Methods and apparatus for management of cross-link interference

Abstract

Methods, apparatus and computer-readable medium are disclosed for management of cross-link interference (CLI). In an embodiment, there is provided a method performed at a terminal device. The method comprises receiving, from a base station, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for subband non-overlapping full duplex (SBFD) operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. The method further comprises performing a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI. The method further comprises reporting a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.

Description

METHODS AND APPARATUS FOR MANAGEMENT OF CROSS-LINK INTERFERENCETECHNICAL FIELD

[0001] Embodiments of the disclosure generally relate to wireless communication technology, and more particularly, to methods and apparatus for management of cross-link interference.BACKGROUND

[0002] The 3rd generation partnership project (3GPP) 5th generation (5G) new radio (NR) currently supports two duplexing modes: frequency division duplex (FDD) for paired bands as illustrated in FIG. 1A and time division duplex (TDD) for unpaired bands as illustrated in FIG. 1B. In TDD, the time domain resource is split between downlink and uplink. Allocation of limited time duration for the uplink in TDD would result in reduced coverage, increased latency, and reduced capacity.

[0003] Motivated by this, 3GPP has agreed to initiate a Release 18 (Rel-18) study item (RP-213591) on the evolution of duplexing operation in NR that addresses the challenges above. One of the objectives of the study item is to allow simultaneous downlink (DL) and uplink (UL) transmission on different physical resource blocks (PRBs) within an unpaired wideband NR cell, as illustrated in FIG. 1C. The set of PRBs assigned to a specific link direction is known as subband and this new way of duplexing is denoted as subband non-overlapping full duplex (SBFD) . Note that flexible full duplex (FDU) is an alternative name to SBFD.SUMMARY

[0004] This summary is provided to introduce simplified concepts of the present disclosure. This summary is not intended to identify key features or essential features of the claimed subject matter, nor is it intended to be used to limit the scope of the claimed subject matter.

[0005] According to a first aspect of the disclosure, there is provided an apparatus at a terminal device. The apparatus comprises at least one processor, and at least one memory storing instructions that, when executed by the at least one processor, cause the apparatus at least to receive, from a base station, a message about a cross-link interference (CLI) measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex (SBFD) operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second  information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions further cause the apparatus at least to perform a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions further cause the apparatus at least to report a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.

[0006] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration may occur periodically. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to perform the first CLI measurements periodically. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements periodically.

[0007] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one or more of: reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0008] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a measurement period and a first predefined measurement threshold. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to perform, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to determine whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the  apparatus at least to perform the first CLI measurements when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold.

[0009] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one or more of: reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0010] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to determine whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to perform the first CLI measurements when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold.

[0011] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one or more of: reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; and reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0012] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold.

[0013] According to some embodiments, the first predefined report threshold may equal to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset.

[0014] According to some embodiments, the second predefined report threshold may equal to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.

[0015] According to some embodiments, the performing of the first CLI measurements may be triggered by one of: downlink control information (DCI) ; radio resource control (RRC) signaling; medium access control (MAC) control element (CE) ; and the terminal device.

[0016] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one of: RRC signaling; uplink control information (UCI) ; and MAC CE.

[0017] According to a second aspect of the disclosure, there is provided an apparatus at a base station. The apparatus comprises at least one processor, and at least one memory storing instructions that, when executed on the at least one processor, cause the apparatus at least to transmit, to a first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. When the instructions are executed on the at least one processor, the instructions further cause the apparatus at least to receive, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.

[0018] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to determine an interference source of the CLI reported by the first terminal device, based on the result of the CLI measurements and previous scheduling history of the base station. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to perform one or more operations for mitigating the CLI from the interference source.

[0019] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to perform the one or more operations by: when determining that the interference source of the CLI is one or more second terminal devices in a serving cell of the base station, optimizing scheduling for the serving cell; and / or when determining  that the interference source of the CLI is from neighbor cells of neighbor base stations, sending information about the result of the CLI measurements to the neighbor base stations.

[0020] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration may occur periodically. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements periodically.

[0021] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one or more of: receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0022] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a measurement period and a first predefined measurement threshold. When the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one or more of: receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0023] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold. When the instructions are executed by the at least one processor,  the instructions may cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one or more of: receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; and receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0024] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold.

[0025] According to some embodiments, the first predefined report threshold may equal to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset.

[0026] According to some embodiments, the second predefined report threshold may equal to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.

[0027] According to some embodiments, when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions may cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one of: RRC signaling; UCI; and MAC CE.

[0028] According to a third aspect of the disclosure, there is provided a method performed at a terminal device. The method comprises receiving, from a base station, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. The method further comprises performing a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI. The method further comprises reporting a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.

[0029] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration may occur periodically. The first CLI measurements may be performed periodically. The result of the first CLI measurements may be reported periodically.

[0030] According to some embodiments, reporting the result of the first CLI measurements per slot may comprise one or more of: reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0031] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a measurement period and a first predefined measurement threshold. The method may further comprise performing, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI. The method may further comprise determining whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold. The first CLI measurements may be performed when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold.

[0032] According to some embodiments, reporting the result of the first CLI measurements per slot may comprise one or more of: reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0033] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold. The method may further comprise determining whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold. The first CLI measurements may be performed when  determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold.

[0034] According to some embodiments, reporting the result of the first CLI measurements per slot may comprise one or more of: reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; and reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0035] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold.

[0036] According to some embodiments, the first predefined report threshold may equal to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset.

[0037] According to some embodiments, the second predefined report threshold may equal to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.

[0038] According to some embodiments, the performing of the first CLI measurements may be triggered by one of: DCI; RRC signaling; MAC CE; and the terminal device.

[0039] According to some embodiments, the result of the first CLI measurements per slot may be reported by one of: RRC signaling; UCI; and MAC CE.

[0040] According to a fourth aspect of the disclosure, there is provided a method performed at a base station. The method comprises transmitting, to a first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. The method further comprises receiving, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.

[0041] According to some embodiments, the method may further comprise determining an interference source of the CLI reported by the first terminal device, based on the result of the CLI measurements and previous scheduling history of the base station. The method may further comprise performing one or more operations for mitigating the CLI from the interference source.

[0042] According to some embodiments, performing the one or more operations may comprise, when determining that the interference source of the CLI is one or more second terminal devices in a serving cell of the base station, optimizing scheduling for the serving cell.

[0043] According to some embodiments, performing the one or more operations may comprise, when determining that the interference source of the CLI is from neighbor cells of neighbor base stations, sending information about the result of the CLI measurements to the neighbor base stations.

[0044] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration may occur periodically. The result of the CLI measurements may be received periodically.

[0045] According to some embodiments, receiving the result of the CLI measurements per slot may comprise one or more of: receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0046] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a measurement period and a first predefined measurement threshold. Receiving the result of the CLI measurements per slot may comprise one or more of: receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting top M best  values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0047] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold. Receiving the result of the CLI measurements per slot may comprise one or more of: receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; and receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0048] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold.

[0049] According to some embodiments, the first predefined report threshold may equal to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset.

[0050] According to some embodiments, the second predefined report threshold may equal to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.

[0051] According to some embodiments, the result of the CLI measurements per slot may be received by one of: RRC signaling; UCI; and MAC CE.

[0052] According to a fifth aspect of the disclosure, there is provided an apparatus at a terminal device. The apparatus comprises means for receiving, from a base station, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. The apparatus further comprises means for performing a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI. The apparatus further comprises means for reporting a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.

