4

[0574] Form 4-A of compound 4 was prepared as follows:

[0575] Procedure A: Form 4-A of compound 4 was obtained via stirring freebase Form 1-A of compound 1 and equimolar HBr in EtOAc at RT for 3 days.

[0576] The XRPD pattern is displayed in Figure 4-A-1. The TGA / DSC curves of Form 4-A of compound 4 are displayed in Figure 4-A-2, which showed a weight loss of 5.40%up to 150 ℃ and one endotherm at 107.0 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 4-A-3 showed no residual EtOAc was detected.

[0577] Table 18, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 4-A of compound 4. Table 18 -XRPD Peak Positions for Form 4-A of Compound 4 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 4-B of Compound 4

[0578] Form 4-B of compound 4 was prepared as follows:

[0579] Procedure A: Form 4-B of compound 4 was obtained via stirring freebase Form 1-A of compound 1 and equimolar HBr in ACM at RT for 3 days.

[0580] The XRPD pattern of Form 4-B of compound 4 is displayed in Figure 4-B-1. The TGA / DSC curves of Form 4-B of compound 4 are displayed in Figure 4-B-2, which showed a weight loss of 1.12%up to 150 ℃ and one endotherm at 190.3 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 4-B-3 showed no residual ACN was detected.

[0581] Table 19, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 4-B of compound 4. Table 19 -XRPD Peak Positions for Form 4-B of Compound 4 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 9: Preparation of Form 5-A of Compound 5 Form 5-A of Compound 5

[0582] Form 5-A of compound 5 was prepared as follows:

[0583] Procedure A: Form 5-A of compound 5 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar HCl in EtOAc at RT for 3 days.

[0584] The XRPD pattern of Form 5-A of compound 5 is displayed in Figure 5-A-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 5-A-2, which showed a weight loss of 4.61%up to 150 ℃ and one endotherm at 184.8 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 5-A-3 showed no residual EtOAc was detected.

[0585] Table 20, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 5-A of compound 5. Table 20 -XRPD Peak Positions for Form 5-A of Compound 5 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 10: Preparation of Form 6-A of Compound 6 Form 6-A of Compound 6

[0586] Form 6-A of compound 6 was prepared as follows:

[0587] Procedure A: Form 6-A of compound 6 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar L-malic acid in EtOAc at RT for 3 days, and continued to slurry at RT for 2 days after addition of 2 additional equivalents L-malic acid.

[0588] The XRPD pattern of Form 6-A of compound 6 is displayed in Figure 6-A-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 6-A-2, which showed a weight loss of 7.62%up to 150 ℃ and two endotherms at 111.0 and 198.6 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 6-A-3 showed the molar ratio of acid / base was 1.0, and the molar ratio of residual EtOAc / API was 0.3 (4.1 wt%) .

[0589] Table 21, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 6-A of compound 6. Table 21 -XRPD Peak Positions for Form 6-A of Compound 6 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 11: Preparation of Forms 7-A, 7-B, and 7-C of Compound 7 Form 7-A of Compound 7

[0590] Form 7-A of compound 7 was prepared as follows:

[0591] Procedure A: Form 7-A of compound 7 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar maleic acid in EtOAc at RT for 3 days.

[0592] The XRPD pattern of Form 7-A of compound 7 is displayed in Figure 7-A-1, which showed residual peaks of Form 1-A of compound 1 were observed. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 7-A-2, which showed a weight loss of 7.43%up to 150 ℃ and two endotherms at 123.5 and 187.1 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 7-A-3 showed the molar ratio of acid / base was 0.3, and the molar ratio of residual EtOAc / API was 0.3 (4.5 wt%) .

[0593] Table 22, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 7-A of compound 7. Table 22 -XRPD Peak Positions for Form 7-A of Compound 7 Form 7-B of Compound 7

[0594] Form 7-B of compound 7 was prepared as follows:

[0595] Procedure A: Form 7-B of compound 7 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar maleic acid in IPAc at RT for 3 days.

[0596] The XRPD pattern of Form 7-B of compound 7 is displayed in Figure 7-B-1. The TGA / DSC curves of Form 7-B of compound 7 are displayed in Figure 7-B-2, which showed a weight loss of 1.34%up to 120 ℃ and one endotherm at 131.7 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 7-B-3 shows the molar ratio of acid / base was 1.1, and the molar ratio of residual IPAc / API was 0.04 (0.7 wt%) .