[0053] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration  may occur periodically. The means for performing the first CLI measurements may operate periodically. The means for reporting the result of the first CLI measurements may operate periodically.

[0054] According to some embodiments, the means for reporting the result of the first CLI measurements per slot may operate by one or more of: reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0055] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a measurement period and a first predefined measurement threshold. The apparatus may further comprise means for performing, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI. The apparatus may further comprise means for determining whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold. The means for performing the first CLI measurements may operate when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold.

[0056] According to some embodiments, the means for reporting the result of the first CLI measurements per slot may operate by one or more of: reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0057] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold. The apparatus may further comprise means for determining whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold. The means for performing the first CLI measurements may operate when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold.

[0058] According to some embodiments, the means for reporting the result of the first CLI measurements per slot may operate by one or more of: reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; reporting top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; and reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0059] According to a sixth aspect of the disclosure, there is provided an apparatus at a base station. The apparatus comprises means for transmitting, to a first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. The apparatus further comprises means for receiving, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.

[0060] According to some embodiments, the apparatus may further comprise means for determining an interference source of the CLI reported by the first terminal device, based on the result of the CLI measurements and previous scheduling history of the base station. The apparatus may further comprise means for performing one or more operations for mitigating the CLI from the interference source.

[0061] According to some embodiments, the means for performing the one or more operations may operate by, when determining that the interference source of the CLI is one or more second terminal devices in a serving cell of the base station, optimizing scheduling for the serving cell.

[0062] According to some embodiments, the means for performing the one or more operations may operate by, when determining that the interference source of the CLI is from neighbor cells of  neighbor base stations, sending information about the result of the CLI measurements to the neighbor base stations.

[0063] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration may occur periodically. The means for receiving the result of the CLI measurements may operate periodically.

[0064] According to some embodiments, the means for receiving the result of the CLI measurements per slot may operate by one or more of: receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0065] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a measurement period and a first predefined measurement threshold. The means for receiving the result of the CLI measurements per slot may operate by one or more of: receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI; receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; and reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0066] According to some embodiments, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold. The means for receiving the result of the CLI measurements per slot may operate by one or more of: receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI; receiving top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap  indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; and receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.

[0067] According to a seventh aspect of the disclosure, there is provided a computer readable storage medium, on which instructions are stored. When executed by at least one processor, the instructions cause the at least one processor to perform any method according to the third or fourth aspect.

[0068] According to an eighth aspect of the disclosure, there is provided computer program product comprising instructions which when executed by at least one processor, cause the at least one processor to perform any method according to the third or fourth aspect.

[0069] It is to be understood that the summary section is not intended to identify key or essential features of embodiments of the present disclosure, nor is it intended to be used to limit the scope of the present disclosure. Other features of the present disclosure will become easily comprehensible through the following description.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS

[0070] Some example embodiments will now be described with reference to the accompanying drawings in which:

[0071] FIGs. 1A-1C illustrate frequency-time resource partitioning of FDD, TDD and SBFD respectively;

[0072] FIG. 2 illustrates exemplary examples of SBFD slots and non-SBFD slots;

[0073] FIGs. 3A-3B illustrate different co-channel CLI types in SBFD deployment;

[0074] FIGs. 4A-4C illustrate DL user perceived throughput (UPT) for SBFD and TDD with different configurations;

[0075] FIG. 5 illustrates an exemplary example of i1-event triggered reporting;

[0076] FIGs. 6 illustrates an exemplary example of inter-cell CLI in dynamic TDD;

[0077] FIGs. 7 illustrates an exemplary example of inter-cell CLI and intra-cell CLI in SBFD;

[0078] FIG. 8 is a flow chart depicting a process according to an embodiment of the present disclosure;

[0079] FIG. 9 is a flow chart depicting a process according to another embodiment of the present disclosure;

[0080] FIG. 10 is a flow chart depicting a process according to yet another embodiment of the present disclosure;

[0081] FIG. 11 is a flow chart depicting a method performed at a base station according to an embodiment of the present disclosure;

[0082] FIG. 12 is a flow chart depicting a method performed at a base station according to another embodiment of the present disclosure;

[0083] FIG. 13 is a flow chart for explaining the method of FIG. 12;

[0084] FIG. 14 is a flow chart depicting a method performed at a terminal device according to an embodiment of the present disclosure;

[0085] FIG. 15 is a flow chart depicting an exemplary process according to an embodiment of the present disclosure; and

[0086] FIG. 16 shows a simplified block diagram of an apparatus according to an embodiment of the present disclosure.DETAILED DESCRIPTION

[0087] Some example embodiments will now be described in more detail hereinafter with reference to the accompanying drawings, in which some, but not all embodiments are shown. Indeed, the example embodiments may take many different forms and should not be construed as fixed to the embodiments set forth herein; rather, these embodiments are provided so that this disclosure will satisfy applicable legal requirements. Like reference numerals refer to like elements throughout.

[0088] References in the present disclosure to “one embodiment” , “an embodiment” , “an example embodiment” , and the like indicate that the embodiment described may include a particular feature, structure, or characteristic, but it is not necessary that every embodiment includes the particular feature, structure, or characteristic. Moreover, such phrases are not necessarily referring to the same embodiment. Further, when a particular feature, structure, or characteristic is described in connection with an example embodiment, it is submitted that it is within the knowledge of one skilled in the art to affect such feature, structure, or characteristic in connection with other embodiments whether or not explicitly described.

[0089] In the following description and claims, unless defined otherwise, all technical and scientific terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skills in the art to which this disclosure belongs.

[0090] As used herein, the terms “data, ” “content, ” “information, ” and similar terms may be used interchangeably to refer to data capable of being transmitted, received and / or stored in accordance with embodiments of the present invention. Thus, use of any such terms should not be taken to limit the spirit and scope of embodiments of the present invention.

[0091] As used in this application, the term “circuitry” may refer to one or more or all of the following:

[0092] (a) hardware-only circuit implementations (such as implementations in only analog and / or digital circuitry) and

[0093] (b) combinations of hardware circuits and software, such as (as applicable) :

[0094] (i) a combination of analog and / or digital hardware circuit (s) with software / firmware and

[0095] (ii) any portions of hardware processor (s) with software (including digital signal processor (s) ) , software, and memory (ies) that work together to cause an apparatus, such as a mobile phone or server, to perform various functions) and

[0096] (c) hardware circuit (s) and or processor (s) , such as a microprocessor (s) or a portion of a microprocessor (s) , that requires software (e.g., firmware) for operation, but the software may not be present when it is not needed for operation.

[0097] This definition of “circuitry” applies to all uses of this term in this application, including in any claims. As a further example, as used in this application, the term “circuitry” also covers an implementation of merely a hardware circuit or processor (or multiple processors) or portion of a hardware circuit or processor and its (or their) accompanying software and / or firmware. The term “circuitry” also covers, for example and if applicable to the particular claim element, a baseband integrated circuit or processor integrated circuit for a mobile device or a similar integrated circuit in server, a cellular network device, or other computing or network device.

[0098] As defined herein, a “computer-readable storage medium, ” which refers to a non-transitory physical storage medium (e.g., volatile or non-volatile memory device) , can be differentiated from a “computer-readable transmission medium, ” which refers to an electromagnetic signal. Such a medium may take many forms, including, but not limited to a non-transitory computer-readable storage medium (e.g., non-volatile media, volatile media) , and transmission media. Transmission media include, for example, coaxial cables, copper wire, fiber optic cables, and carrier waves that  travel through space without wires or cables, such as acoustic waves and electromagnetic waves, including radio, optical and infrared waves. Signals include man-made transient variations in amplitude, frequency, phase, polarization or other physical properties transmitted through the transmission media. Examples of non-transitory computer-readable media include a magnetic computer readable medium (e.g., a floppy disk, hard disk, magnetic tape, any other magnetic medium) , an optical computer readable medium (e.g., a compact disc read only memory (CD-ROM) , a digital versatile disc (DVD) , a Blu-Ray disc, or the like) , a random access memory (RAM) , a programmable read only memory (PROM) , an erasable programmable read only memory (EPROM) , a FLASH-EPROM, or any other non-transitory medium from which a computer can read. The term computer-readable storage medium is used herein to refer to any computer-readable medium except transmission media. However, it will be appreciated that where embodiments are described to use a computer-readable storage medium, other types of computer-readable mediums may be substituted for or used in addition to the computer-readable storage medium in alternative embodiments.

[0099] In the following, certain embodiments are explained with reference to cellular communication terminals (or user equipment (UE) or terminal device) capable of cellular communication on a radio access, via cells, base stations, WiFi access point or similar wireless transmitter and / or receiver nodes, providing access points for a radio access system. The radio access system can be arranged to allow mobile communication network connections established between a UE and a core network or a network entity of the core network. The radio access system may be a 3GPP access system, or a non-3GPP access system.

[0100] The cellular communication terminal or UE or terminal device may comprise any suitable device capable of at least receiving cellular communication of data. For example, the cellular communication terminal or UE can be handheld data processing device equipped with radio receiver, data processing and user interface apparatus. Non-limiting examples include a mobile station (MS) such as a mobile phone or what is known as a “smart phone” , a portable computer such as a laptop or a tablet computer provided with a wireless interface card or other wireless interface facility, personal data assistant (PDA) provided with wireless communication capabilities, or any combinations of these or the like. Further examples include wearable wireless devices such as those integrated with watches or smart watches, eyewear, helmets, hats, clothing, ear pieces with cellular connectivity, jewelry and so on, universal serial bus (USB) sticks with cellular capabilities, modem data cards, machine type devices or any combinations of these or the like.

[0101] From the description of SBFD operation hereinbefore, it can be observed that there are two slot types for both DL and UL transmissions as shown in FIG. 2, namely: Non-SBFD slots, during  which the entire band is used for either DL or UL (i.e., legacy / full DL / UL slots) ; and SBFD slots, during which the non-overlapping DL subbands and UL subband (s) both exist.

[0102] Several SBFD operation modes have been studied including whether time and frequency locations of subbands for SBFD operation are known to the SBFD-aware user equipment (UE) or not. It however has been agreed in 3GPP RAN1#110 meeting that at least the operation mode with time and frequency locations of subbands for SBFD operation being known to the SBFD-aware UE is prioritized. This means that SBFD slots should be known by the (SBFD-aware) UE in one way or another. Note that this information is introduced for completeness and the present disclosure does not focus on the indication of SBFD slots.

[0103] As explained in Nokia’s Tdoc for RAN1#110 meeting (R1-2207267) and illustrated in FIGs. 3A and 3B, SBFD introduces new types of CLI, namely co-channel inter-subband CLI from non-overlapping frequency resources. This interference can be better classified depending on the source of the interference as: 1) next generation node B (gNB) self-interference; 2) intra-cell UE-to-UE co-channel inter-subband CLI; 3) inter-cell UE-to-UE co-channel inter-subband CLI; and 4) gNB-to-gNB co-channel inter-subband CLI, as shown in FIG. 3A where same frequency domain partitioning is used in neighbor cells.

[0104] Besides the above CLI types, in case of different frequency domain partitioning in neighbor cells, the system may also suffer from co-channel CLI from transmissions on overlapping frequency resources: 5) gNB-to-gNB inter-cell co-channel CLI from overlapping frequency resources; and 6) UE-to-UE inter-cell co-channel CLI from overlapping frequency resources, as shown in FIG. 3B.

[0105] The importance of these new interference types has been extensively studied by system-level simulations during the 3GPP study item. In the present disclosure, focus is placed on the UE-to-UE CLI measurements and FIGs. 4A-4C show the DL UE throughput for an urban macro scenario adopting SBFD. In this scenario, the UEs are dropped (or disposed) in confined areas (aka clusters) so that the UE-to-UE CLI is present. It can be noted that any of the SBFD configurations (e.g., the third bar) shows lower DL throughput than the static TDD (e.g., the first bar) . The DL performance degradation is specifically noticeable on the 5th percentile, which represents the UEs deployed at the cell edge. One could think about a cell-edge UE transmitting with high transmit power while another (nearby) cell-edge UE is receiving in DL. The CLI level in such case is quite high and significantly impacts the DL throughput of the cell-edge UE.

[0106] The serving gNB should be aware of the DL UE CLI conditions such that it can apply CLI mitigation schemes. Therefore, CLI measurements are needed for the optimal SBFD operation.

[0107] As part of the dynamic TDD standardization, 2 types of UE-to-UE cross-link interference measurements were standardized. One consists of measuring the reference signal received power (RSRP) of a sounding reference signal (SRS) , also known as SRS-RSRP. The other consists of measuring the received signal strength indicator (RSSI) of a given set of resources, also known as CLI-RSSI.

[0108] The definition of the SRS-RSRP is as below.

[0109] The definition of the CLI-RSSI is as below.

[0110] For CLI-RSSI, the UE is configured with a set of continuous resources in which it is expected to measure. The configuration of the resources is as follows.

[0111] So essentially, the UE is configured based on a start PRB, a number of PRBs (i.e. the bandwidth of the measurements) , and the number of symbols that spans the measurements.

[0112] The conditional reporting (or event-trigger reporting) is supported in the specifications. FIG. 5 illustrates an exemplary example of i1-event triggered reporting. The event i1 is defined in 3GPP technical specification (TS) 38.331 as below.

[0113] Event I1 (Interference becomes higher than threshold)

[0114] The UE shall:

[0115] 1> consider the entering condition for this event to be satisfied when condition I1-1, as specified below, is fulfilled;

[0116] 1> consider the leaving condition for this event to be satisfied when condition I1-2, as specified below, is fulfilled.

[0117] Inequality I1-1 (Entering condition)

[0118] Mi –Hys > Thresh

[0119] Inequality I1-2 (Leaving condition)

[0120] Mi+ Hys < Thresh

[0121] The variables in the formula are defined as follows:

[0122] Mi is the measurement result of the interference, not taking into account any offsets.

[0123] Hys is the hysteresis parameter for this event (i.e. hysteresis as defined within reportConfigNR for this event) .

[0124] Thresh is the threshold parameter for this event (i.e. i1-Threshold as defined within reportConfigNR for this event) .

[0125] Mi, Thresh are expressed in dBm.

[0126] Hys is expressed in dB.