[0597] Table 23, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 7-B of compound 7. Table 23 -XRPD Peak Positions for Form 7-B of Compound 7 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 7-C of Compound 7

[0598] Form 7-C of compound 7 was prepared as follows:

[0599] Procedure A: Form 7-C of compound 7 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar maleic acid in THF / MTBE (1: 1, v / v) at RT for 3 days, followed by addition of 2 additional equimolar acid and slurry at RT for 2 days, at 5 ℃ for 1 day and -20 ℃ for 3 days, which converted to suspension after addition ofn-Heptane and slurry at RT for 2 days.

[0600] The XRPD pattern of Form 7-C of compound 7 is displayed in Figure 7-C-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 7-C-2, which showed a weight loss of 3.46%up to 120 ℃ and one endotherm at 92.0 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 7-C-3 showed the molar ratio of acid / base was 2.1, the molar ratio of residual THF / API was 0.2 (1.4 wt%) , and the molar ratio of residual MTBE / API was 0.01 (0.1 wt%) .

[0601] Table 24, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 7-C of compound 7. Table 24 -XRPD Peak Positions for Form 7-C of Compound 7 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 12: Preparation of Forms 8-A and 8-B of Compound 8 Form 8-A of Compound 8

[0602] Form 8-A of compound 8 was prepared as follows:

[0603] Procedure A: Form 8-A of compound 8 was obtained via stirring freebase Form 1-A of compound 1 and equimolar methanesulfonic acid in EtOAc at RT for 3 days.

[0604] The XRPD patterns are displayed in 8-A-1. The TGA / DSC curves of Form 8-A of compound 8 are displayed in 8-A-2, which showed a weight loss of 0.77%up to 150 ℃ and one endotherm at 173.7 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 8-A-3 showed the molar ratio of acid / FB was 1.1, and the molar ratio of residual EtOAc / API was 0.16 (2.3 wt%) .

[0605] Table 25, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 8-A of compound 8. Table 25 -XRPD Peak Positions for Form 8-A of Compound 8 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 8-B of Compound 8

[0606] Form 8-B of compound 8 was prepared as follows:

[0607] Procedure A: Form 8-B of compound 8 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar methanesulfonic acid in ACN at RT for 3 days followed by slurry at 5 ℃ for 1 day and -20 ℃ for 2 days, and gel was obtained after addition of toluene. The sample converted to suspension after slurry at -20 ℃ for 18 hrs.

[0608] The XRPD patterns are displayed in Figure 8-B-1. The TGA / DSC curves of Form 8-B of compound 8 are displayed in Figure 8-B-2, which showed a weight loss of 2.48%up to 150 ℃ and one endotherm at 214.4 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 8-B-3 showed the molar ratio of acid / FB was 1.1, the molar ratio of residual toluene / API was 0.1 (1.8 wt%) , and no residual ACN was detected.

[0609] Table 26, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 8-B of compound 8. Table 26 -XRPD Peak Positions for Form 8-B of Compound 8 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 13: Preparation of Forms 9-A, 9-B, and 9-C of Compound 9 Form 9-A of Compound 9

[0610] Form 9-A of compound 9 was prepared as follows:

[0611] Procedure A: Form 9-A of compound 9 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar oxalic acid in EtOAc at RT for 3 days.

[0612] The XRPD pattern of Form 9-A of compound 9 is displayed in Figure 9-A-1. The TGA / DSC curves of Form 9-A of compound 9 are displayed in Figure 9-A-2, which showed a weight loss of 3.07%up to 150 ℃ and two endotherms at 164.6 and 206.1 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 9-A-3 shows no residual EtOAc was detected. UPLC / IC results showed the molar ratio of acid / FB was 1.0.

[0613] Table 27, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 9-A of compound 9. Table 27 -XRPD Peak Positions for Form 9-A of Compound 9 Form 9-B of Compound 9

[0614] Form 9-B of compound 9 was prepared as follows:

[0615] Procedure A: Form 9-B of compound 9 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar oxalic acid in ACN at RT for 3 days.

[0616] The XRPD pattern of Form 9-B of compound 9 is displayed in Figure 9-A-1. The TGA / DSC curves of Form 9-B of compound 9 are displayed in Figure 9-B-2, which showed a weight loss of 6.23%up to 150 ℃ and three endotherms at 89.3, 95.5 and 171.2 ℃ (peak) with one exotherm at 150.0 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 9-B-3 showed the molar ratio of residual ACN / API was 0.01 (0.04 wt%) . UPLC / IC results showed the molar ratio of acid / FB was 1.2.

[0617] Table 28, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 9-B of compound 9. Table 28 -XRPD Peak Positions for Form 9-B of Compound 9 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Form 9-C of Compound 9

[0618] Form 9-C of compound 9 was prepared as follows:

[0619] Procedure A: Form 9-C of compound 9 was obtained by stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar oxalic acid in ACN at RT for 3 days followed by centrifugation, followed by vacuum drying at RT for 19 hrs.

[0620] XRPD results are shown in Figure 9-C-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 9-C-2. A weight loss of 2.06%up to 150 ℃ was observed on the TGA curve. Two endotherms at 93.0 and 172.2 ℃ (peak) were observed on the DSC curve. The 1H NMR result in Figure 9-C-3 show the molar ratio of residual ACN / API was 0.003 (0.02 wt%) .

[0621] Table 29, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 9-C of compound 9. Table 29-XRPD Peak Positions for Form 9-C of Compound 9 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 14: Preparation of Form 10-A of Compound 10 Form 10-A of Compound 10

[0622] Form 10-A of compound 10 was prepared as follows:

[0623] Procedure A: Form 10-A of compound 10 was obtained via stirring Form 1-A of compound 1 and equimolar H2SO4 in EtOH at RT for 3 days.

[0624] The XRPD pattern is displayed in Figure 10-A-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 10-A-2, which showed a weight loss of 3.57%up to 100 ℃ and one endotherm at 58.7 ℃ (peak) with one exotherm at 92.7 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 10-A-3 showed the molar ratio of residual EtOH / API was 0.2 (1.4 wt%) .

[0625] Table 30, supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Forml 0-A of compound 10. Table 30 -XRPD Peak Positions for Form 10-A of Compound 10 *In this and all subsequent tables, position (°2θ) is within ± 0.2. Example 15: Preparation of Form 11-A of Compound 11 Form 11-A of Compound 11

[0626] Form 11-A of compound 11 was prepared as follows:

[0627] Procedure A: Form 11-A of compound 11 was obtained via stirting Form 1-A of compound 1 and equimolar p-toluenesulfonic acid in EtOAc at RT for 3 days.

[0628] The XRPD pattern is displayed in Figure 11-A-1. The TGA / DSC curves are displayed in Figure 11-A-2, which showed a weight loss of 1.72%up to 150 ℃ and one endotherm at 172.2 ℃ (peak) . The 1H NMR result in Figure 11-A-3 showed the molar ratio of acid / FB was 1.1, and the molar ratio of residual EtOAc / API was 0.08 (0.9 wt%) .

[0629] Table 31 supra, is reproduced below and sets forth the X-ray diffraction peaks observed for Form 11-A of compound 11. Table 31 -XRPD Peak Positions for Form 11-A of compound 11 *In this and all subsequent tables, the position (°2θ) is within ± 0.2. Example 16: Inter-conversion Study of Forms of Compound 1 Competitive Slurry Experiments among Anhydrates and Hydrate Forms of Compound 1

[0630] Competitive slurry experiments were performed for Forms 1-A, 1-B, 1-C, 1-F, 1-J, and 1-K of compound 1 in an EtOH / H2O system with various water activities at RT, and in EtOH / EtOAc at 50 ℃ and RT. 10～30 mg starting material was weighed into each HPLC vial, followed by addition of 1.0 mL solvent and slurried at 50 ℃ or RT for 4 hours. After slurry, the samples were filtered with 0.45 μm PTFE filter. The filtrates were transferred into the HPLC vials containing 2～4 mg of Forms 1-A, 1-B, 1-C, 1-F, 1-J, and 1-K of compound 1 followed by slurry at 50 ℃ or RT. The results are summarized in Table 30. The results showed that Form 1-G of compound 1 was obtained in EtOAc at RT and 50 ℃ (which converted to Form 1-B after drying at RT) , and Form 1-A was obtained in all other experiments. Table 39 -Competitive Slurry Experiment Between Anhydrate and Hydrate forms *: Converted to Form 1-B after drying at RT. Variable Humidity Conversions among Anhydrates and Hydrate Forms of Compound 1