[0127] Rel-16 CLI measurements are layer-3 filtered, i.e., measurements are averaged over time. This way of measuring might work well for dynamic TDD since the CLI conditions can be rather “static” and only due to inter-cell UE-to-UE CLI. As shown in FIG. 6, a victim UE (UE 63) only expects CLI that is on the “mismatched” slot (the fourth slot in FIG. 6) and likely to be generated by the same cell-edge UE (UE 64) of the neighbor cell. On the other hand, in SBFD, the CLI can also be generated by UEs in the same cell, i.e., intra-cell UE-to-UE CLI. This intra-cell CLI component is expected to be more volatile since the scheduling decision plays an important role in the CLI level. As shown in FIG. 7, in the first SBFD slot (the second slot) , the 3 UEs (UE 63, UE 65 and UE 66) in the cell are receiving in DL and no CLI is observed. In the next SBFD slot (the third slot) , one UE (UE 63) is scheduled over the DL subband and another UE (UE 65) over the UL subband. This latter UE (UE 65) creates intra-cell CLI to the former UE (UE 63) . In a subsequent slot (the fourth slot) , the aggressor UE changes to UE 66 since now a different UL allocation was assigned.

[0128] The inventors of the present disclosure found that a drawback of the layer-3 CLI measurements is that the timing aspect of the measurements is “lost” and the gNB is not able to identify which of the measurement occurrences corresponded to the highest CLI observed. In Rel-16 measurements, the identification of aggressor UEs relies on individual SRS-RSRP measurements. To do so, the UE individually measures the SRS of a given UE. Iterating over a set of SRS’s measurements takes time and might increase the complexity of the UE.

[0129] The present disclosure proposes an improved solution for management of cross-link interference. In particular, on the network side, the present disclosure proposes a simpler method to identify the aggressor UEs (at least for intra-cell CLI) using CLI-RSSI measurements and relying on the past UL scheduling information of the gNB. On the UE side, the present disclosure proposes a new CLI measurement and reporting framework that allows UEs to measure and report the CLI on a  per-slot granularity, which provides the gNB with the timing response / information of the CLI conditions.

[0130] The new way of measuring requires new parameters for both the measurements and the reporting. On the measurement configuration, on top of the legacy CLI measurement configuration, the UE receives information about a measurement window duration which may be simply referred to as window duration herein below. Additionally, a measurement-trigger threshold may be configured. Note that this threshold is different from the legacy i1-threshold which is a report-trigger and not a measurement-trigger.

[0131] On the reporting configuration, the gNB can indicate to report the measured CLI in the N slots with highest CLI (also known as top N worst measurement results) , where N is an integer. Additionally or alternatively, the gNB can also indicate to report the measured CLI in the M slots with lowest CLI (also known as top M best measurement results) , where M is an integer.

[0132] This new framework is envisioned to be combined with the legacy CLI measurements. Thus, the UE is configured with periodic L3 CLI measurements. The UE triggers the new per-slot measurements once the L3 CLI measurements are above (or below) the new corresponding threshold. If the condition is fulfilled, the UE then measures the CLI per slot during the window duration period. In this window duration, the UE is not expected to perform any average or time-filtering of the measurements. In this way, it can truly reflect the level of interference. The UE then reports the new measurements as configured by the gNB. For instance, the UE could report the highest 5 CLI measurements over the window duration (top 5 slots) .

[0133] In another implementation, the UE can be configured without any measurement-trigger threshold. In such case, the UE could periodically measure and report the per-slot CLI.

[0134] The slot may be understood to mean a time slot within the meaning of the cellular standard specifications. A radio frame may be divided into sub-frames, and a sub-frame may be divided into time slots. A time slot may comprise a certain number of symbols such as orthogonal frequency-division multiplexing (OFDM) symbols. For example, the number of slots per sub-frame may vary from 1 to 16 depending on the used numerology, following the 5G specifications of the 3GPP. A slot duration may thus be between 0.0625 and 1 milliseconds (ms) . In other systems, the number slots per sub-frame or per radio frame may be different.

[0135] Upon receiving the new measurements, the gNB is aware of the timing aspect of the CLI measurements. Moreover, the gNB knows which UEs were scheduled in each of the reported slots so it can deduce which UEs should be considered as aggressor UEs (intra-cell UEs) . In this way, it can help finding the source of interference without using individual UE signals for the UE identification.  The gNB then optimizes scheduling in intra cell. In this way, it can help the interference optimization, scheduling optimization, performance optimization in the service cell.

[0136] The gNB can also deduce whether the CLI is created due to inter-cell CLI if a high reported CLI is in a slot without scheduled UL transmissions. The gNB can support this CLI report format exchange by Xn interface with neighbour cells for coordinating beams management or scheduling between gNBs. In this way, it can help coordinating interference mitigation between gNBs.

[0137] Hereinafter, the solution of the present disclosure will be described in detail with reference to FIGs. 8-16.

[0138] FIG. 8 is a flow chart depicting a process according to an embodiment of the present disclosure. As shown in FIG. 8, the process involves a base station (e.g. a gNB) and a first terminal device. At block 802, the base station transmits, to the first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration and a time offset for defining a starting slot of a measurement period. In the example of FIG. 8, the measurement window duration occurs periodically and the starting slot of the measurement window duration may be the starting slot of the measurement period. #The length of the measurement window may be smaller than or equal to the length of the measurement period. The CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. The at least part of the slots of the measurement window duration may include those slots having relatively worse values of measured CLI within the measurement window duration. Optionally, the at least part of the slots of the measurement window duration may further include those slots having relatively better values of measured CLI within the measurement window duration.

[0139] Correspondingly, at block 852, the first terminal device receives, from the base station, the message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration and a time offset for defining a starting slot of a measurement period. As described above, the measurement window duration occurs periodically. The CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration.

[0140] At block 858, the first terminal device performs a first CLI measurement per slot within the measurement window duration periodically without time-filtering of values of measured CLI. Since  the measurement window duration occurs periodically, the first CLI measurements are performed periodically.

[0141] At block 860, the first terminal device reports a result of the first CLI measurements per slot to the base station periodically based on the CLI report configuration. Since the first CLI measurements are performed periodically, the result of the first CLI measurements is reported periodically. For performing the reporting at block 860, any one of the following first to third options may be used. Optionally, any one of the following fourth to sixth options may be further used. As the first option, the first terminal device may report top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI. For this first option, the first information about the at least part of the slots of the measurement window duration is the slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI. The second information about the values of measured CLI is the top N worst values of measured CLI.

[0142] As the second option, the first terminal device may report top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI. The number of bits in the bitmap equals to the number of the slots of the measurement window duration. For those slots corresponding to the top N worst values of measured CLI, the corresponding bit may be set to 1 while the remaining bits in the bitmap may be set to 0.

[0143] As the third option, the first terminal device may report a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold. For example, the first predefined report threshold may be indicated in the CLI measurement configuration. Alternatively, the CLI measurement configuration may indicate a first predefined measurement threshold (which will be described later) and the first predefined report threshold may equal to the first predefined measurement threshold plus a first predefined offset. For example, the first predefined offset may also be indicated in the CLI measurement configuration. For the third option, the first information about the at least part of the slots of the measurement window duration is the bitmap which is explicitly indicated. The second information about the values of measured CLI is implicitly indicated.

[0144] As the fourth option, the first terminal device may report top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI. As the fifth option, the first terminal device may report top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0145] As the sixth option, the first terminal device may report a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold. For example, the second predefined report threshold may be indicated in the CLI measurement configuration. Alternatively, the CLI measurement configuration may indicate a second predefined measurement threshold (which will be described later) and the second predefined report threshold may equal to the second predefined measurement threshold minus a second predefined offset. For example, the second predefined offset may also be indicated in the CLI measurement configuration.

[0146] Correspondingly, at block 804, the base station receives periodically, from the first terminal device, the result of the first CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.