[0631] For further investigation, variable humidity XRPD (VH-XRPD) test was performed for Form 1-A of compound 1. At 30%RH, Form 1-J was obtained. At 20%RH, Form 1-B was obtained, which converted to Form 1-K after the humidity decreased to 10%RH. After the humidity increased to 50%RH～90%RH, Form 1-A was obtained.

[0632] VH-XRPD test was re-performed for starting material with the humidity increased and then decreased to confirm the form conversion with humidity change. At 30%RH, Form 1-J was obtained. After the humidity increased to 40%RH～90%RH, a partial peak shift to Form 1-A was observed. After the humidity decreased to 20%RH, Form 1-B was obtained. After the humidity decreased to 10%RH, Form 1-B was obtained. Based on the VH-XRPD results, Forms 1-A / 1-J / 1-B / 1-K inter-convert under different humidity at RT, and the stable humidity range for Forms 1-A / 1-J / 1-B / 1-K was ＞40%RH, ～30%RH, ～20%RH and ≤10%RH, respectively. Example 17: Solubility

[0633] Solubility of Form 2-A of compound 2 and Form 1-A of compound 1 was determined in various solvents at RT and 50 ℃. Approximately 2 mg of sample was added into a 3-mL glass vial. Solvents in were then added stepwise (50, 50, 100, 200, 600, 1000 μL) into the vials until the solids were dissolved visually or a total volume of 2 mL was reached.

[0634] Several additional compounds were tested under biologically relevant conditions at 37 ℃ in H2O, SGF, FaSSIF, and FeSSIF. For these tests, around 5 mg sample was added into 1 mL media followed by slurry (500 rpm) at 37 ℃ for 24 hrs. The sample was centrifugation and filtered. The solids were then tested by XRPD. The results are summarized in Table 31. Table 40 -Solubility Data Example 18: Characterization Summary

[0635] A subset of compounds were selected based on small TGA weight loss and neat / sharp DSC endotherm peaks, for further comparison. The results of those further tests are summarized below. Table 41 -Solubility Data *A water uptake of 15.04%was observed at 25 ℃ / 95%RH.

[0636] Based on the above results, high water uptake was observed for Form 5-A of Compound 5 especially under high humidity conditions. Form change was observed for Form 6-A of Compound 6 and Form 1-A of Compound 1 after DVS test. Form 2-A of Compound 2 presented with relatively low TGA weight loss, relatively low water uptake, and no interconversion upon DVS testing. INCORPORATION BY REFERENCE

[0637] The entire disclosure of each of the patent documents and scientific articles referred to herein is incorporated by reference for all purposes. EQUIVALENTS

[0638] The invention may be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof. The foregoing embodiments are therefore to be considered in all respects illustrative rather than limiting the invention described herein. Scope of the invention is thus indicated by the appended claims rather than by the foregoing description, and all changes that come within the meaning and range of equivalency of the claims are intended to be embraced therein.

Claims

1.A crystalline solid form of compound 1: selected from Form 1-A, Form 1-B, Form 1-C, Form 1-E, Form 1-F, Form 1-G, Form 1-H, Form 1-I, Form I-J, Form 1-K, Form 1-L, Form 1-M, Form 1-N, and Form 1-O.2.The crystalline solid form according to claim 1, wherein said compound is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 1.3.The crystalline solid form according to claim 1, wherein said compound is substantially free of impurities.4.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-A of compound 1.5.The crystalline solid form according to claim 4, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 14.0, about 15.4, about 17.9, about 20.6, and about 23.6 degrees 2-theta.6.The crystalline solid form according to claim 4, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 70.2 ℃ and about 128.2 ℃.7.The crystalline solid form according to claim 4, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-A-1.8.The crystalline solid form according to claim 4, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-A-2.9.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-B.10.The crystalline solid form according to claim 9, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.6, about 15.5, about 16.2, about 20.4, about 21.0, and about 23.8 degrees 2-theta.11.The crystalline solid form according to claim 9, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 69.9 ℃ and 129.1 ℃.12.The crystalline solid form according to claim 9, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-B-1.13.The crystalline solid form according to claim 9, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-B-2.14.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-C.15.The crystalline solid form according to claim 14, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.5, about 8.6, about 13.1, about 14.2, about 14.6, about 15.7, about 17.1, about 19.6, about 20.4, and about 22.3 degrees 2-theta.16.The crystalline solid form according to claim 14, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 163.9 ℃.17.The crystalline solid form according to claim 14, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-C-1.18.The crystalline solid form according to claim 14, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-C-2.19.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-E.20.The crystalline solid form according to claim 19, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.7, about 14.2, about 15.3, about 16.2, about 17.8, about 20.8, about 21.6, about 23.4, about 24.8, about 26.9, and about 27.6 degrees 2-theta.21.The crystalline solid form according to claim 19, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 127.1 ℃.22.The crystalline solid form according to claim 19, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-E-1.23.The crystalline solid form according to claim 19, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-E-2.24.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-F.25.The crystalline solid form according to claim 24, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those about 7.6, about 13.2, about 13.7, about 16.2, about 16.7, about 18.2, about 18.6, about 19.7, about 22.1, about 22.8, about 24.4, about 26.8, and about 28.8 degrees 2-theta.26.The crystalline solid form according to claim 24, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 127.1 ℃.27.The crystalline solid form according to claim 24, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-F-1.28.The crystalline solid form according to claim 24, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-F-2.29.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-G.30.The crystalline solid form according to claim 29, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.2, about 14.7, about 15.7, about 21.8, about 22.9, about 23.5, about 25.7, about 26.1, and about 27.2 degrees 2-theta.31.The crystalline solid form according to claim 29, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-G-1.32.The crystalline solid form according to claim 29, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-G-2.33.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-H.34.The crystalline solid form according to claim 33, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 13.6, about 14.7, about 15.0, about 15.9, about 19.7, about 21.0, about 23.0, about 24.4, and about 24.7 degrees 2-theta.35.The crystalline solid form according to claim 33, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 139.2 ℃.36.The crystalline solid form according to claim 33, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-H-1.37.The crystalline solid form according to claim 33, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-H-2.38.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-I.39.The crystalline solid form according to claim 38, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.5, about 14.5, about 14.9, about 16.7, about 20.1, about 20.6, about 20.9, about 23.1, about 24.3, about 24.6, about 26.0, about 26.6, and about 39.4 degrees 2-theta.40.The crystalline solid form according to claim38, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-I-1.41.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-J.42.The crystalline solid form according to claim 41, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.6, about 13.8, about 15.4, about 16.1, about 17.9, about 20.4, about 22.6, about 23.6, and about 24.1 degrees 2-theta.43.The crystalline solid form according to claim 41, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-J-1.44.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-K.45.The crystalline solid form according to claim 44, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.4, about 13.4, about 15.6, about 16.1, about 16.5, about 18.6, about 19.8, about 20.3, about 20.8, about 23.9, and about 25.0 degrees 2-theta.46.The crystalline solid form according to claim 44, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-K-1.47.