[0147] FIG. 9 is a flow chart depicting a process according to another embodiment of the present disclosure. As shown in FIG. 9, the process involves a base station (e.g. a gNB) and a first terminal device. At block 902, the base station transmits, to the first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, a measurement period and a first predefined measurement threshold. The measurement period means how often a measurement is made, and the window duration means for how long the measurements are performed at a time. In the example of FIG. 9, the measurement window duration is triggered by event. The length of the measurement window duration may be smaller than or equal the length of the measurement period. The CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration.

[0148] Correspondingly, at block 952, the first terminal device receives, from the base station, the message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, a measurement period and a first predefined measurement threshold. The CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration.

[0149] At block 954, the first terminal device performs, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI. Since time-filtering is performed on the values of measured CLI, the second CLI measurement may be the legacy CLI-RSSI measurement. At block 956, the first terminal device determines whether a value of  measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold. At block 958, when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold, the first terminal device performs the first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI.

[0150] At block 960, the first terminal device reports a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration. For performing the reporting at block 960, any one of the following first to third options may be used. Optionally, the following fourth option may be further used. As the first option, the first terminal device may report top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI. As the second option, the first terminal device may report top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI. As the third option, the first terminal device may report a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold. For example, the first predefined report threshold may be indicated in the CLI measurement configuration. Alternatively, the first predefined report threshold may equal to the first predefined measurement threshold plus a first predefined offset. As the fourth option, the first terminal device may report top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.

[0151] Correspondingly, at block 904, the base station receives, from the first terminal device, the result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.

[0152] With the process of FIG. 8 or FIG. 9, because the first CLI measurement does not perform time-filtering on the values of measured CLI, it can truly reflect the level of interference per slot. Because the reported result of the first CLI measurements contains the timing information of the reported values of measured CLI, it is possible to allow the base station to identify the interference source of the reported CLI and thereby take actions to mitigate the CLI.

[0153] FIG. 10 is a flow chart depicting a process according to yet another embodiment of the present disclosure. As shown in FIG. 10, the process involves a base station (e.g. a gNB) and a first terminal device. The process of FIG. 10 may be combined with the process of FIG. 9. At block 1002, the base station transmits, to the first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement  configuration indicates a measurement window duration, a measurement period and a second predefined measurement threshold. In the example of FIG. 10, the measurement window duration is triggered by event. Note that in the case where the process of FIG. 10 is combined with the process of FIG. 9, the CLI measurement configuration may indicate both the first and second predefined measurement threshold in a form of a reference measurement threshold and an offset. Accordingly, the first predefined measurement threshold may equal to the reference measurement threshold plus the offset, and the second predefined measurement threshold may equal to the reference measurement threshold minus the offset. The CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration.

[0154] Correspondingly, at block 1052, the first terminal device receives, from the base station, the message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, a measurement period and a second predefined measurement threshold. The CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration.

[0155] At block 1054, the first terminal device performs, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI. Since time-filtering is performed on the values of measured CLI, the second CLI measurement may be the legacy CLI-RSSI measurement. At block 1056, the first terminal device determines whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold. At block 1058, when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold, the first terminal device performs the first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI.

[0156] At block 1060, the first terminal device reports a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration. For performing the reporting at block 1060, any one of the following first to third options may be used. As the first option, the first terminal device may report top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI. As the second option, the first terminal device may report top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI. As the third option, the first terminal device may report a slot index  of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold. For example, the second predefined report threshold may be indicated in the CLI measurement configuration. Alternatively, the second predefined report threshold may equal to the second predefined measurement threshold minus a second predefined offset.

[0157] Correspondingly, at block 1004, the base station receives, from the first terminal device, the result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.

[0158] FIG. 11 is a flow chart depicting a method performed at a base station according to an embodiment of the present disclosure. At block 1102, the base station transmits, to a first terminal device, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. For example, block 1102 may be implemented as block 802 of FIG. 8, or block 902 of FIG. 9, or block 1002 of FIG. 10. At block 1104, the base station receives, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration. For example, block 1104 may be implemented as block 804 of FIG. 8, or block 904 of FIG. 9, or block 1004 of FIG. 10. With the method of FIG. 11, because the reported result of the CLI measurements contains the timing information of the reported values of measured CLI, it is possible for the base station to identify the interference source of the reported CLI and thereby take actions to mitigate the CLI.

[0159] FIG. 12 is a flow chart depicting a method performed at a base station according to another embodiment of the present disclosure. As shown in FIG. 12, the method comprises blocks 1102-1104 of FIG. 11, and blocks 1206-1208. At block 1206, the base station determines an interference source of the CLI reported by the first terminal device, based on the result of the CLI measurements and previous scheduling history of the base station. As described above, the at least part of the slots of the measurement window duration that is indicated by the first information mentioned at block 802 may include those slots having relatively worse values of measured CLI within the measurement window duration. From the previous scheduling history, the base station may determine, as a first interference source, a first set of second terminal devices which have been scheduled for uplink in those slots having relatively worse values of measured CLI.

[0160] Optionally, the at least part of the slots of the measurement window duration that is indicated by the first information mentioned at block 802 may further include those slots having relatively  better values of measured CLI within the measurement window duration. From the previous scheduling history, the base station may determine a second set of second terminal devices which have been scheduled for uplink in those slots having relatively better values of measured CLI. The base station may determine an intersection set of the first set and the second set, and determine, as a second interference source, a third set that equals to the first set minus the intersection set. Because the intersection set is removed, the second interference source (the third set) is more accurate than the first interference source.

[0161] At block 1208, the base station performs one or more operations for mitigating the CLI from the interference source. For example, block 1208 may be implemented as block 1310 and / or block 1312 of FIG. 13. At block 1310, when determining that the interference source of the CLI is one or more second terminal devices in a serving cell of the base station, the base station optimizes scheduling for the serving cell. At block 1312, when determining that the interference source of the CLI is from neighbor cells of neighbor base stations, the base station sends information about the result of the CLI measurements to the neighbor base stations. In this way, it is possible for the neighbor base stations to optimize their scheduling to mitigate the CLI.

[0162] With the method of FIG. 12, the interference source can be identified without using individual UE signals for the UE identification, and the CLI from the interference source can be mitigated.

[0163] FIG. 14 is a flow chart depicting a method performed at a terminal device according to an embodiment of the present disclosure. At block 1452, the terminal device receives, from a base station, a message about a CLI measurement configuration and a CLI report configuration for SBFD operation mode. The CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration. At block 1458, the terminal device performs a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI. For example, block 1458 may be implemented as block 858 of FIG. 8, or block 958 of FIG. 9, or block 1058 of FIG. 10. At block 1460, the terminal device reports a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration. For example, block 1460 may be implemented as block 860 of FIG. 8, block 960 of FIG. 9, or block 1060 of FIG. 10. With the method of FIG. 14, because the first CLI measurement does not perform time-filtering on the values of measured CLI, it can truly reflect the level of interference per slot. Because the reported result of the first CLI measurements contains the timing  information of the reported values of measured CLI, it is possible to allow the base station to identify the interference source of the reported CLI and thereby take actions to mitigate the CLI.

[0164] FIG. 15 is a flow chart depicting an exemplary process according to an embodiment of the present disclosure. As shown in FIG. 15, the process involves a gNB and a UE. At step 1, the NW (e.g. a gNB) broadcasts that it supports SBFD mode, so that UEs access the NW in SBFD mode. At step 2, the NW indicates configurations to the UE and the UE receives the configurations. The configurations comprise:

[0165] 1) a frequency band;

[0166] 2) a number of slots / symbols, wherein the frequency band is split into multiple subbands and wherein at least one subband is used for DL transmissions and at least one subband is used for UL transmissions, i.e., sub-band full duplex (SBFD) slots / symbols, and locations of the number of slots / symbols in a radio frame;

[0167] 3) a number of slots / symbols, wherein the entire frequency band is used for DL transmissions or UL transmissions or flexible transmissions, i.e., non-SBFD slots / symbols, and locations of the number of slots / symbols in a radio frame;

[0168] 4) CLI measurement and report configurations comprising for example:

[0169] 4.1) additional measurement configuration, including one or multiple of:

[0170] 4.1.1) one measurement period and offset configuration;

[0171] 4.1.2) one window duration configuration;

[0172] 4.1.3) pre-definition threshold;

[0173] 4.1.4) measure bandwidth;

[0174] 4.2) additional report configuration, including one or multiple of:

[0175] 4.2.1) top N worst (i.e., highest) CLI measurements: the UE can be configured to include in the report the absolute power levels or relative power levels with respect to the highest CLI. The UE shall also include timing information, i.e., the slot number of each of the corresponding measurements.

[0176] 4.2.2) top M best (i.e., lowest) CLI measurements: the UE can be configured to include in the report the absolute power levels or relative power levels with respect to the highest CLI. The UE shall also include timing information, i.e., the slot number of each of the corresponding measurements.

[0177] 4.2.3) reporting periodicity (if reporting is periodic) .

[0178] At step 3, the SBFD aware UEs trigger the measurement and report when the CLI exceeds the pre-definition threshold or always periodically perform measurement and report. As an option, the pre-definition threshold may be similar to the legacy CLI measurement configuration. The measurement and report may be triggered by DCI / RRC / MAC CE / UE-self.

[0179] Specifically, SBFD Aware UEs will have a window duration measurement in the period based on the configuration of step 2. SBFD Aware UEs will report the top N worst CLI results and corresponding time information. SBFD Aware UEs will report the top M best CLI results and corresponding time information. For example, Measure period is 4 frames (80 slots) , offset is 15 slots, window duration is 20 slots, N = 2 (the worst 2 CLI) and M = 2 (the best 2 CLI) .

[0180] Below table is measurement results (dBm) , NA means the UE cannot do measurement in the slot (i.e., the UE is sending UL) .

[0181] Table 1: Per-slot CLI measurements [dBm] and corresponding slot index

[0182] The UE shall report the measured CLI and the slot index of the worst / best CLI measurements. Then, following this example, the UE reports the worst N (N=2) slots: slot #31 (-71 dBm) and slot #33 (-75 dBm) and / or the best M (M=2) slots: slot #25 (-104 dBm) and slot #22 (-103 dBm) to the gNB.

[0183] A simple method to report is to use a bit-map where each bit represents a slot in the measurement window. Thus, the size of the bit-map is determined by the window duration. A “1” in the bitmap would indicate that the reported CLI power corresponds to that slot. Independent bit-maps will be used for the top worst and top best CLI measurements. Following the example above, the UE would: 1) report a bitmap for the top worst CLI as: {0000 0000 0000 0000 1010} together with the measurement results: -71 dBm and -75 dBm; 2) report a bitmap for the top best CLI as: {0000 0001 0010 0000 0000} together with the measurement results: -103 dBm and -104 dBm.

[0184] Alternatively, the UE can be configured with a second threshold to determine which measurements to be reported. This second threshold can be defined as an absolute power level or as an offset from the first threshold (used for triggering the per-slot measurements) . For instance, the second threshold would be -3 dB offset from the first threshold. Following the example above, if the first threshold is configured as -85 dBm, the UE shall report the slots with CLI of, at least, -82 dBm. Thus, in this case, the top worst CLI bitmap would be: {1001 0000 0001 0000 1110} . In a similar manner, the same threshold (or a third threshold) can be used for the top best CLI measurements. If we assume that this third threshold is equal to -100 dBm, the UE will report: {0000 0011 0010 0000 0000} .

[0185] In an even simpler example, the UE use the first threshold (configured for measurement-triggering purposes) to also be used to determine which slots shall be reported.

[0186] In threshold-triggered measurements, since the gNB is un-aware about when the per-slot CLI measurements were triggered at the UE, the UE shall also report the slot index corresponding to the start of the measurement window, or it can be used as a reference point for a slot or frame based on the time reported by the UE. This will be used for the gNB as a timing-reference to determine the slot index. For instance, the UE could report slot#60 (reference) and then a bitmap: {0000 1100 0000 0000 0000} . The gNB then will interpret that the slot#65 and slot#66 were the slots with the highest CLI.

[0187] At step 4, after receiving the report, the NW can optimize scheduling in intra cell, and decide whether or not inform to neighbor cells about the UE CLI info. Regarding optimizing scheduling, the gNB could get the aggressor UE (s) as the non-overlapping UE identifiers (IDs) that were served in the worst N and best N slots. E. g. IDs of UE aggressors based on the worst N slots are {0, 3, 6, 7} . IDs of UE “friends” based on the best N slots are {0, 1, 2, 7} . Then, the gNB would conclude that UE 3 and UE 6 are the aggressor UEs.

[0188] Regarding informing neighbor cells, for example, the NW knows the CLI is from the neighbor cells (e.g., those high CLI slots have no other UEs’ traffic in intra cell, so the CLI is from neighbor cells) , and the victim UEs need to do traffic, then the NW can inform neighbor cells which slots have high CLI, need to avoid or coordinate scheduling those UEs or beams. Note that because using sub-band CLI report will be more accurate than wide-band, the solution can also consider supporting subband CLI scenario.

[0189] Now reference is made to FIG. 16 illustrating a simplified block diagram of an apparatus 1600 that may be embodied in / as the base station, or the terminal device. The apparatus 1600 may comprise at least one processor 1601, such as a data processor (DP) and at least one memory 1602  coupled to the at least one processor 1601. The apparatus 1600 may further comprise one or more transmitters TX, one or more receivers RX 1603, or one or more transceivers coupled to the one or more processors 1601 to communicate wirelessly and / or through wireline.

[0190] Although not shown, the apparatus 1600 may have at least one communication interface, for example, the communicate interface can be at least one antenna, or transceiver as shown in the FIG. 16.The communication interface may represent any interface that is necessary for communication with other network entities.

[0191] The processors 1601 may be of any type suitable to the local technical environment, and may include one or more of the following: general purpose computers, special purpose computers, microprocessors, digital signal processors (DSPs) and processors based on multicore processor architecture, as non-limiting examples.

[0192] The memory 1602 may be of any type suitable to the local technical environment and may be implemented using any suitable data storage technology, such as semiconductor-based memory devices, magnetic memory devices and systems, optical memory devices and systems, fixed memory and removable memory, as non-limiting examples.

[0193] The memory 1602 stores a program 1604. The program 1604 may include instructions that, when executed on the associated processor 1601, enable the apparatus 1600 to operate in accordance with the embodiments of the present disclosure. A combination of the at least one processor 1601 and the at least one memory 1602 may form processing circuitry or means 1605 adapted to implement various embodiments of the present disclosure.

[0194] Various embodiments of the present disclosure may be implemented by computer program executable by one or more of the processors 1601, software, firmware, hardware or in a combination thereof.