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-L.48.The crystalline solid form according to claim 47, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.2, about 10.5, about 14.3, about 15.4, about 15.7, about 16.2, about 17.8, about 20.5, about 20.9, and about 23.5 degrees 2-theta.49.The crystalline solid form according to claim 47, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 128.0 ℃ and about 138.1.50.The crystalline solid form according to claim 47, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-L-1.51.The crystalline solid form according to claim 47, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-L-2.52.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-M.53.The crystalline solid form according to claim 52, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.2, about 13.8, about 16.2, about 18.0, about 19.3, about 20.3, about 20.8, about 21.5, about 23.6, about 24.1, about 26.3, about 27.3, and about 28.6 degrees 2-theta.54.The crystalline solid form according to claim 52, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 110.6 ℃.55.The crystalline solid form according to claim 52, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-M-1.56.The crystalline solid form according to claim 52, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 1-M-2.57.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-N.58.The crystalline solid form according to claim 57, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 8.3, about 10.9, about 12.0, about 12.4, about 14.2, about 14.4, about 16.9, about 18.0, about 19.4, about 20.2, about 20.6, about 22.7, about 23.3, about 24.0, about 28.6, and about 29.6 degrees 2-theta.59.The crystalline solid form according to claim 57, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-N-1.60.A salt form of compound 1: according to Formula (A) :wherein Y is selected from phosphoric acid, citric acid, hydrobromic acid, hydrochloric acid, malic acid, maleic acid, methanesulfonic acid, oxalic acid, sulfuric acid, and p-toluenesulfonic acid.61.The salt form according to claim 60, wherein said salt form is a crystalline solid.62.The salt form according to either of claim 60 or 61, wherein said salt form is substantially free of impurities.63.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 2: 64.The salt form according to claim 63, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 2.65.The salt form according to either of claim 63 or 64, wherein said salt form is selected from Form 2-A of compound 2.66.The salt form according to claim 65, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.1, about 13.0, about 15.7, about 18.9, about 19.2, about 19.7, about 20.3, about 21.0, about 23.5, and about 24.5 degrees 2-theta.67.The salt form according to claim 65, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 63 ℃ and about 70.1 ℃ and 184.8 ℃.68.The salt form according to claim 65, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 2-A-1.69.The salt form according to claim 65, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 2-A-2.70.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 3: 71.The salt form according to claim 70, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 3.72.The salt form according to any one of claims 70, wherein said salt form is selected from Form 3-A of compound 3.73.The salt form according to claim 72, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.8, about 19.1, about 20.3, about 23.8, about 25.3, and about 27.0 degrees 2-theta.74.The salt form according to claim 73, having five or more peaks in in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.8, about 19.1, about 20.3, about 23.8, about 25.3, and about 27.0 degrees 2-theta.75.The salt form according to claim 73, having six or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern at about 13.4, about 14.5, about 15.1, about 18.0, about 20.8, about 23.1, about 24.6, and about 26.1 degrees 2-theta.76.The salt form according to claim 73, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 104.4 ℃.77.The salt form according to claim 73, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 3-A-1.78.The salt form according to claim 73, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 3-A-2.79.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 4: 80.The salt form according to claim 79, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 4.81.The salt form according to either of claim 79 or 80, wherein said salt form is selected from Form 4-A and Form 4-B of compound 4.82.The salt form according to any one of claims 79-81, wherein said salt form is Form 4-A of compound 4.83.The salt form according to claim 82, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.7, about 7.4, about 11.1, about 14.8, about 15.6, about 18.5, about 22.3, about 24.9, and about 26.3 degrees 2-theta.84.The salt form according to claim 82, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about one endotherm at 107.0 ℃.85.The salt form according to claim 82, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 4-A-1.86.The salt form according to claim 82, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 4-A-2.87.The salt form according to any one of claims 79-81, wherein said salt form is Form 4-B of compound 4.88.The salt form according to claim 87, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 18.3, about 19.8, about 20.0, about 20.8, about 21.7, about 24.0, about 24.9, and about 30.7 degrees 2-theta.89.The salt form according to claim 87, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 190.3 ℃.90.The salt form according to claim 87, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 4-B-1.91.The salt form according to claim 87, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 4-B-2.92.The compound according to any one of claims 60-62, wherein said compound is compound 5: 93.The salt form according to claim 92, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 5.94.The salt form according to either of claim 92 or 93, wherein said salt form is selected from Form 5-A of compound 5.95.The salt form according to claim 94, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.5, about 11.0, about 11.3, about 16.6, about 18.6, about 19.5, about 20.0, about 20.8, and about 22.1 degrees 2-theta.96.The salt form according to claim 94, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 184.8 ℃.97.The salt form according to claim 94, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 5-A-1.98.The salt form according to claim 94, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 5-A-2.99.