[0195] In general, the various exemplary embodiments may be implemented in hardware or special purpose circuits, software, logic or any combination thereof. For example, some aspects may be implemented in hardware, while other aspects may be implemented in firmware or software which may be executed by a controller, microprocessor or other computing device, although the invention is not limited thereto. While various aspects of the exemplary embodiments of this disclosure may be illustrated and described as block diagrams, flow charts, or using some other pictorial representation, it is well understood that these blocks, apparatus, systems, techniques or methods described herein may be implemented in, as non-limiting examples, hardware, software, firmware, special purpose circuits or logic, general purpose hardware or controller or other computing devices, or some combination thereof.

[0196] As such, it should be appreciated that at least some aspects of the exemplary embodiments of the disclosures may be practiced in various components such as integrated circuit chips and modules. It should thus be appreciated that the exemplary embodiments of this disclosure may be realized in an apparatus that is embodied as an integrated circuit, where the integrated circuit may comprise circuitry (as well as possibly firmware) for embodying at least one or more of a data processor, a digital signal processor, baseband circuitry and radio frequency circuitry that are configurable so as to operate in accordance with the exemplary embodiments of this disclosure.

[0197] It should be appreciated that at least some aspects of the exemplary embodiments of the disclosures may be embodied in computer-executable instructions, such as in one or more program modules, executed by one or more computers or other devices. Generally, program modules include routines, programs, objects, components, data structures, etc. that perform particular tasks or implement particular abstract data types when executed by a processor in a computer or other device. The computer executable instructions may be stored on a computer readable medium, for example, non-transitory computer readable medium, such as a hard disk, optical disk, removable storage media, solid state memory, RAM, etc. As will be appreciated by one of skills in the art, the function of the program modules may be combined or distributed as desired in various embodiments. In addition, the function may be embodied in whole or in part in firmware or hardware equivalents such as integrated circuits, field programmable gate arrays (FPGA) , and the like.

[0198] Further, while operations are depicted in a particular order, this should not be understood as requiring that such operations be performed in the particular order shown or in sequential order, or that all illustrated operations be performed, to achieve desirable results. In certain circumstances, multitasking and parallel processing may be advantageous. Likewise, while several specific implementation details are contained in the above discussions, these should not be construed as limitations on the scope of the present disclosure, but rather as descriptions of features that may be specific to particular embodiments. Certain features that are described in the context of separate embodiments may also be implemented in combination in a single embodiment. Conversely, various features that are described in the context of a single embodiment may also be implemented in multiple embodiments separately or in any suitable sub-combination.

[0199] The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of example embodiments. As used herein, the singular forms “a” , “an” and “the” are intended to include the plural forms as well, unless the context clearly indicates otherwise. It will be further understood that the terms “comprises” , “comprising” , “has” , “having” , “includes” and / or “including” , when used herein, specify the presence of stated features, elements, and / or components etc., but do not preclude the presence or addition of one or more other features,  elements, components and / or combinations thereof. As used herein, the term “and / or” includes any and all combinations of one or more of the listed terms.

[0200] As used herein, the phrase “at least one of A and B” or “at least one of A or B” should be understood to mean “only A, only B, or both A and B. ” The phrase “A and / or B” should be understood to mean “only A, only B, or both A and B” .

[0201] The present disclosure includes any novel feature or combination of features disclosed herein either explicitly or any generalization thereof. Various modifications and adaptations to the foregoing exemplary embodiments of this disclosure may become apparent to those skilled in the relevant arts in view of the foregoing description, when read in conjunction with the accompanying drawings. However, any and all modifications will still fall within the scope of the non-limiting and exemplary embodiments of this disclosure.

[0202] CORESET   Control channel resource element

[0203] DL        Downlink

[0204] FDRA      Frequency Domain Resource Assignment

[0205] gNB       Next generation Node-B

[0206] NR        New radio

[0207] PDCCH     Physical downlink control channel

[0208] PDSCH     Physical downlink shared channel

[0209] PRACH     Physical random-access channel

[0210] PRB       Physical resource block

[0211] PUCCH     Physical uplink control channel

[0212] PUSCH     Physical uplink shared channel

[0213] RAR       Random access response

[0214] RIV       Resource indicator value

[0215] RO        RACH occasion

[0216] RRC       Radio resource control

[0217] RV        Redundant version

[0218] RX        Receive

[0219] SBFD      Sub-band full duplex

[0220] SIB       System information block

[0221] SLIV      Slot length and indicator value

[0222] SP        Semi Persistent

[0223] SR        Scheduling Request

[0224] SS        Search space

[0225] SSB       System synchronization block

[0226] SSGS      Search space group switching

[0227] SFI       Slot format indicator

[0228] SDT       Small data transmission

[0229] TDD       Time division duplex

[0230] TDRA      Time Domain Resource Assignment

[0231] TX        Transmit

[0232] UE        User Equipment

[0233] UL        Uplink

[0234] S &L      Start and length

[0235] TA        time advance

[0236] UL        uplink

[0237] SCS       sub carrier space

[0238] CLI       cross link interference

[0239] PCI       physical cell id

[0240] FDU       flexible full duplex

[0241] CLI-RS    cross link interference reference signal

[0242] D-TDD     Dynamic Time division duplex

[0243] FSS       Frequency selection schedule

[0244] MCS       modulation code scheme

[0245] Semi-TDD  semi-static Time division duplex

[0246] D / F       DL / Flexible

[0247] GBR       Guaranteed Bit Rate

[0248] Non-GBR   Non-Guaranteed Bit Rate

[0249] QoS       Quality of Service

[0250] QCI       QoS Class identifier

[0251] REDCAP    reduce capability

[0252] RSSI      Received Signal Strength Indicator

[0253] CLI       Cross-link interference

[0254] SRS       Sounding Reference Signal

Claims

1.An apparatus at a terminal device, the apparatus comprising:at least one processor; andat least one memory storing instructions that, when executed by the at least one processor, cause the apparatus at least to:receive, from a base station, a message about a cross-link interference, CLI, measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex, SBFD, operation mode, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration;perform a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI; andreport a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.2.The apparatus according to claim 1, wherein the CLI measurement configuration indicates a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration occurs periodically;wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to perform the first CLI measurements periodically; andwherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements periodically.3.The apparatus according to claim 2, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one or more of:reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;reporting top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI;reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.4.The apparatus according to claim 1, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement period and a first predefined measurement threshold;wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to: perform, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI; and determine whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold; andwherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to perform the first CLI measurements when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold.5.The apparatus according to claim 4, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one or more of:reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.6.The apparatus according to claim 4 or 5, wherein the CLI measurement configuration indicates a second predefined measurement threshold;wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to: determine whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold; andwherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to perform the first CLI measurements when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold.7.The apparatus according to claim 6, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to report the result of the first CLI measurements per slot by one or more of:reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;reporting top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; andreporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.8.The apparatus according to any of claims 3, 5 and 7, wherein the CLI measurement configuration indicates the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold; orwherein the first predefined report threshold equals to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset, and / or wherein the second predefined report threshold equals to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.9.The apparatus according to any of claims 1 to 8, wherein the performing of the first CLI measurements is triggered by one of:downlink control information, DCI;radio resource control, RRC, signaling;medium access control, MAC, control element, CE; andthe terminal device.10.The apparatus according to any of claims 1 to 9, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to report the result of the first  CLI measurements per slot by one of:RRC signaling;uplink control information, UCI; andMAC CE.11.An apparatus at a base station, the apparatus comprising:at least one processor; andat least one memory storing instructions that, when executed by the at least one processor, cause the apparatus at least to:transmit, to a first terminal device, a message about a cross-link interference, CLI, measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex, SBFD, operation mode, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration; andreceive, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.12.The apparatus according to claim 11, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to:determine an interference source of the CLI reported by the first terminal device, based on the result of the CLI measurements and previous scheduling history of the base station; andperform one or more operations for mitigating the CLI from the interference source.13.The apparatus according to claim 11 or 12, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to perform the one or more operations by:when determining that the interference source of the CLI is one or more second terminal devices in a serving cell of the base station, optimizing scheduling for the serving cell; and / orwhen determining that the interference source of the CLI is from neighbor cells of neighbor base stations, sending information about the result of the CLI measurements to the neighbor base stations.14.The apparatus according to any of claims 11 to 13, wherein the CLI measurement configuration indicates a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration occurs periodically; andwherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements periodically.15.The apparatus according to claim 14, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one or more of:receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;receiving top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI;receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreceiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.16.The apparatus according to any of claims 11 to 13, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement period and a first predefined measurement threshold; andwherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one or more of:receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.17.The apparatus according to claim 16, wherein the CLI measurement configuration indicates a  second predefined measurement threshold; andwherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one or more of:receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;receiving top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; andreceiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.18.The apparatus according to any of claims 15 to 17, wherein the CLI measurement configuration indicates the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold; orwherein the first predefined report threshold equals to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset, and / or wherein the second predefined report threshold equals to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.19.The apparatus according to any of claims 11 to 18, wherein when the instructions are executed by the at least one processor, the instructions cause the apparatus at least to receive the result of the CLI measurements per slot by one of:RRC signaling;uplink control information, UCI; andMAC CE.20.A method performed at a terminal device, the method comprising:receiving, from a base station, a message about a cross-link interference, CLI, measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex, SBFD, operation mode, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration;performing a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI; andreporting a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.21.The method according to claim 20, wherein the CLI measurement configuration indicates a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration occurs periodically;wherein the first CLI measurements are performed periodically; andwherein the result of the first CLI measurements is reported periodically.22.The method according to claim 21, wherein reporting the result of the first CLI measurements per slot comprises one or more of:reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;reporting top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI;reporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreporting a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.23.The method according to claim 20, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement period and a first predefined measurement threshold;wherein the method further comprises: performing, for at least one of slots of the measurement period, a second CLI measurement with time-filtering of values of measured CLI; and determining whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold; andwherein the first CLI measurements are performed when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is above the first predefined measurement threshold.24.The method according to claim 23, wherein reporting the result of the first CLI measurements  per slot comprises one or more of:reporting top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;reporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.25.The method according to claim 23 or 24, wherein the CLI measurement configuration indicates a second predefined measurement threshold;wherein the method further comprises: determining whether a value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold; andwherein the first CLI measurements are performed when determining that the value of measured CLI in the at least one slot in the second CLI measurement is below the second predefined measurement threshold.26.The method according to claim 25, wherein reporting the result of the first CLI measurements per slot comprises one or more of:reporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;reporting top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; andreporting a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.27.The method according to any of claims 22, 24 and 26, wherein the CLI measurement configuration indicates the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold; orwherein the first predefined report threshold equals to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset, and / or wherein the second predefined report threshold equals to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.28.The method according to any of claims 20 to 27, wherein the performing of the first CLI measurements is triggered by one of:downlink control information, DCI;radio resource control, RRC, signaling;medium access control, MAC, control element, CE; andthe terminal device.29.The method according to any of claims 20 to 28, wherein the result of the first CLI measurements per slot is reported by one of:RRC signaling;uplink control information, UCI; andMAC CE.30.A method performed at a base station, the method comprising:transmitting, to a first terminal device, a message about a cross-link interference, CLI, measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex, SBFD, operation mode, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration; andreceiving, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.31.The method according to claim 30, further comprising:determining an interference source of the CLI reported by the first terminal device, based on the result of the CLI measurements and previous scheduling history of the base station; andperforming one or more operations for mitigating the CLI from the interference source.32.The method according to claim 30 or 31, wherein performing the one or more operations comprises:when determining that the interference source of the CLI is one or more second terminal devices in a serving cell of the base station, optimizing scheduling for the serving cell; and / orwhen determining that the interference source of the CLI is from neighbor cells of neighbor base stations, sending information about the result of the CLI measurements to the neighbor base stations.33.The method according to any of claims 30 to 32, wherein the CLI measurement configuration indicates a time offset for defining a starting slot of a measurement period, and the measurement window duration occurs periodically; andwherein the result of the CLI measurements is received periodically.34.The method according to claim 33, wherein receiving the result of the CLI measurements per slot comprises one or more of:receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;receiving top N worst values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving top M best values of measured CLI and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI;receiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreceiving a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.35.The method according to any of claims 30 to 32, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement period and a first predefined measurement threshold; andwherein receiving the result of the CLI measurements per slot comprises one or more of:receiving top N worst values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving top N worst values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top N worst values of measured CLI;receiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI above a first predefined report threshold; andreporting top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI.36.The method according to claim 35, wherein the CLI measurement configuration indicates a second predefined measurement threshold; andwherein receiving the result of the CLI measurements per slot comprises one or more of:receiving top M best values of measured CLI and slot indexes of slots corresponding to the top M best values of measured CLI;receiving top M best values of measured CLI, a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots corresponding to the top M best values of measured CLI; andreceiving a slot index of a starting slot of the measurement window duration, and a bitmap indicating, in the slots of the measurement window duration, slots having values of measured CLI below a second predefined report threshold.37.The method according to any of claims 34 to 36, wherein the CLI measurement configuration indicates the first predefined report threshold and / or the second predefined report threshold; orwherein the first predefined report threshold equals to a first predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration plus a first predefined offset, and / or wherein the second predefined report threshold equals to a second predefined measurement threshold indicated in the CLI measurement configuration minus a second predefined offset.38.The method according to any of claims 30 to 37, wherein the result of the CLI measurements per slot is received by one of:RRC signaling;uplink control information, UCI; andMAC CE.39.An apparatus at a terminal device, the apparatus comprising:means for receiving, from a base station, a message about a cross-link interference, CLI, measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex, SBFD, operation mode, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration;means for performing a first CLI measurement per slot within the measurement window duration without time-filtering of values of measured CLI; andmeans for reporting a result of the first CLI measurements per slot to the base station based on the CLI report configuration.40.An apparatus at a base station, the apparatus comprising:means for transmitting, to a first terminal device, a message about a cross-link interference, CLI, measurement configuration and a CLI report configuration for sub-band full duplex, SBFD, operation mode, wherein the CLI measurement configuration indicates a measurement window duration, and the CLI report configuration indicates how to report first information about at least part of slots of the measurement window duration and second information about values of measured CLI in the at least part of the slots of the measurement window duration; andmeans for receiving, from the first terminal device, a result of CLI measurements per slot that is reported by the first terminal device based on the CLI report configuration.41.A computer-readable medium having computer program codes embodied thereon which, when executed on a computer, cause the computer to perform the method according to any of claims 20 to 29.42.A computer-readable medium having computer program codes embodied thereon which, when executed on a computer, cause the computer to perform the method according to any of claims 30 to 38.

Images