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 6: 100.The salt form according to claim 99, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 6.101.The salt form according to either of claim 99 or 100, wherein said salt form is selected from Form 6-A of compound 6.102.The salt form according to claim 100, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 13.5, about 14.7, about 16.0, about 16.9, about 19.7, about 20.5, about 21.3, about 23.2, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta.103.The salt form according to claim 100, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 111.0 ℃ and 198.6 ℃.104.The salt form according to claim 100, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 6-A-1.105.The salt form according to claim 100, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 6-A-2.106.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 7: 107.The salt form according to claim 106, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 7.108.The salt form according to either of claim 106 or 107, wherein said salt form is selected from Form 7-A, Form 7-B, and Form 7-C of compound 7.109.The salt form according to any one of claims 106-108, wherein said salt form is Form 7-A of compound 7.110.The salt form according to claim 109, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.8, about 10.3, about 13.5, about 14.7, about 15.4, about 15.8, about 17.9, about 19.6, about 20.5, about 21.4, about 23.1, about 24.8, and about 27.0 degrees 2-theta.111.The salt form according to claim 109, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 123.5 ℃ and 187.1 ℃.112.The salt form according to claim 109, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 7-A-1.113.The salt form according to claim 109, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 7-A-2.114.The salt form according to any one of claims 106-108, wherein said salt form is Form 7-B of compound 7.115.The salt form according to claim 114, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.2, about 11.2, about 17.8, about 18.6, about 19.1, about 20.2, about 21.3, about 22.2, about 24.3, about 26.7, and about 27.8 degrees 2-theta.116.The salt form according to claim 114, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 131.7 ℃.117.The salt form according to claim 114, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 7-B-1.118.The salt form according to claim 114, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 7-B-2.119.The salt form according to any one of claims 106-108, wherein said salt form is Form 7-C of compound 7.120.The salt form according to claim 119, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 5.1, about 8.2, about 13.9, about 16.5, about 18.8, about 19.8, about 20.1, about 20.8, about 25.4, about 25.9, about 27.5, and about 28.0 degrees 2-theta.121.The salt form according to claim 119, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 92.0 ℃.122.The salt form according to claim 119, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 7-C-1.123.The salt form according to claim 119, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 7-C-2.124.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 8: 125.The salt form according to claim 124, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 8.126.The salt form according to either of claim 124 or 125, wherein said salt form is selected from Form 8-A and Form 8-B of compound 8.127.The salt form according to any one of claims 124-126, wherein said salt form is Form 8-A of compound 8.128.The salt form according to claim 127, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.7, about 8.1, about 12.3, about 14.4, about 17.7, about 18.8, about 19.4, about 19.9, about 21.1, about 22.2, about 23.4, about 25.2, about 25.9, about 28.3, about 28.7, and about 29.8 degrees 2-theta.129.The salt form according to claim 127, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 173.7 ℃.130.The salt form according to claim 127, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 8-A-1.131.The salt form according to claim 127, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 8-A-2.132.The salt form according to any one of claims 124-126, wherein said salt form is Form 8-B of compound 8.133.The salt form according to claim 132, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.5, about 8.5, about 11.9, about 14.7, about 16.2, about 16.6, about 17.9, about 19.4, about 21.8, about 22.8, about 23.3, about 23.9, and about 30.5 degrees 2-theta.134.The salt form according to claim 132, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 214.4 ℃.135.The salt form according to claim 132, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 8-B-1.136.The salt form according to claim 132, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 8-B-2.137.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 9: 138.The salt form according to claim 137, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 9.139.The salt form according to either of claim 13 or 138, wherein said salt form is selected from Form 9-A, Form 9-B, and Form 9-C of compound 9.140.The salt form according to any one of claims 137-139, wherein said salt form is Form 9-A of compound 9.141.The salt form according to claim 140, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 3.8, about 6.0, about 7.5, about 10.2, about 18.8, and about 26.4 degrees 2-theta.142.The salt form according to claim 140, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 164.6 ℃ and 206.1 ℃.143.The salt form according to claim 140, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 9-A-1.144.The saltform according to claim 140, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 9-A-2.145.The salt form according to any one of claims 137-139, wherein said salt form is Form 9-B of compound 9.146.The salt form according to claim 145, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.1, about 15.3, about 17.6, about 20.7, about 22.2, about 22.6, about 23.0, about 23.4, about 23.7, about 24.8, about 26.5, and about 27.6 degrees 2-theta.147.The salt form according to claim 145, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 89.3 ℃, 95.5 ℃, and 171.2 ℃ and one exotherm at about 150.0 ℃.148.The salt form according to claim 145, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 9-B-1.149.The salt form according to claim 145, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 9-B-2.150.The salt form according to any one of claims 137-139, wherein said salt form is Form 9-C of compound 9.151.The salt form according to claim 150, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 7.8, about 19.1, about 20.3, about 23.8, about 25.3, and about 27.0 degrees 2-theta.152.The salt form according to claim 150, having a DSC thermogram characterized by endothermic peaks at about 93.0 ℃ and 172.2 ℃.153.The salt form according to claim 150, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 9-C-1.154.The salt form according to claim 150, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 9-C-2.155.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 10: 156.The salt form according to claim 155, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 10.157.The salt form according to either of claim 15 or 156, wherein said salt form is selected from Form 10-A of compound 10.158.The salt form according to claim 157, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 4.2, about 7.5, about 8.2, about 14.6, about 19.9, and about 24.4 degrees 2-theta.159.The salt form according to claim 157, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 58.7 ℃ and an exothermic peak at about 92.7 ℃.160.The salt form according to claim 157, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 10-A-1.161.The salt form according to claim 157, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 10-A-2.162.The salt form according to any one of claims 60-62, wherein said salt form is compound 11: 163.The salt form according to claim 162, wherein said salt form is a crystalline solid substantially free of amorphous compound 11.164.The salt form according to either of claim 16 or 163, wherein said salt form is selected from Form 11-A of compound 11.165.The salt form according to claim 164, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 6.0, about 11.1, about 11.9, about 12.1, about 14.8, about 18.2, about 20.9, and about 22.1 degrees 2-theta.166.The salt form according to claim 164, having a DSC thermogram characterized by an endothermic peak at about 172.2 ℃.167.The salt form according to claim 164, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 11-A-1.168.The salt form according to claim 164, having a DSC thermogram substantially as shown in Figure 11-A-2.169.The crystalline solid form according to any one of claims 1-3, wherein the crystalline solid form is Form 1-O.170.The crystalline solid form according to claim 169, having four or more peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 9.7, about 13.1, about 14.6, about 15.5, about 15.7, about 19.3, about 21.7, about 23.2, about 23.7, and about 27.5 degrees 2-theta.171.The crystalline solid form according to claim 169, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 1-O-1.172.The salt form according to either of claim 63 or 64, wherein said salt form is selected from Form 2-E of compound 2.173.The salt form according to claim 172, having four peaks in its X-ray powder diffraction pattern selected from those at about 10.3, about 10.8, about 20.0, and about 20.8 degrees 2-theta.174.The salt form according to claim 172, having an X-ray powder diffraction pattern substantially as shown in Figure 2-E-1.175.A composition comprising a crystalline solid form or salt form according to any one of claims 1-174 and a pharmaceutically acceptable carrier or excipient.176.A method of inhibiting the activity of a c-kit kinase in a patient, comprising administering to said patient a crystalline solid form or salt form according to any one of claims 1-174, or a composition thereof.177.A method of treating a c-kit kinase mediated disease or disorder in a patient, comprising administering to said patient a crystalline solid form or salt form according to any one of claims 1-174, or a composition thereof.178.The method according to claim 177, wherein the c-kit kinase mediated disease or disorder is a mast-cell associated disease, a respiratory disease, an inflammatory disorder, an autoimmune disorder, a metabolic disease, a fibrosis disease, or a dermatological disease.179.The method according to claim 177, wherein the c-kit kinase mediated disease or disorder is asthma, allergic rhinitis, pulmonary arterial hypertension (PAH) , primary pulmonary hypertension (PPH) , pulmonary fibrosis, hepatic fibrosis, cardiac fibrosis, scleroderma, irritable bowel syndrome (IBS) , inflammatory bowel disease (IBD) , urticaria, dermatosis, atopic dermatitis, allergic contact dermatitis, rheumatoid arthritis, multiple sclerosis, melanoma, a gastrointestinal stromal tumor, a mast cell tumor, mastocytosis, anaphylactic syndrome, food allergy, type I diabetes or type II diabetes.

Images